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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample-setの意味・解説 > sample-setに関連した英語例文

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sample-setの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 771



例文

An analysis flag of "uninspected" is set for the remaining tests for the same sample.例文帳に追加

それ以降の同サンプル中の残りのテストについては、「未検査」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁

Therefore, stresses in three axial directions can be freely set to be applied to the test sample 4.例文帳に追加

したがって試験体4に三軸方向の応力を自由に設定してかけることができる。 - 特許庁

To set appropriate printing conditions in sample printing for forms registered in a printer.例文帳に追加

印刷装置に登録したフォームのサンプル印刷に際し、適切な印刷条件の設定を行なう。 - 特許庁

The energy of the secondary electrons 14 at that time is always set to a value of the application voltage to the sample 2 or higher.例文帳に追加

そのときの2次電子14のエネルギーは、全て試料2への印加電圧以上となる。 - 特許庁

例文

An equalizer coefficient is applied to a sample stored in the buffer set to generate an equalized symbol sequence.例文帳に追加

等化器係数がバッファセットに格納されたサンプルに作用し、等化シンボルシーケンスを生成する。 - 特許庁


例文

The target traveling amount of the platen after abutting onto the sample is set to the positional counter 222a.例文帳に追加

圧盤が供試体に当接した後の目標移動量を位置カウンタ222aに設定する。 - 特許庁

The characteristic function indicates whether a given sample is a member of the set of samples.例文帳に追加

前記特性関数は、所与のサンプルが前記サンプルの集合の要素であるかどうかを示す。 - 特許庁

Since the high-pass gain is changed every sample by the processing of only this sample, however, the high-pass gain is not returned to a set gain at once, on and after the following sample, but returned to the set gain within the range never causing the overflow even if no overflow is caused.例文帳に追加

しかし、当該サンプルのみの処理では、高域ゲインが1サンプル毎に変化することになるので、次サンプル以降はオーバーフローが起きていなくても、一気に設定ゲインまで戻すのではなく、オーバーフローの起きない範囲で、設定ゲインまで戻す。 - 特許庁

A color sample print section 303 converts color information of the selected color sample set depending on the characteristics of a printer and outputs image information to the printer 305 after producing the image information of the color sample set.例文帳に追加

色見本印刷部303は、選択された色見本セットの色情報を印刷装置の特性に応じて変換し、当該変換後の色情報に基づいて前記色見本セットの画像情報を生成した後、画像情報をプリンタ305に出力する。 - 特許庁

例文

In the method, the sample holder 1 is supported in an inclined state in which one side of a transparent window is set downward, and the sample is supplied while vibrating the sample holder 1.例文帳に追加

透明窓の一方側を下向きにして試料容器1を傾斜状態で保持し、この試料容器1を振動させながら試料を充填させるという技術的手段を講じるのもである。 - 特許庁

例文

A sample is set to arrange so as that every concavity and convexity on a surface of the sample are positioned in a range of the focus depth according to the magnification ratio when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.例文帳に追加

本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、倍率の高低に応じて試料の表面の凹凸の全てが焦点深度領域内となるように試料が配置される。 - 特許庁

To provide an apparatus for long term storage of a sample, which can precisely set a supercooling temperature zone before the production of ice crystals for a target sample such as biological cells or tissues and can preserve the sample for a long period.例文帳に追加

生体細胞や組織等の対象試料に対応して氷晶発生前の過冷却温度帯を精度良く設定できて、長期保存可能な試料長期保存装置を提供する。 - 特許庁

This sample holding member 10 of the present invention can be set in a measuring chamber 23 of the spectrophotometer, and holds the liquid sample 40 filled in a sample tube 30 to allow heating, by a holding block 11.例文帳に追加

本発明にかかる試料保持体10は、分光光度計の測定室23に設置可能となっており、試料チューブ30に入れた液状試料40を、保持ブロック11で加熱可能に保持する。 - 特許庁

A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置1は、試料Aがセットされる試料台3を有する走査型電子顕微鏡2と、前記試料台3に装着される走査型プローブ顕微鏡4とを具備する。 - 特許庁

A divided sample formed by dividing the sample for water permeability tests of conventionally general size in the height direction (flow direction) is set in each water permeable cell.例文帳に追加

各透水セルには、従来一般的なサイズの透水試験用供試体を高さ方向(通水方向)に分割した分割供試体をセットする。 - 特許庁

Sample points 306 are set on each ray (line of sight) 304 at predetermined intervals, and voxel calculation is carried out individually for the sample points.例文帳に追加

各レイ(視線)304上において所定間隔をもってサンプルポイント306が定められ、それらに対して個別的にボクセル演算が実行される。 - 特許庁

For example, the phase relation between sample pulses SP_1 and SP_2 supplied to sample holding sections 92_1 and 92_2 is so set that no gap is formed between their sampling periods.例文帳に追加

たとえば、サンプルホールド部92_1,2に供給するサンプルパルスSP_1,2の位相関係を、お互いのサンプリング期間に隙間が生じるように設定する。 - 特許庁

A rectangular parallelepiped-shaped support hole 32 is formed at the tip of the sample holder body 31, and the rectangular parallelepiped- shaped sample base 33 is set in this hole.例文帳に追加

試料ホルダー本体31の先端部に、直方体状の支持穴32が形成されており、この穴に直方体状の試料ベース33がセットされている。 - 特許庁

An area with possibility for the sample structure to exist is limited an sample form is specified by calculating the product set of areas projected in respective directions.例文帳に追加

試料構造が存在する可能性のある領域を限定し、各方向から投影された領域の積集合計算によって試料形状を特定する。 - 特許庁

Ion guns 4 are set in the vacuum chamber 2 for projecting ion beams to an upper and a lower surfaces of the sample thereby ion polishing the sample.例文帳に追加

また、真空室2内には、試料の上側表面と下側表面にイオンビームを照射してイオン研磨を行うためのイオン銃4が設けられている。 - 特許庁

Vector lines L1 and L2 are set through the sample points and angles to the speed information of the sample points P1 and P2 are corrected using them.例文帳に追加

それらのサンプル点を貫通してベクトルラインL1,L2が設定され、それらを利用してサンプル点P1,P2の速度情報に対する角度補正がなされる。 - 特許庁

After one set of booklet is output to the sample paper output tray 24, the paper output tray is switched from the sample paper output tray 24 to ordinary paper output tray 23.例文帳に追加

サンプル用排紙トレイ24に冊子が1部出力されると、排紙トレイがサンプル用排紙トレイ24から通常用排紙トレイ23に切り替えられる。 - 特許庁

In this laser ionization mass spectrometry, thickness of thickness distribution of a sample on a sample base are obtained, and an irradiation spot of pulse laser is set from the result.例文帳に追加

レーザーイオン化質量分析方法を、サンプル台上の試料の厚さや厚さ分布を求め、その結果からパルスレーザーの照射場所を設定するものとする。 - 特許庁

A sample S is rotated around the predetermined Ω axis passing the center O of a goniomotor to set the incidence angle ω of X-rays to the surface Sa of the sample S.例文帳に追加

ゴニオメータの中心Oを通る所定のΩ軸周りに試料Sを回転させて試料面Saに対するX線の入射角ωを設定する。 - 特許庁

A probe 28 for pickup supporting the sample 26 is moved in the direction of the support hole 32 of the tip part of the sample holder body 31, and the sample 26 is inserted into the groove 34, formed in the sample base 33 set in the support hole 32.例文帳に追加

試料26を支持したピックアップ用プローブ28を試料ホルダー本体31の先端部の支持穴32の方に向かって移動させ、該支持穴32内にセットされている試料ベース33に形成されている溝34内に試料26を挿入する。 - 特許庁

The reduction ratio of the stencil mask 111 onto a sample surface is set to 1/N1, and when the reduction ratio of the first mask 103 and the second mask 106 onto the sample surface is set to 1/N2, N2 may be larger than N1.例文帳に追加

ステンシルマスク111の試料面上への縮小率をN1分の1とし、第1マスク103及び第2マスク106の試料面上への縮小率をN2分の1とするときにN2>N1であってもよい。 - 特許庁

The sample container set part 20 and the reagent container set part 30 are arranged along the X-axis direction, and the reaction detection part 60 is arranged along the X-axis direction at a prescribed interval in the Y-axis direction relative to the sample container set part 20 and the reagent container set part 30.例文帳に追加

そして、サンプル容器セット部20と試薬容器セット部30とは、X軸方向に沿って配置されるとともに、反応検出部60は、サンプル容器セット部20および試薬容器セット部30に対して、Y軸方向に所定の間隔を隔ててX軸方向に沿って配置されている。 - 特許庁

The error correction part 46 uses the error correction value as an initial value for a weight that is set to the sample value delayed from the most previous sample value among a plurality of sample values of the feedback transmission signal FSS by the delay amount, among a plurality of weights for correcting an error, which are set to the sample values.例文帳に追加

誤差補正部46は、フィードバック送信信号FSSの複数のサンプル値に設定される、誤差を補正するための複数のウェイトのうち、当該複数のサンプル値において最も前のサンプル値に対して上記遅延量だけ遅れたサンプル値に設定されるウェイトの初期値として、上記誤差補正値を使用する。 - 特許庁

The sample line profiles are updated at a frequency set to a value less than the frequency of X-scanning.例文帳に追加

試料ラインプロファイルはX走査の周波数未満の値に設定された周波数で更新される。 - 特許庁

A charged particle beam incident to a sample is set to be an inclined angle equivalent to the right/left disparity angle.例文帳に追加

試料に入射する荷電粒子線を左右視差角分に相当する傾斜角に設定する。 - 特許庁

In the test by the torque constant control, a torque is forecast based on a deceleration set value G of the sample brake.例文帳に追加

トルク一定制御による試験では供試ブレーキの減速度設定値Gを基にしてトルクを予測する。 - 特許庁

The sample gradation level of a 1st set is generated by the 1st marking device (step 102).例文帳に追加

第1のセットのサンプル階調レベルは、前記第1のマーキング装置を使用して生成される(ステップ102)。 - 特許庁

METHOD FOR DESIGNING PROBE SET USED FOR DETECTION METHOD OF SAMPLE NUCLEIC ACID BY DETECTION OF HYBRID BODY例文帳に追加

ハイブリッド体の検出によるサンプル核酸の検出方法に用いる前記プローブセットの設計方法 - 特許庁

The image to be sample outputted is read by each of a plurality of resolutions that can be set by a scanner (S504).例文帳に追加

スキャナで設定できる複数の解像度のそれぞれでサンプル出力する画像を読み込む(S504)。 - 特許庁

In order to reduce the operation quantity, the high-pass gain may be set to 0 for the sample where the overflow occurred.例文帳に追加

ただし、演算量削減のため、オーバーフローの起きたサンプルでは高域ゲインを0にするなどしても良い。 - 特許庁

The image processing parameter set by the operator is registered in the database as new sample information.例文帳に追加

オペレータにより設定された画像処理パラメータは、新規のサンプル情報としてデータベースに登録される。 - 特許庁

From a device-independent image data set obtained from an image sample, a first CMYK image data set for a standard printing process is produced.例文帳に追加

画像見本から得られた、装置に依存しない画像データ組から、標準印刷プロセス用の第1のCMYK画像データ組を生成する。 - 特許庁

The database is retrieved with the subject constitutive word as a keyword and the word set including this word is extracted as a subject related sample word set.例文帳に追加

主題構成単語をキーワードとしてデータベースを検索し、この単語を含む単語集を主題関連見本単語集として抽出する。 - 特許庁

When a negative voltage is applied to the sample base 7 and the outer magnetic pole 5b by a power source 9, the sample base 7, the sample 6 and the outer magnetic pole 5b are set at the same potential; and the symmetry of an electric field with respect to the optical axis of an electron beam is kept even if the sample is tilted.例文帳に追加

試料台7と外側磁極5bに電源9により負電位が印加されると、試料台7及び試料6と外側磁極5bは同電位となり、試料を傾斜させても、電子線の光軸に対して電界の対称性が保たれる。 - 特許庁

In the dispensation of the standard sample, the sample-dispensing pump 16a aspirates the standard sample of the total amount of a predetermined amount of air, a common dummy amount, and the dummy amount and the dispensation amount set on the sample dispensation conditioning screen 43 and then delivers the standard sample of the aspirated dispensation amount.例文帳に追加

そして、サンプル分注ポンプ16aは、標準試料の分注では、所定量の空気、共通ダミー量、並びにサンプル分注条件設定画面43に設定されたダミー量及び分注量を総和した量の標準試料を吸引した後、吸引した分注量の標準試料を吐出する。 - 特許庁

The relating conditions of the set temperature of a stage base, the set temperature of a ceiling part of a sample room, and the set temperature in a load lock room, are determined according to a predetermined calculating expression.例文帳に追加

ステージの台座部分の設定温度、試料室の天井部の設定温度、ロードロック室内部の設定温度、との関係条件を、あらかじめ定められた計算式にて決める。 - 特許庁

The sample portion 50 is set in a position with an interval from the heating element 4 and the sample can be flown by a pressure wave generated at the heating element 4.例文帳に追加

発熱体4と空間を隔てた場所に試料部50を配置しておき、発熱体4で発生する圧力波によって、試料を飛翔させることができる。 - 特許庁

The mobile- phase antibody can be bonded to a plurality of kinds of antigens, and it is set to a state that the judgment part 204 can be moved together with the sample introduced into the sample introduction part 202.例文帳に追加

移動相抗体は、複数種類の抗原に結合し得、かつ試料導入部に導入された試料と共に判定部を移動し得る状態にある。 - 特許庁

In this case, the image quality adjustment for normal display mode is carried out employing the set value of image quality adjustment which matches the selected sample image among the displayed sample images.例文帳に追加

そして、表示されたサンプル映像うち選択されたサンプル映像に対応する画質調整の設定値を用いて通常表示モード時の画質調整を行う。 - 特許庁

A sample holding base 10 is installed to an infrared absorption spectrum measuring device by bonding or crimping non-woven fabric cloth-like nanofibers to an opening which is provided on the sample holding substrate 10 that can be set.例文帳に追加

赤外吸収スペクトル測定装置にセット可能なサンプル保持基板10に設けた開口に、不織布状のナノ・ファイバを、接着または圧着により設置する。 - 特許庁

Time required for sample injection preparation operation by an auto sampler is measured and set to a sample injection preparation operation time Tj in continuous analysis execution (S3-S5).例文帳に追加

連続分析実行時に、オートサンプラによる試料注入準備動作に要する時間を実測して試料注入準備動作時間Tjに設定する(S3〜S5)。 - 特許庁

A division data count decision processing part 14 clusters (sample clustering) sample data that are part of a set of data stored in a document DB 11.例文帳に追加

分割データ数決定処理部14は、文書DB11に格納されているデータの集合の一部分をサンプルデータとして当該サンプルデータのクラスタリング(サンプルクラスタリング)を行う。 - 特許庁

To readily set the distance between an electrode and a sample in the range of potential measurement time, in a surface electrometer for measuring the surface potential of the sample in non-contact.例文帳に追加

試料の表面電位を非接触にて測定する表面電位計において、電極と試料との間の距離を容易に電位測定時の範囲内とする。 - 特許庁

Then the magnifying power of the microscope is set to a second magnifying power of a recording mode and a sample stage is moved to the stored sample stage coordinates to be recorded (S22).例文帳に追加

透過電子顕微鏡の倍率を記録モードの第2の倍率に設定し、試料ステージを前記記憶した記録対象の試料ステージ座標に移動する(S22)。 - 特許庁

例文

Sample points 15-24 positioned in a determination range A1 including a traveling position P1 are extracted from a plurality of sample points 11-29 set along a trajectory r.例文帳に追加

軌道rに沿って設定された複数の標本点11〜29の中から、走行位置P1を含む判定用範囲A1内に位置する標本点15〜24を抽出する。 - 特許庁




  
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