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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > くろーぬすに関連した英語例文

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くろーぬすの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 49978



例文

0≦|np−nh|≦0.15 …(1) ここで、npは無機微粒子の屈折率を、nhはホスト材料の屈折率をそれぞれ示す。例文帳に追加

0≤|np-nh|≤0.15 ----(1) [wherein, np is the refractive index of the inorganic fine particles; and nh is the refractive index of the host material]. - 特許庁

一方、差分値diff[n]が閾値γ以下であれば(S102:No)、注目の距離位置[n]のエコーレベルEcho[n]と閾値レベルTh[n]、および近接位置[n−1]の閾値レベルTh[n−1]とから新たな閾値レベルTh[n]を設定する(S106)。例文帳に追加

If the difference value diff[n] is the threshold γ or less (S102:No), the method sets a new threshold level Th[n] based on the Echo level Echo[n] and the threshold level Th[n] of the noticed distance position [n] and on the threshold level Th[n-1] of closer close position [n-1] (S106). - 特許庁

低反射膜10は、レーザチップに接する側から順に、屈折率n1の誘電体膜11、屈折率n2の誘電体膜12、屈折率n3の誘電体膜13、屈折率n4の誘電体膜14で形成され、屈折率n1〜n4は、n2=n4≦n1≦n3の関係を満たす。例文帳に追加

A low-reflection film 10 is so formed out of dielectric films 11, 12, 13, 14 having respectively their refractive indexes n1, n2, n3, n4 and so formed in this order from the side of the film 11 contacting with a laser chip that their refractive indexes n1-n4 satisfy the relation of n2=n4≤n1≤n3. - 特許庁

バケットエレベータ1のケーシング2の頂部付近にエアー抜き孔9を穿設し、該エアー抜き孔9にろ布枠10を配設すると共に、該ろ布枠10にろ布11を取り付ける。例文帳に追加

An air bleeder hole 9 is drilled near a top part of a casing 2 of a bucket elevator 1, a filter cloth frame 10 is arranged in this air bleeder hole 9, also a filter cloth 11 is mounted in this filter cloth frame 10. - 特許庁

例文

NチャネルMOSトランジスタN8,N12は、センスアンプ52を活性化するセンスアンプ活性化信号S0をゲートに受け、 NチャネルMOSトランジスタN10,N14は、コラム選択信号CSLをゲートに受ける。例文帳に追加

The N-channel MOS transistors N8, N12 receive a sense amplifier activation signal S0 for activating the sense amplifier 52 to the gate, and the N-channel MOS transistors N10, N14 receive a column selection signal CSL to the gate. - 特許庁


例文

半田をリフローした際に、ニッケル層60と半田バンプ(Cu−Sn−Ag)46との界面に、Niと半田組成金属とのNi合金層(Cu−Ni−Sn)68ができる(図8(B))。例文帳に追加

When reflow soldering is performed, the Ni alloy layer (Cu-Ni-Sn) 68 of Ni and solder composition metal is made ((B) of Fig.) in the interface of a nickel layer 60 and a solder bump (Cu-Sn-Ag) 46. - 特許庁

半田をリフローした際に、ニッケル層60と半田バンプ(Cu−Sn−Ag)46との界面に、Niと半田組成金属とのNi合金層(Cu−Ni−Sn)68ができる(図8(B))。例文帳に追加

When a solder is made to reflow, a Ni alloy layer (Cu-Ni-Sn) 68 of Ni and a solder composition metal is formed at an interface between a Ni layer 60 and a solder bump (Cu-Sn-Ag) 46 (Fig.8 (B)). - 特許庁

半導体素子は、n^-領域101、n型ソース領域103、p型ベース領域105、n^+領域107およびゲート電極113を含む。例文帳に追加

The semiconductor element has an n^- region 101, n type source region 103, p type base region 105, n^+ region 107, and gate electrode 113. - 特許庁

駆動シャフト120には、対極部120b−N(N極)及び120b−S(S極)が配列されている。例文帳に追加

Counter pole parts 120b-N (N pole) and 120b-S (S pole) are arranged in the driving shaft 120. - 特許庁

例文

また、2個のNAND型メモリセルユニットND1、ND2に接続する1本のビット線BLを、層間絶縁膜30を介して形成する。例文帳に追加

Besides, one bit line BL to be connected to two NAND type memory cell units ND1 and ND2 is formed through a layer insulating film 30. - 特許庁

例文

AlGaN層3の組成をAl_x1Ga_1-x1N、AlGaN層4の組成をAl_x2Ga_1-x2Nと表すと、「0≦x1<x2≦1」の関係が成り立つ。例文帳に追加

When a composition of the AlGaN layer 3 is represented as Al_x1Ga_1-x1 N and a composition of the AlGaN layer 4 is represented as Al_x2Ga_1-x2 N, a relational expression 0≤x1<x2≤1 is satisfied. - 特許庁

まず、n−GaN基板10上にn^- −GaN層11、p−GaN層12を積層し、p−GaN層12表面をNiを堆積した基板とともに塩素系プラズマに曝し、プラズマ損傷層13を形成する(図1a)。例文帳に追加

First, an n^--GaN layer 11 and a p-GaN layer 12 are stacked on an n-GaN substrate 10, and a surface of the p-GaN layer 12 is exposed to chlorine-based plasma along with a substrate with Ni deposited thereon to form a plasma-damaged layer 13 (fig. 1a). - 特許庁

2月1日,2014年ローザンヌ国際バレエコンクールの最終選考がスイスのローザンヌで行われた。例文帳に追加

On Feb. 1, the final competition of the 2014 Prix de Lausanne was held in Lausanne, Switzerland. - 浜島書店 Catch a Wave

ローザンヌ国際バレエコンクールはスイスのローザンヌで毎年開催されている。例文帳に追加

The Prix de Lausanne is held every year in Lausanne, Switzerland. - 浜島書店 Catch a Wave

発光ダイオード6は、ピーク波長が310nm以上530nm以下の半導体チップ13とする。例文帳に追加

The light emitting diode 6 is a semiconductor tip 13 having the peak wave length of ≥310 nm and ≤530 nm. - 特許庁

薄膜の下に不織布320をしき、第2ローラー324で薄膜を不織布320とともに巻き取る。例文帳に追加

A nonwoven fabric 320 is laid under the thin film and the thin film is taken up along with the nonwoven fabric 320. - 特許庁

ここで、p型Al_xGa_(1-x)N(0≦x≦1)層12は、例えばx=0.08のp型Al_0.08Ga_0.92N層である。例文帳に追加

The p-type Al_xGa_(1-x)N (0≤x≤1) layer 12 is, for example, a p-type Al_0.08Ga_0.92N - 特許庁

インジウム元素(In)、ガリウム元素(Ga)、亜鉛元素(Zn)及び錫元素(Sn)を含み、Ga_2In_6Sn_2O_16又は(Ga,In)_2O_3で表される化合物を含むこと特徴とする酸化物焼結体。例文帳に追加

The oxide sintered compact comprises an indium element (In), a gallium element (Ga), a zinc element (Zn) and a tin (Sn) element, and comprises a compound expressed by Ga_2In_6Sn_2O_16 or (Ga, In)_2O_3. - 特許庁

PINサーバ208とPINクライアント210、212の間の通信は、IPプロトコルを使用する。例文帳に追加

Communication between the PIN server 208 and the PIN clients 210 and 212 is operated by using an IP protocol. - 特許庁

波長1383nmにおける波長分散は0.1ps/nm/km以上かつ5.5ps/nm/km以下、そして1530nm〜1565nmの波長範囲における波長分散は0.1ps/nm/km以上かつ16.5ps/nm/km以下である。例文帳に追加

A wavelength dispersion in wavelength 1,383 nm is ≥0.1 ps/nm/km and ≤5.5 ps/nm/km and the wavelength dispersion in the range of wavelength 1,530 nm-1,565 nm is ≥0.1 ps/nm/km and ≤16.5 ps/nm/km. - 特許庁

そして、これらの各層における六方晶系窒化ホウ素粉末の含有量BN1、BN2、及び、BN3(wt%)が、下記式(1)及び(2)を満してなるガスセンサ1BN2−BN1≧5 …式(1)BN2−BN3≧5 …式(2)である。例文帳に追加

Each content BN1, BN2, BN3 (wt.%) of hexagonal system boron nitride powder in each layer satisfies inequalities: (1) BN2-BN1≥5, (2) BN2-BN3≥5. - 特許庁

広告主サーバ1は、広告が掲載された広告主ホームページ20をユーザ端末3に送信する。例文帳に追加

The sponsor server 1 transmits a sponsor home page 20 inserted with an advertisement to the user terminals 3. - 特許庁

共振用リアクトルL2およびNPNトランジスタQ5,Q6は、ノードN1,N2間に直列に接続される。例文帳に追加

The resonance reactor L2 and the NPN transistors Q5, Q6 are serially connected between the nodes N1, N2. - 特許庁

比較回路38−1〜nは、パワーメータ36−1〜nの計測結果と閾値Ref1〜Refnの差分を出力する。例文帳に追加

Comparison circuits 38-1 to n output differences between measured results of the power meters 36-1 to n and thresholds Ref1 to Refn. - 特許庁

検出装置は、検出ノードNDと、第1〜第n(nは2以上の整数)の焦電素子PY1〜PYnと、検出回路20とを含む。例文帳に追加

The detector includes: a detection node ND, first to (n)th pyroelectric elements PY1 to PYn (n: an integer of two or more), and a detection circuit 20. - 特許庁

pnpトランジスタ16のベースとnpnトランジスタ10のコレクタが第1抵抗6を介して第1端子Uに接続されている。例文帳に追加

The base of the pnp transistor 16 and the collector of the npn transistor 10 are connected to the first terminal U through a first resistance 6. - 特許庁

300nm以下および200nm以下、たとえば193nmおよび157nmを含む短波長イメージングに適した新規フォトレジストの提供。例文帳に追加

To provide a new photoresist suitable for short wavelength imaging, including300 nm and ≤200 nm such as 193 nm and 157 nm. - 特許庁

Li_1+aNi_bMn_cCo_dM_eO_2(但し、MはNi,Mn,Co及びLi以外の遷移元素) a+b+c+d+e=1 −0.1<a≦0.2 0.2≦b/(b+c+d)≦0.4 0.2≦c/(b+c+d)≦0.4 0<d/(b+c+d)≦0.4 0<e≦0.1 当該複合酸化物は、Ni,Mn及びCo共沈化合物と、Ni,Mn及びCo以外の遷移元素のオキソ酸化物及びLi化合物を混合焼成することによって製造できる。例文帳に追加

The multiple oxide can be produced by mixing and firing coprecipitated compounds of Ni, Mn and Co, an oxo acid compound of a transition metal other than Ni, Mn and Co, and an Li compound. - 特許庁

[%Cu]+8×[%Sn]<α×[%Ni]][%Cu]>0[%Sn]≧0α>0、[%Cu]、[%Sn]、[%Ni]は、鋼中の各元素の含有率の質量%を示す。例文帳に追加

[%Cu]+8×[%Sn]<α×[%Ni], [%Cu]>0[%Sn]≥0, α>0, and [%Cu], [%Sn], and [%Ni] show the mass % of the content of each element in the steel. - 特許庁

n個のHDDを6、6、4、1にグループ分けしグループ別にディスクを駆動する場合、内部カウンタをn+Δnにする。例文帳に追加

In cases where n HDDs are grouped as 6, 6, 4, 1 and the disks are driven for each group, the internal counter is set at nn. - 特許庁

N−16を含む蒸気が整流板7,10を通過する際にN−16が捕捉され、タービン系へ移行するN−16の量が低減される。例文帳に追加

As the N-16 is captured when the steam containing N-16 passes the straightening vanes 7 and 10, the quantity of the N-16 transferring to the turbine system is decreased. - 特許庁

ZnO電極膜6は、比抵抗を小さくするために、不純物がドープされてn型化されており、p型GaN系半導体層5上に成膜させるようにするが、ZnO基板7はZnO電極膜6に貼り付けて形成する。例文帳に追加

The ZnO electrode film 6 is doped with impurities and changed into an n-type to reduce specific resistance, and it is formed on the p-type GaN semiconductor layer 5, while the ZnO substrate 7 is stuck onto the ZnO electrode film 6. - 特許庁

回路18(1)〜18(n)でレベル調整されたnチャンネルの音信号をRAM16の記録トラックRC1〜RCnに並列的に記録する。例文帳に追加

The sound signals in (n) channels level-adjusted by the circuits 18(1) to 18(n) are recorded in parallel to recording tracks RC1 to RCn for a RAM 16. - 特許庁

周波数変換部6は選択されたθ+nΔθに対して周波数変換を行い、cos(θ+nΔθ)、sin(θ+nΔθ)を出力する。例文帳に追加

A frequency conversion part 6 subjects selected θ+nΔθ to frequency conversion to output cos(θ+nΔθ) and sin(θ+nΔθ). - 特許庁

次に、インタプリタ106は、「objA→Func1()」( 参照)の実行で関数Func1を呼び出す。例文帳に追加

Then, the interpreter 106 calls a function Func1 by executing 'objA→Func1 ()' (reference to (2)). - 特許庁

スイッチ回路101は、ノードN1〜N3のうちの1つずつを順番にデータ線DIOと接続する。例文帳に追加

A switch circuit 110 connects one out of nodes N1-N3 in order to the data line DIO. - 特許庁

Sn−Zn合金めっき上に六価クロムフリー耐食性皮膜を形成する方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING HEXAVALENT CHROMIUM-FREE CORROSION RESISTANT FILM ON Sn-Zn ALLOY PLATING - 特許庁

一対の入力端子IN1、IN2と、一対の出力端子OUT1、OUT2と、出力端子間に接続されたMOSFETN1、N2と、入力端子IN1、IN2とMOSFETN1、N2との間に接続された駆動回路10とを備える。例文帳に追加

There are provided a pair of input terminals IN1 and IN2, a pair of output terminals OUT1 and OUT2, MOSFETs N1 and N2 connected between the output terminals, and a drive circuit 10 connected between the input terminals IN1 and IN2 and the MOSFETs N1 and N2. - 特許庁

リードゲート回路は、リードゲートトランジスタQRN11〜QRN42を含む。例文帳に追加

The read-gate circuit comprises read-gate transistors QRN 11-QRN 42. - 特許庁

本発明は、ニューロピリン(NP)を産生する細胞から単離されるか、またはNPをコードするDNAから組換え操作された可溶性ニューロピリンタンパク質(sNP)をコードするcDNAに関する。例文帳に追加

To provide a cDNA encoding a soluble neuropilin protein (sNP), obtained by being isolated from cells producing a neuropilin (NP) or by a recombinant operation from a DNA encoding the NP. - 特許庁

Znが拡散されたp型領域105を、n−InP窓層104を貫通する様に形成する事で、n−InGaAs光吸収層103中あるいは近傍にpn接合が形成され、受光部となる。例文帳に追加

A p-type area 105 with diffused Zn is formed penetrating the n-InP window layer 104, thereby forming a pn junction in the n-InGaAs optical absorption layer 103 or adjacent thereto and making the area 105 as a light receiving part. - 特許庁

3未満なら(S6でNo)、詳細モードとする(S7)。例文帳に追加

In the case of less than three (No in S6), a minute mode is adopted (S7). - 特許庁

基板101上にAlNバッファ層102、アンドープGaN層103、アンドープAlGaN層104、p型GaN層105、高濃度p型GaN層106が順に形成され、ゲート電極111が高濃度p型GaN層106とオーミック接合する。例文帳に追加

On a substrate 101, an AIN buffer layer 102, an undoped GaN layer 103, an undoped AlGaN layer 104, a p-type GaN layer 105 and a high concentration p-type GaN layer 106 are formed sequentially, and a gate electrode 111 has an ohmic junction to the high concentration p-type GaN layer 106. - 特許庁

基板101上にAlNバッファ層102、アンドープGaN層103、アンドープAlGaN層104、p型GaN層105、高濃度p型GaN層106が順に形成され、ゲート電極111が高濃度p型GaN層106とオーミック接合する。例文帳に追加

An AlN buffer layer 102, an undoped GaN layer 103, an undoped AlGaN layer 104, a p-type GaN layer 105, and a high concentration p-type GaN layer 106, are sequentially formed on a substrate 101; and a gate electrode 111 is ohmic-contacted to the high concentration p-type GaN layer 106. - 特許庁

次に、TiN膜109の表面をSiH4に暴露し、TiSiN膜110を形成する。例文帳に追加

Then the surface of the TiN film 109 is exposed to SiH4, to form a TiSiN film 110. - 特許庁

基板10上に、窒素雰囲気におけるSnO_2やZnOをターゲットとしたスパッタリングにより、Sn−O−NやZn−O−Nからなる光触媒物質膜12を形成する。例文帳に追加

A photocatalyst substance film 12 comprising Sn-O-N and Zn-O-N is formed on a base 10 by means of sputtering using SnO2 and ZnO as a target in nitrogen atmosphere. - 特許庁

前記キャンディダ(Candida)属に属する微生物は、キャンディダ トロピカリス(Candida tropicalis)JPCCY0004株(NITE P−570)であることが好ましい。例文帳に追加

The microorganism belonging to the Cadida is preferably Candida tropicalis JPCCY0004 strain (NITE P-570). - 特許庁

フォトレジストやホログラフィに用いられる有機ドライフィルムを光ディスクガラス原盤に約100nmから500nm塗布し、257nmAr倍波、266nmYAG第四高調波、351nmArレーザ、413nmKrレーザなどからのCWレーザを用いて光ディスク原盤を露光する。例文帳に追加

An organic dry film used for the photoresist or holography is applied at about 100 to 500 nm on an optical glass master disk and the optical glass master disk is exposed by using CW lasers, such as from 257 nmAr times waves, 266 nmYAG quaternary harmonics, 351 nmAr lasers and 413 nmKr lasers. - 特許庁

LNT6をLNT60、LNT61に分割して、その前、中間、後ろにA/Fセンサ41、42、43を配置する。例文帳に追加

The LNT 6 is divided into an LNT 60 and an LNT 61, and A/F sensors 41, 42 and 43 are disposed respectively before, between and after the LNTs 60 and 61. - 特許庁

例文

当該課題は、Band1、Band2、Band3、Band4、Band5、Band6、Band10、Band11、Spot1、Spot4、Spot7、Spot8、Spot10、Spot13、Spot23及びSpot27からなる群から選択される少なくとも1の遺伝子を検出し、その発現量の変化を検出することにより解決される。例文帳に追加

The problem is solved by detecting at least one gene selected from the group consisting of Band 1, Band 2, Band 3, Band 4, Band 5, Band 6, Band 10, Band 11, Spot 1, Spot 4, Spot 7, Spot 8, Spot 10, Spot 13, Spot 23, and Spot 27, and detecting the change in the amount of the expression thereof. - 特許庁

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