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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > threshold testに関連した英語例文

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threshold testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 134



例文

In the input buffer circuit 21, the threshold value changing circuit is activated at the time of a test mode, current quantity of the N channel MOS transistor 215 is increased, voltage of a node N1 is increased, and the reference voltage VREF is changed equivalently.例文帳に追加

入力バッファ回路21は、テストモード時閾値変更回路が活性化され、NチャネルMOSトランジスタ215の電流量を増加させてノードN1の電圧を増加させ、基準電圧VREFを等価的に変化させる。 - 特許庁

In this case, an inspection controller 12 performs in parallel inspection of a threshold voltage of a built-in comparator relative to input I/F parts IF1, IF3, IF5-IFz unused in the functional test of the digital circuit block D1 as objects.例文帳に追加

このとき、検査用コントローラ12が、デジタル回路ブロックD1のファンクショナル試験で使用されない入力I/F部IF1,IF3,IF5〜IFzを対象として内蔵のコンパレータのしきい値電圧の検査を並行して行う。 - 特許庁

The receiving circuit detects the minute current signal by an input circuit 81 and outputs a voltage signal having its logical value from an output circuit 83, and has a test circuit 84 having a smaller amplification gain than the output circuit and a test control circuit 86 which controls its output operation so as to measure the threshold current of the input circuit.例文帳に追加

受信回路は、入力回路(81)で微小電流信号を検出し、その論理値の電圧信号を出力回路(83)から出力するが、入力回路の閾値電流計測のために、出力回路よりも小さな増幅利得を持つテスト出力回路(84)とその出力動作を制御するテスト制御回路(86)とを有する。 - 特許庁

When the battery voltage detected in the battery load test of the battery testing part 72 has decreased to a voltage lower than or equal to a specified threshold value, a battery capacity monitoring part 74 determines a battery capacity reduction and causes the notice part 32 to output a battery capacity reduction alarm.例文帳に追加

電池容量監視部74は電池試験部72の電池負荷試験により検出した電池電圧が所定の閾値以下に低下した場合に電池容量低下と判断し、報知部32から電池容量低下警報を出力させる。 - 特許庁

例文

To determine whether an insulating film has been formed normally, by measuring the difference of sub-threshold characteristics of test transistors that have two kinds or more of insulating films, in a measurement to guarantee a metal oxide semiconductor capacity film in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置内のMOS容量膜保証は測定が困難で手間がかったが、2種類以上の絶縁膜をもつテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差を測定し、絶縁膜が正常に形成されたか否かを判定できるようにする。 - 特許庁


例文

At normal operation, the substrate potential of the target transistor is equalized to that of the non-target transistor for use, and at implementation of a scan test, the substrate potential of the target transistor is tested, by impressing a back bias to a side that is increasing in the threshold of the transistor.例文帳に追加

通常動作時には、対象トランジスタの基板電位を、非対象トランジスタの基板電位と同電位にして使用し、スキャンテスト実施時には、対象トランジスタの基板電位を、トランジスタの閾値が上昇する側にバックバイアスを印加してテストする。 - 特許庁

A correlation of an alloy component ratio between the wire bonding material upon the wire bonding and the material of the electrode pad to the reflection factor thereof is previously found by a destruction test, and a threshold for the determination of the good or bad pad based on the reflection factor is determined from the correlation.例文帳に追加

ワイヤボンディングしたときのワイヤボンディング材料と電極パッド材料との合金化率と反射率との相関関係を予め破壊検査によって求めておき、前記反射率で良否を判定する閾値を前記相関関係から決める。 - 特許庁

In the SRAM block, an error in a memory cell having a small operating margin which is caused by a variation in threshold voltage is generated intentionally by an acceleration test, so as to previously perform a predictive diagnosis of an error that occurs during a normal operation.例文帳に追加

SRAMブロックにおいて、しきい値電圧のバラツキによって生じた動作マージンの小さいメモリセルにおけるエラーを、加速試験によって意図的に発生させ、通常動作時に発生するエラーを事前に予知診断することを図る。 - 特許庁

When the difference between the density of the test pattern of the solid image formed by the nozzle group 78A on the inlet side and the density of the test pattern of the solid image formed by the nozzle group 78B on the outlet side read again by the optical sensor is at least the threshold value, a liquid flow rate adjusting means 84 is controlled so as to increase a flow rate to an ink outlet passage 80B.例文帳に追加

光学センサによって再度読み取った、流入口側ノズル群78Aによって形成されたベタ画像のテストパターンの濃度と、流出口側ノズル群78Bによって形成されたベタ画像のテストパターンの濃度との差が閾値以上である場合、インク流出路80Bへの流量を増加させるように液体流量調整手段84を制御する。 - 特許庁

例文

After a test signal is sounded from a master unit speaker 22 on receipt of a prescribed operation of a master unit 2, a reception offset continuation time is set if a transmission voice detector 49 detects a time in which an input level of a master unit microphone 21 becomes lower than the transmission voice threshold.例文帳に追加

受話オフセット継続時間は、親機2の所定の操作を受けて、テスト信号を親機スピーカ22から報音させた後、親機マイク21の入力レベルが送話音声閾値を下回るまでの時間を送話音声検出部49が検出して設定される。 - 特許庁

例文

When clutter map data 10 prepared without using CFAR processing are referred to detect the target, the radar signal processor has processing changing parts 11, 12 for being changed into the CFAR processing when an object is a clutter region, and fixing threshold test when it is a clutter-free region.例文帳に追加

CFAR処理を用いずに作成したクラッタマップデータ10を参照して目標検出するときに、対象がクラッタ領域のときはCFAR処理に、クラッタフリー領域のときは固定スレッショルド検定に切替える処理切替部11、12を備える。 - 特許庁

To provide a list-generating device for speech synthesis that can suppress the amount of memory used to generate a phoneme sequence list from a phoneme test, and to generate the phoneme sequence list, to which phoneme sequences of all lengths having values larger than a certain appearance frequency (threshold) are extracted.例文帳に追加

音素テキストから、音素列リストを生成するときに使用するメモリ量を抑え、ある出現頻度(閾値)以上の値を持つ全ての長さの音素列を抽出した音素列リストを生成することが可能な音声合成用リスト生成装置を提供する。 - 特許庁

When the test object is a semiconductor wafer, generation of the false report because of a brightness unevenness is avoided without decreasing the sensitivity, and moreover, the sensitivity can be adjusted easily by a single threshold by a means for preliminarily reducing a difference of brightnesses of images generated by a film thickness difference in the wafer.例文帳に追加

また、検査対象が半導体ウェハであった場合、ウェハ内の膜厚の違いにより生じる画像間の明るさの違いをあらかじめ合わせ込む手段により、感度を落とさずに明るさむらによる虚報の発生を避け、かつ、唯一のしきい値で容易に感度調整を可能とする。 - 特許庁

IDDQ measured values of the semiconductor integrated circuit with respect to those test patterns are input to an IDDQ quantization section 23, and the quantization section quantizes an input IDDQ measurement value to 1 when the input value is larger than a predetermined threshold, and to 0 in cases other than that, and outputs those values.例文帳に追加

IDDQ量子化部23は、それらのテストパタンに対する半導体集積回路のIDDQ測定値を入力し、入力したIDDQ測定値が所定の閾値よりも大きい場合には1に、それ以外の場合には0に量子化して出力する。 - 特許庁

To provide X-ray diagnostic equipment that can prevent skin trouble caused by X rays from occurring even in the case that an irradiation dose to a test subject with the X rays can reach a threshold level that may cause skin trouble, and to provide a data processing method of the X-ray diagnostic equipment.例文帳に追加

被検体へのX線の照射線量値が皮膚障害が発生する恐れのある閾値に達する可能性がある場合であっても、X線による皮膚障害の発生を未然に防止することが可能なX線診断装置およびX線診断装置のデータ処理方法である。 - 特許庁

The peripheral surface images consisting of the blue and red light components of the surface of the test heat insulating material are individually obtained, and the images of respective color components are discriminated on the basis of a predetermined threshold value to respectively detect a discoloration flaw and an uneven flaw (cameras 5,6, peripheral surface image processing parts 8, 9).例文帳に追加

また試験断熱材の表面の青色光成分および赤色光成分からなる周面画像をそれぞれ個別に得て各色成分の画像をそれぞれ所定の閾値で弁別することで、変色欠陥と凹凸欠陥とをそれぞれ検出する(カメラ5,6,周面画像処理部9,10)。 - 特許庁

In this invention, it is shown that the pain threshold value can be increased and the duration time of the function can be extended in a test for painkiller functions by adding compound X and compound Y in the anti-inflammatory drug formulated by combining diclofenac or its salts with acetaminophen. 例文帳に追加

本発明では、ジクロフェナク又はその塩類とアセトアミノフェンを組み合わせてなる配合消炎鎮痛剤において、化合物 Xと化合物 Yを配合することにより、鎮痛作用試験における疼痛閾値を上昇させ、かつ作用持続時間を延長することができることが示された。 - 特許庁

To provide a means for judging, in high reliability and specificity, a result (when the result stands in a vicinity of a threshold value in particular) in a gene examination, comprising judging the presence/absence of a chromosomal abnormality by comparing the variations in the ratio of quantity of alleles between a standard specimen and a test specimen.例文帳に追加

標準試料と検査試料とで対立遺伝子の量比の変化量を比較して、染色体異常の有無を判定する遺伝子検査(特に検査結果が閾値前後であった場合)において、高い信頼性及び特異性で判定するための手段を提供すること。 - 特許庁

Each of block processing sections 8-1 to 8-4 correspond to each block when the fail memory 4 is divided into plural blocks in according with blocks of the semiconductor memory, the number of defective addresses in a block corresponding to self-processing section are counted, when the number exceeds a threshold value, a test stop signal is outputted.例文帳に追加

各ブロック処理部8−1〜8−4は、フェイルメモリ4を半導体メモリのブロックに応じて複数のブロックに分割した際の各ブロックに対応しており、自処理部と対応するブロック中の、不良アドレスの個数を計数し、その個数が閾値を超える場合には、試験停止信号を出力する。 - 特許庁

A battery capacity monitoring part 52 determines battery capacity reduction when the battery voltage detected by the battery load test drops to a predetermined threshold or below, intermittently outputs a battery capacity reduction alarm from the notifying part 28, and stops subsequent periodical battery load tests.例文帳に追加

電池容量監視部52は、電池負荷試験により検出した電池電圧が所定の閾値以下に低下したときに電池容量低下と判断し、報知部28から電池容量低下警報を間欠的に出力させると共に、その後の定期的な電池負荷試験を停止させる。 - 特許庁

By varying the condition of cavitation jet, the erosion ratio every condition is measured, a polymer piezoelectric film sensor is stuck on the surface of a test piece, the condition of the cavitation jet is varied, and the threshold (intensity) of the cavitation impact force producing damage every inherent material is specified.例文帳に追加

キャピテーション噴流の条件を変化させて、各条件ごとの壊食率を計測するとともに、当該試験片表面に高分子圧電フィルムセンサを貼り付けてキャピテーション噴流の条件を変化させて固有材料ごとに損傷を生じる「キャビテーション衝撃力のしきい値(つよさ)」を特定する。 - 特許庁

Next, the normal printed matter to be reference is selected (step S21), a test normal printed matter is selected (step S22), an acquiring device S acquires these images (step S23), and a discrimination threshold T_ps is calculated on the basis of detection strength of electronic watermark detected from the acquired image data (step S24).例文帳に追加

次に、基準となる正規品の選択(ステップS21)、及び、テスト正規品の選択(ステップS22)を行い、取込機器Sによりこれらの画像を取り込み(ステップS23)、取り込まれた画像データから検出された電子透かしの検出強度をもとに、判別しきい値T_psを求める(ステップS24)。 - 特許庁

To provide an electronic trip device, concerning an electronic circuit breaker equipped with threshold parameterization, current measurement, a test connector, a display and communication functions or the like, capable of incorporating into an existing opening and closing device, and also simplified irrespective of density of incorporated functions.例文帳に追加

しきい値パラメータ設定、電流測定、テストコネクタ、表示および通信機能等を備える電子式回路遮断器に関して、既存の開閉装置に組み込み可能であるとともに、組み込まれた機能の密度にかかわらず簡素化された電子式トリップ装置を提供する。 - 特許庁

A reference path 200 is provided with a second comparator 100 comparing a test signal 20 with a second threshold Vth2 to supply a second comparison signal 100A, and a second sampling device 260 receiving both a second timing signal 270 comprising a plurality of consecutive secondary timing marks and the above second comparison signal 100A as input signals.例文帳に追加

基準経路200は、試験信号20を第2の閾値Vth2と比較し、第2の比較信号100Aを供給する第2の比較器100、複数の連続する第2のタイミングマークからなる第2のタイミング信号270とともに第2の比較信号100Aを入力として受信する第2のサンプリング装置260を備える。 - 特許庁

In the thin film transistor formed by using the oxide semiconductor layer, the amount of change in threshold voltage of the thin film transistor before and after a BT test is made to be ≤2 V, preferably ≤1.5 V, more preferably ≤1.0 V, thereby the semiconductor device which has high reliability and stable electrical characteristics can be manufactured.例文帳に追加

酸化物半導体層を用いる薄膜トランジスタにおいて、BT試験前後における薄膜トランジスタのしきい値電圧の変動幅を2V以下、好ましくは1.5V以下、さらに好ましくは1.0V以下とすることで、信頼性が高く安定した電気特性を有する半導体装置を作製することができる。 - 特許庁

In general, it is publicly known that, by adding compound X and compound Y to the non-steroidal type anti-inflammation drugs, the pain threshold value can be increased to the same degree as the invention of the present application and the duration time of the effect can also be extended to the same degree as the invention of the present application in a test for painkiller functions. 例文帳に追加

一般に、非ステロイド系消炎鎮痛薬に化合物 Xと化合物 Yを加えることにより、鎮痛作用試験において疼痛閾値を本願発明と同程度に上昇させることができ、作用持続時間についても本願発明と同程度に延長することができることは公知である。 - 特許庁

A non-steroidal type anti-inflammation drugs formulated by combining diclofenac or its salts with acetaminophen is publicly known, and it is known that the pain threshold value can be increased and the duration time of the effect can be extended in the analgestic effect test by adding compound X and compound Y to the non-steroidal type anti-inflammation drugs. 例文帳に追加

ジクロフェナク又はその塩類とアセトアミノフェンの組合せからなる非ステロイド系消炎鎮痛薬が公知であり、非ステロイド系消炎鎮痛薬に化合物 Xと化合物 Yを加えることにより、鎮痛作用試験において疼痛閾値を上昇させることができ、作用持続時間を延長することができることが知られている。 - 特許庁

By changing the power supply Vcc pulsively from a voltage that is at least a threshold voltage Vth to the burn-in voltage Vbi, or the pulse waveform of the power supply Vcc is set so that a period TH of a high voltage becomes longer than a period TL of a low voltage, the burn-in test time can be further shortened.例文帳に追加

Vcc電源をしきい電圧Vth以上の電圧からバーンイン電圧Vbiまでパルス状に変化させることにより、あるいはVcc電源のパルス波形を高い電圧の期間T_Hが低い電圧の期間T_Lより長くなるように設定することにより、さらにバーンイン試験時間を短縮させることができる。 - 特許庁

Rows or columns are divided into regions, error caused in each region are counted for each row or column, the number of errors in each region are compared with a threshold value for each row or column, and the comparison result is transmitted to a test device with an error address as additional information for each row or column.例文帳に追加

発明によると、行もしくは列を、領域に分割し、各領域に生じるエラーを、行もしくは列ごとで数え、各領域のエラー数を、行もしくは列ごとで閾値と比較して比較結果を付加情報として行もしくは列ごとでエラーアドレスと共に試験装置に向けて伝送することが考慮される。 - 特許庁

In this device, a sampling path 30 is provided with a first comparator 50 comparing a test signal 20 with a first threshold Vth1 to supply a first comparison signal 50A, and a first sampling device 60 receiving both a first timing signal 70 comprising a plurality of consecutive primary timing marks and the above first comparison signal 50A as input signals.例文帳に追加

サンプリング経路30は、試験信号20を第1の閾値Vth1と比較し、第1の比較信号50Aを供給する第1の比較器50、複数の連続する第1のタイミングマークからなる第1のタイミング信号70とともに第1の比較信号50Aを入力として受信する第1のサンプリング装置60を備える。 - 特許庁

Particularly for a high-contrast part where the difference becomes large and a wrong detection (false report) is easy to occur even when a positional deviation is minute, generation of the false report is reduced and a high-sensitivity inspection is realized by a single low threshold to the whole of a test object region by a means for especially strongly matching brightnesses of images upon necessities.例文帳に追加

特に、微小な位置ずれであっても、その差異が大きくなり、誤検出(虚報)が生じやすい高コントラスト部分では、必要に応じて画像間の明るさを特に強く合わせ込む手段により、検査対象領域全体に対して唯一の低しきい値で虚報の発生低減と高感度検査を実現する。 - 特許庁

A script text interval acquisition means 13 reads script data of a video image to acquire a script text interval, and a video text interval generating means 14 applies meaningful relation threshold value processing to test data obtained from caption information and voice information in an input video interval to generate a video text interval.例文帳に追加

台本テキスト区間取得手段13が映像の台本データを読み込んで台本テキスト区間を取得し,映像テキスト区間生成手段14が入力映像区間中の字幕情報,音声情報から得たテキストデータに対して意味的な関連度の閾値処理を行って映像テキスト区間を生成する。 - 特許庁

The process of collecting the data from the pixels of the first group and the second group includes the execution of a mathematical operation, such as defining a matrix for multiplying pixels of the first group, comparing and subtracting pixel values at both sides of a coordinate axis which divides the test pixels to two parts to produce a difference, and comparing the difference and a threshold.例文帳に追加

第1グループおよび第2グループのピクセルからデータを収集することは、数学的演算を実行することを含み、例えば第1グループのピクセルの乗算をするためのマトリックスを定義し、テストピクセルを二等分する座標軸の両側のピクセル値を比較、減算し、この差とスレッショルドとを比較する。 - 特許庁

例文

An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.例文帳に追加

本発明に係るESD試験装置1は、耐性試験用の静電気放電を発生させるESD発生手段11と、静電気放電の波形特性を測定するESD波形測定手段21,22と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ23と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段16とを備える。 - 特許庁




  
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