「けいこうえっくすせんぶんせきほう」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

簡単な前処理だけで固体試料に含まれる元素の高感度な定性分析又は高精度な定量分析を可能とする蛍光Ｘ線分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method which performs high-sensitivity qualitative analyses and high-accuracy quantitative analysis of elements contained in a solid sample, only by carrying out simple pretreatments. - 特許庁

軽元素分析に好適な２次ターゲット法を用いて、Ｘ線の利用効率および測定限界を大幅に向上できる全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a total reflection fluorescence X-ray analyzer which can significantly improve the utilization efficiency and the measuring limit of X rays by using a secondary target method ideal for the analysis of light elements. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置による半導体封止樹脂中の有害元素管理方法において、誤差の少ない測定方法を用いて管理を行なう。例文帳に追加

To manage hazardous elements through the use of a measuring method having only few errors in a method for managing hazardous elements in semiconductor sealing resins by a fluorescent X-ray analysis apparatus. - 特許庁

土壌処理現場等での分析が可能である一方で分析能が十分でない蛍光Ｘ線分析方法において、極めて微量の有害金属元素等の分析を可能とする方法、および当該方法で用いるカラムとシステムを提供する。例文帳に追加

To analyze an extremely small amount of a harmful metal element or the like in a fluorescent X-ray analyzing method which enables its analysis on a soil treatment site or the like but insufficient in analyzing capacity, and a column and a system used in the fluorescent X-ray analyzing method. - 特許庁

平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface. - 特許庁

試料が軽量な小片である場合でも外部から伝わる振動による試料の移動を防止し、試料の蛍光Ｘ線分析を精度良く行うことができる試料ホルダ及び試料分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder and a sample analysis method for preventing a sample from being moved by a vibration transferred from the outside, and implementing an accurate fluorescent X-ray analysis of the sample even if the sample is a light and small piece. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析法によって筒状電池の漏液の有無を高速で、且つ正確に判別することができる筒状電池の漏液検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a leakage inspection method of a cylindrical battery in which existence of leakage of the cylindrical battery can be judged rapidly and precisely by a fluorescent X-ray spectrographic analysis. - 特許庁

数十ｍｇ程度の微量の粉体試料について蛍光Ｘ線分析で軽元素の測定ができ、かつ分析後に試料を容易に回収できる前処理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a pretreatment method which enables measurement of light elements on a trace amount of powder samples of approximately a few tens of milligrams by X-ray fluorescence analyses, and easily recovering the samples after the analyses. - 特許庁

ＦＰ法等において、装置感度や試料の組成に依存しない重なり補正係数を用い、正確な重なり補正のできる蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。例文帳に追加

To allow an accurate overlap correction using an overlap correcting coefficient independent from analyzer sensitivity and a sample composition in an FP(fundamental parameter) method or the like. - 特許庁

膨大な量のテーブルを記憶するデータベースが無くても、強度を正確に算出し、正確な定量値を算出することのできる蛍光Ｘ線分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method in which an accurate quantitative value can be calculated by accurately calculating strength even without data base for storing a huge number of tables. - 特許庁

イオン分析、蛍光Ｘ線分析などの多くの分析手法において、微細で、緻密な成分混合比コントロールを行った標準試料の作成に必要な技術を提供すること。例文帳に追加

To control component mixture ratios finely and precisely, in many analysis methods, such as ion analysis, X-ray fluorescence analysis. - 特許庁

樹脂に含まれる母材を除去して測定対象の元素を濃縮することにより、樹脂に含まれる金属元素の検出感度を向上させることができる蛍光Ｘ線分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method which enhances the detection sensitivity of a metal element contained in resin, by removing a matrix contained in a resin and by concentrating the element of a measuring target. - 特許庁

銅を高濃度に含有する溶液であっても、蛍光Ｘ線分析装置によって正確に銅を定量することができる銅の定量方法を提供する。例文帳に追加

To provide a quantitative determination method of copper capable of accurately determining the quantity of copper by a fluorescent X-ray analyzer even in a case of a solution containing copper at a high concentration. - 特許庁

マイクロサンプリング法で作製された試料をＴＥＭでＸ線分析した場合、試料上で励起されたＸ線が試料台に照射され二次的に蛍光励起されるのを抑えるための試料台に固定する方法および固定方法に用いる試料台を提供する。例文帳に追加

To provide a method of fixing a sample table for restraining secondary fluorescent excitation caused by the irradiation of X ray excited on a sample on the sample table when applying X-ray analyzing to the sample produced by a micro sampling method by TEM, and to provide the sample table for the fixing method. - 特許庁

ＦＰ法で試料の組成や面積密度を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、非検出元素について正確に検出限界を算出できるものを提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analyzer used for analyzing a composition or area density of samples using an FP method and capable of correctly computing a detection limit for non-detecting elements. - 特許庁

試料の品種判定に基づいて、ＩＣＰ発光分析などをするための適切な前処理方法の判断が自動的になされ、熟練していない操作者でも１回で正確な分析ができ、分析装置を汚染するおそれもない前処理方法判断用の蛍光Ｘ線分析装置などを提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray fluorescence analyzer or the like for judging a pretreatment method whereby the pretreatment method appropriate for executing an ICP emission analysis or the like is automatically judged on the basis of detection of a sample type, thereby enabling even unskilled operators to correctly analyze at a time and also eliminating the fear of contaminating the analyzer. - 特許庁

ＦＰ法もしくはＳＦＰ法またはそれらに用いる装置において、１次Ｘ線が測定線の属する殻よりも内殻を励起する場合にも、元素の含有率を正確に算出できる蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analyzing method and a device thereof capable of accurately computing a content by percentage of elements even if the primary X-ray excites the inner shell rather than a shell, to which a measuring beam belongs, in the FP method or the SFP method and a device thereof. - 特許庁

後分析工程として、固液分離されたうちの固体成分を試料として蛍光Ｘ線分析法により有害物質の含有量を分析する。例文帳に追加

In a post-analysis process, the hazardous material content is analyzed by the fluorescence X-ray analysis method using a solid component after the liquid-solid separation as the sample. - 特許庁

本発明は、全反射蛍光Ｘ線分析装置を用いた検査結果に基づいて、ミネラルの充足、不足を簡便に、正確に判別する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for simply and precisely determining sufficiency/insufficiency of minerals based on a detection result using a total reflection X-ray fluorescence analyser; and to provide a method for simply detecting harmful heavy metals accumulated in a human body. - 特許庁

シリコン基板１３表面に存在する金属不純物１６を全反射蛍光Ｘ線分析法により定量分析する前に基板１３表面にフッ化水素酸蒸気を１〜１０分間接触させる。例文帳に追加

Before the metal impurities 16 existing on the surface of the silicon substrate 13 are quantitatively analyzed by a total reflection X-ray fluorescence method, hydrofluoric acid vapor is brought into contact with the surface of the substrate 13 for one to ten minutes. - 特許庁

試料ホルダを円周経路で搬送する際に試料方向を維持し、照射位置と指定位置での試料方向の初期化を不要にできる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis apparatus for maintaining the orientation of a sample when a sample holder is transferred in a circumferential path and eliminating the need for the initialization of the orientation of the sample at an irradiation location and a specified location. - 特許庁

合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray fluorescence spectrometer capable of carrying out a sufficiently accurate analysis of coating weights and compositions of a plated coating on an alloyed hot-dip galvanized steel plate having the compositions nonuniform in the depth direction. - 特許庁

試料の厚みに特定した所定の試料の補正を考慮した場合に、複雑な工程を不要としながらも精度の高い蛍光Ｘ線分析方法を可能とする。例文帳に追加

To enable an accurate fluorescent X-ray analysis method without a necessity of a complicated process when a correction of a predetermined sample is considered and specialized for an thickness of the sample. - 特許庁

試料の測定面がフラットであり、試料作成の段階で凹凸の波又は反り等が発生せず、高精度の試料を得ることができる蛍光Ｘ線分析用試料ホルダー及び同試料の作成方法を得る。例文帳に追加

To provide a sample holder for fluorescent X-ray analysis for obtaining a sample that has a flat measuring plane, will not generate uneven wave, camber or the like in the step of sample preparation, and is accurate. - 特許庁

エネルギー分解能および検出効率ともに優れた、超微量分析を実現することのできる、新しい全反射蛍光Ｘ線分析法およびその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a new total reflection X-ray fluorescence analysis method and a device for it capable of achieving an ultramicroanalysis with excellent energy resolution and detection efficiency. - 特許庁

油試料に含まれるＳを沈降またはろ過により濃縮して１０〜３０ｐｐｂ程度の定量下限で蛍光Ｘ線分析するための油試料の調製法等を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing an oil sample, or the like, for concentrating S contained in the oil sample by sedimentation and filtration and applying a fluorescent X-ray analysis with the quantitative lower limit on the order of 10-30 ppb. - 特許庁

ＦＰ法で基板上に点在する島状構造物について組成、高さおよび占有率をすべて定量できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray fluorescence analyzer capable of quantifying all of compositions, heights and occupancy rates about island structures existing in a dotted fashion on a substrate, by using an FP (fundamental parameter) method. - 特許庁

分光素子交換機を備えた走査型蛍光Ｘ線分析装置の分光素子取付機構において、分光素子のθ方向の取付角度を、十分に高い精度で調整できるものを提供する。例文帳に追加

To provide a spectroscopic element attaching mechanism which is used for a scanning fluorescent X-ray analyzer, equipped with a spectroscopic element exchanging machine and for which the θ-direction attaching angle of the spectroscopic element can be adjusted with sufficient high accuracy. - 特許庁

分光素子交換機を備えた走査型蛍光Ｘ線分析装置の分光素子取付機構において、分光素子のθ方向の取付角度を、十分に高い精度で調整できるものを提供する。例文帳に追加

To provide a spectroscopic element attaching mechanism which is used for a scanning fluorescent X-ray analyzer equipped with a spectroscopic element exchanging machine and for which the θ-direction attaching angle of the spectroscopic element can be adjusted with sufficiently high accuracy. - 特許庁

よって、試料３を自動的に検査できるので、迅速な検査を実現できるので、管理者および管理区域を要さず、従来の蛍光Ｘ線分析法に比較して、低コスト且つ迅速に試料３を検査できる。例文帳に追加

Since a sample 3 is automatically inspected, it is possible to achieve speedy inspection and speedily inspect the sample 3 at low costs in comparison with a conventional fluorescent X-ray analysis method without requiring a supervisor or a controlled area. - 特許庁

微量の粉体試料１Ａを蛍光Ｘ線分析に供するために１枚の高分子フィルム２とともにその高分子フィルム２の厚み方向に加圧成形して前記高分子フィルム２に付着させる。例文帳に追加

For X-ray fluorescence analyses, a small amount of powder samples 1A is pressed and molded with a single sheet of polymeric film 2, in the direction of the thickness of the high molecular film 2 and is adhered to the high molecular film 2. - 特許庁

ピーク測定条件で測定したネット強度とバックグラウンド測定条件で測定したバックグラウンド強度との強度比を用いて、測定値の統計変動を小さくし、分析を精度よく行うことができる蛍光Ｘ線分析装置およびその方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis apparatus and its method for accurately making an analysis by reducing variation in the statistics of measured values using an intensity ratio between net intensity measured under peak measuring conditions and background intensity measured under background measuring conditions. - 特許庁

一般的に蛍光Ｘ線分析の分析対象外である元素により構成されており、かつ一次Ｘ線が照射された場合においても分解しない耐放射線性高分子であるポリベンゾイミダゾールなどの高分子材料または炭素材料でマスク６０を構成する。例文帳に追加

The sample container is constituted of an element other than those which are considered to be objects of a fluorescent X-ray analysis in general and a mask 60 is made of a carbonaceous material or a polymer material such as polybenzimidazole which is a radiation-resistant macromolecule not undergoing decomposition even in the case of irradiation with a primary X-ray. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置１は、被測定物であるウェーハ６にＸ線ビームをほぼ水平方向から照射するＸ線ビーム照射手段２と、照射によって発生した蛍光Ｘ線を検出する検出手段３と、検出結果を処理する信号処理部（不図示）と、ウェーハ６を保持して位置決めする位置決め手段４とを含む。例文帳に追加

This fluorescent X-ray analysis apparatus 1 comprises an X-ray beam irradiating means 2 for irradiating the wafer 6 to be measured with an X-ray beam substantially horizontally, a detecting means 3 for detecting fluorescent X-rays generated by irradiation, a signal processing section (not shown) for processing a detection result, and a positioning means 4 for holding and positioning the wafer 6. - 特許庁

金属帯の表面に形成されるＰなどの軽元素を含む表面処理皮膜について、該皮膜中に含まれる軽元素の付着量を、蛍光Ｘ線分析装置を用いてオンライン分析できる付着量測定装置および測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an adhesion amount measuring instrument capable of analyzing the adhesion amount of a light element contained in a surface-treated film on-line with respect to the surface-treated film containing the light element such as P or the like formed on the surface of a metal strip using a fluorescent X-ray analyzer, and a measuring method. - 特許庁

従来では測定試料として作製することが困難であった粗くて硬い粉体を試料についても、均一な成形体とすることができる蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及びその作製に用いる加圧成形治具を提供することである。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a sample for a fluorescent X-ray analysis capable of forming a uniform molded body of the sample of coarse and hard powder that is conventionally difficult to be produced as a measured sample, and to provide a pressurizing and molding fixture used for the production. - 特許庁

シリコーン系粘着剤に由来する汚染物質がアウターパッドに付着し、その汚染物質の付着量が蛍光Ｘ線分析によるケイ素原子の付着量で２０ｍｇ／ｍ^2 以下である半導体装置を用いて、配線基板へのはんだ付けを行う工程を含む半導体装置の実装方法。例文帳に追加

The method for mounting the semiconductor device comprises a step of soldering a circuit board using the device, in which a contaminant substance caused by the silicone adhesive is adhered to an outer pad and its adhering amount of the substance is 20 mg/m2 or less. - 特許庁

高誘電体ゲート絶縁膜である酸化ハフニウム膜、バリアメタル膜としてタンタル窒化膜を製膜する半導体集積回路製造プロセスにおける半導体基板上のハフニウム、タンタルを１本のイリジウムＸ線管で高感度、高精度に分析することができる蛍光Ｘ線分析装置およびその方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analyzer which analyzes hafnium and tantalum on a semiconductor substrate in a semiconductor integrated circuit manufacturing process for forming hafnium oxide film being a high dielectric gate insulating film and tantalum nitride film being a barrier metal film with high sensitivity and high precision, with one iridium X-ray tube, and also to provide an fluorescent X-ray analyzing method. - 特許庁

複数の層からなり長手方向に搬送される帯状の試料に含まれる成分の付着量等の分布を求める蛍光Ｘ線分析装置において、操作者にとって分布状況が理解しやすいグラフ表示を簡単かつ迅速に行える装置を提供する。例文帳に追加

To easily and quickly display a graph easy for an operator to understand a distribution condition, in a fluorescence X-ray spectrometer for finding a distribution for a deposit amount of a component and the like contained in a band-like sample comprising plural layers and conveyed along a longitudinal direction. - 特許庁

ベントナイト試料と、ホウ酸塩と、硝酸塩、塩素酸塩、臭素酸塩あるいは沃素酸塩のうちの少なくとも何れか一つとを混合し、得た混合物を加熱融解し、冷却して固形物を得、この得た固形物中の硫黄濃度を蛍光Ｘ線分析装置で測定する。例文帳に追加

A bentonite sample and at least any one of borate, nitrate, chlorate, bromate and iodate are mixed and a obtained mixture is melted by heating and cooled to obtain a solid and the concentration of sulfur in the obtained solid is measured by a fluorescent X-ray spectroscope. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置の回転テーブル１は、内側に少なくとも照射Ｘ線と試料から放出されるＸ線を通す開口部２ｃを有する回転ステージ２と、この回転ステージ２の外周部２ａに沿って間隔を開けて配置した複数の軸受け機構３０（３１，３２，３３）とを備える。例文帳に追加

The turn table 1 of the fluorescence X-ray spectrometer is provided with the turning stage 2 having in its inside an opening part 2c for transmitting at least an irradiated X-ray and an X-ray emitted from a sample, and the plurality of bearing mechanisms 30 (31, 32, 33) arranged with the intervals along an outer circumferential part 2a of the turning stage 2. - 特許庁

銅を含有する硫酸酸性溶液を、吸湿性を有する吸湿性部材に滴下して蛍光Ｘ線分析装置を用いて銅を定量する分析方法であって、硫酸酸性溶液は、銅濃度が、硫酸酸性溶液を吸湿性部材に滴下して乾燥させたときに、吸湿性部材表面に銅化合物が析出しない濃度となるように希釈されている。例文帳に追加

In an analytical method for quantitatively determining copper by dropwise adding a sulfuric acid-acidic solution containing copper to a hygroscopic member having hygroscopicity using a fluorescent X-ray analyzer, the sulfuric acid-acidic solution is diluted to a copper concentration where a copper compound is not precipitated on the surface of the hygroscopic member when the sulfuric acid-acidic solution is dropwise added to the hygroscopic member and dried. - 特許庁

食品中に混入し死亡した昆虫中に含まれるカリウム量および硫黄量を蛍光Ｘ線分析法により測定し、（カリウム量）÷（硫黄量）の値から、昆虫が食品中に混入し死亡した時期を判定することを特徴とする食品中に存在する昆虫の死亡時期の判定方法。例文帳に追加

The method for determining a death time of the insect existing in the food measures a quantity of kalium and sulfur included in the insect interfused and dying in the food by using a fluorescent X-ray analysis method and determines the time when the insect has interfused and died in the food based on a value of (a quantity of kalium)÷(a quantity of sulfur). - 特許庁

物質測定装置は、被測定物を高温に熱し柔らかくする溶融ステーション３と、被測定物をプレスするプレスステーション４と、被測定物に含まれる物質を蛍光Ｘ線分析方法によって測定する測定ステーション５と、被測定物を前記各装置間で移動させる回転テーブル１とを備えている。例文帳に追加

This material measuring device is equipped with a melting station 3 for heating the measuring object to a high temperature to soften it, a press station 4 for pressing the measuring object, a measuring station 5 for measuring a material included in the measuring object by an X-ray fluorescence analysis method, and a rotary table 1 for moving the measuring object between each device. - 特許庁

本発明は、ゴム製品に含まれることが無く、無害な識別用元素を利用してＯリング等の形状に起因する蛍光Ｘ線分析装置の検出誤差を補うことが出来るゴム製品の識別方法、ゴム製品、並びにゴム製品識別装置を提供することを可能にすることを目的としている。例文帳に追加

To provide a method for identifying a rubber product for correcting a detection error of a fluorescence X-ray spectrometer caused by a shape in an O ring or the like by using a harmless element for identification not included in the rubber product, to provide a rubber product, and to provide a rubber product identifying device. - 特許庁