「scan- path」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scan path test technique capable of dispensing with a precise tester, by simple circuit constitution.例文帳に追加

簡単な回路構成で高精度のテスタを不要とするスキャンパステスト技術を提供する。 - 特許庁

SCAN PATH CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING LOGIC CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法 - 特許庁

LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加

ＬＳＩ、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、ＬＳＩ検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁

One scan path register is installed for each unit so that circuit scale can be reduced.例文帳に追加

各ユニットに対して１つのスキャンパスレジスタを設置することにより回路規模を削減できる。 - 特許庁

The logic part has a first control circuit C1 controlling an output of the scan signal SCAN based on a signal (VDD/OPEN) from the prescribed terminal PAD on an input path of the scan signal SCAN.例文帳に追加

ロジック部は、スキャン信号ＳＣＡＮの入力経路上に、所定の端子ＰＡＤからの信号（ＶＤＤ／ＯＰＥＮ）に基づいてスキャン信号ＳＣＡＮの出力を制御する第１制御回路Ｃ１を有する。 - 特許庁

Also, a path bypassing some flip-flops is provided on the scan paths 3 and flip-flops out of the test object are removed from the scan paths.例文帳に追加

また、スキャンパス３上にいくつかのフリップフロップをバイパスする経路を設け、テスト対象外とするフリップフロップをスキャンパスから除外する。 - 特許庁

The first scan head is disposed with a distance of a predetermined pitch length along with the paper path from the second scan head.例文帳に追加

第１の走査ヘッドは、第２の走査ヘッドから用紙経路に沿って少なくとも所定のピッチ長さだけ間隔をあけて配置されている。 - 特許庁

To reduce the power consumption of a scan FF in a normal operation in a semiconductor integrated circuit of scan path design.例文帳に追加

スキャンパス設計された半導体集積回路において、通常動作時に、スキャンＦＦの消費電力を削減することを目的とする。 - 特許庁

The object circuit includes at least one scan chain which forms a shift register in a scan path test and serially inputting and outputting test data.例文帳に追加

対象回路は、スキャンパステスト時にシフトレジスタを形成してテストデータをシリアルに入出力する少なくとも１つのスキャンチェーンを備える。 - 特許庁

The apparatus includes: a scan-up switch and a scan-down switch whose one ends are connected to a panel so as to apply a scan signal to the panel; and a scan switch that is connected to a node positioned on a path of a resonance current flowing to the panel and the scan-up switch therebetween.例文帳に追加

スキャン信号をパネルに印加するために、一方が前記パネルに接続したスキャンアップスイッチ及びスキャンダウンスイッチと、前記パネルに流れる共振電流経路上に位置するノードと前記スキャンアップスイッチとの間に接続するスキャンスイッチとを備える。 - 特許庁

Also, the output registers 9, 18 are constituted of flip-flop with scan, and flip-flop with scan constitutes scan path for the bit of random access memories 6, 15 having the same address constitution.例文帳に追加

また、出力レジスタ９，１８は、スキャン付きフリップフロップで構成され、スキャン付きフリップフロップはアドレス構成が同一のランダムアクセスメモリ６，１５のビットについてスキャンパスを構成する。 - 特許庁

Scan result data output from the scan path are compared with the scan output expected value data read out of an other RAM by a comparison circuit 6 inside the semiconductor integrated circuit 1.例文帳に追加

そして、スキャンパスから出力されるスキャン結果データと、他方のＲＡＭから読み出したスキャン出力期待値データとを半導体集積回路１の内部の比較回路６で比較する。 - 特許庁

The memory further comprises a multiplexer, a scan input and a scan enable input, the multiplexer is responsive to the scan enable signal and forms a scan path including a latch for forming a master slave flip-flop, and scan data input by the scan input pass through a master slave flip-flop while the scan enable signal is asserted, and is output by the output latch.例文帳に追加

メモリはマルチプレクサとスキャン入力とスキャンイネーブル入力とをさらに備え、マルチプレクサがスキャンイネーブル信号に応答して、マスタ・スレーブ・フリップフロップを形成するラッチを備えるスキャン経路を形成し、スキャンイネーブル信号がアサートされている間に、スキャン入力で入力されたスキャンデータがマスタ・スレーブ・フリップフロップを通過し、出力ラッチによって出力される。 - 特許庁

For example, an F/F (frip-frop) chain circuit 21 for a SCAN test to activate the critical path 12 in the combination circuit 11 is configured by using SCAN F/F (frip-frop for scan test) (1) 21a to SCAN F/F (5) 21e having MUXs 22a-22e.例文帳に追加

たとえば、組み合わせ回路１１のクリティカルパス１２を活性化させるためのＳＣＡＮテスト用Ｆ／Ｆチェーン回路２１を、ＭＵＸ２２ａ〜２２ｅ付きのＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（１）２１ａ〜ＳＣＡＮ Ｆ／Ｆ（５）２１ｅを用いて構成する。 - 特許庁

To reduce the misregistration of an image by switching a receiving-path during a scan.例文帳に追加

スキャン中に受信経路を切り替えることを可能にして、画像のミスレジストレーションを減少させる。 - 特許庁

Each station 155 mounts a photovoltaic device in process (wafer) 211 along a scan path SP.例文帳に追加

各ステーション１５５には経路ＳＰに沿って光起電デバイス仕掛品（ウェハ）２１１を積載する。 - 特許庁

In the case of inserting a scan path test, observation flip-flops are disposed in correspondence with the respective output nodes.例文帳に追加

スキャンパステストを挿入する場合、観測用フリップフロップを各出力ノードに対応して設ける。 - 特許庁

In the redundant state, the scan cell is extended by forming an additional local path BP for alternating (bypassing) the corresponding storage layer between the corresponding scan input port SI and the scan output port SO.例文帳に追加

冗長状態は、対応するスキャン入力ポートＳＩとスキャン出力ポートＳＯの間に、対応するストレージ層を迂回（バイパス）する追加ローカルパスＢＰを作成することによって、スキャンセルを拡張する。 - 特許庁

On the fixed layer, scan clock wiring 11 for supplying a scan clock performing scan test to a selection circuit 4, and clock wiring for supplying the output from the selection circuit 4 to a flip-flop 51 on a scan path are formed.例文帳に追加

固定層には、スキャンテストを行なうためのスキャンクロックを選択回路４に対して供給するスキャンクロック配線１１と、選択回路４の出力をスキャンパス上のフリップフロップ５１に対して供給するクロック配線とを形成している。 - 特許庁

To accurately make a product test in connecting a scan path to a plurality of flip-flops to make a product test.例文帳に追加

複数のフリップフロップにスキャンパスを接続して製品テストを行う場合、製品テストを正確に行う。 - 特許庁

To provide a scan path timing optimizer reducing a wiring jam and occurrence of a hold time error.例文帳に追加

配線混雑およびホールドタイムエラーの発生を低減したスキャンパスタイミング最適化装置を提供すること。 - 特許庁

A plurality of scan path registers are connected by an array of static random access memory (SRAM) units of a plurality of memory cells.例文帳に追加

複数のスキャンパスレジスタは、複数のメモリセルからなるスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)アレイによって接続される。 - 特許庁

Since a comparatively large clock skew occurs between the flip flop belonging to a prescribed group connected by the scan path and the scan flip flop belonging to the different group, the scan flip-flops including delay circuits are applied to the scan flip-flops in the final stages of the respective groups.例文帳に追加

スキャンパスによって接続するあるグループに属するスキャンフリップフロップと、別のグループに属するスキャンフリップフロップとの間に比較的大きなクロックスキューが発生するので、各グループの最後段のスキャンフリップフロップに、遅延回路を含むスキャンフリップフロップを適用する。 - 特許庁

A data output circuit is provided in a boundary scan cell for internal-connecting the fellow chips, out of the boundary scan cells in the midway positioned in an output terminal side of the boundary scan path in its one side, and a data input circuit is provided in the boundary scan cell internal-connected to the boundary scan cell provided with the data output circuit.例文帳に追加

また、一方のバウンダリスキャンパスの出力端側に位置する途中のバウンダリスキャンセルのうちで、チップどうしを内部接続するバウンダリスキャンセルにデータ出力回路を設けるとともに、このデータ出力回路を設けたバウンダリスキャンセルと内部接続したバウンダリスキャンセルにデータ入力回路を設けた。 - 特許庁

A user logic circuit 1 is connected to a logic circuit 50b by a selector circuit 3 when scan test is executed, and the logic circuit 50b is connected to a user logic circuit 6 by a selector 50a, to thereby compose a scan test path detouring around the RAM/ROM core, and to test the scan test path.例文帳に追加

スキャンテスト時に、セレクタ回路３によりユーザーロジック回路１とロジック回路５０ｂとを接続し、セレクタ５０ａによりロジック回路５０ｂとユーザーロジック回路６とを接続することにより、ＲＡＭ／ＲＯＭコアを迂回するスキャンテストパスを構成し、そのスキャンテストパスをテストする。 - 特許庁

The time of masking the scan path can be specified in the constitution and by masking only at a specific time during shift operation of the scan paths, only the specified flip-flop values are masked.例文帳に追加

また、スキャンパスをマスクする時刻を指定できる構成とし、スキャンパスのシフト動作中の特定時刻でのみマスクを行うことで、指定したフリップフロップの値のみをマスクする。 - 特許庁

The replicas include perfect replicas Pn, and ones Pnr changed from the prototype to randomly convert code about a solution scan path and scan method.例文帳に追加

この複製には完全な複製Ｐｎと原型からの変更が解の走査経路および走査方法に関するコードに乱数的な変換を施したＰｎｒとがある。 - 特許庁

An input selecting circuit selects one of test data of the scan path test and the data on the internal state read from the memory circuit, and supplies the selected data to the scan chain.例文帳に追加

入力選択回路は、スキャンパステストのテストデータと、メモリ回路から読み出した内部状態を示すデータとのうちの一方を選択してスキャンチェーンに供給する。 - 特許庁

To provide an LSI capable of testing a signal path between two circuit blocks by a scan separation test.例文帳に追加

スキャン分離テストによって、２つの回路ブロック間の信号経路をテストすることができるＬＳＩを提供する。 - 特許庁

In this manner, by using a scan path composed of the flip-flop circuit 14, faults in both the circuits are detected.例文帳に追加

こうしてフリップフロップ回路（１４）が構成するスキャンパスを用いて両方の回路の故障検出を行う。 - 特許庁

To verify whether or not failure occurs in a path when operating a product during scan test.例文帳に追加

スキャンテスト時において、製品を動作させるときに、その経路に故障が発生するか否かを検証すること。 - 特許庁

When the comparison results are all matched, paths between scan path chains 191 to 193 and output buffers 151 to 153 are put through.例文帳に追加

比較結果が全て一致していたら、スキャンパス・チェーン191〜193と出力バッファ151〜153との間の経路をスルーにする。 - 特許庁

To easily maintain path information by stopping a BGP scan operation on the occurrence of session interruption without causing combinations of settings and a management program and to stop best path selection by the BGP scan for a prescribed time for a path maintained by a graceful restart function.例文帳に追加

設定の組み合わせなどや管理上の問題を発生させずに、セッション断の時に、ＢＧＰスキャン動作を停止させて、容易に経路情報を維持し、またグレースフルリスターとによって維持されている経路に対しては、一定時間の間ＢＧＰスキャンによるベストパスセレクションを停止すること。 - 特許庁

A fast clock generating circuit, which generates fast clock signal of half a cycle of clock signal during normal operation and a fast data generation circuit, which generates fast scan data of half a cycle of scan data used for a scan path test are provided, and a scan path test is carried out by fast clock signal generated by a fast clock generation circuit and fast scan data generated in the fast data generation circuit.例文帳に追加

通常動作時のクロック信号の半分の周期の高速クロック信号を生成する高速クロック生成回路と、スキャンパステストに使用するスキャンデータの半分の周期の高速スキャンデータを生成する高速データ生成回路とを設け、高速クロック生成回路で生成した高速クロック信号および高速データ生成回路で生成した高速スキャンデータによってスキャンパステストを行うように構成したものである。 - 特許庁

A multiphase clock supplying circuit 50 is installed, which generates a scan clock signal SCK (k) of (n+1) arising from the clock signal SCLK for test indicating implementation of scan path test, with no overlap mutually and in sequence, to supply the generated scan clock signal SCK (k) to scan flip-flop SFF of (n-1) and one scan flip-flop SFF*.例文帳に追加

スキャンパステストの実行を示すテスト用クロック信号ＳＣＬＫから互いに重複せず順に立ち上がる（ｎ＋１）個のスキャンクロック信号ＳＣＫ（ｋ）を生成する多相クロック供給回路５０を設け、生成したスキャンクロック信号ＳＣＫ（ｋ）を（ｎ−１）個のスキャンフリップフロップＳＦＦと１個のスキャンフリップフロップＳＦＦ＊とに供給する。 - 特許庁

Additionally, a faulty circuit block is specified, by utilizing the partial scan path and testing only the specified circuit block.例文帳に追加

また部分スキャンパスを利用して、特定の回路ブロックのみのテストを行うことにより故障回路ブロックの特定を行う。 - 特許庁

To easily and effectively perform a scan path test or the like by switching optionally between an edge trigger operation and a level sense operation of a latch.例文帳に追加

ラッチのエッジトリガ動作とレベルセンス動作とを任意に切り換え、スキャンパステストなどに容易に、かつ効率よく行う。 - 特許庁

To provide a scan path circuit and a semiconductor integrated circuit which enable shortening of the time required for a shifting operation.例文帳に追加

シフト動作に要する時間を短縮することができるスキャンパス回路及び半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

On the contrary, when the comparison results are not matched, the paths between the scan path chains 191 to 193 and the output buffers 151 to 153 are blocked.例文帳に追加

逆に比較結果に不一致がある場合は、スキャンパス・チェーン191〜193と出力バッファ151〜153との間の経路を遮断する。 - 特許庁

A conveyance mechanism conveys a medium along a path for scanning when a scan button is depressed, and conveys the medium along a path for copying when a copy button is depressed.例文帳に追加

搬送機構は、スキャンボタンが押された場合にスキャン用の経路に沿って媒体を搬送し、コピーボタンが押された場合にコピー用の経路に沿って媒体を搬送する。 - 特許庁

To provide a scan microscope securing coupling without loss and aberration for the inside of an adaptive optical system illumination optical path and/or the inside of a detection optical path.例文帳に追加

走査顕微鏡を、適応光学系の照明光路内及び、又は検出光路内への、損出のない、収差のない結合が保証されるように改良する。 - 特許庁

The method (60) also includes a step (62) for controlling movement of the probe (14) using a defined scan path to scan the probe (14) over a region of interest in the internal cavity (44).例文帳に追加

この方法（６０）は、内部空洞（４４）内の注目の区域上をプローブ（１４）をスキャンさせるために、画定されたスキャンパスを使用してプローブ（１４）の移動を制御するステップ（６２）も含む。 - 特許庁

Thus, a scan path for operation verification of the entire system LSI is constructed by inputting the definition information on the scan path to a register and a memory to be required for the operation verification of the system LSI, and the production test of the entire system LSI is performed via the scan paths (#13).例文帳に追加

このため、システムＬＳＩの動作検証に必要とされるレジスタやメモリに対するスキャン・パスの定義情報を入力することにより、システムＬＳＩ全体の動作検証用のスキャン・パスを構築することができ、これらのスキャン・パスを介してシステムＬＳＩ全体の実機テストを行うことができる（＃１３）。 - 特許庁

The probe has a pentaprism which is disposed in the optical path of the flux and refracts the optical path twice on first and second planes and a scan means which is mounted on the pentaprism and makes the flux scan on the biological tissues within the celom.例文帳に追加

該プローブは、光束の光路中に配設され、該光路を第一面と第二面によって二回折り曲げるペンタプリズムと、ペンタプリズムに取り付けられ、光束を体腔内の生体組織上で走査する走査手段と、を有する構成にした。 - 特許庁

The scan driving part calculates scanning angles corresponding to the distances so that a plurality of points which are located at predetermined distances from the scan center are scanned on the basis of the distance between the installation position of the light wave radar device and an observation space, and scan the path of the transmitting light.例文帳に追加

走査駆動部は、光波レーダ装置の設置位置と観測空間との距離に基づいて、走査中心から所定値離れた複数の点を走査するように、距離に応じた走査角を算出して送信光の光路を走査する。 - 特許庁