「sample-set」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a rebound type portable hardness meter at a low cost, capable of calculating a correct hardness of a sample, regardless of gradient angles at which its impact hammer is set.例文帳に追加

インパクトハンマーの傾斜角度にかかわらず試料の正確な硬度を算出することができる反発式ポータブル硬度計をより安価に提供する。 - 特許庁

Then, a set value of the measuring parameter is changed at every time in a prescribed numerical value range, and three-dimensional measurement and recognition processing by the set measuring parameter are executed, and a numerical value range of a parameter set when acquiring a recognition result whose difference quantity from the sample data is within a prescribed value is set as an acceptance range.例文帳に追加

そして、計測パラメータの設定値を所定の数値範囲内で毎回変更して、設定された計測パラメータによる３次元計測および認識処理を実行し、サンプルデータとの相違量が所定値以内になる認識結果が得られたときに設定されたパラメータの数値範囲を合格範囲に設定する。 - 特許庁

The illumination means and the light receiving means are set to an terecentric optical system by arranging the lens 7 in the light path thereof, and the irradiation angle of the measuring light to the curved surface sample and the receiving angle of the reflected light from the curved surface sample can be made same in the plane of the curved surface sample.例文帳に追加

このように照明手段及び受光手段とも、レンズ７をその光路中に配置することで、テレセントリックな光学系とされ、これにより測定光の曲面試料への照射角度及び曲面試料からの反射光の受光角度を、前記曲面試料面内において同一にできる。 - 特許庁

In this sampling jig for collecting the minute sample in infrared spectrometry, an adhesive material of a prescribed thickness is applied to a sampling part for adhering the sample on the tip side of the jig, so that the sample can be set in a prescribed position in the adhered state and irradiated with spectrometric infrared rays.例文帳に追加

赤外分光測定に際して微小試料を採取するサンプリング用治具において、上記試料を付着させる治具先端側のサンプリング部に、所定厚の粘着性物質が塗布されており、該試料が付着した状態で所定位置に設置され、分光測定用の赤外光が照射され得るように構成される。 - 特許庁

The problem is dissolved by setting an inspecting device for each sample bottle for the each sample bottle, and selecting only a judgment signal of the set inspecting device from judgment signals of inspecting devices transmitted from the inspection apparatus and connecting a sample checker displaying the result of the quality judgment thereof to the glass bottle inspection apparatus.例文帳に追加

各々のサンプルびんについて検査器を設定し、各々のサンプルびんについて、検査装置から送られる各検査器の良否信号から設定した検査器の良否信号のみを選別し、その良否判定結果を表示するサンプルチェッカをガラスびん検査装置に接続することで、前記課題を解決する。 - 特許庁

Further, the conversion data are used to convert sample chart input value data obtained by picking up a printed sample chart, and an adjusting amount is set on the basis of the conversion result, the desirable correspondence relation between the gradation value of image data and a colorimetric value of a printing result and a gradation value of image data used for printing of the sample chart.例文帳に追加

さらに、印刷されたサンプルチャートを撮像して得られるサンプルチャート入力値データを変換データを用いて変換し、その変換結果と、画像データの階調値と印刷結果の測色値との望ましい対応関係と、サンプルチャートの印刷に用いた画像データの階調値と、に基づき、調整量を設定する。 - 特許庁

The control device 12 performs feedback control of the stage 10 so that a measured value by the proximity sensor 4 becomes a set value, moves the sample plate 8 upward, when dropping a droplet from the probe 2, to thereby shorten the distance between the probe 2 and the sample plate 8, brings the droplet 6 into contact with the sample plate 8 and performs fractionation.例文帳に追加

制御装置１２は、近接センサー４の測定値が設定された値となるようにステージ１０をフィードバック制御をおこなって、プローブ２から液滴を滴下する際にサンプルプレート８を上方に移動させてプローブ２とサンプルプレート８との距離を接近させ、液滴６をサンプルプレート８に接触させて分画を行なう。 - 特許庁

To provide a sample image length measurement method by which the measurement area can be set by easily, quickly and surely performing matching of a plurality of standard images and the sample image even when the obtained sample images are various on the basis of a pattern forming condition of a pattern forming device such as a stepper.例文帳に追加

例えばステッパーのようなパターン形成装置のパターン形成条件により、得られる試料像にばらつきがある場合であっても、簡便、迅速、かつ、確実に、複数の基準画像と試料像のパターンとのマッチングを行うことにより測定領域を設定することのできる試料像測長方法を提供する。 - 特許庁

When a wavelength scanning speed is set to be low (Yes in S10) and a level of a sample side measurement signal obtained by detecting transmitted light of a sample to be measured is lower than a threshold (Yes in S13, S14 and S15), a rotational speed of a sector mirror for dividing monochromatic light into a sample side beam and a reference side beam is lowered (S16).例文帳に追加

波長走査速度が低速に設定された場合に（S10でYes）、被測定試料の透過光を検出して得られた試料側測定信号のレベルが閾値を下回っていれば（S13,S14,S15でYes）、単色光を試料側光束と参照側光束とに振り分けるセクタ鏡の回転速度を低速に落とす（S16）。 - 特許庁

A temperature which rising of driving voltage by glass sealing starts at while the growth temperature of the light emitting element sample has been raised is set as a critical growth temperature, and a Mg concentration which an initial driving voltage starts to rise at while the Mg concentration of the light emitting sample has been decreased is set as a critical Mg concentration.例文帳に追加

そして、発光素子サンプルの成長温度を上昇させていったときに、ガラス封止による駆動電圧上昇が始まる温度を臨界成長温度、発光素子サンプルのＭｇ濃度を減じていった時に初期駆動電圧が上昇し始めるＭｇ濃度を臨界Ｍｇ濃度とする。 - 特許庁

An ultrasonic wave is transmitted into the structure of a subject, and for at least one sample volume position 150 within an image plane 121 of the structure, a set of received beams 151 to 155 are formed in response to the ultrasonic wave backscattered from the structure, with the set of received beams crossing one another at the sample volume position 150.例文帳に追加

被検体の構造内へ超音波を送出し、該構造の画像平面（１２１）内の少なくとも１つのサンプル・ボリューム位置（１５０）について、該構造から後方散乱された超音波に応答して一組の受信ビーム（１５１〜１５５）を形成し、該一組の受信ビームがサンプル・ボリューム位置（１５０）で交差するようにする。 - 特許庁

A sample piece is formed into a shape having a center part and the even number, i.e., 6 or more, of extended parts extending therefrom in a radial direction, and an axis passing through each set of the extended parts located in a diameter direction is set as a stress application axis.例文帳に追加

試料片を中央部とこれから放射方向に延びる６以上の偶数個の延出部とを有する形状とし、直径方向にある各組の延出部を通る軸を応力印加軸とする。 - 特許庁

The system adjusts the second feature part set detected on the passage of the second sample through the second separation column on the basis of evaluated systematic deviations to acquire an adjusted third feature part set.例文帳に追加

そして当該システムは、評価した系統的偏移に基づいて、第２サンプルによる第２分離カラムの通過について検出された第２の特徴部セットを調整し、調整された第３の特徴部セットを得る。 - 特許庁

The level of the magnitude of the detection signals for determining the fraction peak is set at L1, and a fraction capacity to be collected in a test tube for collecting a target sample component by this fraction collector is set according to the level of the peak height.例文帳に追加

分画ピークを決定する検出信号の大きさのレベルをＬ１とし、フラクションコレクタで目的試料成分を採取するための試験管に採取する分画容量は、ピーク高さのレベルに応じて設定しておく。 - 特許庁

Then, the protective film 4 and the thin-film sample 2 located on a lower surface of the protective film 4 are set to be samples 5 to be sampled that are to be sampled for performing an analysis using the three-dimensional atom probe, thus making the sample for atom probe observation.例文帳に追加

そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。 - 特許庁

The refractory sample 10 is supported by the water cooling panel 310 of a cooling part 300 in a state that its axial direction is almost set in a vertical direction and the peripheral surface of the refractory sample 10 is covered with a heat insulating member 400 in a state thermally insulated through a gap.例文帳に追加

耐火物試料体１０を冷却部３００の水冷パネル３１０上に、軸方向が鉛直方向に略沿う状態に支持し、断熱部材４００にて耐火物試料体１０の周面を間隙を介して断熱する状態に覆う。 - 特許庁

A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加

試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁

Furthermore, a color sample is set in the photographing range of the camera to be displayed within the screen and, by utilizing the difference between the color of the color sample and the measured complexion, the effect on the complexion caused by changes in dress, time, white balance, or the like, can be removed.例文帳に追加

また、カメラの撮影範囲内に色サンプルを設定して画面内にその色サンプルを表示し、その色と計測された顔色との差分を利用することで、服装、時刻、ホワイトバランスなどの変化による顔色への影響を除去できる。 - 特許庁

At exposing, the quantity of variation of the attitude of a sample base 11, where the wafer W is mounted is measured by using a laser interferometer 16Y, etc., and according to the measurement results, a target value of the attitude of the sample base 11 for a wafer to be exposed next is set.例文帳に追加

露光時に、レーザ干渉計１６Ｙ等を用いてウエハＷが載置される試料台１１の姿勢の変化量を計測し、この計測結果に基づいて次に露光するウエハの試料台１１の姿勢の目標値を設定する。 - 特許庁

After internationally charging electric charge at early stages on a sample surface such as a photograph mask, the scanning electron microscope image, is set as the base which obtains the image based on a signal of a secondary electron produced by scanning with a primary electronic beam on the charged sample surface.例文帳に追加

フォトマスクのような試料表面に初期に意図的に電荷を帯電させた後で、帯電された試料表面を１次電子ビームでスキャンして生じる２次電子の信号を基とする画像を得る走査電子顕微鏡画像による。 - 特許庁

The circuit calculates an equalized output from the obtained sample data, and calculates a difference of only the first output value after zero-crossing from an arbitrary set reference value and uses it as an equalized error, and updates a coefficient of the adaptive equalizing circuit from the equalized error and the sample data.例文帳に追加

得られたサンプルデータから等化出力を算出し、ゼロクロス後の最初の出力値に対してのみ、任意に設定される基準値との差を計算して等化誤差とし、該等化誤差と前記サンプルデータから適応等化回路の係数を更新する。 - 特許庁

This machine is provided with a yarn missing point sampling function which stops taking up without performing yarn connection operation after cutting the yarn based on the conditions set during taking up, displays the set conditions for cutting, and checks the sampled yarn missing point sample and displayed set conditions for the yarn missing point.例文帳に追加

巻取り中に設定された条件でカットされた後、糸継ぎ動作を行うことなく巻取りを停止すると共に、カットした設定条件を表示し、採取した糸欠点サンプルと表示された糸欠点の設定条件とをチェックできる糸欠点サンプル機能を搭載している。 - 特許庁

A multiplier 13' of this matched filter is not provided with a +1 adder and gives no change to input data of a sample-hold circuit S/H 11, when a reference signal of a cord register 12 is set 'positive' but will invert bits, when the reference signal of the cord register 12 is set 'negative'.例文帳に追加

本発明のマッチドフィルタにおける乗算器１３′では＋１加算器を備えず、Ｓ／Ｈ１１の入力データをコードレジスタ１２の参照信号が「正」とするときはそのままとし、「負」とするときはビット反転する。 - 特許庁

A complex linear operation circuit 108 stores the inverse matrix of a matrix consisting of q rows and p columns of exp(2πjk_pn_q/N) about a set {k_p} using the carrier numbers of M effective carriers as elements and a set {n_q} using sample numbers 0 to M-1 as elements.例文帳に追加

複素線形演算回路108には、M本の有効キャリアの番号を要素とする集合｛k_p｝、サンプル番号0乃至M-1を要素とする集合｛n_q｝について、ｑ行ｐ列がexp(2πjk_pn_q／N)である行列の逆行列が記憶されている。 - 特許庁

Then, in this state, the tool 100 is set on the sample base, the moving body 104 is moved, and the holes 112 are made to communicate with the holes 116.例文帳に追加

次に、その状態で試料台上に試料整列治具１００をセットし、移動体１０４を移動させて第１透孔１１２と第２透孔１１６とを連通させる。 - 特許庁

The pixel having the luminance equal to or above the set luminance just before saturation is colored in red or the like and displayed on the image of the surface of a sample displayed on the screen of a display device.例文帳に追加

表示装置の画面に表示される試料表面の画像において、飽和直前の設定輝度以上の画素が赤色等に着色表示される。 - 特許庁

In the ventilation control means 12, the ventilation part 6 is controlled so that the ventilation treatment for a period of time set by the ventilation time setting means 10 is applied to each sample container.例文帳に追加

通気制御手段１２は通気時間設定手段１０の設定した時間の通気処理を通気部６が各試料容器に対して実行するように制御する。 - 特許庁

A sniffer process analyzes an initial sample of the input stream to determine the language format by ordering through a set of language recognizers that are implemented as callback functions.例文帳に追加

スニファ・プロセスは入力ストリームの最初のサンプルを解析し、コールバック関数として実装される言語認識装置セットを順序付けすることにより言語フォーマットを決定する。 - 特許庁

The plurality of charged particle beams B generated from the plurality of charged particles beam 6 is constituted or set so that the charged particle beam forms one point-like beam on the sample 5.例文帳に追加

複数の荷電粒子ビーム源６から発生された複数の荷電粒子ビームＢが試料５上で１つの点状ビームになるように構成または設定されている。 - 特許庁

The kit for detecting the predisposing cause of the autism is designed to carry out the detection by RT-PCR (reverse transcriptase-polymerase chain reaction) amplification using a primer set of a specific base sequence and an RNA derived from the biological sample as a template.例文帳に追加

特定の塩基配列のプライマーセットを用い、生体試料由来のRNAを鋳型としてRT-PCR増幅により検出を行う、自閉症素因検出用キット。 - 特許庁

The normal range of the peak area value originating from the reaction reagent is set to 800-8,000 and, when an analyzing value exceeding this range is obtained, a sample can be judged to be abnormal.例文帳に追加

反応試薬由来ピーク面積値の正常範囲を８００〜８０００とし、この範囲を超える分析値が得られた場合は異常なサンプルとして判断することができる。 - 特許庁

Further, an image showing the recognition result is displayed, and numerical data showing the selected recognition result are set as sample data corresponding to operation for selecting the recognition result by the user.例文帳に追加

また認識結果を表す画像を表示し、ユーザの認識結果を選択する操作に応じて、選択された認識結果を示す数値データをサンプルデータに設定する。 - 特許庁

To appropriately and automatically set a just enough amount of a sample liquid injected into a secondary time LC in a two-dimensional type LC which has used a fractionation LC in a first time.例文帳に追加

１次元目に分取ＬＣを用いた２次元型ＬＣにおいて、２次元目のＬＣに注入する試料液の量を過不足なく適切に且つ自動的に設定する。 - 特許庁

Then picture quality adjustment for the normal display mode is made using set values of picture quality adjustment corresponding to a selected video sample among the displayed video samples.例文帳に追加

そして、表示されたサンプル映像うち選択されたサンプル映像に対応する画質調整の設定値を用いて通常表示モード時の画質調整を行う。 - 特許庁

An image-obtaining section 61 photographs an embryos set to a microscope as a sample with a camera in time series to obtain observation images, and supplies the obtained observation images to an observation section 62.例文帳に追加

画像取得部６１は、顕微鏡に標本として設置されている胚をカメラにより時系列に撮影した観察画像を取得し、観察部６２に供給する。 - 特許庁

To provide a vibration resistant device for precision equipment, with which a drawing material and a sample can be accurately set at the predetermined position even if the vibration is generated.例文帳に追加

被描画材料や試料を所定の位置にセットする際、振動が発生しても正確に装填することができる精密機器における除振装置を実現する。 - 特許庁

Since a correct sample hold time can be set at all times, accuracy in the quantity of laser light is enhanced at the time of printing and the density of print image can be kept at a substantially constant level.例文帳に追加

これにより、常に適正なサンプルホールド時間を設定でき、印字時のレーザ光量の精度を向上させ、印字画像の濃度をほぼ均一に保つことが可能となる。 - 特許庁

In the case of YES, in accordance with the selected scene or a sample image, a required photographing speed (the number of frames/sec), the number of frames and an exposure time are set (S113).例文帳に追加

ＹＥＳである場合には、選択されたシーン又は見本画像に従って、必要な撮影速度（コマ数／秒）、コマ数、及び露出時間を設定する（Ｓ１１３）。 - 特許庁

The set of the tools comprises a cartridge for the POC examination and a plastic fitting part and sends a fluid sample to the cartridge for the POC examination when it is used together with an injector.例文帳に追加

道具一式は、ＰＯＣ検査用カートリッジ及びプラスチック製取付部品を含んでおり、注射器との使用が流体サンプルを検査用カートリッジに送り出す。 - 特許庁

To provide a sample management function capable of setting automatically an image acquisition object spot required to be set in each device or in accordance with daily fluctuation.例文帳に追加

装置毎、或いは日々の変動に合わせて設定する必要のあった画像取得対象個所を自動で設定することができる、試料の管理機能を提供する。 - 特許庁

When a sample is made to be a film or flake-shaped powders, a torque gradient dT/dHex to an outside magnetic field Hex becomes a linear function in which an origin of a dimension ratio L/D of those is set to zero.例文帳に追加

外部磁界Hexに対するトルク勾配dT/dHexは、試料を膜またはフレーク状粉末としたとき、それらの寸法比L/Dの原点をゼロとした一次関数となる。 - 特許庁

To provide an electronic camera system, that uses a sample image with photographing conditions, which are in response to transmission of a keyword so as to simple set the photographing conditions of a camera.例文帳に追加

キーワードの送信に応じて返送される撮影条件付きのサンプル画像を用いてカメラの撮影条件を簡単に設定することを可能とする電子カメラシステム。 - 特許庁

Allowable load capacities C1, C2 of the first and second support bearings 8, 9 are set larger than the allowable load capacity C3 of each sample bearing 4, 5 (C1>C3, C2>C3).例文帳に追加

第１および第２の支持軸受８，９の許容負荷容量Ｃ１、Ｃ２を、各供試軸受４，５の許容負荷容量Ｃ３よりも大きく（Ｃ１＞Ｃ３且つＣ２＞Ｃ３）する。 - 特許庁

When the light emission intensity of the solvent exceeds a predetermined value during measurement, a flag indicating that air is mixed before the sample introduction is set after the solvent introduction.例文帳に追加

測定中に溶媒の発光強度が所定値を超えた場合、溶媒導入後試料導入前に混入した空気であることを示すフラグが設定される。 - 特許庁

Code Sample 4 also includes code in the getMinCalDate method to set the minimum date to today.To display past years in the calendar, use code similar to the following.This code displays the past ten calendar years:date.add(java.util.Calendar.YEAR, -10); 例文帳に追加

また、コード例 4 の getMinCalDate メソッドには、日付の最小値を今日に設定するコードが含まれています。 カレンダに過去の年を表示するには、コードを次のようにします。 - NetBeans