| 例文 |
reliability testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 149件
To provide a cycle testing device and a cycle test method for acquiring an accurate cycle lifetime to a repeated impact load of an electronic component requiring reliability in radio communication.例文帳に追加
無線通信の信頼性が要求される電子部品の繰り返し衝撃負荷に対する正確なサイクル寿命を知ることが出来るサイクル試験装置及びサイクル試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a radio-frequency signal receiver with a small number of required parts, improved reliability, easy assembly and testing, and reduced manufacturing cost.例文帳に追加
本発明により、必要とされる部品点数が少なく、信頼性が改善され、組み立ておよび試験が簡単になり、製造コストが低減された無線周波数信号受信機を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for stress relaxation characteristics, which specifically shows the reliability of a terminal to be used in electrical or electronic equipment which is mounted on a mobile body represented by vehicles such as an automobile, an electric car and a locomotive, and to provide a rolled sheet material which satisfies stress relaxation characteristics according to the testing method.例文帳に追加
自動車、電車や機関車などの車両に代表される移動体に搭載される電気・電子機器に使用される端子の信頼性を具現する応力緩和特性試験方法と、その試験方法による応力緩和特性を満足する圧延板材を提供する。 - 特許庁
To provide a method of ultrasonically testing a welding joint capable of detecting a defect existing in the joint with high reliability by efficiently judging and deciding a defect echo and a shape echo from a welding margin.例文帳に追加
欠陥エコーと溶接余盛からの形状エコーとを効率的に識別判定して溶接継手に存在する欠陥を信頼度高く検出できる超音波探傷方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for testing corrosion capable of accurately evaluating long-term reliability with respect to corrosion that depends on the installation environment of electronic devices, while reflecting and atmospheric corrosion environment, and to provide a device therefor.例文帳に追加
電子機器等の設置環境に依存して生じる腐食に対する長期的な信頼性を、大気腐食環境を反映しつつ的確に評価しうる腐食試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a biological substance test device, particularly to provide a microreactor for testing biological substances enabling multi-item test in high reliability by changing a loaded probe as appropriate, and to provide a related device.例文帳に追加
生体物質検査デバイス、特に搭載するプローブを適宜変更することにより多項目検査を高い信頼性で可能とする生体物質検査用マイクロリアクタおよびデバイスを提供する。 - 特許庁
To provide a service life testing device for a bearing capable of realizing a long service life of a rolling bearing by acquiring establishment of a service life evaluation method in a slip generation domain, stability and high reliability.例文帳に追加
滑り発生領域での寿命評価法の確立、安定性、高信頼性を得ることにより転がり軸受の長寿命を図ることができる軸受用寿命試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加
データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁
To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.例文帳に追加
本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.例文帳に追加
テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an evaluation testing method having high reproducibility and reliability, similar to actual lens shape processing or a using condition of a user, when evaluating coat membrane adhesive performance of a spectacle lens having a coat membrane on the surface.例文帳に追加
表面にコート膜を有する眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する際、実際の玉型加工やユーザーの使用条件に近く、再現性・信頼性の高い評価試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加
エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加
試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
To improve the efficiency of the program development, testing, modification, maintenance and management and to improve the reliability of the machine device where the object code which is generated from the source code of a computer program is built in as the control means.例文帳に追加
コンピュータプログラムのソースコードより生成されるオブジェクトコードを制御手順として内蔵する機械装置において、プログラム開発、テスト、変更、維持・管理の効率をあげること、機械装置の信頼性をあげること。 - 特許庁
To improve a processing performance in assembling and testing processes of a semiconductor device for a fingerprint sensor, by decreasing a mounting area of the semiconductor device, so as to reduce a manufacturing cost and enhance a mounting reliability.例文帳に追加
本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁
This method of testing IC package which is performed for evaluating the reliability of semiconductor packages 10 includes a step of performing thermal resistance tests on the packages 10.例文帳に追加
上記課題は、半導体パッケージ10の信頼性を評価する試験方法であって、半導体パッケージ10の熱抵抗試験を行う工程を有することを特徴とする半導体パッケージの試験方法にて解決される。 - 特許庁
To evaluate reliability in a semiconductor light-emitting element for an external resonator-type laser with higher precision than that by a conventional method for testing reliability without composing an external resonator-type semiconductor laser by incorporating the semiconductor light-emitting element.例文帳に追加
半導体発光素子を組み込んで外部共振器型半導体レーザを構成することなく、従来の信頼性試験方法よりも高い精度で外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性を評価することができる外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加
打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁
The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加
所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧32を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器30により生成する。 - 特許庁
To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.例文帳に追加
本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のICを組み合わせて試験を行うことにより、IC試験の信頼性と生産性を向上したIC試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加
動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁
The JAEA has announced that after resuming the commissioning of the fast breeder prototype reactor Monju, it will conduct performance testing and full-scale operation of the reactor in order to verify the reliability of Monju as a power plant and establish a sodium handling technology through its operating experience.例文帳に追加
高速増殖原型炉もんじゅの試運転再開後は、発電プラントとしての信頼性の実証と、運転経験を通じたナトリウム取扱技術の確立に向け、性能試験及び本格運転を行うこととしている。 - 経済産業省
To provide a metal core multilayer printed wiring board that uses a thick-wall conductor which can improve the reliability of conduction of a plating film of a through-hole or an inner via hole, in a multilayer printed wiring board where a wiring pattern conductor layer of four layers or more is stacked, during cold impact testing, and can attain high reliability under severe temperature environment, such as, engine room of vehicle.例文帳に追加
4層以上の配線パターン導体層が積層された多層プリント配線板のスルーホールまたはインナーバイアホールのめっき膜に対して、冷熱衝撃試験での導通信頼性を高め、自動車のエンジンルーム等の過酷な温度環境下においても高い信頼性の得られる厚肉導体を用いた金属コア多層プリント配線板を提供する。 - 特許庁
To provide a brain function measuring method and system improving a reliability of a brain function activity measurement using a computerized management and testing as if it were a game without giving the elderly mental pain and stress.例文帳に追加
本発明は、コンピュータ管理を用いて、脳機能活性度計測の信頼性を高めると共に、高齢者に精神的苦痛とストレスを与えずに、ゲーム感覚でテストできる脳機能計測方法及び脳機能計測システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加
地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性/信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁
In this reliability testing method, external force is applied in a direction parallel to the surface of the printed wiring board 10 to the end part 13 of the printed wiring board 10 where the part 11 is packaged, thereby distorting the printed wiring board 10 in the direction of thickness.例文帳に追加
この信頼性試験方法においては、部品11を実装したプリント配線板10の端部13に、プリント配線板10の表面と平行な方向から外力を加え、プリント配線板10をその厚さ方向に歪ませる。 - 特許庁
To provide a lifetime acceleration testing method capable of enhancing reliability of lifetime evaluation by simulating in high precision and high speed a deterioration state of each constituent member of a polymer electrolyte fuel cell due to normal operation accompanied by start and stoppage.例文帳に追加
起動停止を伴う通常の運転による固体高分子型燃料電池の各構成部材の劣化状態を高精度かつ高速に模擬し、寿命評価の信頼性を向上させることができる寿命加速試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a vibration testing apparatus for a superconducting magnet for a superconducting magnetic levitation type railroad which has high reliability, and which can diversely reproduce the vibration modes generated during the traveling of the superconducting magnet for the superconducting magnetic levitation type railroad.例文帳に追加
超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の走行中に発生する振動モードを多様に再現させることができる信頼性の高い超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の振動試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample-preparing device for standardizing the preparation of a sample for testing soldering material and for improving the reliability by stabilizing a series of operations from the pull-up of the sample from a heating bath to the cooling of the sample solder.例文帳に追加
試料を加熱槽から引き上げ、試料はんだを冷却させるまでの一連の操作を安定して行えるようにし、はんだ付材料試験用の試料作成の標準化と信頼性の向上を実現可能な試料作成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.例文帳に追加
液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極3と電極12との位置合わせし易く、液晶パネル11の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁
To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加
半導体リレーを用いることで、信頼性の高いIC試験装置を提供すること及び、半導体リレーがOFF時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a packaging method of an electronic component and a board module, by which lifting between insulating resin and the electronic component or a substrate is made less likely to be generated, even in reflow process or heat cycle testing process, short circuiting or erosion can be prevented, and reliability can be improved.例文帳に追加
リフロー工程やヒートサイクル試験工程においても絶縁樹脂と電子部品又は基板との間で剥離が生じにくく、短絡又は腐食が防止でき、信頼性を高めることができる電子部品実装方法及び基板モジュールを提供する。 - 特許庁
To regenerate fog under low-temperature conditions in a high mountain and fog under high-temperature conditions in the tropics to conduct an atomization test, by holding a water temperature of an atomized testing-salt water at an arbitrary temperature, to enhance reliability, and to cope with various tests, concurrently in a salt water atomization test device.例文帳に追加
塩水噴霧試験装置において、噴霧する試験用塩溶液の水温を任意の温度で保持し、高山における低温条件下での霧と熱帯における高温条件下での霧を再現させ噴霧試験を行い、同時に、信頼性向上、多様な試験への対応を図ること。 - 特許庁
To provide a material testing machine by which the material characteristic of a specimen can be found with good reliability by a method wherein an operating program and a parameter with reference to a measurement controller and an analyzer as well as their measured data can be controlled in a centralized manner and the analytical processing operation of the measured data can be executed accurately.例文帳に追加
計測制御装置および解析装置に対する動作プログラムやパラメータ、更にはその計測データを一元管理することができ、計測データの解析処理を的確に実行して試験体の材料特性を信頼性良く求め得る材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.例文帳に追加
メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a simple assay method capable of simply and rapidly specifying a substance to be detected showing positive reaction by testing a plurality of substances to be detected by one assay device in an examination method of a specimen using a flow-through type membrane enzyme immunoassay method and having good user's convenience and high reliability.例文帳に追加
フロースルー式メンブランエンザイムイムノアッセイ法を用いた検体の検査方法において、一つのアッセイ装置で複数の被検出物質種を同時に試験して陽性反応を示す被検出物質を簡便・迅速に特定でき、使い勝手のよい信頼性の高いアッセイ方法の提供。 - 特許庁
To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.例文帳に追加
半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁
To provide an aircraft actuator control device which can restrain an increase in the number of sensors while inhibiting a mechanism for testing the commissioning of a control system for controlling an actuator from becoming too complicated, and can improve reliability on the results of the test.例文帳に追加
センサ点数の増大を抑制できるとともに、アクチュエータを制御する制御系統の作動の検査を行うための機構が複雑化してしまうことを抑制でき、更に、検査結果の信頼性も向上させることができる、航空機アクチュエータの制御装置を提供する。 - 特許庁
Regulatory requirements concerning technologies to be incorporatedIn Japan, such actions as feedback of the operating experience and utilization of the technical knowledge obtained through testing and analysis have been taken, so that the safety and reliability of nuclear installations has been enhanced. The breakdowns are described below.例文帳に追加
適用される技術に関する規制要求我が国においては、原子炉施設の運転経験の反映を図ること及び試験・解析による技術知見を利用することにより、原子炉施設の安全性と信頼性を向上させるために、次のような措置が講じられている。 - 経済産業省
In particular, a TFT 30 is an N channel transistor that easily generates unpaired coupling hand and carrier trapping than a P channel transistor, and a predetermined treatment such as annealing or the like effectively suppresses the degradation of operational characteristic or reliability after BT testing caused by the unpaired coupling hand or carrier trapping.例文帳に追加
特に、TFT30は、Pチャネル型トランジスタより不対結合手及びキャリアトラップが発生し易いNチャネル型トランジスタであり、アニール処理等の所定の処理によって、不対結合手及びキャリアトラップに起因して生じるBT試験後のおける動作特性及び信頼性の低下が効果的に抑制されている。 - 特許庁
To improve reliability of laminated PTC thermistors, and stabilize changes with the passage of time of its resistance at room temperature in an electrification testing, in the laminated PTC thermistor, where an external electrode is formed at the opposite ends of a ceramic base structure obtained by alternately laminating and integrally calcining an internal electrode and a semiconductor ceramic layer.例文帳に追加
内部電極と半導体セラミック層とを交互に積層して一体焼成して得られるセラミック素体の両端面に外部電極が形成されてなる積層型PTCサーミスタにおいて、積層型PTCサーミスタの信頼性の向上、具体的には通電試験における室温抵抗の経時変化を安定させる。 - 特許庁
A resin layer of 200 μm or less, an inner layer circuit board having an inner layer circuit pattern for evaluating the insulation and a fluorescent layer are laminated one on top of the other, in the order, and a part of the resin layer is removed to expose terminal parts of the circuit pattern, thereby forming a test piece for testing and evaluating the insulation reliability and its manufacturing method.例文帳に追加
200μm以下の樹脂層、絶縁性評価用の内層回路パターンを形成した内層回路板及び蛍光性層を、順に積層させ、そして該樹脂層の一部を除去して、該内層回路パターンの端子部分を露出させた、絶縁性信頼評価試験用の試験片及びその作成方法である。 - 特許庁
To enable to eliminate products having lower reliability out of initial good products by testing margin for a reference potential of a bit line in the case that storage data is read out from a memory cell in a ferroelectric memory, improving reliability of products shipped, and to perform efficiently analysis of defect by making easy to discriminate whether defect of an initial defective product is caused by margin defect or by defect of a manufacturing process.例文帳に追加
強誘電体メモリに関し、メモリセルからビット線に記憶データが読み出された場合におけるビット線の電位の基準電位に対するマージンを試験し、初期良品からの信頼性の低い製品の除去を可能とし、出荷する製品の信頼性の向上を図ると共に、初期不良品については、その不良がマージン不良を原因とするものなのか、あるいは、製造プロセスの欠陥によるものなのかの識別を容易にし、不良解析の効率化を図る。 - 特許庁
To securely carry out screening for a defective pixel by effectively avoiding deterioration in reliability even when a transistor with low breakdown voltage is used by applying a flat display device and a testing method for the flat display device to, for example, a liquid crystal display device having a driving circuit formed on an insulating substrate in one body.例文帳に追加
本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、耐圧の低いトランジスタを用いる場合であっても、信頼性の劣化を有効に回避して確実に欠陥画素に係るスクリーニングを実行することができるようにする。 - 特許庁
To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.例文帳に追加
より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁
By measuring the electromagnetic noise in the manufacturing/testing process of the magnetic disk unit with the HGA antenna, generation of the electromagnetic noise which may damage the magnetic head can be detected, minimizing damage of the magnetic head caused by the electromagnetic noise and improving the reliability of the magnetic disk unit.例文帳に追加
このHGAアンテナを使用し、磁気ディスク装置の製造・検査工程において、電磁波ノイズ測定することにより、磁気ヘッドを破壊するように電磁ノイズの発生をダイレクトに検出することができ、磁気ヘッドが電磁波ノイズにより破壊されるのを最小限にすることができ、磁気ディスク装置の信頼性を向上させることができる。 - 特許庁
To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加
シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a disconnector built-in transformer which is improved in economical efficiency and reliability for easily and surely executing the unit testing of a transformer body and an electric cable after site installation, and for quickly and efficiently executing a maintenance check operation by easily separating the transformer body from the electric cable without making it necessary to put in/out an insulating medium sealed in an electric cable connection box.例文帳に追加
電力ケーブル接続箱に封入した絶縁媒体の出し入れを行うことなく、変圧器本体と電力ケーブルとを簡単に切り離すことにより、現地据付け後の変圧器本体と電力ケーブルの単体試験を簡単且つ確実に行い、短期間で効率よく保守点検作業を実施でき、経済性及び信頼性の向上を果たした断路器内蔵形変圧器を提供する。 - 特許庁
To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加
テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁
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