「Defect Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain an unevenness defect detection method for enhancing unevenness constituents only and detecting unevenness more reliably, to provide a device for detecting unevenness defects automatically, and to provide an inspection system, or the like.例文帳に追加

ムラ成分だけを強調でき、より確実なムラ検出を行うことができるようなムラ欠陥検出方法、自動的にムラ欠陥検出を行うための装置、検査システム等を得る。 - 特許庁

To constitute an inspection light irradiation device for a painted surface for suitably detecting a defect without being influenced by bending of the painted surface, even if the painted surface is bent.例文帳に追加

塗装面の検査光照射装置において、塗装面が湾曲していても、塗装面の湾曲の影響を受けることなく、欠陥を適切に検出することができるように構成する。 - 特許庁

To provide an eddy current examination method and an eddy current examination sensor capable of improving detection accuracy relative to a defect having a possibility of existing on the inspection surface of a work.例文帳に追加

ワークの被検査面に存在し得る欠陥に対する検出精度を向上させることができる渦流探傷方法、渦流探傷センサを提供することを課題とするにある。 - 特許庁

By making the characteristic of the color filter 83 consistent with the optical system of the actual device, inspection of the defect of the panel conforming with the actual device is carried out with the picture on the screen 85.例文帳に追加

カラーフィルタ８３の特性を実機の光学系に一致させることによって、スクリーン８５上の画像によって実機に即したパネル欠陥検査を実施することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method determining presence of a defect of a trench gate electrode in a semiconductor device including a peripheral voltage-resistant region making a circuit of the outside of an element region.例文帳に追加

素子領域の外側を一巡している周辺耐圧領域を備えた半導体装置のトレンチゲート電極の不良の有無を判定することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus has a spot light source 2 and a sample stage 7 to be placed on with a sample 5 and aligns the focus of the light to the surface of the sample 5 by an objective lens 4.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は点光源１と、試料５を載置する試料ステージ７を備え、対物レンズ４により試料５の表面に光の焦点を合わせている。 - 特許庁

To provide a device and method for inspection of a hard disk surface for patterned media, wherein a servo area is set and a defect of at least a data area can be detected from among the servo and data areas.例文帳に追加

本発明はサーボエリアを設定し、サーボエリア、データエリアのうち少なくとデータエリアの欠陥を検出できるパターンドメディア用ハードディスク検査装置及び検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a suspension board assembly sheet and a method for manufacturing the same which enable the presence/absence of a defect of a conductor pattern to be determined with high precision through automatic optical inspection.例文帳に追加

自動光学検査により導体パターンの欠陥の有無を高精度で判定することを可能にするサスペンション基板集合体シートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for metal materials for inspecting defects which occur in the surface and inside of a metal material as continuously feeding the metal material.例文帳に追加

金属材料を連続的に送りながら、金属材料の表面や内部に生じる欠陥を検査することができる金属材料の欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This defect inspection device 100 includes a stage 3 for supporting the semiconductor substrate 2, an electron beam irradiation part 7, a CL detector 14, an X-ray detector 19 and a data processing part 22.例文帳に追加

欠陥検査装置１００は、半導体基板２を支持するステージ３と、電子線照射部７と、ＣＬ検出器１４と、Ｘ線検出器１９と、データ処理部２２とを備える。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a surface defect of a disc, capable of shortening a handling time for the disc to enhance a through-put for disc inspection.例文帳に追加

ディスクのハンドリング時間を短縮して、ディスク検査のスループットを向上させることができるようなディスクの表面欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method allowing grading for deciding whether delivery is allowed, in response to required quality in a customer side, and to provide a device therefor.例文帳に追加

顧客側での要求品質に応じて出荷可能なものであるかどうか判断するための格付けをすることを可能にした表面欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To easily find an illumination angle optimum for detecting a high contrast of image due to a transmission diffraction light, in order to image-detect a defect of periodic structure in an inspection object.例文帳に追加

被検査物の周期構造の欠陥を画像検出するために、透過回折光によるコントラストの高い画像を検出するに最適な照明角度を容易に見出せるようにする。 - 特許庁

When setting the reference motion point of the AF mechanism prior to defect inspection, the transmission image of the mask is imaged, while displacing a focus point of the imaging device in the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加

欠陥検査に先立ってＡＦ機構の基準動作点を設定する際、撮像装置のフォーカス点を対物レンズの光軸方向に変位させながら、マスクの透過画像を撮像する。 - 特許庁

If a detected amount of the defect data obtained in the section 17 exceeds the limit value, a region to be inspected by the mechanism 13 is changed on the midway of the inspection.例文帳に追加

画像データ演算処理部１７で得られた欠陥データの検出量が制限値を越えると、画像データ取得機構１３による検査対象領域を検査途中で変更させる。 - 特許庁

To enable detection of a defect in a conductive pattern portion that faces an electrode, in a circuit pattern inspection device using the electrode capacitive-coupled to a conductor pattern in a non-contact state.例文帳に追加

非接触で導体パターンに容量結合する電極を用いた回路パターン検査装置において、電極と対向する導電パターン部分の欠陥を検出可能にする。 - 特許庁

To discover properly an irregular defect or the like formed on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the result properly onto a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

Then the scattered light P2a of the inspection light 7a (8a) at the position of the interior defect P2 is visually recognized in a condition recognizing a position of the inner surface 2a by the reflection light 10a1.例文帳に追加

そして、反射光１０ａ１により内表面２ａの位置を認識した状態で、内部欠陥Ｐ２の箇所での検査光７ａ（８ａ）の散乱光Ｐ２ａを視認する。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a substrate surface for easily and accurately detecting a defect existing on the substrate surface using cell inspection.例文帳に追加

本発明は、セル検査を用いて、基板表面に存在する欠陥を容易かつ高精度に検出することができる基板表面の検査方法及び検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an edge part inspection device capable of downsizing and simplifying the device and hardly erroneously detecting a quality change in material of the objective body to be measured as a defect.例文帳に追加

端部検査装置の小型化および簡略化が可能であり、かつ被測定物の端部の材質の変化が欠陥として誤検出されにくい端部検査装置を提供する。 - 特許庁

A coil 3a for magnetic particle flaw detecting is inserted to the impeller 1 and is magnetized by a magnetizer which is not shown in the figure, and a defect is checked by a pattern of the magnetic particle by sprinkling the magnetic particle over an inspection target surface.例文帳に追加

インペラ１には磁粉探傷用のコイル３ａが挿通され、図示省略の磁化装置により励磁され、検査対象面に磁粉を振りかけ磁粉の模様により欠陥を調べる。 - 特許庁

To provide a laser excitation ultrasonic image device, capable of inspecting a defect in an inside of an inspection object and capable of analyzing structure thereof in nondestructive and noncontact manner, with nanometer order of spatial resolution.例文帳に追加

非破壊・非接触で、検査対象内部の欠陥検査や構造解析を、空間解像度がナノメータオーダでも行えるといったレーザ励起超音波画像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display apparatus which can perform stable inspection of a wiring defect on a display panel and even more can suppress decrease in the production yield.例文帳に追加

表示パネル上の配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The irregularities caused by a pinhole or a foreign matter cannot be discriminated only by reflected light, so that the transmission light is used for the inspection, to detect a defect with high accuracy.例文帳に追加

反射光だけでは、ピンホールや異物による凹凸が分かりにくいので、透過光による検査を行うことで、両者を区別して、高精度に欠陥を検出することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method and device capable of discriminating an unevenness generated on an inspected object surface from a deposit for detecting only the harmful unevenness precisely as a defect.例文帳に追加

被検査対象物表面に生じる凹凸と付着物とを識別し、有害である凹凸のみを欠陥として高精度に検出可能な検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an address inspection system adopted by a network unit that detects an inadequate network address of an IP address set to a communication terminal so as to early solve a communication defect due to the setting of the IP address.例文帳に追加

ネットワーク装置が通信端末に設定されたＩＰアドレスのネットワークアドレスの不適合を検知し、ＩＰアドレスの設定が原因による通信不具合を早期に解決する。 - 特許庁

Then defect inspection of the deleted white skipped area is conducted by irradiation with light of normal intensity.例文帳に追加

強い光を照射し、白飛びを起こした部分を画像データから削除して欠陥検査を行い、次に通常の強度の光を照射して白飛びして削除された部分の欠陥検査を行う。 - 特許庁

For defect inspection or the like of a pixel, on the other hand, constitution which keeps the capacity signal output to the capacity line at a fixed level is formed on a substrate at the same time with a pixel circuit etc.例文帳に追加

一方で、画素の欠陥検査などにおいては、容量ラインに出力する容量信号を固定レベルとする構成を画素回路などと同時に基板上に形成しておく。 - 特許庁

To provide an inspection method wherein defect causes in an electronic device are easily checked and identified by non-destruction, and to provide a method of manufacturing the electronic device that employs the same.例文帳に追加

非破壊で電子デバイスの欠陥原因を簡単に調査し特定することが可能な検査方法及びかかる検査方法を用いた電子デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To enable a characteristics inspection of a plasma display panel to be carried efficiently by detecting a perfect lighting state precisely by discriminating a screen defect such as non-lighting of a discharge cell or the like.例文帳に追加

不灯の放電セルなどの画面欠陥と区別して、完全点灯状態を高精度に検出し、プラズマディスプレイパネルの特性検査を効率よく行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a transmission line inspection system using an unpiloted plane capable of automatically inspecting whether a cap defect and a crack are caused in the insulator used in a transmission line.例文帳に追加

送電線に使用されている碍子に笠欠および亀裂が生じているか否かを自動的に点検することができる無人飛行体を用いた送電線点検システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.例文帳に追加

帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a voltage impressing type economical pinhole inspection machine for inspecting a defect of a specimen of a resin-made sealed packing container sealed with fluid contents including gas.例文帳に追加

気体を含有する流動性内容物を密封した樹脂製密封包装容器の被検体の欠陥を検査する、電圧印加方式の経済的なピンホール検査機を提供する。 - 特許庁

One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.例文帳に追加

一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁

To provide a system for inspecting a sample for a defect and an inspection method which can make production start in a short time, make a reliability test appropriate, reduce initial defects in an element and improve the element reliability.例文帳に追加

製品の短期立ち上げ，信頼度試験の適正化，素子初期不良の低減，素子信頼度の向上を実現できる試料の欠陥検査システム、および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pinhole inspection device capable of detecting highly accurately a pinhole defect generated when manufacturing a folding sheet for folding granule or the like in a high temperature state.例文帳に追加

高温な状況下において粒体などを分包する分包シートを製造する際などに生じるピンホール欠陥を高精度で検出することができるピンホール検査装置を提供する。 - 特許庁

To easily extract a defect position and identify a position especially in inspection of wirings in fine, large-scaled and multiple shapes in a semiconductor device by an absorption current method.例文帳に追加

吸収電流法による半導体装置の特に、微細・大規模・多様形状の配線の検査において、欠陥箇所の抽出・位置同定を容易に行うことを可能とする。 - 特許庁

In a control block 31, the presence or absence of a defect of the inspecting pattern is detected based on the comparison result of the data for pattern inspection with preset pattern reference data.例文帳に追加

そして、制御ブロック３１にて、予め設定されているパターン基準データと前記パターン検査用データとの比較結果に基づき前記被検査パターンの欠陥の有無を検出する。 - 特許庁

To provide a support system which is made efficient by a method wherein an observation operation for confirming the shape of an external appearance defect is narrowed down properly from an enormous number of defects detected by the high sensitivity of a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置の高感度化により検出された膨大な欠陥数から、外観不良の形状を確認する観察作業を適切に絞り込み、効率化を図ること。 - 特許庁

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To reduce the influence by the noise components contained in an inspection image, when detecting a gray level difference or determining a detection threshold, in defect inspection for detecting the difference between each pixel, by comparing the gray level difference between each pixels which should be mutually identical, with a prescribed detection threshold.例文帳に追加

互いに同一であるべき画素同士のグレイレベル差を所定の検出閾値と比べて画素同士の違いを検出する欠陥検査において、グレイレベル差を検出し又は検出閾値を決定する際に、検査画像に含まれるノイズ成分による影響を低減する。 - 特許庁

The electroscope is realized by forming the electroluminescent element in a tape form, and so is the conduction display power line by forming at a part of an outer package coating, and the circuit board defect inspection device is realized by laminating a transparent electrode, an electroluminescent element, and a circuit board for inspection in that order.例文帳に追加

電界発光素子をテープ状に形成して検電器を，外装被覆の一部に形成して通電表示電力線を，さらに透明電極，電界発光素子，被検査回路基板の順に積層配置して回路基板欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and apparatus therefore capable of detecting defects or contaminations on various circuit patterns to be repeatedly formed on inspection object substrates, discriminating from normal circuit patterns, without depending on optical conditions.例文帳に追加

被検査対象基板上に繰り返して形成される様々な回路パターン上に生じる欠陥または異物を、光学条件に依存せず、正常な回路パターンと弁別して欠陥を検出する欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting surely and efficiently a shape defect of a fine pattern in a color filter having the risk of bringing an unfavorable influence on display coming up widely by generating a plurality of small-sized defects in adjacent positions.例文帳に追加

小サイズの複数の欠陥が近接した位置に発生することにより表示上の悪影響が広く及ぶ可能性のあるカラーフィルタの微細パターンの形状欠陥を確実にかつ効率的に検査する検査方法、ならびに検査装置を提供すること。 - 特許庁

In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.例文帳に追加

加えて、表面検査の走査の間に試料に供給される入射レーザ・ビームパワー・レベルを動的に変更することによって大きな粒子に対する熱破損を削減することにより欠陥検出を強化するための検査システムや回路、方法が提供される。 - 特許庁