「sample of」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

At least during suction operation of the liquid sample by the sample suction part 11, the high purity gas supply part 13 supplies the high purity gas more than the suction volume of the liquid sample to the sample container through the gas feeding needle 7.例文帳に追加

高純度ガス供給部１３は、少なくとも試料吸引部１１の液体試料の吸引動作時に、ガス送り用ニードル７を介して、体積で液体試料が吸引される量以上の高純度ガスを試料容器内へ供給する。 - 特許庁

To provide a sample preparation apparatus having high durability, capable of reducing greatly contamination of a constitutive material into the sample, and hardly influenced by a sample used in the past, a sample preparation method and a highly-accurate elemental analysis method.例文帳に追加

耐久性が高く、構成材料の試料へ混入を著しく減少でき、かつ過去に使用した試料による影響を受けることが少ない試料調整器具、試料調整方法、及び高精度の元素分析方法を提供することできる。 - 特許庁

When clogging of the sample probe is not detected by the clogging detection means when discharging the cleaning water (S6:No), the same liquid sample is sucked again by the sample probe (S10), and clogging of the sample probe is detected by the clogging detection means (S2).例文帳に追加

また、洗浄水の吐出時に詰まり検知手段によってサンプルプローブの詰まりを検知しなかった場合（Ｓ６：Ｎｏ）、サンプルプローブで再度同じ液体試料を吸引させて（Ｓ１０）詰まり検知手段によってサンプルプローブの詰まりを検知する（Ｓ２）。 - 特許庁

This volatile component extracting device is provided with a sample tube 10 for hosing a sample formed of the solid matter containing the volatile component, a gas-filling device 16 for filling the sample tube with an inert gas, a thermostatic chamber 12 for housing the sample tube for holding the sample housed in the sample tube at a predetermined temperature, and a canister 20 in a previously decompressed state selectively connected to the sample tube.例文帳に追加

揮発性成分を含む固形物からなる試料を収納する試料管１０と、この試料管に不活性ガスを充填するガス充填装置１６と、前記試料管を収容して該試料管に収納された前記試料を所定の温度に保つ恒温槽１２と、予め減圧された状態で前記試料管に選択的に接続されるキャニスタ２０とを備える。 - 特許庁

To provide a method and a device for analyzing a three-dimensional internal structure allowing sequential observation of sample sectional images formed by continuously sectioning a sample without any influence of transparency of the sample and throughout observation of the sample under the substantially same condition even in a sample colored with a fluorescent dye for reconstructing the internal structure of the sample with high precision from the respective sectional images.例文帳に追加

試料の透けの影響を受けることなく、試料を連続的に切断してその断面画像を連続して観察でき、かつ試料を蛍光染料で着色した場合でも試料全体をほぼ同一の条件で観察することができ、これにより各断面画像から試料の内部構造を高精密に再構築することができる３次元内部構造の解析方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The electric characteristics measurement device 1 comprises a sample holder 31 holding a measured sample 45a, a pair of electrodes 33 sandwiching the measured sample 45a, and a separating drive part 36 moving at least one of the sample holder 31 and the pair of electrodes 33 to separate the measured sample 45a and the sample holder 31.例文帳に追加

本発明に係る電気特性測定装置１は、被測定試料４５ａを保持するための試料ホルダー３１と、被測定試料４５ａを挟持するための一対の電極３３と、被測定試料４５ａと試料ホルダー３１とを離間させるように試料ホルダー３１及び一対の電極３３の少なくとも一方を移動させる離間駆動部３６とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for amplifying genes contained in a test sample without requiring pretreatment such as separation or purification of nucleic acid contained in the test sample such as a living sample, clinical sample or food; or to provide a method for highly sensitively detecting a specific gene contained in the test sample.例文帳に追加

生体試料、臨床試料、食品などの被検試料に含まれる核酸の分離および精製などの前処理を必要とせず、被検試料に含まれる遺伝子を増幅することができる方法、または、被検試料に含まれる特定遺伝子を高感度に検出できる方法を提供する。 - 特許庁

The testing device 10 for the sample of the viscoelastic body includes the sample holding means 30 which fixes the sample 40 statically, and a testing means 20 for testing the sample, and, in the testing device 10, the sample holding means 30 and the testing means 20 are individually provided respectively.例文帳に追加

また、粘弾性体の試料を試験する装置であって、試料４０を静的に固定可能な試料保持手段３０と、試料を試験する試験手段２０とを備え、試料保持手段３０と試験手段２０とがそれぞれ独立して設けられている試験装置１０である。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for preparing a thin piece sample which accurately position a desired observation region in a sample substrate, without finely separating the sample substrate, and easily prepare a planar sample with regard to a region, at an arbitrary depth from the surface of the sample substrate.例文帳に追加

試料基板内の所望観察領域を試料基板を細かく分離せずに正確に位置出しして試料基板表面から任意の深さの領域についての平面試料を容易に作製することのできる薄片状試料の作製方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

A sample alignment main unit 154 is set to the sample alignment stage 170, and then the sample alignment main unit 154 is reciprocated along the inclined section 172C, in such a state that a handle 152F of a sample alignment plate 152 is held by hand, and thereby placing the sample in the aligned state simply and quickly.例文帳に追加

従って、この試料整列台１７０に試料整列器本体１５４をセットし、試料整列板１５２の把手１５２Ｆを持って、試料整列器本体１５４を傾斜部１７２Ｃに沿って当該往復運動させれば、簡単かつ迅速に試料を整列させることができる。 - 特許庁

In order to acquire the lamina slice sample effectively, a sliced sample is taken on a plate made of a synthetic resin having elasticity, and the sliced sample on the plate is floated and spread on aqueous solution, and the spread sliced sample is dipped up again onto the plate, and the lamina slice sample is acquired by a cutting tool.例文帳に追加

効果的に薄片切片試料を得るために、弾力を有する合成樹脂製のプレート上に薄切試料をとり、該プレート上の薄切試料を水溶液に浮かべて広げ、広げた薄切試料を再度プレートにすくいとり、裁断用具にて薄片切片試料を得る。 - 特許庁

This sample analyzer 1 includes a first measurement unit 2, a second measurement unit 3, a sample transport unit 4 for transporting a sample rack L for holding a plurality of sample containers T storing the sample to the first measurement unit 2 and the second measurement unit 3, and an information processing unit 5.例文帳に追加

検体分析装置１は、第１測定ユニット２と、第２測定ユニット３と、検体が収容された検体容器Ｔを複数保持する検体ラックＬを第１測定ユニット２及び第２測定ユニット３へ搬送する検体搬送ユニット４と、情報処理ユニット５とを備える。 - 特許庁

In a case that a sample 4 is analyzed, the sample 4 is irradiated with a laser beam to finely pulverize a part of the sample 4 and a carrier gas is introduced into a sample chamber 5 to transfer the finely pulverized sample 4 to an analyzing unit 3 along with the carrier gas through a connection tube 22.例文帳に追加

試料４の分析を行う場合は、試料４にレーザ光を照射して、試料４の一部を微粒子化させると共に、試料室５内にキャリアガスを導入して、微粒子化された試料４をキャリアガスと共に接続チューブ２２を介して分析ユニット３に移送する。 - 特許庁

An edge sample value is identified by calculating an edge intensity value for every discrete sample value of the image data, an azimuth angle is stored for each edge sample value, and the edge sample value and the stored azimuth angle are processed by using a format process for each discrete sample value.例文帳に追加

前記画像データの離散サンプル値毎にエッジ強度値を算出することによってエッジサンプル値を識別し、前記エッジサンプル値毎に方位角度を格納し、前記離散サンプル値毎に、前記エッジサンプル値および前記格納された方位角度を形態プロセスを用いて処理する。 - 特許庁

The X-ray analyzer also has a sample chamber R0 capable of setting the sample S inside, a sample support device 48 for supporting the sample S on the measuring position, and an atmosphere generation device for setting the sample chamber R0 in the atmosphere different from vacuum atmosphere in the vacuum path 17.例文帳に追加

このＸ線分析装置は、試料Ｓを内部にセットすることができる試料室Ｒ０と、試料Ｓを測定位置に支持する試料支持装置４８と、試料室Ｒ０を真空路１７内の真空雰囲気と異なる雰囲気にするための雰囲気生成装置とを有する。 - 特許庁

In the method in which the liquid sample is dispensed, a liquid storage part which communicates with a liquid-sample holding part is provided, The liquid sample which is stored in the liquid storage part is dispensed, and it is possible to prevent the loss or the like of the reagent or the sample to be measured when the liquid sample is exhausted.例文帳に追加

液体試料を分注する方法において、液体試料保持部に連通されている液溜部を有し、その液溜部に貯留された液体試料を分注することにより液体試料の枯渇による試薬や測定試料の損失等を防止することが可能となった。 - 特許庁

This device has a constitution wherein a placing face 2a for placing the sample thereon on the sample stand 2 of the sample fixing device 10 is formed to have a curved face ridged in an approximately arced shape in a sectional view, and a sample presser band 3 for pressing the sample S along the placing face 2a by a uniform abutting force is provided.例文帳に追加

試料固定装置１０の試料台２の、試料Ｓを載置する載置面２ａを、断面視略円弧状に隆起した曲面に形成し、その載置面２ａに沿って試料Ｓを均等な当接力で押える試料押えバンド３を備える構成にした。 - 特許庁

To provide a sample preparing method for analyzing, observing, and measuring a minute region by separating, or separating and preparing a minute sample including a desired specific region from the sample, such as an electronic component of a semiconductor wafer and a device, without inclining a sample stage, and to provide a sample preparing apparatus.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

A deep color sample 13 expressing a deep color in the color card 11 is arranged on one side of the light color sample 12, and a neutral color sample 14 expressing a neutral color which stands between the light color sample 12 and the deep color sample 13 is arranged on the other side.例文帳に追加

また、前記淡色色見本１２の一方には、カラーカード１１内にある色の中で濃い色を示する濃色色見本１３があり、これとは異なる方には、前記淡色色見本１２と濃色色見本１３の中間的な色を示する中間色色見本１４があるものである。 - 特許庁

The X-ray reflectivity measuring apparatus has a sample loading stand 4 to load a measuring sample plate 3, a swivel mechanism 5 loading the sample loading stand 4 while tilting it, and a reflected X-ray measuring means 6 for measuring reflected X-rays from the surface of the measuring sample on the measuring sample plate 3.例文帳に追加

測定試料板３を搭載する試料搭載台４と、該試料搭載台４を搭載し該試料搭載台を傾動するスイベル機構５と、前記測定試料板３の測定試料の表面よりの反射Ｘ線を測定する反射Ｘ線測定手段６とを有する。 - 特許庁

A sample alignment main unit 154 is set to the sample alignment stage 170, and then the sample alignment main unit 154 is reciprocated along the inclined section 172C, in such a state that a handle 152F of a sample alignment plate 152 is held by hand, and thereby can make the sample align simply and quickly.例文帳に追加

従って、この試料整列台１７０に試料整列器本体１５４をセットし、試料整列板１５２の把手１５２Ｆを持って、試料整列器本体１５４を傾斜部１７２Ｃに沿って当該往復運動させれば、簡単かつ迅速に試料を整列させることができる。 - 特許庁

To provide a sample support apparatus capable of simply adjusting the horizontal posture of a long sample when the hardness of the long sample is measured by a hardness tester and capable of enhancing the measuring accuracy of a hardness test by reducing the generation of bending in the long sample by the pressing due to a pressure element.例文帳に追加

硬さ試験機により長尺試料の硬さを測定する場合に、長尺試料の水平姿勢を簡単に調整することが可能であると共に、圧子による押圧により長尺試料に撓みが生じることを低減して、硬さ試験の測定精度を向上させることが可能な試料支持装置を提供する。 - 特許庁

When the sample 3 to be analyzed reaches a measurement position by the travel of the sample stand 1, a displacement sensor 12 measures the amount of displacement in the height of the upper surface of the sample 3, and an amount-of-displacement correction control section 17 drives a displacement drive section 16 based on the measurement value and finely moves the sample stand 1 in the direction of Z axis.例文帳に追加

試料台１の移動により分析対象のサンプル３が測定位置に来たとき、変位センサ１２はそのサンプル３上面の高さの変位量を計測し、変位量補正制御部１７は計測値に基づいて変位駆動部１６を駆動して試料台１をＺ軸方向に微小移動させる。 - 特許庁

To provide a gene amplifying and analyzing system capable of recognizing that the measuring result of a sample is displayed on the basis of the measuring result of a precision control sample.例文帳に追加

試料の測定結果が精度管理試料の測定結果に基づいて表示されたものであると認識することが可能な遺伝子増幅分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide an element analyzer enhanced in the reproducibility of measuring accuracy by eliminating the scattering phenomenon of a liquid sample at the time of movement of a slider in a slide type sample injection part.例文帳に追加

スライド式試料注入部におけるスライダ移動時の液体試料の飛散現象を無くし、測定精度の再現性を向上させた元素分析計を提供する。 - 特許庁

In this case, at a low angle region than the boundary angle of θa, the scattering angle of 2β is changed so that the irradiation width of X rays onto the sample surface becomes the width of the sample.例文帳に追加

ここで、境界角度θａよりも低角度領域では、試料表面へのＸ線の照射幅が試料の幅になるように、発散角２βを変化させる。 - 特許庁

The measuring cell 8 is fixed on the sample stage of an atomic force microscope 20, and a probe is allowed to fall on the surface of the Al layer 4 of the sample 7 to measure the surface shape of the Al layer.例文帳に追加

この測定セル８を、原子間顕微鏡２０の試料ステージに固定し、試料７のＡｌ層４の表面に探針を降ろし表面形状測定を行う。 - 特許庁

The output of a pump for sending a sample liquid is controlled on the basis of the measured flow velocity and the flow velocity of the sample liquid in the vicinity of the mass sensor can be kept constant.例文帳に追加

測定した流速をもとに、サンプル液を送液するポンプの出力を制御し、質量センサ近傍でのサンプル液の流速を一定に保つことができる。 - 特許庁

To provide a measurement method of sample, using an electron microscope which can carry out precise measurements of the size of feature structure of the sample.例文帳に追加

オートフォーカスの失敗による影響を除去でき、試料の特徴構造の寸法を正確に測定し得る電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for management of sample transportation capable of preventing sample enclosures from being damaged when transporting samples and easily confirming states of transportations of the samples.例文帳に追加

検体搬送時における検体容器の破損を予防し得ると共に、検体の搬送状態を容易に確認することのできる検体搬送管理装置を提供すること。 - 特許庁

The conveying means 14 sets the position of each of the parts of the sample on the optical axis of the observation optical system by moving the culturing container on observing the sample by the observing means.例文帳に追加

搬送手段１４は、観察手段による試料の観察時に、培養容器を移動して試料の各部を観察光学系の光軸上に位置決めする。 - 特許庁

An analyzing position is specified by irradiating the surface of the sample with a laser beam, in alignment with the optical axis of secondary ions and observing the position of the laser spot generated on the surface of the sample.例文帳に追加

二次イオンの光軸に一致させて試料表面にレーザ光を照射させ、試料表面に生じたレーザスポットの位置を観察することで分析位置を特定する。 - 特許庁

The oxidized and decomposed reference sample water is transferred to a measuring cell 8, and the absorbance of nitrate ion of the reference sample water of wavelength of 220 nm is measured by an absorbance measuring part 9.例文帳に追加

酸化分解された基準試料水は、測定セル８に移送され、吸光度測定部９で波長２２０ｎｍの基準試料水の硝酸イオンの吸光度が測定される。 - 特許庁

SAMPLE WAFER FOR CALIBRATION OF IMAGE INSPECTION DEVICE, AND CALIBRATION METHOD OF IMAGE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像検査装置の校正用サンプルウエーハ及び画像検査装置の校正方法 - 特許庁

DETECTION METHOD OF EXISTENCE OF SAMPLE LIQUID IN MEASURING CELL, AND OPTICAL ANALYZER例文帳に追加

測定セル内における試料液の有無の検知方法および光学式分析計 - 特許庁

A projection part 27a on an upper part of a sample block 27 is grasped by tips of nano-tweezers 40.例文帳に追加

ナノピンセット４０の先端で、試料ブロック２７上部の凸部２７ａを掴む。 - 特許庁

The PC 28 measures the surface potential of the sample 36 from the state of vibration.例文帳に追加

ＰＣ２８は、この振動状態から試料３６の表面電位を測定する。 - 特許庁

The incident face of the light is substantially perpendicular to the face substantially tangential to the edge of the sample.例文帳に追加

入射面は、試料のエッジにほぼ正接する面に対しほぼ垂直である。 - 特許庁

To maintain accuracy of detecting the top surface of a sample with a simple and easy method.例文帳に追加

簡便な方法でありながら試料の最表面の検出精度を維持する。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR DIRECT OBSERVATION OF IRON OXIDE REDUCTION IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION OF FLAW ON SURFACE OF SAMPLE TRAVELING AT FIXED SPEED例文帳に追加

定速度で移動する被検体表面傷の超音波探傷方法及び装置 - 特許庁

To provide a heat conducting sensor strip which achieves accurate measurement of the temperature of a sample.例文帳に追加

サンプル温度を正確に測定できる熱伝導性センサーストリップを提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of elastic modulus of an extreme surface in a solid material sample.例文帳に追加

固体物質資料の極表面の弾性率の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a gas analyzer capable of precisely measuring the temperature of a sample.例文帳に追加

試料の温度を正確に測定することができるガス分析装置を提供する。 - 特許庁