「電子スペクトル法」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

スペクトル幅計測器の校正方法、スペクトル幅計測器の校正装置、狭帯域化レーザ装置、露光装置及び電子デバイスの製造方法例文帳に追加

CALIBRATION METHOD OF SPECTRAL WIDTH MEASURING EQUIPMENT, CALIBRATION APPARATUS OF SPECTRAL WIDTH MEASURING EQUIPMENT, NARROW-BAND LASER APPARATUS, LIGHT EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE - 特許庁

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope apparatus capable of acquiring a spectral image simultaneously from a plurality of samples and measuring a highly accurate chemical shift form an electronic energy loss spectrum extracted from the spectral image, a sample holder, a sample stage, and a method of acquiring the spectral image. - 特許庁

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope apparatus, a sample holder, a sample stage and a method for acquiring a spectral image, capable of acquiring the spectral image from a plurality of pieces of samples simultaneously, and measuring a chemical shift of high precision from an electron energy loss spectrum extracted from the spectral image. - 特許庁

電子顕微鏡の画像処理システム及び方法並びにスペクトル処理システム及び方法例文帳に追加

IMAGE PROCESSING SYSTEM AND METHOD AND SPECTRUM PROCESSING SYSTEM AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

正確なスペクトルを得ることができる光電子分光分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide photoelectric spectroscopy capable of obtaining accurate spectra. - 特許庁

電子エネルギー損失分光分析装置およびそのスペクトルシフト補正方法例文帳に追加

ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROCHEMICAL ANALYZER AND ITS SPECTRAL SHIFT CORRECTING METHOD - 特許庁

ディジタルメディアのスペクトル拡散電子透かしを強化する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for enhancing spread spectrum watermarking for digital media. - 特許庁

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法例文帳に追加

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD - 特許庁

電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE - 特許庁

対物レンズ１０内を通過し電子カメラに達する光線のスペクトルを修正する方法である。例文帳に追加

This is a method for correcting the spectrum of the light beam reaching the electronic camera after passing through the objective 10. - 特許庁

電子カメラ用の対物レンズを通過する光を、予め定められたスペクトルの光線へ修正するための方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for correcting light passing through the objective for an electronic camera into a light beam having a predetermined spectrum. - 特許庁

４）本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。例文帳に追加

(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope. - 特許庁

測定対象物から放出された光電子のエネルギースペクトルを短時間に正確に取得することができるＸ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光方法を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray photoelectron spectroscopy device and an X-ray photoelectron spectroscopy method capable of accurately acquiring the energy spectrum of photoelectrons discharged from a measurement object in a short time. - 特許庁

検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＡｌＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ａｌ_2s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ａｌ_2s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）が０．６５以下であるＡｌＮ基板である。例文帳に追加

The peak area ratio between Al_2s electron and N_1s electron (peak area of Al_2s electron/peak area of N_1s electron) is 0.65 or less in the photoelectron spectrum of the surface of an AlN substrate according to X-ray photoelectron spectroscopy at an inspection angle of 10°. - 特許庁

また、検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＧａ_xＩｎ_1-xＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ｃ_1s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ｃ_1s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）が３以下であるＧａ_xＩｎ_1-xＮ基板である。例文帳に追加

Further, in the photoelectron spectrum of the Ga_xIn_1-xN substrate by X-ray photoelectron spectroscopy with a detection angle of 10°, the peak area ratio of C_1s electron to N_1s electron (peak area of C_1s electron/peak area of N_1s electron) is ≤3. - 特許庁

電子ビームを欠陥に照射してＸ線スペクトルを得ることにより欠陥の元素分析を行う分析方法において、膜下欠陥の分析に好適な電子ビームの加速電圧を効率的に設定する。例文帳に追加

To efficiently set the acceleration voltage of an electron beam suitable for analyzing a flaw under a membrane, in an analyzing method for analyzing the element of the flaw by irradiating the flaw with the electron beam to obtain an X-ray spectrum. - 特許庁

試料のガス反応処理を分析室で行え、その場合でも、Ｓ／Ｎ比の良いスペクトルを短時間に得ることができる電子分光装置および電子分光器ならびに試料分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electron-spectroscope device, an electron spectroscope and a sample analysis method which are capable of conducting gas reaction treatment in an analytical laboratory and further obtaining a spectrum having a superior S/N ratio in a short time even if it is conducted in such a case. - 特許庁

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に補正可能な倍率・位置補正方法および倍率・位置補正システムを提供する。例文帳に追加

There are provided a method for correcting magnification and position and a system for correcting magnification and position, both of which can correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where the amount of energy loss and the measurement position information are orthogonal to each other. - 特許庁

Ｘ線光電子分光法で測定された繊維表面のＯ1sスペクトルが、結合エネルギー５３２．７〜５３４．０ｅＶの間に極大ピークを有する炭素繊維である。例文帳に追加

This carbon fiber has the maximum peak within the range of 532.7 to 534.0 eV of bond energy in O1s spectrum of the surface thereof measured by X-ray photoelectron spectroscopy. - 特許庁

直接拡散法で埋め込まれた電子透かし情報のエネルギーが、逆スペクトル拡散過程において高周波側に配分されないようにすることができる。例文帳に追加

To provide an electronic watermark embedding device and an electronic watermark detector capable of preventing the energy of electronic watermark information embedded by a direct diffusion method from being distributed to a high frequency side in an inverse spectrum spreading process and making the electronic watermark information hardly losable. - 特許庁

本発明は、光照射によって有機色素に基づく電子吸収スペクトルを変化させることができる機能性薄膜、及びそのような機能性薄膜の製造方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a functional thin film capable of changing an electronic absorption spectrum based on an organic dye upon irradiation with light, and to provide a method for producing such a functional thin film. - 特許庁

電子写真用感光体の特性評価装置において、感光体照射面における光スペクトル変化に対応可能な特性評価方法及び特性評価装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a characteristic evaluation method and a characteristic evaluation device that can respond to changes in spectra of light on an irradiated surface of a photoreceptor in a characteristic evaluation device for an electrophotographic photoreceptor. - 特許庁

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。例文帳に追加

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique. - 特許庁

電子分光器を用いて電子エネルギー損失スペクトル及び二次元元素分布像を取得する際に、複数個の多重極子レンズの最適条件を高効率，高精度に調整するレンズ調整方法ならびにレンズ調整システムを提供する。例文帳に追加

To provide a lens adjusting method and a lens adjusting system for highly efficiently and highly accurately adjusting the optimum conditions of a plurality of multi-pole lenses, when obtaining an energy loss spectrum and a two dimensional element distribution image by using an electron spectrometer. - 特許庁

ガラス状カーボンの組織中にＳｉが原子レベルで均一に分散複合し、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）による光電子スペクトルのピーク値から求めたＳｉ原子の２ｐ軌道の束縛エネルギーが１０１〜１０３ｅＶの範囲にあることを特徴とするＳｉ分散ガラス状カーボン材。例文帳に追加

In the Si dispersed vitreous carbon material, Si is uniformly dispersed and combined in the structure of the vitreous carbon in atomic level and the bound energy of 2p orbit of Si atom, which is determined from the peak value of a photoelectron spectrum by an X-ray photoelectron spectroscopy(XPS), is 101-103 eV. - 特許庁

また、ＡｌＮ基板を酸溶液に浸漬させることによって、検出角度１０°でのＸ線光電子分光法によるＡｌＮ基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Ａｌ_2s電子とＮ_1s電子のピーク面積の比（Ａｌ_2s電子のピーク面積／Ｎ_1s電子のピーク面積）を０．６５以下にするＡｌＮ基板の洗浄方法である。例文帳に追加

The AlN substrate cleaning method ensures that the area ratio between Al_2s electron and N_1s electron (peak area of Al_2s electron/peak area of N_1s electron) is 0.65 or less in the photoelectron spectrum of the surface of an AlN substrate according to X-ray photoelectron spectroscopy at an inspection angle of 10° by dipping the AlN substrate in an acid solution. - 特許庁

本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points. - 特許庁

演算負荷の重い計算処理を用いることなく、ＡＲスペクトル推定法におけるパラメータに基づいて、適当なモデル次数を設定する電子走査型レーダ装置、受信波方向推定方法及び受信波方向推定プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide an electronic scanning radar apparatus, and a method and program for estimating the direction of a received wave, which set an appropriate order of model, based on parameters in the AR spectral estimation method without using computation with heavy operation load. - 特許庁

Ｍ元素は、Ｘ線光電子分光法によるスペクトルにおいて酸素結合によるピークと金属結合によるピークとを示し、前記酸素結合によるピークの面積は、前記金属結合によるピークの面積の２倍以下であることを特徴とする。例文帳に追加

Element M exhibits X-ray photoelectron spectroscopy peaks derived from an oxygen bond and a metal bond in which a peak area derived from the oxygen bond is twice or less a peak area derived from the metal bond. - 特許庁

この原料として、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）によるＳｉ２Ｐスペクトルにおいて、シリコンの価数が１〜３に相当する結合エネルギーに帰属されるピーク面積が、金属シリコン及び二酸化シリコンを含む全面積の１０％以上となる珪素酸化物が好適に用いられる。例文帳に追加

As the raw material, silicon oxide in which a peak surface area assigned to bonding energy equivalent to valency of silicon of 1-3 in Si2P spectrum by X-ray photoelectron spectroscop (XPS) is ≥10% of total surface area including metal silicon and silicon dioxide is suitably used. - 特許庁

本発明の電子透かし強化方法は、複数のホスト変換パラメータによって変換領域で表現されたホストデータを受け取る工程と、前記複数のホスト変換パラメータ間の分散を低減して強化されたホスト変換パラメータ列を生成する工程と、スペクトル拡散技術を利用して前記強化されたホスト変換パラメータ列に電子透かしを付加する工程とを備えている。例文帳に追加

This improved watermarking method includes the steps of: receiving host data which are expressed in a transform domain by a plurality of host transform parameters; reducing variance between the plurality of host transform parameters, thereby forming an enhanced sequence of the host transform parameters; and adding a watermark to the enhanced sequence of the host transform parameters using a spread spectrum technique. - 特許庁

陽極、アルミニウムからなる陰極、及び含フッ素アニオンのオニウム塩を含有する電解液からなるアルミニウム電解コンデンサであって、１２５℃で５０時間加熱した後のアルミニウム電解コンデンサ中の陰極の表面をＸ線光電子分光法（ＸＰＳ）により分析した場合、Ａｌ２ｐスペクトルのピークトップが７４．０〜７５．８ｅＶであることを特徴とするアルミニウム電解コンデンサ。例文帳に追加

The aluminum electrolytic capacitor comprised of an anode, a cathode made of aluminum and an electolyte containing an onium salt of fluorine anion, is characterized in that, when the surface of the cathode in the aluminum electrolytic capacitor is analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy after it is heated at 125°C for 50 hours, the peak top of an Al2p spectrum is 74.0-75.8 eV. - 特許庁

前記球状粒子をＸ線光電子分光分析法（ＸＰＳ）で測定して得られるＯ１ｓ殻結合エネルギースペクトル図において、ダブレット分裂して低エネルギー側領域に現われるピークの強度（Ａ）と、高エネルギー側の領域に現われるピークの強度（Ｂ）の強度比（Ａ／Ｂ）は、１．０〜２．０の範囲にある。例文帳に追加

In the O1s shell bond energy spectrum that is obtained by measuring the spherical particles by an X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), the ratio of the peak intensity (A) that appears within the low energy region to the peak intensity (B) that appears within the high energy region (A/B) as a result of doublet division ranges from 1.0 to 2.0. - 特許庁

導電性担体と、前記導電性担体に担持され、下記（１）式で表される組成を有し、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）によるスペクトルにおけるＴ元素の金属結合によるピークの面積がＴ元素の酸素結合によるピークの面積の１５％以上である触媒粒子とを含むことを特徴とする担持触媒。例文帳に追加

This carried catalyst is characterized by including a conductive carrier, and catalyst particles which are supported on the conductive carrier and have a composition represented by formula (1), and in which an area of a peak by a metal bond of an element T is 15% or more of an area of a peak by an oxygen bond of the element T in a spectrum obtained by X-ray photoelectron spectroscopic method (XPS). - 特許庁

電圧１５ｋＶ、電流１０ｍＡの条件で放射されるＡｌＫα（単色）線を用いるＸ線光電子分光法（ＸＰＳ）により測定されるスペクトルにおいて、負極活物質粒子表面の珪素の２ｐ軌道に起因するピークに対するフッ素の１ｓ軌道に起因するピークの積分強度比が７０以下である。例文帳に追加

In a spectrum obtained by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) using the AlKα (monochromatic) ray radiated at a voltage of 15 kV and a current of 10 mA, the integrated intensity ratio of the peak arising from the 1s orbit of fluorine to the peak arising from the 2p orbit of silicon at the surface of the negative electrode active material particles is 70 or lower. - 特許庁

少なくとも電荷発生材料と電荷輸送材料で構成されてなる電子写真感光体に、少なくとも帯電、露光、現像、転写、クリーニング、除電を繰り返し行う電子写真方法において、該電荷輸送材料として荷電状態の吸収スペクトルが近赤外域にある電荷輸送材料を用い、かつ該感光体への一種ないしは複数の照射光のうち少なくともひとつの発光波長域が該電荷輸送材料の荷電状態の吸収ピーク波長と異なる波長であることを特徴とする電子写真方法。例文帳に追加

The method is characterized in that as a charge transport material, a charge transport material having the absorption spectrum in a charged state in a near IR region is used, and at least one emission wavelength region in one kind or a plurality of irradiation light for the photoreceptor differs from the absorption peak wavelength of the charge transporting material in a charged state. - 特許庁

導電性基体と感光層とを備えた電子写真感光体であって、前記導電性基体が、Ｘ線光電子分光法により最表面を測定して得られたスペクトルにおいて、結合エネルギーが２８９．５ｅＶ以上２９１ｅＶ以下における炭素原子１ｓ軌道に基づく強度の最大値Ｈ１と、結合エネルギーが２８８ｅＶ以上２８９ｅＶ以下における炭素原子１ｓ軌道に基づく強度の最小値Ｈ２とを用いた下記式（１）を満足することを特徴とする電子写真感光体を用いる。例文帳に追加

The electrophotographic photoreceptor includes a conductive substrate and a photosensitive layer. - 特許庁

超高速時間分解蛍光分光方法において、電子応答に起因する光カー効果による光カーシャッターを構成し、高繰り返しのフェムト秒パルスレーザー光をゲート光１としてシャッターを開閉し、別途レーザー光あるいは波長変換された光を試料４に照射し、放出される蛍光５を前記シャッターで時間的に切り出した後、分光しマルチチャンネル光検出器によりスペクトルを取得する。例文帳に追加

In ultrahigh speed time-resolved fluorometric spectroscopy, a optical Kerr shutter due to optical Kerr effect caused by electronic response is constituted and highly repeated femtosecond pulse laser beam is used as gate beam 1 to open and close the shutter and a sample 4 is irradiated with separate laser beam or beam subjected to wavelength conversion and emitted fluorescence 5 is temporally discharged by the shutter and spectrally diffracted to obtain a spectrum by a multichannel photodetector. - 特許庁

特定のＭｇ、Ｚｎを含む組成からなるＡｌ−Ｍｇ系アルミニウム合金板製造の際の、最終焼鈍後の調質処理を工夫して、この板の電子エネルギー損失分光法で計測されるＭｇのＫ損失端のＥＥＬＳスペクトルを解析して得られた第一近接ピークの位置が特定範囲内にあるようにして、厳しい成形条件でのプレス成形時のストレッチャーストレインマークの発生を抑制する。例文帳に追加

Generation of the stretcher strain marks in press molding under severe forming conditions is suppressed by devising temper treatment after the final annealing when the Al-Mg based aluminum alloy sheet consisting of a specific composition containing Mg, Zn is manufactured and making a position of a first proximity peak obtained by analyzing EELS spectrums on a K loss end of Mg to be measured by electronic energy loss spectroscopy of the sheet be within a specific range. - 特許庁