「x-chart」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A digital camera 10 is installed substantially horizontally, by making the center line of X 21a and X 21b of a chart 20 into parallel with the gravity direction.例文帳に追加

デジタルカメラ１０をほぼ水平に、チャート２０のバツ２１ａとバツ２１ｂの中心線を重力方向に並行に設置する。 - 特許庁

With a Gantt chart you can specify how your model representation of time is to be depicted as real dates/time along the x-axis. 例文帳に追加

ガントチャートを使うことによって, 時間のモデル表現を, X軸に沿う現実の日時としてどのように書き表すべきかを指定できます. - コンピューター用語辞典

The production department server 800 has an X-R control chart process part 810 and a P control chart process part 820 for preparing an X-R control chart and a P control chart based on the input data, and an abnormality determination part 830 for determining presence or absence of abnormalities based on the determination conditions preset based on the input data.例文帳に追加

製造部サーバ８００は、入力データに基づいてＸ−Ｒ管理図やＰ管理図の作成を行うＸ−Ｒ管理図処理部８１０、Ｐ管理図処理部８２０と、入力データに基づいて、予め設定された判定条件に基づいて異常の有無を判定する異常判定部８３０とを有する。 - 特許庁

CHART FOR EVALUATING OR ADJUSTING X-RAY INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING OR ADJUSTING X-RAY INSPECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

Ｘ線検査装置の評価もしくは調整のためのチャート、およびそのチャートを用いたＸ線検査装置の評価または調整方法 - 特許庁

Ionizing radiation generated when X-rays are applied to a water phantom 16b from an X-ray tube bulb 16a is measured, and on the basis of the measured radiation dose, a dose distribution is recorded on an X-ray room interior arrangement chart 13 by using either or both of a bar chart 17 and a radar chart 18.例文帳に追加

水ファントム１６ｂにＸ線管球１６ａよりＸ線を照射することによって生じた電離放射線を測定し、この測定した線量に基づき線量分布を棒グラフ１７およびレーダーチャート１８のいずれかまたは両方を用いてレントゲン室内配置図１３上に記録する。 - 特許庁

A pie chart in which one residual element is discriminated according to a pattern is displayed in the cell regions combined by the X/Y axes.例文帳に追加

ＸＹ軸により組み合せたセル領域に、残りの１要素を模様により区別したパイチャートを表示する。 - 特許庁

A colorimetry section 18 measures colors of a color calibration color chart to provide an output of colorimetric values (X, Y, Z) to a characteristic analysis section 23.例文帳に追加

測色部１８は、色校正用カラーチャートを測色し、測色値（Ｘ，Ｙ，Ｚ）を特性解析部２３に出力する。 - 特許庁

The cement quality control method is carried out by analysis of a mineral composition using Rietvelt analysis of a powder X-ray diffraction chart.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折チャートのリートベルト解析を利用した鉱物組成の分析によってセメントの品質管理を行う。 - 特許庁

The first adjustment stage 22 is made moveable in X direction, and the chart 27 for inspecting the foreign matter and flaw and the chart 29 for inspecting the definition of the lens, and an illumination device are arranged thereon.例文帳に追加

第１調整ステージ２２はＸ方向に移動可能になっており、その上方には異物及び傷検出用チャート２７及びピント検出用チャート２９、並びに照明装置が配設されている。 - 特許庁

In this medical chart creating device, a medical chart input screen with an icon line for pasting an image icon or the like is displayed, and an X-ray image of a patient is retrieved from an image database managing X-ray images of patients based on a patient code, and displayed on an image display screen of a window different from the medical chart input screen.例文帳に追加

このカルテ作成装置は、画像アイコン等を貼り付けるためのアイコンラインが形成されたカルテ入力画面を表示させるとともに、患者コードに基づいて各患者のレントゲン画像が管理されている画像データベース３２から該当患者のレントゲン画像を検索してカルテ入力画面とは別ウインドウの画像表示画面に表示させる。 - 特許庁

A metal test chart frame 200/300 for evaluating distortion having a clear dimension shape is photographed by the X-ray baggage inspection device 400.例文帳に追加

寸法形状の明確な金属製歪み評価用テストチャートフレーム２００／３００を、Ｘ線荷物検査装置４００にて撮影する。 - 特許庁

RANDOM TRACEABILITY STRATIFICATION AVERAGE COLLATION ANALYSIS METHOD, X-R CONTROL CHART FUNCTION PART PROGRAM, RANDOM TRACEABILITY STRATIFICATION AVERAGE COLLATION CAUSE ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

ランダムトレーサビリティ層別平均対照分析方法とＸ−Ｒ管理図機能部プログラムとランダムトレーサビリティ層別平均対照原因分析プログラム - 特許庁

The novel crystalline solid (called crystalline solid IM-10) gives an X-ray diffraction chart at least having a peak expressed in table 1.例文帳に追加

新規な結晶質固体（結晶質固体ＩＭ−１０と称する）であって、少なくとも表１に示すピークを持つＸ線回折図を有するものに関する。 - 特許庁

Sanban is a grid chart with each column expressing numbers such as one, ten, one hundred, one thousand, ten thousand, and each row expressing answers to algebraic equations and their coefficients, such as "sho" (answer), "jitsu" (constant term), "ho" (x), "ren" (x2), "gu" (x3), "sanjo" (x4) and so on. 例文帳に追加

算盤とは碁盤の目状になった表であり、各列が一、十、百、千、万といった桁を表し、各行は商（答え）、実（定数項）、方　(x)、廉(x2)、隅(x3)、三乗(x4)…と代数方程式の解および各係数を表した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In the expression, β is an angle defined by an incident plane of the incident X-ray and one direction in a surface of the transparent support, and I is diffraction intensity at 2θ=8° in an X-ray diffraction chart measured at the angle β.例文帳に追加

上記式中、βは、入射するＸ線の入射面と前記透明支持体面内のある１方向とのなす角度であり、Ｉは、角度βで測定したＸ線回折チャートにおける２θ＝８°での回折強度である。 - 特許庁

Parameter conversion is performed to (angle, distance) coordinates from (x, y) coordinates and pixel values of respective pixels of a binary or multi-valued image provided on an x-y image plane and an angle/ distance parameter chart in such a form that linearity can be easily extracted is prepared.例文帳に追加

ｘ−ｙ画像平面上にある２値、あるいは、多値画像の、各画素の（ｘ，ｙ）座標と画素値から、（角度，距離）座標へパラメータ変換を行い、直線性を抽出しやすい形にした、角度・距離パラメータ表を作成する。 - 特許庁

In addition, regarding the printing position adjustment, a Y registration chart and an X registration chart are put in use, the arrangement position of the density detecting means is set according to the forming direction of the charts, and the printing position adjustment is performed, without being affected by the swelling of the patch.例文帳に追加

また、印字位置調整については、ＹレジストチャートとＸレジストチャートを使用し、チャートの形成方向に対応して濃度検出手段の配設位置を設定し、パッチの盛り上がりに影響されることのない印字位置調整を行う構成である。 - 特許庁

The evaluation chart 1 by a radar chart is constituted by associating evaluation of the flavor and the tastes of the Japanese sake for evaluation with first and second straight lines 11, 12 crossed in the X-shape and arranging a third straight line 13 between the first straight line 11 and the second straight line 12.例文帳に追加

Ｘ字状に交差させた第一，第二の直線１１，１２に評価対象の日本酒の香りと味の評価を対応させ、第一の直線１１と第二の直線１２との間に第三の直線１３を配したレーダーチャートによる評価チャート１としている。 - 特許庁

The arrow marks M1 and M2 are respectively made to point to the same direction as those of the X components and Y components of the increase/decrease chart at a position where the pointer P is displayed.例文帳に追加

矢印マークＭ１とＭ２は、それぞれポインタＰが表示されている位置における増減表のＸ成分の向き及びＹ成分の向きと同じ方向を示すようにする。 - 特許庁

The arrow marks M1 and M2 are made to point to the same direction as the directions of the X component and the Y component of the increase/decrease chart at positions where the pointers P are displayed, respectively.例文帳に追加

矢印マークＭ１とＭ２は、それぞれポインタＰが表示されている位置における増減表のＸ成分の向き及びＹ成分の向きと同じ方向を示すようにする。 - 特許庁

The liquid crystal device having an illumination device disposed on the front of a liquid crystal panel is controlled so that the chromaticity coordinate (x, y) of the illumination device in an XYZ color chart (with a C-light source and the condition of 2° viewing angle) satisfies the relation of 0.20≤x≤0.30 and 0.20≤y≤0.30.例文帳に追加

照明装置を液晶パネルの前面に配置する液晶装置において、前記照明装置のＸＹＺ表示系（Ｃ光源、２°視野条件）における色度座標（ｘ，ｙ）が、０．２０≦ｘ≦０．３０、かつ０．２０≦ｙ≦０．３０を満たすように設定する。 - 特許庁

An actual position of an irradiation section 101 is calculated based on the position of an identifier 107 projected on projection image data obtained by X-ray projection to a chart section 106 from different directions.例文帳に追加

チャート部１０６に対して異なる方向からのＸ線投影によって得られた投影画像データに映し出される識別子１０７の位置に基づいて照射部１０１の実際の位置を算出する。 - 特許庁

In an X-ray diffraction chart made out by irradiating the thin diamond film layer, the diffraction peak intensity on the (110) surface of W exceeds 100 times that on the (200) surface of Cu.例文帳に追加

ダイヤモンド薄膜層にＸ線を照射して得られるＸ線回折チャートにおいて、Ｗの（１１０）面の回折ピーク強度がＣｕの（２００）面の回折ピーク強度の１００倍以上である。 - 特許庁

It is preferable that the molding has a sheet shape and the intensity ratio, I_(002)/I_(110) of intensity I_(110) of a diffraction peak at a (110) plane of carbon to intensity I_(002) of a diffraction peak at a (002) plane in an X-ray diffraction chart obtained by irradiating X-ray in the thickness direction of the sheet, is ≤10.例文帳に追加

成形体がシート状をなし、その厚み方向にＸ線を照射して得られる黒鉛粉末のＸ線回折図における炭素の（１１０）面の回折ピークの強度Ｉ_(110)に対する（００２）面の回折ピークの強度Ｉ_(002)の比Ｉ_(002)／Ｉ_(110)が１０以下であることが望ましい。 - 特許庁

The linear patterns of two directions of a chart 24 are projected to a sensor 5 through the lens system F, and a coma flare quantity is calculated from the illuminance distribution of a chart image in an X-direction and a Y-direction and is compared with a reference data previously measured, so that a driving amount at this time, namely the eccentric correcting amount of the lens F1 is obtained.例文帳に追加

このときの駆動量すなわちレンズＦ_1 の偏心補正量は、チャート２４の２方向の直線パターンをレンズ系Ｆを介してセンサ５に投影し、チャート像のＸ方向およびＹ方向の照度分布からコマフレア量を算出し、予め計測された参照データと比較することで求める。 - 特許庁

This aluminum nitride sintered compact contains carbon in which a peak can not be detected at a position of 10-90° reflection angle in an X-ray diffraction chart or is equal to or lower than the detection limit in a matrix composed of aluminum nitride.例文帳に追加

窒化アルミニウムからなるマトリックス中に、Ｘ線回折チャートでは反射角が１０〜９０°の位置でピークを検出することができないか、検出限界以下であるカーボンを含有する窒化アルミニウム焼結体。 - 特許庁

In the ceramic substrate for semiconductor producing/inspecting apparatus, conductors are arranged on a ceramic substrate containing carbon by such a quantity as a peak can not be detected on an X-ray diffraction chart or lower than a detection limit.例文帳に追加

Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか、検出限界以下であるカーボンを含有するセラミック基板に、導電体を配設してなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

The ceramic substrate for the wafer prober with a chuck top conductor layer formed on the surface thereof is provided, wherein an X-ray diffraction chart of the ceramic substrate, in addition to a peak of the ceramic constituting a main crystal phase thereof, a peak of carbon is detected to an angle of X-ray diffraction of 2θ=44 to 45°.例文帳に追加

その表面にチャックトップ導体層が形成されてなるセラミック基板において、前記セラミック基板のＸ線回折チャートにおいて、主結晶相を構成するセラミックのピークの他に、Ｘ線回折角度２θ＝４４〜４５°にカーボンのピークが検出されることを特徴とするウエハプローバに使用されるセラミック基板。 - 特許庁

By computing a prescribed index from the respective output values relating to the first and second forms and comparing the index and a prepared correspondence chart, a center deviation amount between the X-ray tube and the detector is computed.例文帳に追加

第１及び第２の形態に係る各出力値から、所定の指標を演算し、当該指標と予め作成された対応表とを比較することで、Ｘ線管球と検出器との間の中心ずれ量を演算する。 - 特許庁

This aluminum nitride sintered compact contains both carbon in which a peak can not be detected in an X-ray diffraction chart or is equal to or lower than the detection limit and a carbon in which a peak can be detected in a matrix composed of aluminum nitride.例文帳に追加

窒化アルミニウムからなるマトリックス中に、Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか検出限界以下であるカーボンと、ピークが検出できるカーボンの両方を含有することを特徴とするカーボン含有窒化アルミニウム焼結体。 - 特許庁

To provide a vessel production line which can check defects by checking the liquid level by an X-ray liquid volume inspection apparatus, grasp the time chart of carrying vessels, and determine in which filler valve a filling defect occurs.例文帳に追加

Ｘ線液量検査装置により液面のレベルのチェックによる不良確認と同時に、容器の運搬のタイムチャートをも把握したので、どのフィラーバルブにおいて充填の不良がおきているかを判別できる容器生産ラインを提供する。 - 特許庁

This ceramic substrate for the semiconductor manufacture/ detector is composed by disposing a conductor to the ceramic substrate containing both of carbon for which a peak can not be detected or is at or below a detection limit on an X-ray diffraction chart and the carbon for which the peak can be detected.例文帳に追加

Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか検出限界以下であるカーボンと、ピークが検出できるカーボンとの両方を含有するセラミック基板に、導電体を配設してなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

This image forming apparatus outputs a color chart with respect to an optional combination between an image recording signal CMY of the image forming apparatus and an image recording positional coordinate signal x in a main scanning direction and a colorimeter on market measures a colorimetry value L*a*b* (S100).例文帳に追加

画像形成装置の画像記録信号ＣＭＹと主走査方向の画像記録位置座標信号ｘの任意の組み合わせに対する色票を画像形成装置で出力し、その測色値Ｌ^*ａ^*ｂ^*を市販の測色計で測定する（Ｓ１００）。 - 特許庁

The sprayed coating is formed by thermal spraying of mixed powder of Cr_3C_2 and NiCr wherein the ratio of the peak area of the plane indices (012) of Cr_2O_3 to the peak area of the plane indices (121) of Cr_3C_2 in an X-ray diffraction chart is 2% or more and 16% or less.例文帳に追加

Ｃｒ_３Ｃ_２とＮｉＣｒとの混合粉末の溶射によって形成された溶射皮膜を、Ｘ線回折チャートにおける、Ｃｒ_３Ｃ_２の面指数（１２１）のピーク面積に対するＣｒ_２Ｏ_３の面指数（０１２）のピーク面積の割合が２％以上１６％以下となるようにする。 - 特許庁

The ceramic substrate for the semiconductor producing/ inspecting device is characterized in that an electrically conductive body is arranged on the ceramic substrate containing both of amorphous carbon for which a peak can not be detected or is at or below a detection limit on an X-ray diffraction chart and of crystalline carbon for which the peak can be detected and a sintering aid.例文帳に追加

Ｘ線回折チャート上ではピークが検出できないか、検出限界以下である非晶質カーボンと、ピークが検出できる結晶質カーボンとの両方を含有し、かつ、焼結助剤を含有するセラミック基板に、導電体を配設してなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

The LED 1 and the phosphor 2 are selected and combined such that variation in the chromaticity of the output light falls within 0.05 on the x-y chromaticity chart when the quantity of driving current being injected into the LED 1 is varied from 0.1(A/cm^2) to 70.0(A/cm^2) per unit emission area.例文帳に追加

このとき、該ＬＥＤ１に注入される駆動電流量を、単位発光面積当たり０．１（Ａ／ｃｍ^2）から７０．０（Ａ／ｃｍ^2）まで変化させたときに、出力光の色度の変化量が、ｘ−ｙ色度図上において０．０５以内となるように、ＬＥＤ１と蛍光体２とを選択し、組み合わせる。 - 特許庁

When image column number for changing the image color of a character area R2 is designated in a designation window by the operation of ten keys 104 while displaying a character area change screen G5a in the case of designating an X-direction column in an LCD display part 2b, the selection of a change color by the operation of a color chart 103 is received.例文帳に追加

ＬＣＤ表示部２ｂにＸ方向列指定時の文字領域変更画面Ｇ５ａを表示している間に、テンキー１０４の操作により文字領域Ｒ２の画像色を変更すべき画像列番号が指定窓１０２内において指定されると、色チャート１０３の操作による変更色の選択を受け付ける。 - 特許庁

The center line surface roughness Ra is measured by using a high precision surface roughness meter OO produced by XX manufacturing Co. Ltd. and a chart is drawn under the condition of cut-off value 0.08mm and OX, according to JIS B0601. A portion of measured length L is cut out from a film surface roughness curve to the direction of the center line. When the center line of the portion is expressed as an X axis, the vertical direction is expressed as a Y axis, and a roughness curve is expressed as Y = f (X), the value obtained from the following expression is Ra (μm). 例文帳に追加

中心線表面粗さRaはJIS B0601に準じ、(株)××製作所の高精度表面粗さ計○○を用いて測定し、カットオフ0.08mm、及び○×の条件下にチャートを書かせ、フィルム表面粗さ曲線からその中心線の方向に測定長さＬの部分を抜き取り、その抜き取り部分の中心線をＸ軸、縦方向をＹ軸として粗さ曲線をＹ＝ｆ(Ｘ)で表したとき、次の式で得られた値をμm単位で表す。 - 特許庁