x-eの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 275件
Nei WADA also calculated Fermat's Principle, that is to say, (f(x + e/2) - f(x - e/2))/e, and delivered the method in which it was expressed as e 0. 例文帳に追加
同じ脈絡で、和田寧はフェルマーの方法、すなわち(f(x+e/2)-f(x-e/2))/eを計算し、e0とする方法を発表している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
{e + (0.4 x a x b x c x 0.1) +([0.6 x a x b x c x 0.1 x e] / f) - g} x h 例文帳に追加
〔e+(0.4×a×b×c×0.1+0.6×a×b×c×0.1×e÷f)−g〕×h - 日本法令外国語訳データベースシステム
{e + (0.4 x a x i x c x 0.1) +([0.6 x a x i x c x 0.1 x e] / f) - g} x h 例文帳に追加
〔e+(0.4×a×i×c×0.1+0.6×a×i×c×0.1×e÷f)−g〕×h - 日本法令外国語訳データベースシステム
Return the mantissa and exponent of x as the pair(m, e). m is a float and e is an integer such that例文帳に追加
x の仮数と指数を (m, e)のペアとして返します。 - Python
00>=40 .vs 0u0short x, y;} XPoint; All x and y members are signed integers. 例文帳に追加
e 全ての x, y メンバは符号付き整数である。 - XFree86
A perovskite material contains La_1-x E_x Co_0.6 Ni_0.4O_3, where E expresses an alkali earth metal, and x is zero or more.例文帳に追加
ペロブスカイト材料は、La_1-x E_x Co_0.6Ni_0.4O_3を含み、ここで、Eはアルカリ土類金属であり、xはゼロ以上である。 - 特許庁
A pattern density distribution ρ(x, y) and a dose amount distribution D(x, y) calculated by using the pattern density distribution ρ(x, y) are multiplied to calculate an irradiation amount distribution E(x, y) (S104).例文帳に追加
パターン密度分布ρ(x,y)と、このパターン密度分布ρ(x,y)を用いて算出したドーズ量分布D(x,y)とを乗算して照射量分布E(x,y)を算出する(S104)。 - 特許庁
However, Seki's definition was a single term when f(x+e) was arranged for e, which did not consider its relation to the tangent. 例文帳に追加
しかし、関による定義は、f(x+e)をeについて整理したときの一次の項で、接線との関係は全く念頭にない。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
xinit -e widgets -- ./Xsun -l -c This willuse the command ./Xsun -l -c to start the server and will append the arguments-e widgets to the default xterm command. 例文帳に追加
"xinit \\-e widgets \\-\\^\\- ./Xsun \\-l \\-c"コマンド \\.\\/Xsun \\-l \\-c を使って X サーバを起動し、デフォルトの xterm に引き数 \\-e widgets を追加する。 - XFree86
A charge amount distribution C(x, y) in an irradiation region and a non-irradiation region is calculated by using the irradiation amount distribution E(x, y) and the fogging electron amount distribution F(x, y, σ) (S108).例文帳に追加
照射量分布E(x,y)とかぶり電子量分布F(x,y,σ)を用いて、照射域及び非照射域の帯電量分布C(x,y)を算出する(S108)。 - 特許庁
A fogging electron amount distribution F(x, y, σ) is calculated by using the irradiation amount distribution E(x, y) and a function g(x, y) describing a fogging spread distribution (S106).例文帳に追加
照射量分布E(x,y)とかぶり広がり分布を記述する関数g(x,y)とを用いてかぶり電子量分布F(x,y,σ)を算出する(S106)。 - 特許庁
The reaction is represented by following formula: OCO + ultraviolet ray or X-ray = O^++ e^-+ C^++ e^-+ e^-+ O^+ + photon.例文帳に追加
反応式は、OCO+紫外線やX線=O^++e^−+C^++e^−+e^−+O^++光子、です。 - 特許庁
The DNS record that carries mail routing information is the M ail e X change entry. 例文帳に追加
メールルーティング情報をもつ DNS レコードは、Mail eXchange エントリーです。 - FreeBSD
You can control the list of files that CTM would operate on by specifying filtering regular expressions using the -e and -x options. 例文帳に追加
-e と -xオプションを用い正規表現を指定することで、 CTMが処理するファイルのリストを制御することが できます。 - FreeBSD
For every file specified in a CTM delta, the -e and -x options are applied in the order given on the command line. 例文帳に追加
CTM デルタで指定されたファイルごとに、-e そして -xオプションがコマンドラインで指定された順序で適用されます。 - FreeBSD
An information repeating server 20 has the texts of ID being A, B and C stored in it, an information providing server 10 has the texts of ID being A, B, C, D and E stored in it, and the texts A, B and E includes a keyword X.例文帳に追加
情報中継サーバ20はIDがA,B,Cの本文、情報提供サーバ10はIDがA,B,C,D,Eの本文を記憶しており、A,B,Eの本文にはキーワードXが含まれる。 - 特許庁
Return the logarithm of x to the given base.If the base is not specified, return the natural logarithm of x(that is, the logarithm to base e).Changed in version 2.3:base argument added. 例文帳に追加
base を省略した場合x の自然対数を返します。 バージョン 2.3 で 変更 された仕様:base argument added - Python
Indicates that the conversion will be either e, f, or g and the next pointer is a pointer to "long double" or the conversion will be d, i, o, u, or x and the next pointer is a pointer to "long long" . 例文帳に追加
e, f, g変換で、次のポインタが"long double"へのポインタであることを示す。 - JM
00>=40 .vs 0u0Time time;short x, y;} XTimeCoord; The time member is set to the time, in milliseconds. 例文帳に追加
e time メンバにはミリ秒単位で時刻がセットされる。 - XFree86
x can be one of the following characters: E Escape (27) n Line feed (10) r Carriage return (13) t Tabulation (9) b Backspace (8) f Form feed (12) 0 Null character.例文帳に追加
x には以下の文字のどれかが入る。 E エスケープ (27)n ラインフィード (10)r 復帰 (13)t タブ (9)b バックスペース (8)f 頁送り (12)0 ヌルキャラクタ。 - JM
A carrier-reproducing circuit 111 removes a phase error e^-jp(n) of a modulation signal, and outputs a signal x(n) having established phase synchronization.例文帳に追加
搬送波再生回路111は変調信号の位相誤差e ^-jP(n)を除去し、位相同期が確立した信号x(n)を出力する。 - 特許庁
The file is processed by CTM only if it is marked as eligible after all the -e and -x options are applied to it. 例文帳に追加
すべての-e そして -xオプションが適用された後に更新対象と選択された場合に限り、 CTMはそのファイルを処理します。 - FreeBSD
The circuit 105 updates a coefficient a_3(n), on the basis of LMS algorithm by using an error signal e(n) and the signal x(n).例文帳に追加
非線形歪補償用係数更新回路105は誤差信号e(n)とx(n)を用いて、LMSアルゴリズムによりa_3(n) を更新する。 - 特許庁
For discussion of xterm(1)'s own private-mode sequences, refer to the Xterm Control Sequences document by Edward Moy, Stephen Gildea, and Thomas E. Dickeyavailable with the X distribution. 例文帳に追加
xterm(1) 自身のプライベートモードシーケンスに関しての議論は、X 配布とともに入手可能な Edward Moy, Stephen Gildea,Thomas E. Dickey によるXterm Control Sequencesドキュメントを参照されたい。 - JM
In an image deflection estimation step 34 and a step 35 for correcting images for image distortions A(t)∼E(t), the input images are deformed using f_new(x, y:t) = f(x + D_xs(x, y), y + D_ys(x, y):t).例文帳に追加
画像歪み推定ステップ34では、画像の歪みA(t)〜E(t)画像補正ステップ35では、f_new(x,y:t)=f(x+D_xs(x,y),y+D_ys(x,y):t)により入力画像を変形する。 - 特許庁
The perovskite type oxide is represented by LaE_xCo_yFe_(1-y-x)O_3, wherein E is copper or nickel; and 0.22<x<1 and 0<y<1 and x+y<1 are satisfied.例文帳に追加
ここで、このペロブスカイト型酸化物は、LaE_xCo_yFe_(1-y-x)O_3(Eは銅またはニッケル)で示され、0.22<x<1,0<y<1,かつx+y<1の範囲とされたものである。 - 特許庁
Then the threshold of developing energy is set, so that the edge position of each section of the pattern formed on a wafer correspondingly to the profile E(x) becomes close to a prescribed position.例文帳に追加
このE(x)に応じて形成されるウェハ上のパターン各部のエッジ位置が所定位置に近くなるように現像エネルギーの閾値を設定する。 - 特許庁
A first converting part outputs a value of a function X (e) to define output e of the index part extracting part.例文帳に追加
第1の変換部は指数部抽出部の出力eを入力とする関数X(e)の値を出力する。 - 特許庁
In the formula, the composition ratio "x" of a component Zn is 0<x≤1 and the composition ratio "e" of Mn is 0.001≤e≤0.2.例文帳に追加
前記式中において、成分Znの組成比を示すx、およびMnの組成比を示すeは、それぞれ0<x≦1、0.001≦e≦0.2である。 - 特許庁
Information about the worker C having the cell-phone not having sent reply e-mail for the confirmation e-mail is transmitted to a manager X managing the worker C.例文帳に追加
その確認メールに対して、返信メールのなかった携帯電話を保有する勤務者Cに関する情報を勤務者Cを管理する管理者Xに送信する。 - 特許庁
A code text Z=(E(x_1, r_1), ..., E(X_n, r_n)) of the set X=(x_1, ..., x_n) of n of numerical values is input and calculated while elements of X are kept secret, wherein E is an encrypting function and r_i is a random number.例文帳に追加
n個の数値の集合X=(x_1,・・・,x_n)の暗号文Z=(E(x_1,r_1),・・・,E(x_n,r_n))(E:暗号化関数、r_i:乱数)を入力として、Xの要素を秘匿したまま計算することを考える。 - 特許庁
The out-of-focusing of the projection optical system is set as the function of a deflecting amount and the position of the pattern in a one-shot exposed area and the energy profiles DR(x) and E(x) formed on the sensitive substrate, when exposure is made by using a primary reticle pattern are calculated.例文帳に追加
投影光学系のボケを偏向量と一括露光領域内におけるパターン位置の関数として設定し、一次レチクルパターンにより露光した場合の感応基板上でのエネルギープロファイルDR(x)、E(x)を計算する。 - 特許庁
Based on these operating condition parameters and model constants A-H, a function model parameter X is calculated according to equation: X=A×P^B×Veff^C×Pc^D×EGR^E×Ne^F×q^G×exp(H/T).例文帳に追加
X=A×P^B×Veff^C×Pc^D×EGR^E×Ne^F×q^G×exp(H/T) - 特許庁
The deposit center 1 gives sets of management information x, b, p (e×(d×x+b)≡1(mod(p-1))) to a base station 2.例文帳に追加
供託センター1は、管理情報x,b,p(e×(d×x+b)≡1(mod(p−1)))を基地局2に与える。 - 特許庁
When the creeping distance of the insulating material 42 between the shell 43 and the eyelet 44 is set as X, and a distance between the electrodes 24, 25 of an arc tube 12 is set as E, a relation of E < X < 8 mm is satisfied.例文帳に追加
シェル43とアイレット44との間の絶縁体42の沿面距離をX、発光管12の電極24,25間の距離をEとしたとき、E<X<8mmの関係を有する。 - 特許庁
Here, this perovskite type oxide is represented by LnE_xCo_yFe_(1-y-x)O_3 (Ln is La or Nd, E is Cu or Ni, and x and y satisfy relations of 0.3≤x≤0.6, 0.1≤y≤0.3, and x+y≤0.9).例文帳に追加
ここで、このペロブスカイト型酸化物は、LnE_xCo_yFe_(1-y-x)O_3(LnはLaまたはNd、EはCuまたはNi)で示され、0.3≦x≦0.6,0.1≦y≦0.3,かつx+y≦0.9の範囲とされたものである。 - 特許庁
In the fair blind signature process, a user converses with a signer to complete a 7-tuple (A, e, s, t, x_u, x, m) so that A^e=a_0a^x_1a^m_2a^xu_3a^t_4a^s_5(mod n) may be satisfied.例文帳に追加
フェア・ブラインド署名プロセスで、ユーザは、A^e=a_0a^x_1a^m_2a^xu_3a^t_4a^s_5(mod n)になるように7タプル(A,e,s,t,x_u,x,m)を完成するために署名者と対話する。 - 特許庁
A syndrome polynomial S(x) is obtained by a received word R including an extended reception symbol R (202), a corrected syndrome polynomial Sm(x) is found, based on the polynomials E(x), S(x) (203), and an error evaluation polynomial ω(x) and an error position polynomial σ(x) are found, based on the polynomial Sm(x) (204).例文帳に追加
拡張受信シンボルR_-を含む受信語Rよりシンドローム多項式S(x)を求め(202)、多項式E(x),S(x)より修正シンドローム多項式Sm(x)を求め(203)、このSm(x)より誤り評価多項式ω(x)、誤り位置多項式σ(x)を求める(204)。 - 特許庁
A first element array G1 comprises a plurality of light-emitting elements E which are arranged in an X direction.例文帳に追加
第1素子列G1は、X方向に配列する複数の発光素子Eを含む。 - 特許庁
This form consists of eight hexadecimal numbers, each of which expresses a 16-bit value (i. e. 例文帳に追加
この形式は 8 個の 16 進数から構成され、各々の 16 進数は 16 ビット値を表す( x - JM
The radiography system 1 includes an X-ray tube 2 for irradiating the object W with the low X-ray absorbing rate excepting a mamma with X-ray having average X-ray energy E (keV) of 15 to 30 and an X-ray detector 31 recording the X-ray image corresponding to the X-ray dosage of the irradiating X-ray.例文帳に追加
X線撮影システム1は、乳房を除くX線吸収率が小さい被写体Wに対し、平均X線エネルギーE(keV)が15≦E≦30であるX線を照射するX線管2と、前記照射されたX線のX線量に応じたX線画像を記録するX線検出器31とを備える。 - 特許庁
The aperture 33 limits passing of an electron beam E on an electron passage 4 of an X-ray generator (open-type X-ray source).例文帳に追加
アパーチャ33は、X線発生装置(開放型X線源)の電子通路4上において電子ビームEの通過を制限する。 - 特許庁
Deviation from a proportional relation between energy E of an incident secondary X-ray 7 and the voltage of a generated pulse at a detector 8 is obtained beforehand, for example, as a function of energy f (E), and correction is executed by applying the function f (E) when a prescribed amplification factor G of an amplifier 16 or the like is adjusted.例文帳に追加
検出器8 における入射される2次X線7 のエネルギーE と発生するパルスの電圧との比例関係からのずれを、例えばエネルギーの関数f(E)としてあらかじめ求めておき、増幅器16の所定の増幅率G 等を調節する際に、前記関数f(E)を適用して補正する。 - 特許庁
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