「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(265ページ目) - Weblio英語例文検索

A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.例文帳に追加

導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁

To provide a deformed disk for testing which is obtained by deforming a disk, like a DVD disk, formed by bonding two substrates to each other in order to prevent deformation to a desired shape and a method of deforming the disk which is capable of easily and surely yielding such deformed disk.例文帳に追加

ＤＶＤディスクのように変形を防ぐため２枚の基板を張り合わせて形成したディスクを所望の形状に変形させたテスト用の変形ディスク及びそのような変形ディスクを簡単、確実に得ることの出来るディスク変形方法を提供すること。 - 特許庁

The hail impact testing apparatus in which an ice ball is launched from a launcher tube through gas pressure is characterized in that it has an on-off valve and a gas introducing pipe which is connected to the launcher tube and of which the inner diameter is smaller than that of the launcher tube.例文帳に追加

気体の圧力により発射筒より氷球を発射するヘイルインパクト試験装置において、開閉弁と気体導入管を有し、気体導入管は発射筒に接続されており、気体導入管が発射筒の内径より細い事を特徴とする。 - 特許庁

In a multilayer interconnection substrate constituting a part of a wafer collective contact board used for collectively testing semiconductor devices formed on a wafer in multiple numbers, a resistor, for example, is provided on each I/O branch wiring 17 branching from an I/O common wiring.例文帳に追加

ウエハ上に多数形成された半導体デバイスの試験を一括して行うために使用されるウエハ一括コンタクトボードの一部を構成する多層配線基板において、例えば、Ｉ／Ｏ共通配線から分岐した各Ｉ／Ｏ分岐配線１７上に抵抗を設ける。 - 特許庁

Further, the burn-in testing can be efficiently performed by automatically determining the result of the burn-in tests of both of the logic circuit 403 and the hard macro 402.例文帳に追加

スキャンテストを用いたロジック回路４０３のバーンインテストと同時にハードマクロ４０２のバーンインテストをＢＩＳＴ回路４０１を用いて行い、また、ロジック回路４０３およびハードマクロ４０２のバーンインテストの結果を自動判定することにより、効率的にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁

To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加

半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method of a semiconductor integrated circuit capable of testing whether a through via formed in a single chip on a wafer is defective, and whether a through via formed in a semiconductor integrated circuit packaged is defective.例文帳に追加

ウェハ上の単一チップに形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができ、またパッケージングされた半導体集積回路に形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁

This red-corpuscle reagent for testing blood-group antibodies in blood is characterized in that red corpuscles are suspended in an aqueous medium including a gelatinizer, and gelated by being refrigerated to keep a solid form while returning to a liquid state at use temperatures.例文帳に追加

血液中の血液型抗体を試験するための赤血球試薬であって、ゲル化剤を含む水性媒質中に赤血球を懸濁させ、冷蔵保存によりゲル化して固形を維持する一方、使用時の温度では液状に復帰することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a low price semiconductor integrated circuit that can write a physical position in the wafer state to a semiconductor integrated circuit without use of a laser repair apparatus, and also to provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus that can write the physical position in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

レーザーリペア装置を用いることなく、半導体集積回路にウェハ状態時の物理位置を書き込める安価な半導体集積回路、及び該半導体集積回路に前記物理位置を書き込む半導体集積回路検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a closing device capable of automatically pinching a hose 14 after discharging air inside the hose 14 and securely closing a predetermined position of the hose 14 when testing pressure resistance and presence of leak of the hose 14.例文帳に追加

ホース１４の耐圧性能や漏れの有無の試験に際し、試験の対象となるホース１４内の空気を排出し、然る後ホース１４内の圧力により自動的にホース１４をピンチして、ホース１４の所定位置を確実に閉鎖することのできる閉鎖装置を提供する。 - 特許庁

The testing device includes an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal CTRL, and tests a semiconductor device 1 including operation in which the output terminal is in a high impedance state based on a control signal applied on the control terminal CTRL.例文帳に追加

試験装置は、入力端子ＩＮ、出力端子ＯＵＴおよび制御端子ＣＴＲＬを含み、制御端子ＣＴＲＬに印加された制御信号に基づき出力端子がハイインピーダンス状態となる動作を含む半導体装置１を試験する。 - 特許庁

In the adhesive property testing method for evaluating adhesive properties by adding force to the adherend and the material to be tested adhered thereto, the primer is applied to the surface to be adhered of the adherend in coincidence with the adhesive surface of the adherend with the material to be tested.例文帳に追加

被着体とこれに接着した被試験材とに力を加えて接着性を評価する接着性試験方法において、被着体と被試験材との接着面に一致させて被着体の被着面にプライマーを塗布することを特徴とする方法とする。 - 特許庁

To prevent an inner cylinder from being displaced in a direction orthogonal to the axis of a rubber bush when a static load is imposed on the outer circumference of the rubber bush in a jig for testing characteristics of the rubber bush, and to accurately measure a static spring constant of the rubber bush in the direction orthogonal to the axis.例文帳に追加

ラバーブッシュの特性試験装置用治具において、ラバーブッシュの外周に軸直方向の静荷重を付与したときにその静荷重で内筒が軸直方向にずれるのを防止し、ラバーブッシュの軸直方向の静ばね定数を正確に測定する。 - 特許庁

To provide a radiation performance testing device of a radiator which is used for cooling an engine of, for example, a vehicle and can safely and promptly collects cooling water of the radiator, and a method for collecting the radiator cooling water.例文帳に追加

車両等のエンジン冷却用に用いられるラジエータの放熱性能試験装置に関し、安全で迅速にラジエータの冷却水の回収が行えるラジエータの放熱性能試験装置及びラジエータ冷却水の回収方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

A bending deflection shape measuring device incorporated into the three-point bending testing device includes a movable noncontact displacement gage 4, its sending device 5, a sending amount control device 6, a sending amount measuring device 7, a data recording device 8 and a data analyzer 9.例文帳に追加

３点曲げ試験装置に組み込まれた曲げたわみ形状測定装置であり、移動可能な非接触変位計４と、その送り装置５と、送り量制御装置６と、送り量測定装置７と、データ収録装置８と、データ解析装置９からなる。 - 特許庁

To provide an inspection system which stores SPD data stored in a personal computer to an inspection device which cannot be connected to the personal computer in a short time, to improve the operation efficiency in testing a substrate such as DIMM, and which can be constructed at low cost.例文帳に追加

パソコンに保存されたＳＰＤデータをパソコンに接続できない検査装置に保存する作業を短時間で簡単に行い、ＤＩＭＭ等の基板検査の作業効率を向上させることができる低コストで構築可能な検査システムを提供する。 - 特許庁

The environmental testing device 1 includes: a sample arrangement part 2 at which a heat generation sample body W generating heat is arranged; an air blower 12; a heating means 13; an air replacement means 21 capable of replacing heated air with outside air; and at least one cooling means.例文帳に追加

環境試験装置１は、発熱する発熱試料体Ｗが配置される試料配置部２と、送風機１２と、加熱手段１３と、加熱された空気を外部の空気と置換可能な空気置換手段２１と、少なくとも１つの冷却手段とを有している。 - 特許庁

To provide an adhesive property testing method which enables the adhesive properties in the same state as in a state where an object, obtained by adhering a sealing material or the like to an adherend such as a building member coated with a primer or the like, is actually used to be simply and properly evaluated.例文帳に追加

プライマーを塗布した建築用部材等の被着体にシーリング材等を接着したものが実際に使用される状況と同様の状況での接着性を、簡易かつ適切に評価することのできる接着性試験方法を提供する。 - 特許庁

The vibration testing device includes: a servo control unit 4 for controlling the shaker 2; an excitation control unit 3 for controlling the servo control unit; a load sensor 11 for detecting a load applied from the shaker to the table; and a displacement sensor 5 and an acceleration sensor 6 for detecting the displacement of the table.例文帳に追加

加振機を制御するサーボ制御装置４と、このサーボ制御装置を制御する加振制御装置３と、テーブルに加振機から加えられる荷重を検出する荷重センサ１１と、テーブルの変位を検出する変位センサ５および加速度センサ６とを備える。 - 特許庁

Namely, the displacement detector 60 detects the moving amount of the load transmission shaft 36 to measure the amount (recessed depth) of an indenter 21 which is connected to a distal end of the load transmission shaft 36, being pushed in with a test piece 100 by applying the testing force.例文帳に追加

すなわち、この変位検出器６０は、負荷伝達軸３６の移動量を検出することで、負荷伝達軸３６の先端に接続された圧子２１が、試験力が与えられたことにより試験片１００に押し込まれた量（くぼみ深さ）を計測している。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of correctly analyzing μ-S characteristic between an object to be tested and a road surface having various conditions, and particularly accurately analyzing the relationship between the object to be tested having a high temperature dependence and the road surface on a testing machine.例文帳に追加

被試験体と様々な条件の路面との間のμーＳ特性を正確に解析し、特に温度依存性の高い被試験体と路面との関係を精度良く、試験機上にて解析することができる摩擦試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加

被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁

To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.例文帳に追加

従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁

A comparison circuit 20 stores the comparison result data between the pulse width time of the pulse of an input signal IS for testing inputted to the delay circuit 10, and the delay time of delay signals PM-PN outputted from taps PM-PN in the delay circuit 10 in a comparison result register 30.例文帳に追加

比較回路２０は、遅延回路１０に入力されたテスト用入力信号ＩＳのパルスのパルス幅時間と、遅延回路１０のタップＰM〜ＰNから出力される遅延信号ＰM〜ＰNの遅延時間との比較結果データを、比較結果レジスタ３０に記憶する。 - 特許庁

Such a detector allows the servo circuit to compensate for a reversed-connected read/write head, and thus allows a manufacturer to forego time-consuming and costly testing to determine whether the head is correctly connected to the servo circuit.例文帳に追加

このような検知器は、サーボ回路が逆接続された読取・書込ヘッドを補償することを可能とし、従って、ヘッドがサーボ回路へ正しく接続されるか否かを決定するために時間がかかりコスト高となるテスト製造業者が見送ることを可能とする。 - 特許庁

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.例文帳に追加

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁

The apparatus (100 and 210) includes a polymer interdispersed with an electrically conductive additive such that the apparatus provides the necessary electrical loading to the RF coils (56 and 144) for testing and calibration of the MRI system (10) but is free of liquid.例文帳に追加

装置（１００、２１０）は、導電性添加物を内部分散させたポリマーを含んでおり、これによって本装置はＭＲＩシステム（１０）の試験及び較正のためにＲＦコイル（５６、１４４）に対して必要な電気的負荷を提供する一方で液体を含んでいない。 - 特許庁

To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加

試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁

Accordingly, signal lines for a test signal can be reduced as compared with prior art in which one signal generating circuit is provided at a center of a semiconductor substrate and test signals are given from the generating circuit to the two testing circuits, and hence its chip area may be small.例文帳に追加

したがって、半導体基板の中央に１つの信号発生回路を設け、その信号発生回路から２つのテスト回路にテスト信号を与えていた従来に比べ、テスト信号用の信号線を削減することができ、チップ面積が小さくて済む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing system which effectively tests a semiconductor integrated circuit by applying different test patterns to objects under test arranged in parallel without inviting large increase in cost of the system and a method.例文帳に追加

大幅な装置のコスト上昇を招かずに、並列に設けられた被試験対象に対して異なる試験パターンを印加することができ、効率的に半導体集積回路の試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a belt-type tire testing machine of a simple constitution, capable of performing tests even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.例文帳に追加

本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるベルト式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.例文帳に追加

加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 4 of power transmission mechanism 5 comprises:the motor 2 connected to the transmission mechanism 5; the simulator 3 for calculating the actual indicated torque of the real internal combustion engine; the motor control means 6 for controlling the output of the motor 2, based on the indicated torque.例文帳に追加

動力伝達機構５の試験装置４であって、動力伝達機構５に接続されるモーター２と、実機の内燃機関の図示トルクを算出するシミュレーター３と、図示トルクに基づいて、モーター２の出力を制御するモーター制御手段６と、を備える。 - 特許庁

To provide a method and apparatus capable of accurately testing the capacity of an viscoelastic object for feeding or frictionally separating a sheet for a short time and excellent in reproducibility.例文帳に追加

本発明は、シートを搬送或いは摩擦分離するための粘弾性体の性能試験を短時間で且つ正確に行うことが出来、再現性に優れた粘弾性体の試験方法及び粘弾性体の試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a method of measurement for a new onset case of venous thrombosis, in which gene mutation becoming a risk of the venous thrombosis as reported so far can not be found, and a new method for testing the easiness of becoming the thrombosis for a subject.例文帳に追加

従来から報告されている静脈血栓症のリスクとなるような遺伝子変異が見つからない静脈血栓症の新規発症例のための測定方法、及び、被検者の血栓症へのかかり易さを試験する新規の方法の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a peritoneal function testing method and a peritoneal dialysis planning apparatus utilizable for future diagnosis prescription by accurately analyzing the peritoneal function (peritoneal hyperergasia mechanism) of a peritoneal dialysis patient while using various data based on a conventional method.例文帳に追加

従来法に基づく各種データを用いながら、腹膜透析患者の腹膜機能（腹膜機能亢進機序）を正確に分析し、将来的な診断処方に活かせることのできる腹膜機能検査方法および腹膜透析プランニング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a disc-type tire testing machine of a simple constitution capable of performing tests, even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.例文帳に追加

本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるディスク式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁

Article 69-27 (1) A prefectural governor may designate a person (herein referred to as "Designated Testing Agency") to operate affairs concerning implementation of an Examination for Long-Term Care Support Specialist (except for Examination Question Preparation Affairs; herein referred to as "Examination Affairs"). 例文帳に追加

第六十九条の二十七　都道府県知事は、その指定する者（以下「指定試験実施機関」という。）に、介護支援専門員実務研修受講試験の実施に関する事務（試験問題作成事務を除く。以下「試験事務」という。）を行わせることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 69-28 (1) A Designated Testing Agency (in a case when said person is a juridical person, an Officer of said person; the same shall apply in the following paragraph) or its personnel, or a person that held this occupation shall not divulge any confidential information that was learned pertaining to Examination Affairs. 例文帳に追加

第六十九条の二十八　指定試験実施機関（その者が法人である場合にあっては、その役員。次項において同じ。）若しくはその職員又はこれらの職にあった者は、試験事務に関して知り得た秘密を漏らしてはならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 41 When an officer or staff member of a Registered Inspection Body violates an order to suspend the work of Testing of Organisms under the provisions of Article 21 paragraph (5), said person shall be punished by imprisonment with work of not more than 6 months or a fine of not more than 500,000 yen. 例文帳に追加

第四十一条　第二十一条第五項の規定による生物検査の業務の停止の命令に違反したときは、その違反行為をした登録検査機関の役員又は職員は、六月以下の懲役又は五十万円以下の罰金に処する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a packaging method of an electronic component and a board module, by which lifting between insulating resin and the electronic component or a substrate is made less likely to be generated, even in reflow process or heat cycle testing process, short circuiting or erosion can be prevented, and reliability can be improved.例文帳に追加

リフロー工程やヒートサイクル試験工程においても絶縁樹脂と電子部品又は基板との間で剥離が生じにくく、短絡又は腐食が防止でき、信頼性を高めることができる電子部品実装方法及び基板モジュールを提供する。 - 特許庁

A bacterial testing device 10 includes a measurement cell 1 for holding the sample liquid X, and the rotor 3 rotating along a bottom face 11b, in the sample liquid X stored in the measurement cell 1 by a magnetic force given from the outside the measurement cell 1.例文帳に追加

細菌検査装置１０は、試料液Ｘを保持する測定セル１と、測定セル１の外部から付与される磁力によって測定セル１内に貯留された試料液Ｘ中において底面１１ｂに沿って回転する回転子３とを備えている。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of applying a stable constant voltage to a device to be tested (DUT), realizing high-density mounting by suppressing heat generation, and realizing miniaturization and cost reduction, and a semiconductor device equipped with the device.例文帳に追加

安定した一定の電圧をＤＵＴに印加することができ、発熱を抑えることにより高密度実装が可能であり、更には小型化及び低コスト化を実現することができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁