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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 正準形に関連した英語例文

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正準形の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 642



例文

KC (NFKC) は、互換分解を適用してから、標分解を適用します。例文帳に追加

The normal form KC (NFKC) first applies the compatibility decomposition,followed by the canonical composition. - Python

電波修時計、及びその波判別基の変更方法例文帳に追加

RADIO-CONTROLLED TIMEPIECE AND METHOD OF MODIFYING ITS WAVEFORM DISCRIMINATION STANDARD - 特許庁

システム制御部100は異常と判定した基マークを使用せず、他の常な基マークを基として画像を成する。例文帳に追加

In a system control part 100, the image is formed, not using the reference mark which is decided as the abnormal one, but using other normal reference marks. - 特許庁

レジスト径から補量を減算することにより、補処理後の円パターンの径が得られる。例文帳に追加

The correction amount is subtracted from the reference resist diameter to obtain the diameter of the circular pattern after correction. - 特許庁

例文

ここで、機能ブロックの外観として、多面体や多面体などのを利用する。例文帳に追加

As the appearance of the function block, a regular polyhedron or quasi-regular polyhedral shape is used. - 特許庁


例文

実際の補にあっては、基量テーブルから読み出した基の二次元補量データを、補対象の映像信号の輝度に線比例若しくは非線比例させることで三次元補量のデータを得る。例文帳に追加

In actual correction, three-dimensional correction amount data are obtained, by making the reference two-dimensional correction amount data read out of the specific luminance proportional linearly or non-linearly to the luminance level of the video signal to be corrected. - 特許庁

乗算結果が規化基値(N+、N−)を超過する場合は、サンプルの振幅値を規化基値に制限し、波をクリッピングする。例文帳に追加

When the multiplication result exceeds the normalization reference values (N+, N-), the amplitude value of the sample is limited to the normalization reference value, and the waveform is clipped. - 特許庁

スケールの基パターンにて校されたアライメントカメラで校用部材に成された第1〜第3のマークを撮像する。例文帳に追加

The alignment camera corrected with a reference pattern of a reference scale is used to image 1st to 3rd marks formed on a member for correction. - 特許庁

対象地図をディスプレイ14の画面表示部28に表示し、前記基点の対応位置に補点を設定する。例文帳に追加

The topographical map to be corrected is displayed on a screen display part 28 of a display 14 and a correction reference point is set at a corresponding position of the reference point. - 特許庁

例文

槽が成されると、校用標液が校槽に注入され、検出部の校が行われる(S105)。例文帳に追加

When the calibration vessel is formed, a calibration standard liquid is injected into the calibration vessel, and the detecting part is calibrated (S105). - 特許庁

例文

この機枠の軸心部には、異方性散乱媒質により円柱状に成された較用基部材82が配置され、また、較用基部材の基面に対向されて基光源ユニット84が配置される。例文帳に追加

In an axially central portion of a machine frame thereof, a reference member 82 for calibration formed of an anisotropic scattering medium into a cylindrical shape is disposed, and a reference light source unit 84 is disposed and opposed to a reference surface of the reference member for calibration. - 特許庁

インバータの出力波信号(波信号)をCPU5で処理して、補された弦波基信号を作成し、この弦波基信号でPWM信号を補する。例文帳に追加

The output waveform signal (waveform signal) of an inverter is processed at CPU 5 to generate a corrected sine-wave reference signal, and a PWM signal is corrected by the sine-wave reference signal. - 特許庁

認証用基点となる中指の先端をしく検出することが可能な掌認証用基点検出方法を提供する。例文帳に追加

To correctly detect the edge of a middle finger which is a reference point for palm-shape authentication. - 特許庁

歪みが生じない場合の基点の位置として標から予測される理想基点を各基点に対応付けて設定し(S8)、各基点から当該基点に対応付けた各理想基点への変位を補ベクトルとして求める(S9,S10)。例文帳に追加

An ideal reference point predicted based on a standard pattern is set while correlated with the each reference point as a position of the reference point when the distortion is not generated (S8), and a displacement from the each reference point to the ideal reference point correlated with the reference point is found as a correction vector (S9, S10). - 特許庁

状補部341は、ウエハ状データと状が最も近い標平面状データを、標平面状データ記憶部80から特定し、特定した標平面状データ及びウエハ状データの差分を補ウエハ状データとして算出する。例文帳に追加

A shape correction part 341 specifies standard planar shape data of a shape most resembling the wafer shape data from a standard planar shape data storage part 80 and calculates difference between the specified standard planar shape data and the wafer shape data as corrected wafer shape data. - 特許庁

手動調整の場合は下端基の台を選択し、自動調整の場合は上端基の台を選択し、能率よく台してプロジェクタを使用できるようにする。例文帳に追加

To use a projector by efficiently performing trapezoidal correction by selecting trapezoidal correction with a lower end as reference in manual adjustment and selecting trapezoidal correction with an upper end with reference in automatic adjustment. - 特許庁

となる感光体ドラム3に成された基パッチ画像を転写ベルト7に転写し、補する感光体ドラム3に成された補パッチ画像を、上記基パッチ画像上に重ねて転写する。例文帳に追加

A reference patch image formed on a photoreceptor drum 3, which is to be the reference, is transferred to a transfer belt 7, and a correction patch image formed on the photoreceptor drum 3 to be corrected is transferred superposed on the reference patch image. - 特許庁

領域内にわたる経路上でしい座標値を計測した基線を導入し、領域内各点において地データと間近の基線の高さを比較して、その差の重み付き平均を補量とすることで地データの高さの値を補する。例文帳に追加

Accordingly, the height value of the topographic data is corrected. - 特許庁

また、監視対象測定情報の波の中で、基に相当する波部分が補領域内で検出されない場合は、別の基に基づいて補し、異常検出を行う。例文帳に追加

Moreover, in the case where the waveform portion corresponding to the reference waveform is not detected within the correction region from among the waveforms of the measurement information to be monitored, the waveform portion is corrected on the basis of another reference waveform and abnormality detection is made. - 特許庁

ゼロクロス点付近で水平部分を有する波でも確にゼロクロス点を検出でき、確な基を生成することができる。例文帳に追加

Even in the waveform having the horizontal portion near the zero cross point, the zero cross point is accurately detected, and the accurate reference waveform is generated. - 特許庁

状に規化して行った解析結果を、規化していない被験者の器官の状の画像に重ねて表示させる。例文帳に追加

To display a result analyzed by normalization in a standard shape overlapping to an image of a shape of a subject's organ which is not normalized. - 特許庁

測定対象物の状測定する前に、基ワークを用いてカメラ座標系と基座標系とのずれ量を校する。例文帳に追加

Before measuring the shape of the object to be measured, a device for measuring the three dimensional shape calibrates the deviation between the camera coordinate system and the reference coordinate system using the reference work. - 特許庁

境界部とパターン状部の間隔に基づき上流側の基位置を補し境界部の新たな基位置として軌道を制御。例文帳に追加

The track is controlled as the new reference position of the boundary part by correcting an upstream side reference position based on an interval between the boundary part and the patter shape part. - 特許庁

確さまたは充足度が最低基式あるいは物質に適合することができない弁論例文帳に追加

any pleading that fails to conform in form or substance to minimum standards of accuracy or sufficiency  - 日本語WordNet

ターンテーブル面への樹脂膜の成方法及び取付基面の平面精度の修方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING RESIN FILM TO TURNTABLE SURFACE AND METHOD FOR CORRECTING PLANE ACCURACY OF REFERENCE PLANE FOR MOUNTING - 特許庁

回転中のエンジン1の振動を検出した検出信号波と予め設定した基常状態における規基との振幅差に基づく対規基評価値を算出し(S3)、対規基評価値が予め設定した第1許容値範囲内にあるか否かを判定する(S4)。例文帳に追加

An evaluation value-to-normal-reference-waveform is calculated based on an amplitude difference between a detection signal waveform of detecting vibration of the engine 1 under rotation, and a normal reference waveform in a preset normal reference condition (S3), so as to determine whether the evaluation value-to-normal-reference-waveform is within the first preset allowance range or not (S4). - 特許庁

捻りを有する木材の修加工用のの基面を成する方法と装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for a reference surface for the correction processing of wood having a twist, and apparatus therefor. - 特許庁

サンプルを用意せずに読み取りムラを補する画像成装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image forming apparatus that corrects read unevenness without preparing a reference sample. - 特許庁

化面(17)は、基面(18)に対して曲面に成されている。例文帳に追加

The appropriate face 17 is formed to have a curved face with respect to a reference face 18. - 特許庁

マークは、ミクロサイズの光学部品の確な配列を可能にする表面の上に成される。例文帳に追加

The fiducial mark is formed on the surface that enables precise alignment of the micro-sized optical articles. - 特許庁

面位置計測装置の校を行うための基部材の表面状を効率的に計測する。例文帳に追加

To efficiently measure the shape of the surface of a reference member for performing calibration on a surface position measuring apparatus. - 特許庁

像担持体上に複数水の基パターンを成し、階調曲線上の全ての点における出力画像の濃度の水を実現するのに適用される基礎作像条件を複数水の作像条件により成された基パターンの検知濃度に基づいて補する。例文帳に追加

Reference patterns at a plurality of levels are formed on an image carrier, basic image forming conditions to be applied to attain levels of density of output images at all points on a gradation curve are corrected on the basis of detected density of the reference patterns formed by the image forming conditions at the plurality of levels. - 特許庁

システム200は接続アダプタ216を備え、システムは、複数の流量で線計器及び非線計器を校するように動作可能であり、重量測定基及び主標を含む異なる標と共に使用されるのに適している。例文帳に追加

The system 200 includes a connection adapter 216, where the system is operable for calibrating both linear and nonlinear meters with multiple flow rates, and is suitable for use with different standard references including both gravimetric and master standard references. - 特許庁

各記録パターンに対してレーザ光の基を設け、フロントモニタの検出による発光波と前記基とのズレを補する補値の算出を行うことができる光ディスク記録再生装置を提供する。例文帳に追加

To provide an optical disk recording/reproducing device which sets a standard waveform of a laser beam for each recording pattern, and calculates a correction value which corrects a gap between the emitted light waveform detected by a front monitor and the standard waveform. - 特許庁

原稿の画像データまたは傾き補部703にて傾き補を施された補画像データと、基選択部706で選択され基設定部707で条件設定された傾き補の基となる基とを画像重合部708で重ね合わされ重合画像データが作成され、この重合画像データを出力部712にて出力される。例文帳に追加

An image overlapping section 708 overlaps image data of an original or corrected image data whose tilt is corrected by a tilt correction section 703 and a reference graphic being the reference of tilt correction selected by a reference graphic selection section 706 and whose condition is set by a reference graphic setting section 707 to generate overlapped image data, and an output section 712 outputs the overlapped image data. - 特許庁

部7では、上記基タイミングに対し、補キー4の操作に基づいてΔtを加減算することで補タイミングT0′を成する。例文帳に追加

The correction part 7 forms corrected reference timing TO' by adding/subtracting Δt to/from the reference timing on the basis of the operation of a correction key 4. - 特許庁

記憶部39は、画像成部29近傍の温度差毎に、トナー像の色ずれを補する標データからなる標テーブルを予め記憶する。例文帳に追加

A storage section 39 pre-stores a standard correction table composed of standard correction data for correcting the color shift between the toner images for every ambient temperature difference of the image forming section 29. - 特許庁

そして、画像成が行われる際に、ステーション毎に、第1基パターン及び第2基パターンを用いて、第1光量補信号及び第2光量補信号を生成し、各発光部の駆動信号を補する。例文帳に追加

When image formation is performed, a first light quantity correction signal and a second light quantity correction signal are generated by using the first reference pattern and the second reference pattern for every station to correct a driving signal in each light emitting part. - 特許庁

画面の水平/垂直方向に対応する補点にて求めた基二次元補量のデータの集合により、基量テーブルを成する。例文帳に追加

The display image correcting device forms a reference correction amount table, on the basis of a set of reference two-dimensional correction amount data obtained at a correction point, corresponding to the horizontal direction and the vertical direction of an image. - 特許庁

平行配置態にある基パターンの補では、基パターンのエッジを多数の領域に分割し、この各領域毎にそれぞれ設定された補値だけエッジを移動させる補を行う。例文帳に追加

In correcting a reference pattern disposed in parallel arrangement, edges of the reference pattern is divided into many regions, and each region is corrected by shifting the edge by the correction amount preliminarily determined. - 特許庁

斜め配置態にある基パターンの補では、基パターンのエッジを近接領域と遠隔領域との2つの領域に分割し、この各領域毎にそれぞれ設定された補値だけエッジを移動させる補を行う。例文帳に追加

In correcting a reference pattern in an oblique arrangement, the edge of the reference pattern is divided into two regions of a proximity region and a remote region, and each region is corrected by shifting the edge by the correction amount preliminarily determined. - 特許庁

外部状の位置基量だけ位置基を移動した後の内部状の測定データと内部状の設計データの各状データにて特定される状を位置合わせし、内部状の位置基の座標移動量を、内部状の位置基量として算出する。例文帳に追加

The shapes specified by the respective shape data of the measuring data of the internal shape and the plan data of the internal shape after the position standard is moved by the position standard correction quantity of the external shape are positionally aligned and the coordinates moving quantity of the position standard of the internal shape is calculated as the position standard correction quantity of the internal shape. - 特許庁

画像成部300で第1の基画像31を成した用紙41を第2の基画像33を成した補用治具1とともに原稿台210上の所定の位置に載置し、基画像31,33の画像を補用画像として画像読取部200によって読み取る。例文帳に追加

A piece of paper 41 having a first reference image 31 formed thereon by an image forming part 300 is placed on a prescribed position on a platen 210 together with a correcting tool 1 having a second reference image 33 formed thereon, and the reference images 31 and 33 are read as an image for correction by an image read part 200. - 特許庁

制御手段4は、一次電圧に基づき1サイクル分の基を作成する基作成手段と、一次電圧と基とを比較する比較手段と、振幅値と瞬時値の比をn条した値でPWM信号のオン幅P_0を補するオン幅補手段とを有する。例文帳に追加

The control means 4 includes reference waveform generation means of producing a one-cycle reference waveform based on the primary voltage, comparison means of comparing the primary voltage and the reference waveform, and ON width correction means of correcting the ON width P_0 of a PWM signal by a ratio of amplitude value to instantaneous value raised to the power n. - 特許庁

試作成品の状の測定データと、成品モデルの設計データとを利用して、成型の外型並びに中子の位置基の修量を各々算出し、成型の位置基をバランス良く調整する。例文帳に追加

To respectively calculate the correction quantities of the position standards of both of the outer mold and core of a mold by utilizing the measuring data of the shape of a trially molded product and the plan data of a molded product model and to adjust the position standard of the mold in a well balanced state. - 特許庁

外部状の設計データと測定データの各状データにて特定される状を位置合わせし、外部状の位置基の座標移動量を、外部状の位置基量として算出する。例文帳に追加

The shapes specified of the plan data of the external shape and the respective shape data of the measuring data are positionally aligned and the coordinates moving quantity of the position standard of the external shape is calculated as the position standard correction quantity of the external shape. - 特許庁

三次元状解析手段を備えた走査電子顕微鏡において、高精度にZ校を行なうためのZ標試料を提供する。例文帳に追加

To provide a Z standard calibration specimen for accurately performing a Z calibration in a scanning electron microscope having a three- dimensional shape analyzing means. - 特許庁

Deltaを0から60まで連続的に変化させることで、修された基電圧信号も弦波信号から矩波信号に変化する。例文帳に追加

The corrected reference voltage signal is changed from a sinusoidal signal to a square wave signal by changing Delta continuously from 0 to 60. - 特許庁

ステップS1では修前の画像データと修後の画像データとがRIP展開されたビットマップ式で備される。例文帳に追加

At a step S1, image data before corrections and image data after corrections are prepared in a bit map system in which the data are RIP (raster image processing) developed. - 特許庁

例文

次にこれらの複数水で測定したロール以外の変特性が一致する補条件を求め、圧延荷重測定値の補を行う。例文帳に追加

Subsequently, a correction condition matching the deformation characteristics other than that of the roll measured at the plurality of levels is obtained, and correction of the rolling load-measured value is performed. - 特許庁

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