| 意味 | 例文 |
objective testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 104件
To provide a permeability confirmation method of the lower ground of a cylindrical vertical type underground tank capable of easily and properly ensuring imperviousness of an objective ground in accordance with a result of a permeability test of the objective ground easily carried out and an impervious method.例文帳に追加
対象地盤の透水試験を簡易に行い、その結果に応じて当該対象地盤の遮水性を容易かつ適切に確保することができる円筒形竪型地下タンク下面地盤の透水性確認工法及び遮水工法を提供する。 - 特許庁
To provide a microplate which can separate an objective substance in a test body with a high efficiency and with a high throughput, and a separation method using the microplate.例文帳に追加
本発明の目的は、検体中の目的物質を高効率でハイスループットに分離することが可能なマイクロプレートおよびそのマイクロプレートを用いた分離方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide an electronic component thrusting apparatus capable of quickly contacting a test objective electronic component with a testing socket at an appropriate pressure, and an IC handler provided with the thrusting apparatus.例文帳に追加
検査対象とする電子部品を検査用ソケットに対して適正な圧力で迅速に当接させることのできる電子部品の押圧装置、及び該押圧装置を備えるICハンドラを提供する。 - 特許庁
The production process of this original liquid of the slurry mortar involves mixing a sludge slurry with aggregate having ≤1.0 mm grain size, such as sand, to produce the objective original liquid which are designed so as to have a 1.4-2.0 g/cm3 specific gravity value and a 300-500 mm flow test (JHS A313) value.例文帳に追加
汚泥スラリーに粒子径1.0mm以下の砂等の骨材を配合し、その比重が1.4〜2.0g/cm3 、フロー試験(JHS A313)の値を300〜500mmに設計する。 - 特許庁
To evaluate a test item or a check item prepared for objective software from the point of view of software reliability, and to extract the irreducible minimum item.例文帳に追加
本発明では対象ソフトウェアに対して作成されたテストアイテムやチェックアイテムをソフトウェア信頼性の観点から評価し、必要最低限のアイテムを抽出することを目的にする。 - 特許庁
To provide a pusher, an electronic component handling device, and a temperature control method, capable of controlling temperature to bring an electronic component into the vicinity of an objective set temperature for a test.例文帳に追加
電子部品が目的とする試験の設定温度付近になるよう温度制御を行うことのできるプッシャ、電子部品ハンドリング装置および温度制御方法を提供する。 - 特許庁
The newly formed scan chain serves as a test path for inspecting combined circuits 200, 300 and 400, which are hard to inspect, positioned in interface domains K1, K2, and K3 between a full scan test objective circuit 500 and the external connection terminals (pads) P1 to P9, etc.例文帳に追加
この新規に形成されるスキャンチェーンは、フルスキャンテスト対象回路(500)と外部接続端子(パッド)P1〜P9等との間のインタフェース領域K1,K2,K3に位置する、検査がむずかしい組合せ回路200,300,400を検査するためのテスト用のパスとなる。 - 特許庁
An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11 or regulating the height of alternatively the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁
To provide a focus detector which can be downsized and simplified, is excellent in productivity and is capable of detecting a focus with good accuracy and high reliability even if objective lenses of any magnifications are used as well as an objective lens, optical microscope or optical test apparatus having the same.例文帳に追加
小型化、簡易化でき、生産性に優れ、かつ、異なる倍率の対物レンズを用いても、精度よく信頼性の高い焦点検出を行なうことができる焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置を提供する。 - 特許庁
The electron beam equipment 1 is provided with an electronic optical system with an electron gun 2 and an objective lens 7 composed of an electrostatic lens which irradiates primary electrons emitted from the electron gun to a test sample and with a differential exhaust system 12 arranged outside of the objective lens.例文帳に追加
本発明は、電子銃2及び前記電子銃から放出された一次電子を検査対象に照射する静電レンズより成る対物レンズ7を有する電子光学系と、前記対物レンズの外側に配置された差動排気系12と、を備えた電子線装置1に関する。 - 特許庁
The fluorescent microscope 20 includes; a stage 31 capable of being moved in the horizontal direction two dimensionally; an objective lens 24 arranged above the stage 31, an imaging unit 26 for acquiring an image of a test piece 80 through the objective lens 24; and a sensor 35 for detecting the movement of the stage 31.例文帳に追加
蛍光顕微鏡20は、横方向に2次元的に移動可能なステージ31と、ステージ31の上方に配置された対物レンズ24と、対物レンズ24を介して試料80の画像を取得する撮像ユニット26と、ステージ31の移動を検出するセンサー35とを備えている。 - 特許庁
An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11, or regulating the height of the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁
Further, the space between the permanent magnet 1 and the upper magnetic pole 2, the test piece side magnetic pole 3, and the semi fixing type magnetic path 4 is filled with a filler of a non-magnetic material to forme an objective lens.例文帳に追加
さらにまた、永久磁石1と上部磁極2と試料側磁極3と半固定磁路4との空間を非磁性材料の充填材6で埋めることにより、対物レンズとして構成する。 - 特許庁
This pressure-proof test device 10 provided with a vessel 12 filled with a liquid 11 for immersing the high-pressure gas container 1 is arranged on a production line in a downstream of a process for filling the filling- objective gas into the high-pressure gas container.例文帳に追加
高圧ガス容器(1)を浸漬させる液体(11)が満たされた槽(12)を備える耐圧試験装置(10)を、高圧ガス容器に充填対象ガスを充填させる工程の後の製造ライン上に配置する。 - 特許庁
This test hammer is provided with a plunger 1 for hammering a measuring objective face 2, in a cylindrical body 3, a hammer 14 for hammering the plunger 1, a cushioning member 15 for moderating force pushing back the hammer 14 by jumping-back of the plunger 1 hammered by the hammer 14 from the measuring objective face 2, and a support member 7 for supporting the cushioning member 15.例文帳に追加
筒体内3に、測定対象面2を打撃するプランジャー1と、このプランジャー1を打撃するハンマー14と、このハンマー14で打撃されたプランジャー1が測定対象面2から跳ね返ってハンマー14を押し戻す力を緩衝する緩衝部材15と、この緩衝部材15を支持する支持部材7と、を備える。 - 特許庁
The logarithmic exposure quantities PDX [i] corresponding to a plurality of objective densities TD [i] are respectively estimated on the basis of the density measured values D [n] of respective patches of a test chart and logarithmic exposure quantities PD [n] at a time of patch exposure recording [see (A)].例文帳に追加
テストチャートの各パッチの濃度測定値D[n],パッチ露光記録時の対数露光量PD[n] に基づき、複数の目標濃度TD[i] に対応する対数露光量PDX[i] を各々推定する((A)参照)。 - 特許庁
The probes to be used for detecting an objective substance of test are trapped on fine particles 3 in advance, and the fine particles 3 are fixed in every section 2 formed in a lattice state on a substrate 1 by using a surface-chemical patterning method.例文帳に追加
検査対象物質の検出に用いるプローブを予め微粒子3に捕捉し,微粒子を基板1の上に表面化学的なパターニング方法を用いて格子状に形成される各区画2に固定する。 - 特許庁
An inspection objective system 2, in which an interface circuit of an IEEE1394 specification is mounted, is connected to an emulator 10 included in the inspection device 1, and inspection processing is started when a test program on the system 2 side is started.例文帳に追加
IEEE1394規格のインターフェース回路を搭載した検査対象のシステム2と、検査装置1に含まれるエミュレータ10とを接続して、システム2側のテストプログラムの起動により検査処理が開始される。 - 特許庁
An array of the proves, containing a portion which is a probe specific for an objective target, is used to analyze or test the activity of one or more target molecules specifically interacting with the proves.例文帳に追加
標的に特異的なプローブである部分が含まれるプローブのアレイを用い、プローブと特異的に相互作用する1つまたはそれ以上の標的分子の存在を分析するか、または活性を試験することからなる。 - 特許庁
In the case of performing a test after shipment, the laser diode 21 is emitted by the same light emitting power as that of shipment and the power Qt of transmitted light through the objective lens 22 and the current It of the laser diode 21 are measured.例文帳に追加
出荷後にテストを行う場合は、レーザダイオード21を出荷時と同じ発光パワーPoで発光させ、このときの対物レンズ22の透過光のパワーQtと、レーザダイオード21の電流Itとを測定する。 - 特許庁
To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加
試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
This device, which performs simulation by using description information by the HDL and the like representing a predetermined circuit, constructs description information 31 by integrating information 311 showing the verification objective circuit and information 312 showing a test vector circuit, which is connected to the verification objective circuit shown by the information 311 to input/output verification information automatically generated in its own circuit from/to the verification objective circuit, together.例文帳に追加
所定の回路を表すHDL等による記述情報を用いてシミュレーションを行う装置であって、検証対象の回路を表す情報311と、この情報311によって表される検証対象の回路に対して接続され、検証対象回路との間で、自回路内で自動的に生成した検証用情報の入力又は出力を行うテストベクタ回路を表す情報312とを一体として記述情報31を構成する。 - 特許庁
A sleep management method and system for improving the quality of sleep of a user which monitors one or more objective parameters relevant to sleep quality of the user when in bed and receives from the user in waking hours via a portable device such as a mobile phone feedback from objective test data on cognitive and/or psychomotor performance.例文帳に追加
ユーザの睡眠の質を改善するための睡眠管理方法およびシステムは、ベッドに就いているユーザの睡眠の質に関連する1つ以上の客観的パラメータを監視し、携帯電話などの携帯型装置を介して、起きているときのユーザから、認知能力および/または精神運動能力についての客観的テストデータのフィードバックを受信する。 - 特許庁
The microscope instrument includes a Z stage 15 for moving an objective lens 11 vertically, a focus point detection system 30 for irradiating a test substance 21 with measuring light for focusing detection, a signal processing part 41 for controlling the Z stage 15 based on the focusing detection result, and a measuring part 42 for measuring the amount of movement of the objective lens 11.例文帳に追加
顕微鏡装置は、対物レンズ11を上下移動させるZステージ15と、被検体21に測定光を照射して合焦検出する焦点検出系30と、合焦検出結果に基づいてZステージ15を制御する信号処理部41と、対物レンズ11の移動量を測定する測定部42とを有する。 - 特許庁
An objective lens 51 of an erecting-type vertical-light fluorescent microscope 42 is arranged over the cone 61, and the state of the cells seeded on the test material, under liquid flow generated by a cone, is observed in real time by a monitor 60.例文帳に追加
コーン16の上方に正立型落射蛍光顕微鏡42の対物レンズ51を配置し、試験材料上に播種した細胞のコーンによって生起された液体の流動下での状態をリアルタイムでモニタ60により観察する。 - 特許庁
The circuit is provided further with a control signal selecting register 113 capable of controlling, from the external terminal, the directional control signal supplied from the test-objective block 202, and the registers 106, 113 are connected respectively on the same scan chain.例文帳に追加
さらに、テスト対象ブロック202から供給される方向制御信号を外部端子から制御可能な制御信号選択用レジスタ113を備え、レジスタ106、113をそれぞれ同一スキャンチェーン上で接続する。 - 特許庁
A terminal (a) of a switch SW is connected to a terminal (b) thereof, an alternating current voltage is impressed between a cable conductor and shielding of a measuring objective cable 3, by a pattern, for example, shown in Fig.3, from a transformer 1 for a test, to be blocked in the vicinity of a zero cross.例文帳に追加
スイッチSWの端子(a)と端子(b)を接続して、試験用変圧器1より、例えば図3に示すパターンにて測定対象ケーブル3のケーブル導体−遮蔽間に交流電圧を課電し零クロス付近で遮断する。 - 特許庁
In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置1は、本試験において、環境温度検知センサ9の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Wを試験環境下に晒す。 - 特許庁
By carrying out combined measurement of an interferometer and a polarization meter for an objective device under test, the uncertainty of relative phase in property solution of device performed only by a polarization meter or a polarizing analyzer is eliminated.例文帳に追加
被測定対象デバイスについて干渉計及び偏光計の組み合わせ測定を行うことにより、偏光計のみまたは偏光分析器のみによって実施されるデバイスの特性解明における相対的な位相の不確実性が除去される。 - 特許庁
Since a measuring position can be indicated by means of the equipment 70, the target measuring position can be decided easily as compared with the conventional case where the position is visually decided by setting the virtual optical axis of the objective lens of an observation device on the test piece W.例文帳に追加
このような照射装置70で測定位置を指示できるので、従来のように観察装置の対物レンズの仮想光軸を供試体W上に設定して目視で位置決めをするのに比べて、目標測定位置を決めやすくなる。 - 特許庁
This ophthalmology test device sharing the objective lens 11 with a photographing optical system and an illuminating optical system is provided with a black point board 8 having a black point 8a shading an infrared area and a black point 8b shading a visible light area.例文帳に追加
対物レンズ11を撮影光学系および照明光学系で共用する眼科検査装置において、赤外光領域を遮光する黒点8aおよび可視光領域を遮光する黒点8bを有する黒点板8を設ける。 - 特許庁
A flowchart creation part 1 displays a user interface screen on a display, and based on input by a user on the user interface screen, creates a flowchart consisting of at least one module for defining a test on a verification objective logic circuit.例文帳に追加
フローチャート作成部1は、ユーザインタフェース画面をディスプレイに表示し、このユーザインタフェース画面上でのユーザの入力に基づいて、検証対象の論理回路のテストを規定するための、少なくとも1つのモジュールから構成されるフローチャートを作成する。 - 特許庁
Note that these are only examples for the purposes of illustration, not an exhaustive list of all required tests; the final set of items necessary for test and inspection must be determined in accordance with such aspects as the properties of the human stem cells, the research objective, and scientific knowledge.例文帳に追加
規格値(判定基準)は、研究初期段階では暫定的なもので良いが、当該臨床研究の進展に応じて適切に見直し、臨床上の有効性及び安全性に関連する品質特性を適切に把握するものとする。 - 厚生労働省
After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.例文帳に追加
NGが発生すると試験対象チップにおけるNGの回数が第1の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、NGの回数が第1の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、NGの数が第2の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁
The test device includes a laser source (20) intended to direct an incident laser beam (21) towards the optical storage medium (10), the incident laser beam (21) pass through a focusing objective lens (22) before reaching the optical storage medium (10) and before being reflected thereat as a reflected laser beam (25).例文帳に追加
この試験装置は、入射レーザビーム(21)を光記憶媒体(10)に導くように意図されたレーザ源(20)を備え、入射レーザビーム(21)は、光記憶媒体(10)に到達する前にかつ反射レーザビーム(25)としてそこで反射する前に、焦点調節用対物レンズ(22)を通過する。 - 特許庁
To provide a sure and favorable objective feature instrumentation tool which can be obtained by a prompt and advanced practical method in production environment, in order to be used with a photographic mask test tool which can measure defects of 0.1 μ or smaller in size and other features.例文帳に追加
生産環境において迅速且つ高度な実践方法で達成され得る確かで評判の良い、0.1ミクロン以下の欠陥及び他の特徴の計測を提供し得る写真マスク検査ツールと共に用いるための客観的特徴計測ツールを提供すること。 - 特許庁
A workpiece is subjected to test machining of the number of holes smaller than that upon actual machining, a first deviation between the position of each hole and an objective position is measured, and a reverse characteristic filter as data deviated by the same deviated amount to the direction opposite to the first deviation is created.例文帳に追加
被加工物に実加工時より少ない数の孔をテスト加工し、それらの孔の位置と目標位置との間の第1のずれ量を測定し、第1のずれ量の反対方向に同じ量だけずらしたデータである逆特性フィルタを作成する。 - 特許庁
A test script correction part 13 corrects a moving original side screen element and a moving destination side screen element corresponding to a cursor moving operation according to a changed application when the objective application is changed, and instructs the retrieval of a cursor moving procedure to an operation control means 14.例文帳に追加
対象アプリケーションが変更されると、テストスクリプト修正手段13は、カーソル移動操作に対応する移動元画面要素と移動先画面要素を変更アプリケーションに合わせて修正し、カーソル移動手順の探索を操作制御手段14に指示する。 - 特許庁
At a position facing the two-dimensional imaging element 14, the inspection chart 12 is disposed pinching the objective lens 11 in between, and the inspection charts 121, 131 located outside the test lens are commonly used with the adjacent devices 2 and 3 for inspecting the lens performances.例文帳に追加
被検レンズ11を挟むようにして2次元撮像素子14に対向する位置には、検査用チャート12が配置されており、被検レンズ11の軸外にある軸外検査用チャート121,131は、隣り合う他のレンズ性能検査装置2,3と共有される。 - 特許庁
The electron microscope is provided in which an excitation current or an impressing voltage to an objective lens or an acceleration cylinder for accelerating electron beams of the scanning electron microscope is cut off when the measuring object test piece is separated from underneath of the objective lens, or is made weak excitation compared with before separation for excitation current, or cut off or made to be lower voltage compared with before the separation for impressing voltage.例文帳に追加
上記目的を達成するために、走査電子顕微鏡の対物レンズ、或いは電子ビームを加速するための加速円筒への励磁電流、或いは印加電圧を、測定対象試料を対物レンズ下から離間させたときに、励磁電流をオフ、或いは離間させる前に比べて弱励磁、又は印加電圧をオフ、或いは離間させる前に比べて低電圧とする電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁
A polyol mixture comprising a polyol, water and a catalyst is mixed with a polyisocyanate with agitation and is foamed to give the objective foam, which has a retention of strength, when left at a high temperature (120°C×24 hr) of at least 70% and a haze value of not more than 2 in a fogging test.例文帳に追加
ポリオール、水及び触媒を含有するポリオール混合物とポリイソシアネートとを混合攪拌し、発泡させてなる、高温放置(120℃×24時間放置)時の強度保持率が70%以上であり、フォギング試験におけるヘイズ値が2以下である半硬質ポリウレタンフォーム。 - 特許庁
An observer turns the objective lens part 134 of a remote controller 130 for a test pattern (color patch) and a reference white board 114 displayed on a video display surface 112, adjusts a viewing angle and a focus and measures the illumination light characteristics of the observation environment and monitor display characteristics.例文帳に追加
観察者がリモートコントローラ130の対物レンズ部134を、映像表示面112に表示されるテストパターン(カラーパッチ)や基準白色板114に向けて画角の調整および焦点調節を行い、観察環境の照明光特性とモニタ表示特性とを計測する。 - 特許庁
The arithmetic unit 16 selects the optical conditions of a focusing lens 8, variable multi-aperture 10, beam deflecting electrode 11, and objective lens 12 based on data inputted in the input unit 17, and calculates automatically processing scanning conditions of the focusing ion beam 4 on the test piece 2 corresponding to the optical conditions selected.例文帳に追加
演算装置16は、入力装置17に入力されたデータに基づいて、集束レンズ8、可変マルチアパーチャ10、ビーム偏向電極11及び対物レンズ12の光学条件を選択し、かつ選択された光学条件に応じた集束イオンビーム4の試料2上での加工走査条件を自動的に算出する。 - 特許庁
A photosensitive layer which takes a surface scratch by a test with a scratch tester (sapphire needle of 0.5 mmϕ) using 30 g load is disposed on the front side of a substrate with 0.5-4 g/m2 anodic oxide film on the rear side to obtain the objective photosensitive planographic printing plate.例文帳に追加
支持体上に30gの荷重を用いる引っかき試験器(サファイヤ針、0. 5mmφ)による試験で表面に傷がつく感光層を設けてなる感光性平版印刷版であって、該支持体の裏面に0. 5〜4g/m^2 の陽極酸化皮膜を有する上記感光性平版印刷版により解決される。 - 特許庁
A plurality of candidate parameters dominating the lifetime are selected from the content of impurities or the size of a nonmetallic inclusion contained in bearing steel and a first lifetime estimation formula is derived by performing multiple regression analysis using all candidate parameters dominating the lifetime as explanation variables and an objective variable as an actual lifetime in lifetime test.例文帳に追加
軸受用鋼に含まれる不純物の含有量や非金属介在物の大きさから複数の寿命支配パラメータ候補を選択し、全ての寿命支配パラメータ候補を説明変数とし、目的変数を寿命試験における実際の寿命として重回帰分析を行って第1の寿命推定式を導出する。 - 特許庁
A preliminary life estimation formula is derived by executing a multiple linear regression analysis by selecting plural life dominant parameter candidates from contents of impurities contained in the bearing steels and the size of a nonmetal intermediate to use all the life dominant parameter candidates as explanation variables and by using an objective variable as an actual service life in a life test.例文帳に追加
軸受用鋼に含まれる不純物の含有量や非金属介在物の大きさから複数の寿命支配パラメータ候補を選択し、全ての寿命支配パラメータ候補を説明変数とし、目的変数を寿命試験における実際の寿命として重回帰分析を行って予備寿命推定式を導出する。 - 特許庁
So far, there was no objective evaluation method on the performance of photo catalyst, which made it difficult to discriminate Japan's best technology/product function. Also risk of losing trust is heightened in the whole market due to inferior products. That is the reason why Japanese country has pushed forward this global standardization on the performance evaluation test method for photo catalyst, and applied it with ISO.例文帳に追加
これまで光触媒の性能に関わる客観的な評価方法はなく、我が国の優れた技術・商品機能の差別化が困難で、粗悪品による市場全体の信用失墜リスクも高まっていたため、我が国として、光触媒の性能評価試験方法に関する国際標準をISOに提案してきた。 - 経済産業省
The objective mass-colored crimped polyamide yarn contains hexamethyleneadipamide unit accounting for ≥80 wt.% of the constituent component and has a single fiber fineness of 10.0-30.0 d, a crimp extension after boiling water treatment of 10.0-30.0% and a strength after weatherability test of ≥1.5 g/d.例文帳に追加
構成成分の80重量%以上がヘキサメチレンアジパミド単位からなるポリアミドの原着捲縮糸であって、単繊維繊度が10.0〜30.0デニール、沸騰水処理後の捲縮伸長率が10.0〜30.0%、耐候処理後の強度が1.5g/d以上であることを特徴とするポリアミド原着捲縮糸。 - 特許庁
To calculate a rate of adaptation that a staff has evaluated as a non-success is at least partially adapted to a success model and to lead conditions necessary for completely adapting the staff to the success model by mathematically connecting staff's evaluation information and objective data such as the determination result (points) of a staff's aptitude test.例文帳に追加
社員の評価情報と、社員の適性検査の判定結果(得点)などの客観的なデータとを数学的に結びつけることにより、成功者でないと評価された人材が、成功モデルにその時点で部分的にでも適合している割合を算出し、さらに成功モデルに完全に適合するために必要な条件まで導き出す。 - 特許庁
To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.例文帳に追加
本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に2個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
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