「供試体厚」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

容易に、試験体の厚さ、および材質の変化した部分の厚さを測定できる、超音波探傷方法を提供する。例文帳に追加

To provide an ultrasound flaw detection method capable of easily measuring the thickness of a test object and a material quality changed part. - 特許庁

積層体を長手方向に複数接続した帯状試料が、長手方向に走行する際に、該帯状試料の１層の厚さを、接続部の前後で連続的且つ正確に求め得る、簡便な膜厚測定方法および膜厚測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a simple film thickness measuring method and a thin film measuring device, capable of continuously and accurately finding the thickness of one layer of a strip specimen in front and in the rear of a connecting part, when the strip specimen formed by longitudinally connecting plural layered products longitudinally travels. - 特許庁

本発明は、迅速、容易、かつ低コストの評価試料片の作製方法、厚切りした前記評価試料片を用いた評価試料片封入体の作製方法及び厚切りした前記評価試料片を観察可能とする多孔体中への細胞侵入性の評価方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a rapid and easy method for manufacturing an evaluation sample piece at low cost, a method for manufacturing an inclusion body evaluation sample piece using the evaluation sample piece which is thick-sliced, and a method for evaluating cell invasive properties into a madreporic body which allows the thick-sliced evaluation sample piece to be observed. - 特許庁

験体の厚みや表面の角度が変動しても探触子と試験体との間に板波を伝搬させることの可能な超音波伝搬方法並びにこれを用いた超音波伝搬装置及び超音波試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an ultrasonic propagation method which enables the propagation of a sheet wave between a probe and a test target even if the thickness or surface angle of the test target is varied, also to provide an ultrasonic propagation device using it and an ultrasonic tester. - 特許庁

模擬試験体が耐火試験に供された場合において、所望の特性が満足されるように耐火被覆材の厚さが求められる技術を提供しようとすることである。例文帳に追加

To provide a technique which obtains such a thickness of a refractory coating material that desired characteristics are satisfied when a simulation specimen is subjected to a fireproof test. - 特許庁

試料の角度を人手に頼らず、正確に測定できる試料の角度測定装置およびこれを用いた半導体ウェーハの拡散層の厚さ測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an angle measuring instrument capable of measuring accurately an angle of a sample without depending on manual work, and to provide a thickness measuring method for a diffusion layer of a semiconductor wafer using the angle measuring instrument. - 特許庁

電磁界の共振現象を利用して膜状絶縁体試料の厚さを容易にかつ高精度に測定することができる厚さ測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a thickness measuring method capable of easily and accurately measuring the thickness of a film-like insulator sample by using the resonance phenomenon of an electromagnetic field. - 特許庁

試料容器の厚みの均一性を確保するとともに、試料容器収容部に試料容器を収容する際に常に正確な位置決めが容易にできるようにし、併せて試料容器本体の表面が汚れたり濡れたりしないようにすることで、水質測定の誤差の発生を極力回避できて取り扱い性にも優れる水質測定器およびそれに用いられる試料容器を提供する。例文帳に追加

To provide a water quality measuring instrument that can avoid the occurrence of errors in the measurement of water quality as much as possible and also has improved handling properties by securing the thickness of the sample vessel uniformly, always facilitates positioning accurately when storing the sample vessel at a sample vessel storage section, and prevents the surface of the body of the sample vessel from being contaminated or wetted. - 特許庁

ここで、型枠の底面および上面の端面は、切削等によりその側面に対し直角に加工されており、且つ型枠サイズは、キャッピング時に供試体を確実に固定できるとともに、供試体を垂直に保持できるように十分な厚みのあるものが望ましい。例文帳に追加

The end surfaces of the bottom and upper surfaces of the form are processed by e.g. cutting so as to be perpendicular to the side surfaces, and the form preferably has a sufficient thickness to secure reliable fixing of a specimen on capping and keep the specimen vertically. - 特許庁

弾性体が損傷したり試適として取り付けた結果弾性体の弾性率や厚さ等が好ましくなかった場合に、弾性体を正常な又は適正なものに交換可能なように着脱自在な磁性アタッチメントを提供する。例文帳に追加

To provide a magnetic attachment that is removable so as to replace an elastic body by normal or right one in a case where the elastic modulus, thickness and the like of the elastic body are not suitable as a result of damage or attachment. - 特許庁

誘電体層を構成するセラミックス粒子の小径化とともに、粒界層の厚みまでも制御した誘電体セラミックスとその製法、並びにそれを用いて、高温負荷試験および湿中負荷試験での信頼性を高めることのできる積層型電子部品およびその製法を提供する例文帳に追加

To provide a dielectric ceramic in which a ceramic particle constituting a dielectric layer is made small-sized and even the thickness of grain boundary layer is controlled, a method for manufacturing the same, a multilayer electronic component having improved reliability in a high temperature load test and a humidity load test obtained by using the dielectric ceramic, and a method for manufacturing the same. - 特許庁

厚みが薄い試験対象ウエハであっても撓みなく支持できるとともに、簡単な構造で試験対象ウエハの裏面電極にプローブ針を確実かつ簡便に接触させることができる半導体測定装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor measuring device in which even a thin wafer to be tested can be supported with no deflection, and a probe needle can be brought into contact with the back electrode of a wafer to be tested reliably and easily with a simple structure. - 特許庁

検出感度を向上させるための不純物測定用の厚い試料を別に準備することなく、半導体ウェーハ形状・厚みのままで１０^１４ａｔｏｍｓ／ｃｍ^３レベルの不純物を測定することが可能となる方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method which enables measuring impurities on the level of 10^14 atoms/cm^3 while maintaining the shape and the thickness of a semiconductor wafer without separately preparing a thick sample for measuring the impurities so as to improve the detection sensitivity. - 特許庁

ハロゲン系腐食性ガス及びそのプラズマ中で用いられ、十分な吸着力を有する静電チャック、低電圧駆動が可能で試料載置面を構成する絶縁性誘導体材料の厚さを厚くし得る静電チャック装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electrostatic chuck which is used in a halogen-based corrosive gas and plasma thereof, and has sufficient electrostatic attracting force, and an electrostatic chuck device that is driven at a low voltage and reduces a thickness of an insulating dielectric material forming a sample mounting surface. - 特許庁

評価する供試体は、基材として長さ１５０ｍｍ×幅７０ｍｍ×厚さ０．８ｍｍの亜鉛めっき／３価クロメート鋼板を用いて、これに水性コーティング剤をエアスプレー法で塗装膜厚３０μｍになるように塗装し、１４０℃×５分間乾燥して作製した。例文帳に追加

A test piece to be evaluated is prepared by using a galvanized, trivalent chromate steel sheet of 150 mm long, 70 mm wide, and 0.8 mm thick as a substrate, applying the aqueous coating agent to the substrate by an air spraying method so as to obtain a coating film of a thickness of 30 μm, and drying it at 140°C for 5 min. - 特許庁

電子顕微鏡等による各種観察やイオンビームによる加工に適するように、試料に付着させるイオン液体の形状及び膜厚を調整する機構を有する荷電粒子線装置を提供する。例文帳に追加

To provide a charged particle beam device having a mechanism in which ionic liquid shape and membrane thickness are adjusted to be adhered to samples so as to be suitable for various observations by electronic microscope or processing by ion beam. - 特許庁

また、棒ガイド１２の線１２ｂ〜１２ｆがカラー３の上端と一致することを各層を突き固めた後に確認することにより、供試体の各層の厚さのばらつきはなくなる。例文帳に追加

The coincidence of the lines 12b-12f of the bar guide 12 with the upper end of a collar 3 is confirmed after every layer is tampered, and variations in the thickness in every layer of the specimen are reduced. - 特許庁

該光ファイバ式ひずみゲージは、ベース材１３の薄肉部の厚肉部１３ｂおよび１３ｃとの境界線近傍に沿う部分において、複数点ｐにおけるスポット溶接により供試体に溶接固着して用いる。例文帳に追加

This optical fiber type strain gage is weldedly fixed to a sample by spot welding in plural points in a portion along the vicinity of the boundary line between the thick wall parts 13b, 13c of the base material 13 to be used. - 特許庁

微量の粉体試料１Ａを蛍光Ｘ線分析に供するために１枚の高分子フィルム２とともにその高分子フィルム２の厚み方向に加圧成形して前記高分子フィルム２に付着させる。例文帳に追加

For X-ray fluorescence analyses, a small amount of powder samples 1A is pressed and molded with a single sheet of polymeric film 2, in the direction of the thickness of the high molecular film 2 and is adhered to the high molecular film 2. - 特許庁

従来のものに比べて簡単な装置構成で透過性が高い低出力のレーザ光を用いて比較的厚い生体試料へ適用可能な光コンピュータ画像化装置を提供する。例文帳に追加

To provide an optical computer imaging device that can be applied to a relatively thick organism sample using a low-output laser beam, having high transmission properties using a simpler device constitution than the conventional one. - 特許庁

面状発熱体の下部に敷設される断熱材を、面圧９８ｋＰａの応力を、１２０回／分サイクルで１００万回繰り返し作用させるタッピング試験に供したとき、２４時間放置後の厚みが、当初の厚みに対して、厚みの回復率が９０％以上である独立気泡の架橋ポリエチレン発泡体で構成する。例文帳に追加

This heat insulating material laid at the lower part of the planar heating body is composed of a cross-linked polyethylene foam of closed cells with thickness recovery rate of 90% or more to the initial thickness after left for twenty-four hours when subjected to a tapping test of applying a stress at the bearing pressure of 98 kPa repeatedly 1,000,000 times in a 120 times/min. cycle. - 特許庁

ハロゲン系化合物やリン系難燃剤を添加せずに、他の物性に悪影響を及ぼすことなく、ＵＬ９４試験において幅広い厚みでの高度な難燃性効果を有する半導体封止用エポキシ樹脂組成物及びこれを用いて半導体素子を封止してなる半導体装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an epoxy resin composition for sealing a semiconductor, which has a high flame-retarding effect at a thickness in a wide range in the UL94 test by adding neither a halogen compound nor a phosphorus-containing flame retardant without adversely influencing other physical properties, and a semiconductor device made by using it for sealing a semiconductor element. - 特許庁

試料である誘電体基板挿入時の測定周波数が誘電体基板の誘電率と厚さによらず、空洞共振器の共振周波数に比べて大きく変化しないで測定できる誘電体基板の誘電定数測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a dielectric constant measuring method for a dielectric substance substrate allowing measurement without greatly changing a measuring frequency when inserting the dielectric substrate of a sample compared with a resonance frequency of a cavity resonator, irrespective of a dielectric constant and a thickness of the dielectric substrate. - 特許庁

試料溶液が供給された基板１０上のスポット８０の厚みの形状が、周縁部分１３０で盛り上がった、いわゆるドーナツ形状になった場合は、基板１０を０℃に冷却した後、湿度３０％以上の十分な体積の気体が存在する室温下に戻す処理を行う。例文帳に追加

When the thickness shape of a spot 80 on the substrate 10 to which the sample solutions are supplied is raised on a fringe portion 130, the so-called "doughnut-shape", the substrate 10 is cooled to 0°C and thereafter treatment for returning to the environment of ambient temperature in which a sufficient volume of gas with a humidity of 30% or higher is present. - 特許庁

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor. - 特許庁

粒子を媒質に分散させた粒子分散体を対象とし、高価なレーザー光源及び同受光装置を用いることなく、分散体試料の厚さの精密調整を必要とせずに、高濃度あるいは厚膜のままでも粒度分布の評価を行うことのできる粒度分布評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for evaluating particle size distribution wherein the object is a particle dispersion in which particles are dispersed in a medium, while the method does not use an expensive laser light source or an apparatus for receiving the light, and the particle size distribution of the dispersion sample can be evaluated even in a high concentration or in a thick film state without fine adjustment of the thickness of the dispersion sample. - 特許庁

イットリアを６〜１５ｍｏｌ％、チタニアを３〜２０ｍｏｌ％含有し、平均曲げ強度が２５０ＭＰａ以上、なおかつ、試料厚さ１ｍｍ、波長６００ｎｍにおいて直線透過率が５０％以上である酸化チタン含有ジルコニア焼結体を提供する。例文帳に追加

A titanium oxide-containing zirconia sintered body containing 6 to 15 mol% of yttria and 3 to 20 mol% of titania and having an average bending strength of 250 MPa or more and linear permeability of 50% or more as measured using a 1 mm-thick sample at a measurement wavelength of 600 nm is provided. - 特許庁

簡単な構成で、被試験体における亀裂や溶接部等で生成されるピンホール欠陥、腐食等によって生じる配管材の肉厚減少等の内部欠陥などの位置、深さを検出できる簡単、安価な磁気探傷装置を提供することが課題である。例文帳に追加

To provide an inexpensive magnetic flaw detection apparatus having a simple structure and detecting a location and a depth of an internal defect etc. of a thickness decrease etc. of a piping material caused by a pin hole defect, corrosion, etc. generated in a crack, a welding part, etc. in a test object. - 特許庁

残留電荷測定法において、所定の課電パターンからなる交流電圧課電をステップ状に複数回行い、残留電荷が測定される最高交流課電電界強度と供試ケーブルの絶縁体厚さとの比を指標として水トリー劣化の程度を診断する。例文帳に追加

By the residual electric charge measuring method, AC voltage electrification based upon a specific electrification pattern is repeated in steps and the degree of the water tree deterioration is diagnosed by using as an index the ratio of the maximum AC electrification electric field intensity when the residual electric charges are measured and the insulator thickness of the tested cable. - 特許庁

破壊靭性が４．５ＭＰａ・ｍ^０．５以上、曲げ強度３５０ＭＰａ以上、なおかつ波長６００ｎｍの可視光に対する全光線透過率（試料厚さ１ｍｍ）が６０％以上である透光性アルミナ焼結体を提供する。例文帳に追加

The translucent alumina sintered body having 4.5 MPa-m^0.5 fracture toughness, ≥350 MPa-m^0.5 flexural strength, and ≥60% all light transmittance (sample thickness: 1 mm) to a visible light having a wavelength of 600 nm is provided. - 特許庁

遷移金属酸化物含み、破壊靭性が４．５ＭＰａ・ｍ^０．５以上、且つ波長３００〜８００ｎｍに対する全光線透過率（試料厚さ１ｍｍ）の最大値が６０％以上である着色透光性アルミナ焼結体を提供する。例文帳に追加

The colored translucent alumina sintered compact comprises a transition metal oxide and has fracture toughness of ≥4.5 MPa×m^0.5, and in which the maximum value of the total light transmission (sample thickness: 1 mm) to the wavelength of 300 to 800 nm is ≥60%. - 特許庁

厚膜および薄膜トランジスタを有する集積回路において、特に内部電圧を受けて動作する、薄膜トランジスタで構成される内部回路についてラッチアップを起こさせることなくバーンイン試験を実行する半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit that carries out a burn-in test without generating latch-ups for an internal circuit comprising a thin-film transistor that is subjected to an internal voltage especially for operating in an integrated circuit having a thick film and the thin-film transistor. - 特許庁

４層以上の配線パターン導体層が積層された多層プリント配線板のスルーホールまたはインナーバイアホールのめっき膜に対して、冷熱衝撃試験での導通信頼性を高め、自動車のエンジンルーム等の過酷な温度環境下においても高い信頼性の得られる厚肉導体を用いた金属コア多層プリント配線板を提供する。例文帳に追加

To provide a metal core multilayer printed wiring board that uses a thick-wall conductor which can improve the reliability of conduction of a plating film of a through-hole or an inner via hole, in a multilayer printed wiring board where a wiring pattern conductor layer of four layers or more is stacked, during cold impact testing, and can attain high reliability under severe temperature environment, such as, engine room of vehicle. - 特許庁

ただし、「食品、添加物等の規格基準」（昭和34年厚生省告示第370号）第１食品Ａ食品一般の成分規格５（2）検体に規定される食品は、当該項目の第1欄の各食品について、各々第2欄の試料の調製に従うこととし、製造し、又は加工した食品は、原則としてそのままの状態を測定試料とする（飲用に供する茶等、飲用に供する状態で検査する食品は除く。）。例文帳に追加

However, for food listed in the first column in Item 5 (2) “Samples” of Section A “General Compositional Standards for Food” of Part I “Food” of “Specifications and Standards for Food, Food Additives, etc.” (Ministry of Health and Welfare Notification No. 370, 1959), the samples shall be prepared according to the descriptions provided in the corresponding second column. For manufactured or processed food, intact samples are used in principle for the test (except for food that is tested in ready-to-drink states, such as tea leaves for drinking). - 厚生労働省

上記目的を達成するために本発明は、固体高分子電解質型燃料電池に用いられる電解質膜であって、膜厚１０〜１００μｍの上記電解質膜の引張り試験による降伏点までの歪が１５％以上であり、上記電解質膜のガラス転移温度が１３０℃以上であることを特徴とする電解質膜を提供する。例文帳に追加

As for the electrolyte film used for a solid polymer electrolyte fuel cell having a thickness of 10 to 100 μm, a distortion up to a breaking point at tensile test is 15% or larger, and a glass transition temperature is 130°C or higher. - 特許庁

薄膜固体中に含有する微量成分がホウ素であって、二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ法）で前記ホウ素の濃度を定量するに際し、前記薄膜固体中のホウ素総量Ｑ＝膜厚ｔ×ホウ素の膜中濃度ｃ（原子／ｃｍ^2 ）で表され、前記ＳＩＭＳ法の検量線を得るに用いる標準試料が所定の薄膜固体にホウ素を核反応させたものである薄膜固体中のホウ素の定量方法及び同時にＳＩＭＳ法で得られる他の２次信号をＲＢＳで検出して薄膜固体の組成比ｘの分析方法を提供する。例文帳に追加

In this analytical method for the composition ratio (x) of a thin-film solid, other secondary signals which are obtained by SIMS at the same time are detected by RBS. - 特許庁