「sample of」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

A sample 2 is brought into contact with or peeled from the surface of an inspection target such as the stage, the chuck or the like to measure the change quantity of the peel charge quantity of the sample 2.例文帳に追加

ステージやチャックなどの被検査物１の表面に試料２を接触・剥離させて、試料２の剥離帯電量の変化量を測定する。 - 特許庁

As a result of this method, the sample piece for use in the evaluation of a cross section can be cut easily, without peeling, tearing or curling of the sample.例文帳に追加

こうすることにより、試料が剥がれたり、千切れたり、或いはカールすることなく、容易に断面評価用の試料片を切り出すことができる。 - 特許庁

To obtain the state analysis of a sample in a two-dimensional image with an improved S/N ratio by the amount of irradiation of electron rays for restraining damage by irradiating the sample with electron rays.例文帳に追加

試料への電子線照射ダメージが抑えられる電子線照射量で、Ｓ／Ｎが良く試料の状態分析を２次元イメージとして得る。 - 特許庁

To one of electrodes of a sample switching device 1 in an open circuit state, a direct current voltage equivalent to the rated voltage peak value of the sample switching device is applied.例文帳に追加

開路状態の供試開閉装置１の電極の片側に供試開閉装置定格電圧波高値相当の直流電圧を印加する。 - 特許庁

The focus of the optical device for inspecting a sample or measuring the physical quantity of the sample and the focus of an autofocus mechanism are matched with the reference system.例文帳に追加

試料を検査し又は試料の物理量を測定する光学装置の焦点及びオートフォーカス機構の焦点を基準系に整合させる。 - 特許庁

To provide an X-ray image magnifying device capable of making an efficient survey of the observation part of a sample and observing the sample with high magnification.例文帳に追加

試料の観察部位の探査を効率よく行うと共に、高倍率で試料の観察を行うことが可能なＸ線像拡大装置を提供すること。 - 特許庁

The foreign matter A attached on the inspection surface of the sample B is detected based on the intensity variation of the X-ray beams L' reflected on the inspection surface of the sample B.例文帳に追加

そして、試料Ｂの検査面で反射したＸ線ビームＬ'の強度変化に基づき、試料Ｂの検査面に接触した異物Ａを検出する。 - 特許庁

A plurality of processing probes 2 having a tip 21 for processing a sample are arranged side by side on the side of a probe 1 for measuring very fine projecting and recessed parts on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の微細な凹凸を計測するプローブ１の側方に、試料加工用チップ２１をもつ加工用プローブ２を複数個並設した。 - 特許庁

To save the labor for raising a bottom or the like when there are differences in thicknesses of sample pieces of an underframe for sample books or the like of heavy weight woven fabrics.例文帳に追加

厚地織物の見本帳等の台枠において、見本片の厚味に差がある場合に上げ底等をする手間をなくすことを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a quantitative contamination sample and an apparatus of manufacturing the same sample that can, with high efficiency and in a short time, contaminate the surface of a substrate with good quantifiability as well as with good reproducibility.例文帳に追加

短時間に高い効率で基板表面を定量性、再現性よく汚染しうる定量汚染試料作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The sampling adjustment unit groups the plurality of pixels into a plurality of pixel groups, to make the sample hold unit successively sample the pixel signals that are read out in the unit of each pixel group.例文帳に追加

サンプリング調整部は、複数の画素を複数の画素群にグループ化し、サンプルホールド部に画素群単位で読み出された画素信号を順次サンプリングさせる。 - 特許庁

A plurality of sample images and photograph condition data such as shutter speed and aperture value of each sample image are stored in a data file 12 of an image server 10.例文帳に追加

画像サーバ１０のデータファイル１２に、複数のサンプル画像と、各サンプル画像のシャッター速度、絞り値等の撮影条件データを記憶させておく。 - 特許庁

Then, the temperature T of the sample 11 is measured by a thermometer 12 in each time t until the temperature of the sample 11 reaches the temperature T_L of the heat bath 14.例文帳に追加

その後試料１１の温度が、熱浴１４の温度Ｔ_Ｌになるまで、試料の温度Ｔを時間ｔに対して温度計１２を用いて測定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that observes the surface of a sample even when a probe does not contact the sample irrespective of a Q value of a cantilever.例文帳に追加

カンチレバーのＱ値に拘わらず、探針が試料に接触しなくても試料表面を観察することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The arithmetic control unit 5 detects the displacement of the movable reflector 51 caused by the piezoelectric deformation of the piezoelectric sample 50 and measures a piezoelectric property of the piezoelectric sample 50.例文帳に追加

演算制御部５は、圧電体試料５０の圧電変形による可動反射板５１の変位を検出して圧電体試料５０の圧電特性を測定する。 - 特許庁

In this laser ionization mass spectrometry, thickness of thickness distribution of a sample on a sample base are obtained, and an irradiation spot of pulse laser is set from the result.例文帳に追加

レーザーイオン化質量分析方法を、サンプル台上の試料の厚さや厚さ分布を求め、その結果からパルスレーザーの照射場所を設定するものとする。 - 特許庁

The micro sample piece S is fixed onto any of the fourth stage 14-54 of the micro sample block 10, and a three ways of fixing positions are allowed therein as follows.例文帳に追加

微小試料片Ｓは、微小試料台１０の第４段１４〜５４のいずれかに固定されるが、固定する位置としては、次の３通りがある。 - 特許庁

To provide a sample liquid assay chip having a simple structure and a high storage stability for a plurality of reagents capable of preferably controlling a transfer of a sample liquid.例文帳に追加

簡易構造であり、複数の試薬の保存安定性が高く、試料液の移送を好適に制御できる試料液分析チップを提供する。 - 特許庁

A probe unit 21 detects the surface state of a sample 34 on the basis of the change of physical quantity acting between the sample 34 and a probe 78.例文帳に追加

探針ユニット２１は、試料３４と探針７８との間に作用する物理量の変化に基づいて試料３４の表面の状態の検出を行う。 - 特許庁

A sample S is rotated around the predetermined Ω axis passing the center O of a goniomotor to set the incidence angle ω of X-rays to the surface Sa of the sample S.例文帳に追加

ゴニオメータの中心Ｏを通る所定のΩ軸周りに試料Ｓを回転させて試料面Ｓａに対するＸ線の入射角ωを設定する。 - 特許庁

Further, the autoanalyzer includes a means for easily indicating the confirmation of the measuring data of the precision control sample out of the range of the reference upper and lower limit values and the remeasurement of the precision control sample of analytical items.例文帳に追加

また、基準上下限値の範囲を外れた精度管理試料の測定データの確認および該分析項目の精度管理試料の再測定を容易に指示できる手段を備える。 - 特許庁

To provide a microscope in which images in a plurality of positions with different depths of a sample are simultaneously picked up by a plurality of line sensors so as to extremely rapidly obtain the whole image at each of the plurality of depths of the sample.例文帳に追加

複数のラインセンサで標本深さがそれぞれ異なる複数の位置を同時に撮像し、複数の標本深さ毎の全体画像を、極めて迅速に得るようにする。 - 特許庁

Its information is stored, and then on the basis of the feature of the response of the molecular membranes in plurality with respect to the sample solution and on the basis of the stored information, the quality of taste of the sample solution is judged.例文帳に追加

そして、その情報を記憶しておき、測定対象液に対する複数の分子膜の応答の特徴と記憶している情報とから、測定対象液の味質を判定する。 - 特許庁

The primary beam 107 is irradiated to one point on the sample by a plurality of directions, namely, a plurality of angles against a sample wafer 115, and a reached point of the primary beam 107 on the sample is maintained at a fixed level without inclining the electrooptic system and the sample.例文帳に追加

一次ビーム１０７は試料上の一点に対して複数の方向、すなわち試料ウェハ１１５に対して複数の角度をもって照射され、電子光学系と試料を傾斜させることなく、一次ビーム１０７の試料上到達点を一定に保つ。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of remarkably reducing dust-sticking on a sample such as a semiconductor wafer using an immersion objective lens and the occurrence of watermarks on the sample by quickly drying liquid remaining on the sample after performing the visual inspection of the sample.例文帳に追加

液浸系対物レンズを用いた半導体ウエハ等の標本の外観検査後に、標本上に残存する液体を速やかに乾燥して、標本への塵埃等の付着やウォーターマークの発生を著しく減少させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

By this, the visible light imaging part fixed on the sample table 33 can image a desired position all the time because a relative position to the sample does not change regardless of movement of the sample table 33, and the visible light observation image of the sample is imaged easily.例文帳に追加

これによって、試料台３３上に固定された可視光撮像部は、試料台３３の移動に拘わらず試料との相対位置が変化しないため、常時所望の位置を撮像することが可能となり、試料の可視光観察像を容易に撮像できる。 - 特許庁

A prediction sample value calculation section 11 in a moving picture coding apparatus 10 calculates the prediction sample values required for selecting the prediction mode on the basis of pixel values of coded blocks in the vicinity of a coding object block and stores the calculated prediction sample values to a prediction sample value storage section 12.例文帳に追加

動画像符号化装置１０において，予測サンプル値算出部１１は，符号化対象ブロック近傍の符号化済みブロックの画素値をもとに，予測モードの選択に必要となる予測サンプル値を算出し，予測サンプル値記憶部１２に保持する。 - 特許庁

A sample is illuminated with far infrared light so that the far infrared light is in horizontally-expanded shape on the sample or a plurality of spots of the far infrared light are arrayed on the sample, and the sample is moved in a direction orthogonal to a horizontally-expanded direction of the far infrared light to detect an image.例文帳に追加

遠赤外光を試料上で横長形状あるいは複数の点が横長に並んだ形状にして試料を照明し、遠赤外光の横長方向に直角な方向に試料を移動させながら像を検出することを特徴とする。 - 特許庁

In a treating device wherein a plurality of places carrying the sample exist and another treating device where a mechanism to the carrying position, the sample and the information of the sample exist, the sample has the information at both carrying original position and carrying destination position on the halfway of carrying.例文帳に追加

試料を搬送する場所が複数ある処理装置と、その搬送位置への機構と、試料及び、試料の情報がある処理装置において、試料を搬送途中は搬送元位置と搬送先位置の両方に試料情報を有することを特徴とする。 - 特許庁

Calibration is executed in order to adjust primary beams 110 on the sample surface to an ideal arrangement in response to the change of operating conditions of inspection conditions and the like such as an electric field on the sample surface, and a voltage applied to the sample in accordance with the characteristic of the sample.例文帳に追加

試料の特性に応じて試料表面における電界や、試料に印加する電圧などの検査条件等の動作条件の変更に対応し、試料表面における一次ビーム110を理想的な配置に調整するため、キャリブレーションを行う。 - 特許庁

In this method for cutting the bio-sample by irradiation of a beam, the bio-sample and the colored film having 3-6 μm of thickness are set on one side face of a supporting body, and the bio-sample is irradiated with the beam to cut the target portion of the bio-sample.例文帳に追加

生体試料を光照射によって切断する方法であって、支持体の片面上に生体試料と厚さ３〜６μｍの着色フィルムとを設置し、生体試料に光を照射して生体試料の目的部分を切断することを特徴とする方法。 - 特許庁

This stress measuring system has a pair of dies 1 and 2 for defining a cavity 17 of the specific volume for sealing sample rubber 18 under pressurization and heating the sample rubber 18 in the cavity 17, a pressure sensor 21 of the sample rubber 18 associatively arranged to the lower die 2 and a temperature measuring means of the sample rubber.例文帳に追加

サンプルゴム１８を加圧下で封入する一定容積のキャビティ１７を画成するとともに、キャビティ１７内のサンプルゴム１８を加熱する一対のダイ１，２と、下部ダイ２に関連させて設けた、サンプルゴム１８の圧力センサ２１および、サンプルゴムの温度測定手段とを具えてなる。 - 特許庁

The sample distribution information server searches a user information storage means, recognizes personal information of the user related to the identification information, collates it with a sample distribution condition of each the kind of the sample, and determines the kind of the sample to be provided about the user.例文帳に追加

試供品配布情報サーバは、利用者情報記憶手段を探索し、その識別情報に係る利用者の個人情報を認識し、試供品の種類毎の試供品配布条件と照合し、その利用者について提供する試供品の種類を決定する。 - 特許庁

Subsequently, correlation between the secondary X-ray dose and the adhesion of plating to a sample other than the standard sample is determined (step S7), an adhesion of plating corresponding to the secondary X-ray dose of the standard sample is detected from the correlation, and adhesion of plating to the standard sample is estimated (step S8).例文帳に追加

標準サンプルを除くサンプル２のめっき付着量と二次Ｘ線量との相関関係を求め（ステップＳ７）、この相関関係から標準サンプルの二次Ｘ線量に対応するめっき付着量を検出し、これを標準サンプルのめっき付着量として推定する（ステップＳ８）。 - 特許庁

When the control circuit 26 recognizes the opening of the gate valve 6, a goniometer drive circuit 25 is controlled to a tilt angle of the sample toward a direction of a position X from among sample exchanging positions X, Y, Z memorized and sets the sample holder 2 at the tip of the goniometer on the sample exchanging position.例文帳に追加

制御回路２６は、仕切弁６が開いたことを認識したら、記憶している試料交換位置Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の位置、Ｘ方向への試料の傾斜角にゴニオメータ駆動回路２５を制御してゴニオメータ先端の試料ホルダ２を試料交換位置にセットする。 - 特許庁

In this scanning electron microscope, the acceleration voltage of an electron beam EB irradiated on a sample 2 is set to 4 kV, and a voltage of -3 kV is applied to the sample 2 from a power source 11, so that the electron beam EB is decelerated immediately in front of the sample and is irradiated on the sample 2 with an energy of 1 kV.例文帳に追加

試料２に照射される電子ビームＥＢの加速電圧は、４ｋＶとされており、試料２には電源１１より−３ｋＶの電圧が印加されていることから、電子ビームＥＢは試料の直前で減速され、１ｋＶのエネルギーで試料２に照射される。 - 特許庁

To prevent decline of the intensity of light incident on a sample, to miniaturize a sample moving mechanism by dispensing with tilting of the sample at the measuring time of the reflectance, to shorten the vacuum evacuation time and the measuring time, and to enable reflectance measurement for the normal direction to the sample surface.例文帳に追加

試料に入射する光の光強度の低下を防止し、また、反射率の測定時に試料の傾斜を不要として試料移動機構を小型化し、真空排気時間に短縮と共に測定時間を短縮し、また、試料面の法線方向の反射率測定を可能とする。 - 特許庁

To provide a jig for a tamping test adaptable to an existing apparatus when a sample is tamped while equally pressed, having high general-purpose properties, capable of preventing the scattering of the sample and capable of stably molding a sample, and to provide a method of preparing the sample for the tamping test.例文帳に追加

試料を均等に押圧しつつ突固めを行う際に、既存の装置に適用することができ、汎用性が大きく、しかも、試料の飛散を防止できて安定して供試体を成形することができる突固め試験用治具及び突固め試験用供試体作成方法を提供する。 - 特許庁

A radiation absorption layer comprising a radiation absorbing material is layered on a radiation generating measurement sample or the radiation absorbing material is mixed to the radiation generating measurement sample to form a structure capable of applying a part or the whole of the energy of radiation emitted from the measurement sample to the inside of the measurement sample.例文帳に追加

放射線発生測定試料に、放射線吸収材でなる放射線吸収層を成層したり、放射線吸収材を混合して、測定試料より放出される放射線のエネルギーの一部または全部を測定試料中に付与できる構造を形成する。 - 特許庁

A heat insulation cover is provided in the upper part of the NMR sample tube, a heater is provided separately in the vicinity of the upper part of the NMR sample tube in addition to a heater provided originally in a lower side of the NMR sample tube for heating a fluid, and the NMR sample tube is heated thereby.例文帳に追加

ＮＭＲ試料管の上部に保温カバーを設けると共に、流体を加熱するためにＮＭＲ試料管の下方に本来備わっているヒーターの他に、ＮＭＲ試料管の上部付近にも別のヒーターを設けてＮＭＲ試料管を加熱するようにした。 - 特許庁

In this case, laser beams 4 are applied to a surface 3 in the sample 1 from a light source 8, the temperature of the back of the sample 1 at that time is measured by a radiation thermometer 6 via a hole 10 in the heater 5 and a transparent sample holder 2, thus measuring the thermal physical properties of the sample by using the temperature response properties of a multilayer model.例文帳に追加

このとき光源８からレーザ４を試料１の表面３に照射し、その際の試料１の裏面の温度をヒータ５の穴１０、透明な試料ホルダ２を介して放射温度計６で測定し、多層モデルの温度応答性を用いて試料の熱物性を測定する。 - 特許庁

To provide a signal reception circuit that can receive sample data without causing discontinuity on received sample data even when the number of sample data sent by a sender side terminal is not in agreement with the number of sample data going to be received by a receiver side terminal.例文帳に追加

送信側端末が送信するサンプルデータの数と、受信側端末が受信しようとするサンプルデータの数が一致していなくても、受信されたサンプルデータに不連続性を発生させずにサンプルデータを受信できる信号受信回路を提供する。 - 特許庁

The system further includes a positive sample average generator for calculating a positive sample average according to the number of positive samples in the input signal, and a negative sample average generator for calculating a negative sample average according to the number of negative samples in the input signal.例文帳に追加

このシステムは、入力信号中の正サンプルの数に従って正サンプル平均を計算する正サンプル平均発生器と、入力信号中の負サンプルの数に従って負サンプル平均を計算する負サンプル平均発生器とをさらに含む。 - 特許庁

Accordingly, even when a barcode label is adhered over another barcode label on the sample container, a sample ID which should be employed as a true value is properly determined among the obtained plurality of sample IDs, and thus the accuracy of the finally obtained sample ID can be increased.例文帳に追加

これにより、検体容器にバーコードラベルが重ねて貼られている場合でも、得られた複数の検体ＩＤから、真値として採用すべき検体ＩＤが適正に判定されるため、最終的に得られる検体ＩＤの精度が高められ得る。 - 特許庁

A diamond-like carbon film 6 is formed on a substrate of the sample preparation part 2 in the sample preparation region 4, and a diamond-like carbon film 7 is formed on a substrate of the sample holding part 3 in the sample preparation region 5, respectively.例文帳に追加

前記試料調整領域４における前記試料調整部２の基体にはダイヤモンド状炭素膜６が、前記試料調整領域５における前記試料保持部３の基体にはダイヤモンド状炭素膜７が、それぞれ形成されている。 - 特許庁