Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
To improve lamination efficiency and suppress bonding defects even in laminating a plurality of semiconductor substrates on base substrates.例文帳に追加
複数の半導体基板をベース基板に貼り合わせる場合であっても、貼り合わせ効率を向上すると共に、接合不良を抑制することを目的とする。 - 特許庁
To provide a twin wire former which facilitates the adjustment of a raw material-landing point and controls the generation of paper defects caused by the landing of the raw material.例文帳に追加
ツインワイヤフォーマに関し、原料ジェットの着地調整を容易にするとともに、原料ジェットの着地に起因した紙欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁
To provide a method for producing an epitaxial wafer by which the generation of epitaxial defects can be reduced and the epitaxial wafer excellent in IG effect and having a diameter of ≥300 mm can be obtained.例文帳に追加
エピタキシャル欠陥の発生を低減でき、IG効果に優れた直径300mm以上のエピタキシャルウェーハを得る方法を提供する。 - 特許庁
To provide mold powder for continuous casting suitable for casting Ti and Al steel, and a method for continuously casting slabs free of surface defects.例文帳に追加
TiおよびAl含有鋼の鋳造に好適な連続鋳造用パウダーを提供し、表面欠陥のないスラブを連続鋳造する方法を提案する。 - 特許庁
To provide a method of treating semiconductor wafers which annihilates pit defects in order to prevent the operation defect of semiconductor devices and to improve the yield of production.例文帳に追加
半導体デバイスの動作不良を防止し、製造の歩留まりを向上させるために、ピット欠陥を消失する半導体ウエハの処理方法を提供する。 - 特許庁
A defect image comprising defect factors included in the respective clusters is extracted to calculate characteristic values, classifying defects corresponding to the respective clusters.例文帳に追加
そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁
A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加
検査ラインには表面欠陥検出器3が設けられ、冷延鋼板1の表面欠陥を検出してマーキング制御装置5に入力する。 - 特許庁
To provide an optical display device which prevents defects such as gap unevenness or break in the substrate regardless of substrate thickness or panel size in reworking a polarizing plate.例文帳に追加
基板厚さやパネルサイズに関わらず、偏光板リワーク時におけるギャップムラや基板割れなどの不良を防止することができる光学表示装置の提供。 - 特許庁
To provide a production method for an AlN single crystal by which the AlN single crystal having few defects can be produced at high growth rate by a flux method.例文帳に追加
フラックス法により、欠陥の少ないAlN単結晶を大きな成長速度で製造可能なAlN単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection method and a visual inspection device of color filters performing inspection by improving detection capability of defects in the color filters, especially a void.例文帳に追加
カラーフィルタの欠陥、特に、白抜けの検出能力を向上させて検査することのできるカラーフィルタの外観検査方法、外観検査装置を提供する。 - 特許庁
In this way, defect discovery rate of the product can be improved, and many potential defects in the product can be found in a time as short as possible.例文帳に追加
このようにして、製品の不具合の発見率を向上し、製品に潜在する不具合をできるだけ短時間に多く発見することができる。 - 特許庁
To provide a colored photosensitive resin composition capable of preventing foreign substances (defects) from occurring when dried under reduced pressure after coating.例文帳に追加
着色感光性樹脂組成物の塗布後の減圧乾燥時に異物(欠陥)の発生を防止できる着色感光性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide a radiation image detector, which is small, excellent in productivity, and also excellent in moisture resistance while preventing generation of image defects.例文帳に追加
本発明の目的は、小型で、生産性に優れ、画像欠陥の発生を防止した耐湿性に優れる放射線画像検出装置を提供することにある。 - 特許庁
A processing circuit receives the electric signal from the photosensor and makes surface analysis of the workpiece which may include the characterization of defects.例文帳に追加
処理回路は、前記光検出要素からの電気信号を受け取り、ワークピースの欠陥の特徴付けを含みえる前記ワークピースの表面分析を行う。 - 特許庁
The count number of the defects and the like are reset simultaneously with writing the count number into the memory, and counting is similarly repeated when the next defect start position is detected.例文帳に追加
欠点のカウント数等は、カウント数をメモリに書き出すと同時にリセットし、次の欠点開始位置を検出したら同様にカウントを繰り返す。 - 特許庁
A dot overlap rate in a printing mode in which the density unevenness stands out is made higher than the dot overlap rate in the printing mode in which other defects stand out more than the density unevenness.例文帳に追加
濃度むらが目立ちやすい記録モードのドット重複率を、濃度むらよりも他の弊害が目立ちやすい記録モードのドット重複率よりも高くする。 - 特許庁
To provide a mesh inspection apparatus capable of correctly extracting defects without being affected by a change in the thickness of a mesh width due to the unevenness of etching and printing.例文帳に追加
エッチングや印刷のムラによりメッシュ幅の太さの変化に影響されずに正確な欠陥抽出を行うことが可能なメッシュ検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an in-mold label which can be neatly stuck even when used for a container having level differences, without causing defects such as wrinkles.例文帳に追加
段差部を有する容器に使用した場合でも皺などの欠陥を生じることなく、綺麗に貼り付けることができるインモールドラベルを提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加
欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of desirably and efficiently correcting recessed defects on the overcoat layer formed on the colored layer of a color filter.例文帳に追加
カラーフィルタの着色層上に形成されたオーバーコート層に存在する凹部欠陥を良好かつ効率的に修正するための修正方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing a 4H type silicon carbide single crystal ingot having a large area, fewer defects and high quality, from which a large wafer can be cut out.例文帳に追加
欠陥が少なく良質で、大型ウェハの切り出しが可能な大面積の4H型炭化珪素単結晶インゴットの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method for a photomask and an inspection apparatus for a photomask, for determining a defect of a photomask for double patterning and verifying a degree of influences by defects.例文帳に追加
ダブルパターニング用フォトマスクの欠陥判定及び欠陥影響度を検証するフォトマスクの検査方法及びフォトマスクの検査装置を提供する。 - 特許庁
The PIN diode 10 has composite defects formed in accordance with the concentration of oxygen such that atomic holes and oxygen are bonded to each other in the high resistance region 8.例文帳に追加
PINダイオード10では、酸素の濃度に応じて、高抵抗領域8内に原子空孔と酸素が結合した複合欠陥が形成されている。 - 特許庁
To obtain a polyester film having high transparency by suppressing fine defects generated in a film-forming process and blocking resistance and excellent in adhesion and resistance to moist heat.例文帳に追加
製膜工程で発生する微小キズを抑制し、透明性が高く、耐ブロッキング性を有し、密着性と耐湿熱性に優れたポリエステルフィルムを得る。 - 特許庁
To provide a monomer for producing a resin for additives of a radiation-sensitive resist material having excellent transparency and very few development defects.例文帳に追加
優れた透明性を有し、現像欠陥の極めて少ない感放射線レジスト材料の添加剤用樹脂を製造するための単量体を提供する。 - 特許庁
The method may allow subsequent process steps to be performed further rapidly to reduce risk of defects arising from remnants of unfilled voids.例文帳に追加
この方法によって、後続の工程ステップをより迅速に実行することができ、欠陥が未充填の空隙の残りの部分から発生する危険が低減する。 - 特許庁
To provide a method for producing a single crystal capable of obtaining a high-quality single crystal having fewer crystal defects and to provide a single crystal produced by the method.例文帳に追加
結晶欠陥の少ない高品質な単結晶を得ることができる単結晶の製造方法、およびそれにより製造された単結晶を提供する。 - 特許庁
To provide a high-sensitivity, a high-throughput electron beam type inspection device and an inspection method for alleviating artificial defects caused by scanning shift of primary electron beams.例文帳に追加
一次電子ビームの走査ずれに起因する擬似欠陥を低減する高感度高スループット電子ビーム式検査装置と検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a fundus camera which enables highly reliable photographing by suppressing the occurrence of photographing defects more when an optical path branching member is evacuated.例文帳に追加
光路分岐部材の退避時における撮影不良の発生をより抑制し、信頼度の高い撮影を行うことのできる眼底カメラを提供する。 - 特許庁
To produce an acrylic resin-based brittle film by a calendering method so as to eliminate defects of an acrylic resin-based brittle film produced heretofore by a solution coating method.例文帳に追加
本発明は、従来より溶液コーティング法で製造されてきたアクリル樹脂系脆質フィルムの欠点を解消するため、カレンダー法で製造するものである。 - 特許庁
To provide a semiconductor inspection device and a semiconductor inspection method for accurately estimating the characteristics of defects generated in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加
半導体製造工程で発生した欠陥の特性を正確に推定することのできる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a compound semiconductor substrate epitaxially growing a compound semiconductor layer with few crystal defects on a seed substrate.例文帳に追加
結晶欠陥の少ない化合物半導体層を種基板上にエピタキシャル成長できる化合物半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
Insulating layers 8a and 8b are formed only at parts with defects 6a and 6b present in the lightly doped layer 4, and a Schottky electrode 12 is formed thereon.例文帳に追加
不純物低濃度層4に欠陥6a,6bが存在する部位にのみ、絶縁層8a,8bを形成し、その上にショットキー電極12を形成する。 - 特許庁
To provide a hydrogen separating body where a hydrogen permselective metal film with little defects of holes and cracks is supported by a porous substrate.例文帳に追加
孔やひびなどの欠陥の少ない状態にて水素選択透過性金属膜が多孔質基体によって支持されている水素分離体を提供する。 - 特許庁
To certainly sense defects of the operating condition in gasification equipment by grasping the feeding amount of the char sent into a combustion furnace from a gasification furnace.例文帳に追加
ガス化炉から燃焼炉へ送り込まれるチャーの送給量を把握してガス化設備の運転状態の異常検出を確実に行い得るようにする。 - 特許庁
To provide a method for producing an aluminum titanate sintered compact suppressible of the generation of defects in the aluminum titanate sintered compact at low cost.例文帳に追加
少ないコストでチタン酸アルミニウム焼結体における欠陥の発生を抑制できるチタン酸アルミニウム焼結体の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To reduce development defects while a developing film is formed over the entire area of a surface of a substrate even when the surface of the substrate has large water repellency.例文帳に追加
基板の表面の撥水性が大きくても基板の表面の全域に亘って、現像膜を形成することができ、現像欠陥を低減すること。 - 特許庁
To provide compositions and methods for repairing and regenerating cartilage defects which overcome the problems associated with the currently available methods and compositions.例文帳に追加
利用可能な方法および組成物に関連する問題を克服する軟骨欠損を修復および再生するための組成物および方法の提供。 - 特許庁
To provide a system which is particularly beneficial for analysis of defects on semiconductor wafers and which is suitable for in-line inspection of wafers in a manufacturing plant due to automation.例文帳に追加
半導体ウェーハ上の欠陥の分析に特に有利であり、自動化による製造プラント内でのウェーハのインライン検査に適するシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing a steel sheet, capable of stably producing the high-quality steel sheet in which surface defects such as blisters are difficult to be generated.例文帳に追加
ブリスターなどの表面欠陥が生じにくい高品質の鋼板を安定して製造することができる鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a motor which includes a core having a protrusion and can prevent occurrence of molding defects at the resin molding part near the protrusion.例文帳に追加
突出部を有するコアを含み、突出部付近における樹脂成形部の成形不具合の発生を抑制することができる電動機を提供する。 - 特許庁
As the result, the occurrence of damage such as defects, and flaws caused by mechanical stress and the like when the dust preventing window is set in the color liquid crystal projector is suppressed.例文帳に追加
その結果、防塵窓をカラー液晶プロジェクターにセットする際における機械的な応力等による欠けや傷などの損傷の発生が抑制される。 - 特許庁
To remove anomalous image data generated by noises or defects of a pixel of an imaging element and compress background noises while minimizing the degradation of the image.例文帳に追加
画像の劣化を最小限におさえながら、ノイズや撮像素子の画素の欠陥で発生する異常画像データを除去し、且つ、背景ノイズの圧縮を行う。 - 特許庁
To provide an RTM molding method that does not cause defects even to a large-sized FRP molding upon molding, improves the quality, and exhibits an excellent productivity.例文帳に追加
大型のFRP成形品の成形に際し、欠陥を発生させず、品質向上が可能で、生産性に優れたRTM成形方法を提供する。 - 特許庁
To prevent generation of image defects such as glossy lines or rubbing marks due to a separation pawl or a guide member in an image of a recording medium having a toner image fixed thereto.例文帳に追加
トナー像が定着された記録媒体の画像に、分離爪やガイド部材による光沢スジや擦れ跡などの画像不良が発生しないようにする。 - 特許庁
To provide a driving support system for eliminating conventional defects so as to achieve highly reliable obstacle detection.例文帳に追加
この発明は、従来の欠点を解消でき、信頼性の高い障害物検出が行えるようになる運転支援システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a method of manufacturing it, which can suppress stress distortions and crystal defects in an end part of an element isolation region.例文帳に追加
素子分離領域の端部における応力ひずみの発生及び結晶欠陥発生を抑制する半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of mounting a semiconductor device onto a wiring board in which Pb is not used and occurrence of defects is reduced, and also to provide a mounting wiring board.例文帳に追加
Pbを用いず、且つ不良発生を低減することができる半導体装置の配線基板への実装方法及び実装配線基板を提供する。 - 特許庁
To satisfactorily correct a white vertical line generated due to a plurality of point defects existing in the same vertical CCD.例文帳に追加
同一の垂直CCDに複数の点欠陥が存在しても、これらの点欠陥により発生する白縦線を良好に補正することを可能にする。 - 特許庁
An image forming method with excellent resistance to stain before exposure, raw stock storability, and resistance to defects after processing is provided.例文帳に追加
熱現像感光材料の露光前の汚れに対する耐性、生保存性、処理後のキズに対する耐性が優れた画像形成方法が提供される。 - 特許庁
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