「threshold test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To extract threshold value test items (test path) with high correctness including an upper limit value, a vicinity value, and an abnormal value, and only items sufficiently needed for threshold value test in the early stage of development.例文帳に追加

正当性が高く、上限値、近傍値、異常値を含む限界値テスト項目（テスト経路）、また、限界値テスト用に十分必要なテスト項目のみを、開発段階の早期に抽出する。 - 特許庁

A detector having a low threshold voltage and a detector having a high threshold voltage are provided to a test terminal for controlling a test mode of a semiconductor device, and the detector having the low threshold voltage releases a reset of a logic circuit while the detector having the high threshold voltage controls switching of the test mode.例文帳に追加

半導体装置のテストモードを制御するテスト端子に、低閾値電圧のディテクタと高閾値電圧のディテクタを設け、低閾値電圧のディテクタによって論理回路のリセットを解除し、高閾値電圧のディテクタでテストモードを切替え制御するような構成にした。 - 特許庁

To shorten a test time for setting a threshold voltage of a reference memory cell.例文帳に追加

リファレンスメモリセルの閾値電圧を設定するための試験時間を短縮する。 - 特許庁

The plurality of network cards share processings depending on a threshold of a test traffic.例文帳に追加

試験トラフィックの閾値に応じて、複数のネットワークカードで処理を分担する。 - 特許庁

Successively, a threshold time specifying part 262 specifies the threshold time at which the time integrated value of the correction volume after the output of test sound reaches a prescribed threshold.例文帳に追加

引き続き、閾値時刻特定部２６２が、テスト音声の出力後における補正音量の時間積分値が所定の閾値に達する閾値時刻を特定する。 - 特許庁

The high-threshold device is also used for a non-core circuit like a test circiut.例文帳に追加

高スレショルドのデバイスは、例えばテスト回路といった非コア回路にも使用され得る。 - 特許庁

When the result is over the prescribed threshold, ultrasonic test inspection (UT inspection) of the inside is performed.例文帳に追加

所定の閾値以上の場合に、内部の超音波探傷検査（ＵＴ検査）を行う。 - 特許庁

To efficiently carry out an I/O circuit threshold value test of a semiconductor device by simple circuit constitution.例文帳に追加

半導体装置のＩ／Ｏ回路閾値試験を簡易な回路構成で効率よく実施する。 - 特許庁

A phase connecting test means 11 inputs a phase image signal 1, a test area size signal 4 and a phase threshold signal 5, performs a test to decide whether a phase difference is less than its threshold in a test range and outputs a connectable pixel group as a connectable mask image signal 2.例文帳に追加

位相接続テスト手段11は、位相画像信号1とテスト領域大きさ信号4、位相閾値信号5を入力しテスト領域内での位相差が閾値以内であるか否かのテストを実行し接続が可能な画素群を接続可能マスク画像信号2として出力する。 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

To provide a technique or a device for measuring the input threshold levels of test objects, without requiring synchronization with the signals applied to test objects.例文帳に追加

被測定物に印加される信号との同期を要せず、被測定物の入力閾値レベルを測定する方法または装置を提供する。 - 特許庁

A detection signal corresponding to the deformation quantity of the test specimen SP is compared with a threshold by a comparator 202.例文帳に追加

供試体ＳＰの変形量に応じた検出信号をコンパレータ２０２でしきい値と比較する。 - 特許庁

The position-classified threshold value determination part 53 searches the threshold value storage part 47 based on information about the body thickness of the test subject acquired by the body thickness information acquisition part 52 to determines relation between the position on the top plate and the threshold value according to the body thickness of the test subject.例文帳に追加

位置別閾値決定部５３は、体厚情報取得部５２により取得された被検体の体厚の情報にもとづいて閾値記憶部４７を検索することにより、被検体の体厚に応じて天板上の位置と閾値との関係を決定する。 - 特許庁

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.例文帳に追加

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁

The grip strength test meter has a display means for displaying reaching a threshold value statistically determined beforehand.例文帳に追加

握力検査計は、予め統計学的に決定した閾値に到達したことを表示する表示手段を有する。 - 特許庁

The yield can be improved by performing a threshold value test of a memory cell after batch stress applying tests of a plurality of kinds.例文帳に追加

複数種類の一括ストレス印加試験後にメモリセルの閾値検査を行うことで歩留向上が図れる。 - 特許庁

The maximum allowable load to be applied to the test piece TP is set beforehand as a threshold SH of a control quantity.例文帳に追加

試験片ＴＰに作用する最大許容負荷を制御量のしきい値ＳＨとして前もって設定する。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

After the similarity degree is calculated concerning a plurality of features recorded in the map data MD, a threshold calculating part 104 obtains a threshold from the statistic distribution of the similarity degrees by a Welch test.例文帳に追加

地図データＭＤに記録された複数の地物について類似度を算出した後、閾値算出部１０４は、類似度の統計分布からウェルチ検定により閾値を求める。 - 特許庁

An equipment diagnostic device preliminarily acquires data on an acceleration deterioration test of an insulation material, and creates a master curve and a threshold curve from test data to be stored as graph data 76C.例文帳に追加

機器診断装置は、事前に絶縁材料の加速劣化試験のデータを取得し、試験データからマスターカーブ及び閾値曲線を作成し、グラフデータ７６Ｃとして記憶する。 - 特許庁

Furthermore, a threshold voltage which is used as a reference when measuring a rise time of a signal waveform, is varied only when carrying out the test.例文帳に追加

又、信号波形の立ち上がり時間を測定する際も基準に用いる閾値電圧を、試験の時のみ変化させる。 - 特許庁

If the difference is outside a threshold determined beforehand, the memory cell 111t under test is decided to be a "deteriorated cell".例文帳に追加

この差分が予め定められたしきい値の範囲外であれば、検査対象メモリセル１１１ｔは「劣化セル」と判定する。 - 特許庁

Further, the nozzles of the group whose amount of light is not higher than the threshold and the nozzles of the group adjacent to the group whose amount of light is not higher than the threshold value are grouped to print a second test pattern.例文帳に追加

ノズルをスキャニング解像度毎にグループ化して、第１テストパターンを印刷し、印刷された第１テストパターンをスキャニングして得られた光量が閾値以下であるグループを検出する。 - 特許庁

The magnetic memory cell write current threshold detector (510) includes a first MRAM test cell (512) receiving a write current and sensing when the write current exceeds a first threshold, and a second MRAM test cell (514) receiving a write current and sensing when the write current exceeds a second threshold.例文帳に追加

この磁気メモリセル書込み電流閾値検出器（５１０）は、書込み電流を受け取って該書込み電流が第１の閾値を超えたときを判定するための第１のＭＲＡＭテストセル（５１２）と、書込み電流を受け取って該書込み電流が第２の閾値を越えたときを判定するための第２のＭＲＡＭテストセル（５１４）とを含む。 - 特許庁

When both values of EL1 and EL2 are lower than threshold values L1 and L2 at the time of test writing last time, test writing width A(L) is increased by Δa so as to be more than that last time.例文帳に追加

１回前のテストライト時において、ＥＬ１とＥＬ２が共に閾値Ｌ１、Ｌ２を下回っている場合には、テストライト幅Ａ（Ｌ）を１回前のテストライト時のものよりΔａだけ増大させる。 - 特許庁

In a specific embodiment, a first synchronization test is met when a renormalization rate of a trellis decoder (90) is below a threshold value.例文帳に追加

具体的実施例で、第１同期テストは、トレリス・デコーダ（９０）の再標準化率が、限界値以下である時に満たされる。 - 特許庁

As a result of this, it is possible to make the threshold Vth of the thin film transistor 9 by the BT test shift hardly.例文帳に追加

この結果、ＢＴ試験による薄膜トランジスタ９のしきい値Ｖｔｈがほとんどシフトしないようにすることができる。 - 特許庁

Consequently, it is possible to substantially prevent the threshold value Vth of the thin film transistor 10 by the BT test from shifting.例文帳に追加

これにより、ＢＴ試験による薄膜トランジスタ１０のしきい値Ｖｔｈがほとんどシフトしないようにすることができる。 - 特許庁

This can make the threshold voltages of the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor high in the test.例文帳に追加

これに伴い、試験時において、ＰチャンネルＭＯＳトランジスタおよびＮチャンネルＭＯＳトランジスタの閾値電圧を高くすることができる。 - 特許庁

It is preferred that a threshold value of the glossiness is determined based on the relationship between an adhesive interface breakage after a distortion follow-up test and the glossiness.例文帳に追加

光沢度の閾値の設定を、ひずみ追従性試験後の接着界面破壊率と光沢度との関係に基づいて行うと良い。 - 特許庁

In that case, based on the average value of the maximum and minimum values of the density values obtained from the test chart, a threshold for the binarization is determined.例文帳に追加

その際、テストチャートから得られた濃度値の、最大値と最小値の平均値を基に、前記２値化のための閾値を決定する。 - 特許庁

This radar device is constituted so that transmission/reception of the search beam the test beam is controlled by a scheduling controller 16 for controlling the execution of target detection by using the threshold value and irradiation of the test beam.例文帳に追加

このスレッショルド値を用いて目標検出を行い、検定ビームを照射するように制御するスケジューリング制御器１６で捜索ビームと検定ビームの送受信を制御するように構成した。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

A step S309 determines presence or absence of a linear defect on the test object based on a result of comparing the corrected additional value with a threshold value.例文帳に追加

ステップＳ３０９では、補正後の加算値と閾値を比較した結果に基づいて、検査対象物上の線状欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device, which has high detection sensitivity of a defective cell that will be actualized due to deterioration of a threshold, such as defective SNM.例文帳に追加

ＳＮＭ不良など閾値低下により顕著化する不良セルの検出感度が高い半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Then, a delay estimation part 263 estimates the time at which the correction volume becomes maximum as the arrival time of the direct waves of the test sound to the sound gathering position, in the period after the output of test sound until the threshold time.例文帳に追加

そして、遅延推定部２６３が、テスト音声の出力後から閾値時刻までの期間において、補正音量が最大となる時刻を集音位置へのテスト音声の直接波の到達時刻と推定する。 - 特許庁

In the transistor including the oxide semiconductor film, the amount of change of threshold voltage of the transistor is reduced before and after a bias-thermal stress test (BT test), and thus the transistor with high reliability can be provided.例文帳に追加

該酸化物半導体膜を用いたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減されており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁

A threshold for breakdown of a tire component is determined from a physical property of the broken tire component which is sampled from a broken tire in a real car test.例文帳に追加

実車試験により破壊したタイヤからサンプリングした破壊されたタイヤ構成部材の物性値から該タイヤ構成部材の破壊の閾値を決定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an internal circuit will not produce errors in operation and will not break down, even if the external potential exceeds the threshold potential in a test mode.例文帳に追加

テストモード時に外部電位がしきい値電位を超えた場合でも内部回路が誤動作したり破壊されることがない半導体装置を提供する。 - 特許庁

A relationship between the objective function calculated by the finite element analysis, the sensitivity analysis and a predesignated threshold value is evaluated, and a convergence test is performed (5).例文帳に追加

前記有限要素解析および感度解析により算出された目的関数と予め定められた閾値との関係を評価し収束判定する（５）。 - 特許庁

A test signal is modulated so that the frequency varies with time and fault of the transmission/reception module is diagnosed from relation between an evaluation formula and a threshold value.例文帳に追加

試験信号を時間経過とともに周波数が変化するように変調し、評価式と閾値との関係から送受信モジュールの故障を診断する。 - 特許庁

When a degree of similarity of the PING test results in the route monitors 100A to 100C detecting the route to be hijacked and the PING test result detecting no route to be hijacked is lowered to a specified threshold or smaller by comparing both PING test results in this case, the occurrence of the route hijack is decided.例文帳に追加

ここで、被疑ハイジャック経路を検出した経路監視装置１００Ａ〜１００ＣにおけるＰＩＮＧ試験結果と、被疑ハイジャック経路を検出しなかったＰＩＮＧ試験結果とを比較して、その類似度が所定の閾値以下のとき、経路ハイジャックが発生したと判定する。 - 特許庁

Furthermore, based on the test return loss value and insertion loss value stored in the memory, the insertion loss values are compared, respectively, for the test frequencies at which the test return loss goes below a specified threshold (S470), and a test frequency corresponding to a maximum insertion loss value (minimum absolute value), as a result of comparison, is set as a candidate frequency (S480).例文帳に追加

さらに、メモリに記憶されたテスト反射損失値及び挿入損失値に基づいて、テスト反射損失値が規定閾値以下であるテスト周波数それぞれについての挿入損失値を比較し（Ｓ４７０）、その比較の結果、最大（絶対値が最小）となる挿入損失値に対応するテスト周波数を候補周波数として設定している（Ｓ４８０）。 - 特許庁

When an internal resistance control part 13 becomes a test mode, output voltage V_OUT this time is compared with a threshold used in the case of presence/absence judgment of the touch operation in a main control part 12 to judge whether or not the output voltage V_OUT is less than the threshold.例文帳に追加

内部抵抗制御部１３がテストモードになった際、この時の出力電圧Ｖ_OUTと、メイン制御部１２でタッチ操作有無判定の際に用いる閾値とを比較し、出力電圧Ｖ_OUTが閾値を下回っているか否かを判定する。 - 特許庁

A brake operation time is measured in the reaction test and, if it is equal to or longer than a threshold time, it is determined as the state under the influence of alcohol and measures including engine start inhibition and shift lock are taken.例文帳に追加

反応テストはブレーキ操作時間を測定し、閾値時間以上であれば、酒気帯び状態と確定し、エンジン始動禁止、シフトロックなどの対処を実行する。 - 特許庁