「Defect Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect discrimination method capable of discriminating between a detected flaw signal and a noise signal generated from a complicated shape of an inspection object spot, when performing eddy current flaw detection of the inspection object spot on a complicated shape part having a shape changing three-dimensionally.例文帳に追加

３次元的に形状が変化する複雑形状部の検査対象箇所を渦電流探傷する場合において、検出される傷信号と検査対象箇所の複雑な形状によって生じる雑音信号を識別可能にする欠陥識別方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device that responds to inspection of a fillet weld section between a socket section of a small diameter elbow and a pipe, for example, and detects a defect occurring so as to become substantially parallel to an elbow-side boundary near the elbow-side boundary of the fillet weld section.例文帳に追加

例えば小口径エルボのソケット部と配管との隅肉溶接部の検査に対応することができ、隅肉溶接部のエルボ側境界付近でエルボ側境界に対しほぼ平行方向となるように生じた欠陥を検出することができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

In this defect inspection device 1, a lens 2 supported on an inspection axis L is sequentially illuminated by reflection type dark-field illumination devices 5_1-5_4 having LEDs 6_1-6_4 for irradiating light at different irradiation angles to the lens 2 one by one, and is imaged by a camera 4.例文帳に追加

欠陥検査装置１においては、検査軸線Ｌ上に支持されたレンズ２は、レンズ２に対して異なる照射角度で光を照射するＬＥＤ６_１〜６_４を有する反射型暗視野照明装置５_１〜５_４よって１装置ずつ順次照明され、カメラ４によって撮像される。 - 特許庁

The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.例文帳に追加

一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁

When the retry requirement-judging means 69 judges that a pattern defect exceeding an amount being specified within a region range that is specified in advance exists during inspection, the repeated inspection instruction means 61 automatically inspects a region including the range at least for two times.例文帳に追加

リトライ必要性判定手段６９により、検査中にあらかじめ指定された領域範囲内に指定された量以上のパターン欠陥があると判定した場合に、繰り返し検査命令手段６１によりそこを含む領域に関して、自動的に２回以上繰り返し検査する。 - 特許庁

To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加

外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

By mounting two calibration samples 453 and 454 on a wafer mounting surface of a wafer chuck 23 to selectively use the two calibration samples 453 and 454 according to a large-size wafer 18a and a small size wafer 18b, the defect inspection of inspection objects having different sizes can be handled.例文帳に追加

ウエハチャック２３のウエハ載置面に校正試料４５３と校正試料４５４の２個、設け、大サイズウエハ１８ａと小サイズウエハ１８ｂに応じて、これら２個の校正試料４５３、４５４を使い分けることにより、サイズの異なる被検査物の欠陥検査に対応するようにしたもの。 - 特許庁

This scanning device is provided with a vehicle, the inspection camera for photographing a defect such as a crack of a concrete member and for reproducing a photographed image, a guide rail attached to the vehicle and conformed with a curvature and an angle of the concrete member, and a travel device for making the inspection camera travel along the guide rail.例文帳に追加

車両と、コンクリート部材のひび割れ等の欠陥を撮影するとともに撮影された画像を再生できる検査用カメラと、車両に取り付けられ、コンクリート部材の曲率や角度と一致するガイドレールと、ガイドレールに沿って検査用カメラを走行させる走行装置とを備えた。 - 特許庁

To provide a magnaflux method, in which the quality of a steel material can be stabilized by a method where the inspection capability of a defect on the surface of the steel material by a magnaflux inspection is enhanced, energy is saved, the productivity of line operation is enhanced and the generation of a defective in a fabricating operation is prevented.例文帳に追加

磁粉探傷による鋼材表面の欠陥の検査能力の向上と、さらに省エネルギー化を図り、かつ、ライン操業の生産性を向上させ、２次加工時の不良の発生を防止し、品質の安定化を図る磁粉探傷方法を提供することである。 - 特許庁

An infrared signal is input and analyzed in the infrared image signal processing part 22 to find a temperature distribution of the inspection object 20, and the presence of the defect in the inspection object 20 and a size thereof are detected based on the temperature distribution.例文帳に追加

さらにこの赤外線映像信号処理部２２において赤外線の信号を入力して解析することにより検査対象物２０の温度分布を求め、この温度分布に基づいて検査対象物２０の欠陥の有無並びに大きさを検出するように構成される。 - 特許庁

To detect a defect in each display region with high accuracy, in the case that an inspection pattern simultaneously having at least two kinds or more display regions with mutually different gray scale levels exists on a transmissive display panel.例文帳に追加

透過型表示パネルに、少なくとも２種類以上の異なる階調の表示領域を同時に有する検査パターンを有する場合において、表示領域毎の欠陥を高精度に検出する。 - 特許庁

The first light receiving system including a CCD line sensor 21 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by a surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state onto the substrate 1 surface.例文帳に追加

ＣＣＤラインセンサー２１を含む第１の受光系は、検査光が基板１の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板１の表面に焦点を合わせて受光する。 - 特許庁

To stably detect a micro black deep flaw more fine than a flaw detected by conventional filament type optical visual inspection and a glossy shallow defect flaw difficult to be detected.例文帳に追加

従来のフィラメント方式の光学外観検査で検出されるキズよりも微小な黒く深い欠陥及び検出し難い光沢のある浅い欠陥傷の安定した検出を可能ならしめる。 - 特許庁

To realize an electroluminescent element with improved luminous sensitivity and to realize an electroscope of a power line, a conduction display power line, and a circuit board defect inspection device using the electroluminescent element.例文帳に追加

発光感度を増大させた電界発光素子を実現し，電界発光素子利用して電力線の検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置等を実現する。 - 特許庁

This defect inspection device 21 is used in a prestage for attaching a sealing film 4 to close a pocket part, after a tablet is stored in the pocket part formed in a conveyed container film 3.例文帳に追加

不良検査装置２１は、搬送される容器フィルム３に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム４が取着される前段階において用いられる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for an ultrasonic inspection wherein the defect of a metal band comprising a characteristic whose damping capacities of ultrasonic waves are different according to a distance in its running direction can be detected stably over the whole length of the running direction.例文帳に追加

走行方向における距離に応じて超音波の減衰能が異なる特性を有する金属帯を、走行方向全長にわたり安定して欠陥検出することを可能にする。 - 特許庁

To inspect masks for transferring patterns by using two or more masks so as to relieve a pseudo defect in a part where no problem is caused from the viewpoint of a device while keeping the inspection accuracy in a pattern region.例文帳に追加

２以上のマスクを用いてパターン転写する場合のマスクの検査を、パターン領域の検査の精度を保ちつつ、デバイス上問題が生じない箇所での擬似欠陥を救済しながら行う。 - 特許庁

To set an appropriate recording condition to perform recording in response to an inspection result by inspecting not only a difference in the composition and structure state of a recording film in an optical disk but a defect, stain, bend, or distortion, etc., before video-recording.例文帳に追加

光ディスクの記録膜の組成、構造の状態の違いだけでなく、傷、汚れ、反り、歪などを録画前に調査し、この結果に応じて適切な記録条件を設定して記録する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a liquid crystal panel having no polarizing plate, by which foreign matter depositing on a polarizing plate or a diffusing plate of an inspection device can be distinguished from a defect of a liquid crystal panel.例文帳に追加

偏光板の無い液晶パネルを検査する方法において、検査装置の偏光板や拡散板に付着した異物と液晶パネルの欠陥とを識別し得る検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection device includes a sensor 20 having an excitation core 21 and a detecting coil for detecting a defect occurring in the deck plate 101, and a travel carrier 2 for supporting this sensor 20 and scanning the deck plate 101.例文帳に追加

デッキプレート１０１に発生する欠陥を検出するための励磁コア２１及び検出コイルを備えたセンサ２０と、このセンサ２０を支持しデッキプレート１０１を走査する走行台車２とを設ける。 - 特許庁

To provide a soldering inspection device for a PGA (Pin Grid Array) mounting substrate capable of detecting and evaluating a defect precisely by measuring directly a solder creeping-up height on the side surface of a pin erected on a substrate.例文帳に追加

基板上に立設されたピン側面における半田はい上がり高さを直接的に計測して、欠陥を精密に検出評価できるＰＧＡ実装基板の半田付け検査装置を提供する。 - 特許庁

To securely and briefly vent air of an ink cartridge used in a process for indicating a bad mark in a chip region which is determined as defect in an electrical characteristic inspection process after completion of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハ完成後の電気特性検査工程で不良と判定されたチップ領域にバッドマークを表示する工程で使用するインクカートリッジのエア抜きを短時間で確実に行う。 - 特許庁

To measure influence caused by imparting a change in an optical characteristic given to a disk for inspection by separating the influence from an optical influence caused by a defect existing before the change in the optical characteristic.例文帳に追加

ディスクに検査のために与えた光学的特性の変化の付与による影響を、光学的特性の変化前から存在する欠陥による光学的な影響から分離して計測する。 - 特許庁

To provide a semi-transmission type phase shift reticle that can suppress a pseudo defect caused in the oblique boundary line of a chamfered portion partitioning a circuit pattern region from a peripheral region, and to provide an inspection method for the reticle.例文帳に追加

回路パターン領域と周辺部領域とを区画する面取り部の斜め境界線で生じる疑似欠陥を抑制できる半透光方式の位相シフトレチクルとその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a container or its precursor capable of positively detecting even defects hard to detect visually such as an ungelled defect in an inspection of the container or its precursor.例文帳に追加

容器又はこの前駆体の検査において、上記した未ゲル欠陥のような目視では検知しにくい欠陥も確実に検知することができる容器又はこの前駆体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device for surely comprehending the situation of internal defect occurrence, and making adequate manufacturing conditions for plate-shaped molded items and round bar-shaped molded items.例文帳に追加

内部欠陥の発生状況を確実に把握できるとともに、板状成形品や丸棒状成形品における製造条件の適正化も行うことができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an improved method of defect detection and reporting technique for detecting and differentiating defects of interest that are difficult to detect accurately, using current inspection techniques, while minimizing the reporting of non-defective areas reported as being defective.例文帳に追加

非欠陥の範囲を欠陥として報告することを最小にしながら、現在の検査技術を用いて、正確に検出するのが困難である関心の欠陥を検出し且つ見分ける。 - 特許庁

This defect inspection device 21 is used in a stage before fixing a sealing film 4 for blocking a pocket part, after storing a tablet in the pocket part formed on a container film 3 to be conveyed.例文帳に追加

不良検査装置２１は、搬送される容器フィルム３に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム４が取着される前段階において用いられる。 - 特許庁

The first sector scanning image information 205 in the thickness direction including image information of a defect existing in the inspection object is generated, based on a reflecting echo generated by the first sector scanning.例文帳に追加

被検査体内に存在する欠陥の画像情報を含む、その厚み方向における第１セクタ走査画像情報２０５を、第１セクタ走査で生じる反射エコーに基づいて作成する。 - 特許庁

To provide a method for efficiently and accurately detecting a defect such as warpage from a large number of ceramic sheets, capable of being applied to automatic inspection of ceramic sheets.例文帳に追加

本発明は、セラミックシートの自動的な検査にも適用できるものであり、大量のセラミックシートから反りなどの欠陥を効率良く且つ正確に検出するための方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Thus, the accuracy of defect detection can be improved by minimizing the width of the mask 37, and the deviation correction can be performed in parallel with the surface inspection, so that the reduction in productivity is prevented.例文帳に追加

これにより、マスク３７の幅を極力細くして欠陥検出の精度を高めることができ、さらに、表面検査と並行してずれ補正を実施できるので生産性の低下が防止される。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and method, capable of suppressing an effect of light generated by reflection of a light source, when inspecting a surface defect of a specimen by which light is regularly reflected.例文帳に追加

光が正反射する被検体の表面欠陥を検査する際に、光源が映り込んで発生する光の影響を抑制できる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To prevent water leak or the like during outdoor storage when using a reuse article of the flexible container by increasing the finding rate of a defect part such as a pinhole in inspection of a flexible container.例文帳に追加

フレキシブルコンテナの検査において、ピンホール等の欠陥部の発見率を高め、フレキシブルコンテナの再利用品を使用した場合において、屋外保管時における水濡れ防止等を図ることを課題とする。 - 特許庁

To detect contact failure between a probe pin of a prober frame and an electrode of a liquid crystal glass substrate through a software by processing measurement signals in a liquid crystal array inspection apparatus, and to detect contact failure in the stage of measurement signals prior to defect analysis.例文帳に追加

液晶アレイ検査装置において、プローバフレームのプローブピンと液晶ガラス基板の電極との接触不良を、測定信号を信号処理することでソフトウエアによって検出する。 - 特許庁

To provide a leakage inspection device for plastic bottles, which prevents misdetections where a nondefective is detected as being a defective product, which is caused by imperfect sealing that is a defect which spool-type electromagnetic valves have.例文帳に追加

スプール型電磁弁の持つ欠点であるシール性が不完全であることが原因で起こる良品を不良品と判定する誤検出を防止することができるペットボトルのリーク検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a streak surface inspection device, capable of preventing the erroneous detection caused by the vibration of a streak to be inspected to accurately detect the flaw such as a defect or a stain of a linearly extending wire material.例文帳に追加

被検査線条の振動による誤検知を防止し、線状に伸びる線材の欠陥や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and method for realizing highly precise defect inspection by easily and accurately correcting the distortion of the image of an object to be detected generated due to the constitution of this device.例文帳に追加

装置構成に起因して生じる被検物体の像の歪みを簡易かつ正確に補正し、高精度な欠陥検出が行える欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The second light receiving system including a CCD line sensor 22 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by the surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state to the substrate 1 inside.例文帳に追加

ＣＣＤラインセンサー２２を含む第２の受光系は、検査光が基板１の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板１の内部に焦点を合わせて受光する。 - 特許庁

Inspection systems, circuits and methods are provided to enhance defect detection by addressing anode saturation as a limiting factor of the measurement detection range of a photomultiplier tube (PMT) detector.例文帳に追加

光電子増倍管（ＰＭＴ）検出器の測定検出範囲の制限要因として陽極飽和に対処することによって欠陥検出を強化するための検査システム、回路、方法が提供される。 - 特許庁

The illumination means irradiates a light of 420-530 nm wavelength range to an inspection surface of the wood to be inspected, and the processing means extracts a defect part based on the luminance in the photographed image.例文帳に追加

上記照明手段は検査木材の検査面に４２０ｎｍ〜５３０ｎｍの波長域の光を照射し、上記処理手段は撮像された画像における輝度を基に欠陥部を抽出する。 - 特許庁

When drying by vacuum heating is carried out after forming a pattern 3 of the organic layer of the organic EL element by using a non-vacuum process, the defect inspection of the pattern is carried out by using optical means 19 and 11.例文帳に追加

非真空プロセスを用いて有機ＥＬ素子の有機層のパターン３を形成した後の真空加熱乾燥を行う際に、光学的手段１９、１１を用いてパターンの欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic inspection device for accurately and easily detecting the defect and state of a pipe or a welded part regardless of, for example, eccentricity and biased thickness in the inner diameter of the pipe.例文帳に追加

たとえ管の内径に偏心や偏肉があっても、管またはその溶接部の欠陥や状態を高い精度で簡単に検出することができる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of simple structure capable of detecting a break (intermission) of a flowable substance applied onto a base body, for example, paste applied onto a paper roll conveyed at a high speed.例文帳に追加

簡易な構造でありながら基体に塗布された流動性物質、例えば高速で搬送される巻紙に塗布された糊の途切れ（抜け）を検出することのできる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In a pattern for unevenness used in an unevenness defect inspection device, the patterns are made of the same material as the substrate and formed by the same manufacturing method.例文帳に追加

本発明の課題は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、実欠陥と擬似欠陥とを高精度に弁別できる検査用パターン及び検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus, capable of measuring the temperature properties of a semiconductor sample, without limiting the movement ranges of a sample stage, and to provide a probe device with a temperature control device.例文帳に追加

試料ステージ及びプローブ装置の移動範囲が温度制御装置によって制限されることなく半導体試料の温度特性測定を行うことができる不良検査装置を提供する。 - 特許庁