「Cross processing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Preferably, fade-out processing is applied to the first reflected sound signal, fade-in processing is applied to the second reflected sound signal and the two signals are combined so as to be cross-faded with each other.例文帳に追加

より好ましくは、第１の反射音信号についてはフェードアウト処理、第２の反射音信号についてはフェードイン処理を施し、２つの信号をクロスフェードするように合成する。 - 特許庁

To provide an information processing method and an information processing apparatus capable of properly cross-referring a partial image region in image data to partial voice data in voice data.例文帳に追加

画像データ中の部分画像領域と音声データ中の部分音声データとを好適に対応付けることができる情報処理方法及び情報処理装置を提供する。 - 特許庁

A list screen 50 constituted by giving a circle pattern to the image determined as that image processing is necessary and by giving a cross pattern to the image determined as that image processing is not necessary is made, and the list screen 50 is displayed.例文帳に追加

画像処理が必要であると判定された画像に○印を、不要であると判定された画像に×印を付与してなる一覧画面５０を生成し、これを表示する。 - 特許庁

The pair of slits 34, and the pair of the vertical grooves 50 are formed simultaneously by laser beam processing or by heat blade processing, and forms a groove 52 on the V-shaped cross section.例文帳に追加

この一対のスリット３４及び一対の縦溝部５０は、レーザ加工又は熱刃加工されることによって同時に形成されたものであり、断面Ｖ字状の溝５２を形成している。 - 特許庁

The data processing means 51 obtains the magnitude of the pressing force and the amount of electric charges on the basis of each of the conversion signals and cross-references them to each other.例文帳に追加

データ処理手段５１は、各変換信号から前記押圧力の大きさ及び電荷量を求めてそれらを対応させる。 - 特許庁

A calibration adjustment arrangement 326 is provided for adjusting the calibration factor of a flow signal processing system as a function of the conduit cross-sectional area.例文帳に追加

管路の断面積の関数として流量信号処理システムの較正因子を調整する較正調整器３２６が設けられる。 - 特許庁

A contour extracting section 15 extracts the contour of the vascular region from the vascular region in the cross section by image processing.例文帳に追加

輪郭抽出部１５は、前記断面における前記血管領域から前記血管領域の輪郭を画像処理により抽出する。 - 特許庁

A device receives the data showing the group and contains a processing module (14) for converting the group of the continuous cross-sectional images in the z-axis direction.例文帳に追加

装置は、グループを示すデータを受信し、連続する断面画像のグループをｚ軸方向に変換する処理モジュール（１４）を含む。 - 特許庁

In the case of reproducing the audio information of this track at succeeding reproduction, the still picture cross- referenced with the processing above is displayed.例文帳に追加

以降の再生時にこのトラックのオーディオ情報が再生される際には、先の処理によって対応付けられた静止画が表示される。 - 特許庁

A digital signal processor (DSP) 19 of the sound processing device outputs two systems of output signals from a waveform memory 18 by performing cross fading by turns.例文帳に追加

音声処理装置のＤＳＰ１９は、波形メモリ１８からの２系統の出力信号を交互にクロスフェードして出力する。 - 特許庁

To provide a blade processing method capable of cutting and forming a work such as a semiconductor wafer etc, and also polishing its cross section simultaneously.例文帳に追加

半導体ウェハ等の被加工物を切断形成すると同時に断面を研磨することができるブレード加工方法を提供する。 - 特許庁

The mechanical processing end fitting section 10 of the external tube 1 has a bore having an arc-form cross section which is pinched by two flat surface sections.例文帳に追加

外側チューブ１の機械加工端嵌合部１０は、二つの平面部に挟まれている円弧状断面を有するボアを有する。 - 特許庁

To provide a simple and quick method detecting the diameter and/or the cross-sectional dimension of a rod-like goods in tobacco processing industries.例文帳に追加

たばこ加工産業のロッド状物品の直径及び／又は横断面形状を検出する簡単で迅速な方法を提供する。 - 特許庁

The information communication apparatus stores information for identifying information sender and a processing rule with respect to information received from each sender in cross-reference with each other and stores information for identifying a new sender in cross-reference with a prescribed processing rule when the processing rule in cross-reference with the information for identifying the sender of received information is not stored upon the receipt of the information.例文帳に追加

情報の送信元を識別する情報と、各送信元から受信された情報に関する処理ルールとを関連づけて記憶しており、情報を受信したときに、当該受信した情報の送信元を識別する情報に関連づけられた処理ルールが記憶されていない場合に、所定の処理ルールに関連づけて、送信元を識別する情報を記憶させる情報通信装置である。 - 特許庁

To reduce a current stagnation phenomenon in the vicinity of zero cross point of a phase current by using a controller with easy compensation processing at low cost.例文帳に追加

低コストで補償演算が容易な制御装置により、相電流のゼロクロス点近傍における電流停滞現象を抑制する。 - 特許庁

A processing system (100) has the plurality of processors (114), a cache data array (118) and a cross bar interface (122) for connecting the processors with the cache data array.例文帳に追加

複数のプロセッサ(114)と、キャッシュデータアレイ(118)と、前記プロセッサを前記キャッシュデータアレイに接続するクロスバーインタフェース(122)を有する処理システム(100)。 - 特許庁

Side wall mask processing is performed twice in directions such that sidewall mask patterns cross each other and the intersections are utilized to form quantum dots.例文帳に追加

側壁マスクパターンが互いに交差する方向に側壁マスク加工を２度行い、その交差点を利用して量子ドットを形成する。 - 特許庁

The control section 30 allows a baseband processing section 22 or the like to transmit the data signals while cross-referencing the rate information with the data signals.例文帳に追加

制御部３０は、速度情報と、データ信号とを対応づけながら、ベースバンド処理部２２等に複数のデータ信号を送信させる。 - 特許庁

To provide the manufacturing technique of a bar having I cross section, which has high rigidity, and easy in post processing, excellent in dimensional accuracy and fine and inexpensive.例文帳に追加

剛性が高く、後加工が容易で、寸法精度が良く、かつ美麗で安価なＩ形断面バーの製造技術を提供すること。 - 特許庁

To suppress the quality deterioration of a read image by correcting the fluctuation of an image signal level caused by a cross-talk phenomenon through image processing.例文帳に追加

クロストーク現象による画像信号レベルの変動を画像処理によって補正し、読み取り画像の品質劣化の抑制を図ること。 - 特許庁

The method for analyzing the depth direction element distribution of a sample consists of a process subjecting the surface of a sample to precise cross-sectional processing by converged ion beam 2', a process for measuring fine particles 3 generated from the cross section 17 obtained by the precise cross-sectional processing and a process for processing the measured value as a function of the depth direction scanning position of the converged ion beam.例文帳に追加

収束イオンビーム（２’）により試料表面を精密断面加工する工程と、前記精密断面加工により得られた断面（１７）から発生する微粒子（３）を測定する工程と、前記測定によって得た値を前記収束イオンビームの深さ方向走査位置の関数として処理する工程と、を具備することを特徴とする、試料の深さ方向元素分布分析を行う方法。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position.例文帳に追加

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.例文帳に追加

材料試験機は、破断させた試験片１００の破断面１００ａを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁

The image region extract apparatus receives designation of a trimmed region of the displayed confirmation image, references the cross-reference information to extract a cross-referenced region of the CCD-RAW data corresponding to the designated region and applies signal processing to the CCD-RAW data on the cross-referenced region.例文帳に追加

確認画像を表示してトリミングする領域の指定を受け付け、対応情報を参照して、ＣＣＤ−ＲＡＷデータにおける指定された領域に対応する対応領域を抽出し、対応領域のＣＣＤ−ＲＡＷデータに対して信号処理を施す。 - 特許庁

Further, the CPU 10 particularizes a stereoscopic processing parameter to be used for the stereoscopic processing in response to the instruction from the user and stores the particularized stereoscopic processing parameter to a storage device 13 in cross-reference with the original image data.例文帳に追加

また、ＣＰＵ１０は、立体化処理に際して用いられるべき立体化パラメータを利用者からの指示に応じて特定するとともに、ここで特定した立体化パラメータを原画像データと対応付けて記憶装置１３に記憶させる。 - 特許庁

Then, noise removal processing by means of moving average is given to the generated detection signal by using an LPF to perform signal emphasis on a defect signal by giving integration difference processing and cross-correlation processing to the processed signal.例文帳に追加

次いで、生成された検出信号に対し、移動平均によるＬＰＦを用いてノイズ除去処理を施し、その処理信号に積算差分処理及び相互相関処理を施して欠陥信号の信号強調を行う。 - 特許庁

To provide an image processing unit that realizes image processing proper to a feature of a composited image resulting from compositing read image data with an image interpreting a command group in cross-reference with respective components of the image data with a decreased processing time.例文帳に追加

読み取られた画像データと、画像を構成する個々の部品に対応つけられたコマンド群を解釈した画像を合成した合成画像に対し、処理時間を低減した上、合成画像の特徴に応じた画像処理を実現する。 - 特許庁

To obtain a substrate processing system having a plurality of chambers for processing substrates continuously in which cross contamination is prevented by separating the atmosphere among the substrate processing chambers and the quality of a semiconductor film and the substrate processing capacity are prevented from deteriorating due to mixing of a different gas species with a material gas in the substrate processing chamber.例文帳に追加

基板を連続して処理する複数の基板処理室を備えた基板処理装置において、基板処理室間の雰囲気分離を行い、クロスコンタミネーションを防止し、原料ガスと異なるガス種が基板処理室内に混入することによる半導体膜の膜質悪化及び基板処理能力の悪化を防止する。 - 特許庁

This butyl rubber contains, as a main raw material, a cross-linked butyl rubber compound produced by compounding a regular butyl rubber with a filler, a softener, a cross-linking agent, and an accelerator and then processing the mixture in the same process as a reclaimed butyl rubber production process.例文帳に追加

レギュラーブチルゴムに充填剤、軟化剤、架橋剤、促進剤を配合して、ブチル再生ゴム製造工程と同様の工程で製造した架橋型ブチルゴムコンパウンドをブチルゴム粘着剤の主原料とする。 - 特許庁

To provide a tomographic image processor, a muscle cross-sectional area measurement system and a tomographic image processing method, capable of highly accurately calculating a muscle cross-sectional area from a tomographic image of a subject by MRI or CT.例文帳に追加

ＭＲＩやＣＴによる被検者の断層画像からの筋断面積の算出をより高精度で行うことができる断層画像処理装置、筋断面積測定システム及び断層画像処理方法を提供する。 - 特許庁

A processing section 7 refers to these databases and finds the space factor in the wiring duct arranged at a special path from the total sum of the cross section area of the electric wire and the effective cross section area of the piping duct which pass along the path.例文帳に追加

処理部７は、これらのデータベースを参照し、特定の経路に配置される配線ダクトにおける占積率を、その経路を通る電線の断面積の総和と配管ダクトの有効断面積から求める。 - 特許庁

The operation and control processing unit 9 creates a cross-sectional image showing a longitudinal sectional shape between two points based upon the map data in the storage unit 6, and displays the created cross-sectional image on the display 3 together with altitude values.例文帳に追加

演算・制御処理部９は、記憶部６の地図データに基づいて、二地点間の縦断面形状を示す断面画像を生成し、生成した断面画像を標高値とともにディスプレイ３に表示する。 - 特許庁

To provide a method for processing a crosshead of a roll cross mill which can maintain accuracy of the crosshead without replacing the crosshead body and by correcting inclinations in the up and down direction of up and down work roll cross liners.例文帳に追加

クロスヘッド本体を取り替える取替工事をすることなく、上下ワークロールクロスライナの上下方向の傾きをなくし、クロスヘッドの精度を維持することができるロールクロス圧延機のクロスヘッド加工方法を提供する。 - 特許庁

In addition, after differential processing (e), a zero cross comparing part extracts a zero cross point and a part for discriminating the number of blood vessels discriminates a blood vessel to be single and outputs a blood vessel localization signal.例文帳に追加

更に、微分処理後に(e) に示す波形となり、ゼロクロス比較部においてゼロクロスポイントが抽出され、血管本数判別部において１本の血管と判別され(f) に示す血管位置信号が出力される。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

Images of first and second parts in the captured image are compared with each other to determine which of the thickness of a covering part 16 from the processing cross-sectional surface 10 to the surface of the first part and the thickness of a covering part 16 from the processing cross-sectional surface 10 to the surface of the second part is larger.例文帳に追加

取得された画像の中で第１及び第２の部分の画像を比較して、加工断面１０から第１の部分の表面までの被覆部１６の厚みと、加工断面１０から第２の部分の表面までの被覆部１６の厚みと、のいずれが厚いかを判断する。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To materialize cross-section processing causing no rotational slippage in a lateral direction or a longitudinal direction so that patterns regularly arranged in an element are neatly exposed all together, when processing the cross section of a semiconductor wafer by using a focused ion beam.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、集束イオンビームを用いて半導体ウエハの断面を加工する際に、素子内に規則的に配列されたパターンが綺麗に揃って露出するように横方向にも縦方向にも回転ズレのない断面加工を実現させることにある。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

A conversion table in the half tone processing section 66 denotes a cross reference between gradation value of a pixel and image forming information.例文帳に追加

本発明は、画像処理装置における多値ディザ法を原理とするハーフトーン処理部の変換テーブルを、テスト印刷結果に応じて変更設定する。 - 特許庁

To provide a working observation device capable of observing and analyzing the state of a cross section being worked by an FIB (focused ion beam) apparatus during processing.例文帳に追加

ＦＩＢ装置で加工している断面の状態を、加工中に観察、分析を行うことがができる加工観察装置を提供する。 - 特許庁