Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
The defects or position deviations of conductive balls 3 on a wafer 2 mounted in a batch mounting equipment part 10 are examined with an inspection equipment part 20.例文帳に追加
検査装置部20により、一括搭載装置部10において搭載したウエハ2上の導電性ボール3の欠落あるいは位置ずれを検査する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic flaw detection method and an apparatus, capable of accurately detecting even defects present in the vicinity of the bottom surface of the object material of flaw detection.例文帳に追加
被探傷材底面近傍に存在する欠陥をも精度良く検出することが可能な超音波探傷方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of a transfer defect, reversal ghost image and stains at ends which are the image defects which arise in a transfer process and to form an image having high grade.例文帳に追加
転写プロセスで生じる画像欠陥である、転写不良、反転ゴースト像、端部汚れの発生を防止し、高品質な画像を形成する。 - 特許庁
To provide a defect correction device and a defect correction method capable of reliably correcting defects, and also to provide a method for manufacturing patterned substrate by using the method.例文帳に追加
確実に欠陥を修正することができる欠陥修正装置、欠陥修正方法及びそれを用いたパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a resist composition having excellent temporal stability of a resist pattern and achieving decrease in development defects, and to provide a method for forming a resist pattern.例文帳に追加
レジストパターンの経時安定性に優れ、かつ現像欠陥低減を達成可能なレジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a positive resist composition which improves edge roughness of a pattern, remedies the problem of development defects and gives an excellent resist pattern profile.例文帳に追加
パターンのエッジラフネスが改良され、現像欠陥の問題も改善された、優れたレジストパターンプロファイルが得られるポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
The release polyester film has at most 5 pieces/m^2 of hollow defects having a depth of at least 0.5 μm, and a thickness irregularity of at most 1.8 μm in the longitudinal direction.例文帳に追加
深さ0.5μm以上の窪み欠点数が5個/m^2以下であり、長手方向の厚み斑を1.8μm以下とすることにより達成出来る。 - 特許庁
To reduce defects such as deterioration due to air containing oxygen and inclusion of an air bubble in a seal material that a liquid crystal has when the seal material is hardened.例文帳に追加
液晶装置が備えるシール材を硬化させる際に、酸素を含む空気による劣化やシール材中に気泡が含まれる等の不具合を低減する。 - 特許庁
To provide a bonding force inspection device capable of surely inspecting intermediate defects and dispensing with complicated operations such as light axis adjustment of an instrument.例文帳に追加
中間的な不良も確実に検出でき、且つ機器の光軸調整などの煩雑な作業も不要な接着力検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method of deciding a rolling order of a steel plate so that the defective plate profile and defects in shape are not generated and a method of manufacturing the steel plate by the method.例文帳に追加
板プロフィル不良や形状不良が生じないような鋼板の圧延順決定方法、及び該方法による鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an injection mold with a hot runner constituted so as to prevent the generation of molding defects caused by the mixing of a material when a material is altered.例文帳に追加
材料を変更する際に、材料混ざりによる成形不良の発生を防止するようにしたホットランナー付き射出成形金型を提供する。 - 特許庁
To provide a production method for hot dip plated steel strip, which eliminates groove mark defects due to a sink roll, and a roll in molten metal plating bath.例文帳に追加
シンクロールに起因するグルーブマーク欠陥を解消する溶融金属めっき鋼帯製造方法および溶融金属めっき浴中ロールを提供する。 - 特許庁
Inspection threshold values for detecting defects or breakage of wires are corrected on the basis of the first wire width and the second wire width (steps 109 and 114).例文帳に追加
第1のしきい値における導体の第1の線幅、第2のしきい値における第2の線幅、および第3のしきい値における第3の線幅を求める。 - 特許庁
To prevent losing of a defect correcting material in a washing precess of carbon-based contamination in a method for correcting pattern defects and a pattern defect correcting device.例文帳に追加
パターン欠陥修正方法及びパターン欠陥修正装置に関し、炭素系汚染の洗浄プロセスにおける欠陥修正材料の消失を防止する。 - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus capable of highly accurately detecting pattern defects without reducing the light quantity of a laser beam used for defect detection.例文帳に追加
欠陥検出に用いるレーザ光の光量が低減することなく、パターン欠陥の検出を高感度にて行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a technique capable of stably obtaining a thin film of high quality restraining impurities from being mixed into the film or defects from occurring in the film in an ALD method.例文帳に追加
ALD法において、不純物の混入や膜の欠陥を抑制し、良好な膜質の薄膜を安定的に得る技術を提供する。 - 特許庁
To increase a saturated signal amount, while suppressing white scratch generation or dark current generation caused by crystal defects, in a CMOS solid-state image pickup device.例文帳に追加
CMOS固体撮像素子において、結晶欠陥による白傷の発生や暗電流の発生を抑制しつつ、かつ飽和信号量の増大を図る。 - 特許庁
To provide a simple defect inspection device, capable of inspecting defects based on diffracted light and scattered light from a substrate (object to be inspected) at high throughput.例文帳に追加
基板(被検物体)からの回折光と散乱光とに基づく欠陥検査を高スループットで行える簡素な欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an inexpensive cutting device that cuts a steel sheet without stopping its travelling and that reduces generation of defects in forming welding.例文帳に追加
鋼板の走行を停止せずに鋼板を切断して、成形溶接における不良発生を低減するとともに、安価な切断装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for laser beam welding of steel members by which such defects as a blow hole and a low temperature crack do not occur in a mutual joining of the steel members with the laser beam welding.例文帳に追加
レーザ溶接による鋼材同士の接合において、ブローホールや低温割れ等の欠陥の発生が無い、鋼材のレーザ溶接方法を提供する。 - 特許庁
The obtained defect parts 3 become pinholes, having uniform particle sizes in the thin film 2 and parts from which the fine particles are not released become protruded model defects.例文帳に追加
得られた欠損部3は薄膜2に形成される径の揃ったピンホールとなり、微粒子が脱離しなかった部分は突起状のモデル欠陥となる。 - 特許庁
To provide a vertical integrated MEMS switch which can overcome conventional defects or restriction, a design structure and a manufacturing method of such a vertical switch.例文帳に追加
従来の欠陥及び制限を克服する、垂直型集積MEMSスイッチ、設計構造体、及びそのような垂直型スイッチの製造方法を提供する。 - 特許庁
Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.例文帳に追加
検査画像内の各画素について、第1の相関関係と第2の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁
To configure rocker arms for easy adjustments to their valve fitting portion height position and against defects during their manufacturing process at the same time.例文帳に追加
ロッカアームにおいて、製造過程での欠陥発生を回避できる形状としながら、バルブ嵌入部の高さ位置を容易に調整できるような形状とすること。 - 特許庁
To provide a MOS solid-state image pickup device having diminished crystalline defects in photodetecting part and satisfactory image quality on output screen, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加
受光部における結晶欠陥が低減された、出力画面の画質の良好なMOS型固体撮像装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device with which the display defects occurring in the misalignment, bending, etc., of an optical sheet are decreased and reliability is improved.例文帳に追加
光学シートの位置ずれ、たわみ等に起因する表示不良を低減し、信頼性の向上した液晶表示装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide a low temperature burning porcelain composition for achieving improved mechanical strength and the prevention of various appearance defects, and to provide a low temperature burning porcelain.例文帳に追加
さらなる機械的強度の向上および各種外観不良の防止を実現する低温焼成磁器組成物および低温焼成磁器を提供する。 - 特許庁
To improve yield by reducing cutting defects of a large-sized substrate in a manufacturing process of an electro-optical device such as a liquid crystal device.例文帳に追加
例えば液晶装置等の電気光学装置の製造プロセスにおいて、大型基板の切断不良を低減することにより歩留まりを向上させる。 - 特許庁
The manufacture and handling of the die, the raw material, and the burnt tile are facilitated, the steps are eliminated, and the occurrence of defects and defective products can be prevented.例文帳に追加
従って、金型、白地、瓦等の製作、及び取扱いの容易化と、段付きをなくして欠損発生の回避、不良品の発生回避とを図る。 - 特許庁
To provide a solid-state imaging device and camera that not only improve the sensitivity but also reduce the color mixture by further improving the characteristics observed in dark current, flake defects and the like.例文帳に追加
暗電流及び白点欠陥などの特性をさらに改善し、感度向上及び混色低減が可能な固体撮像装置とカメラを提供する。 - 特許庁
To suppress heat stress, which is added to a large capacity storage unit of an image forming apparatus, to lower, and to delay the occurrence period of failure or defects of the large capacity storage unit.例文帳に追加
画像形成装置の大容量記憶部へ加わる熱ストレスを小さく抑え、大容量記憶部の故障や不具合の発生時期を遅らせる。 - 特許庁
To provide a modified flavin adenine dinucleotide-dependent glucose dehydrogenase having improved specific activity by overcoming defects of known flavin adenine dinucleotide-dependent glucose dehydrogenase.例文帳に追加
公知のフラビンアデニン依存性グルコースデヒドロゲナーゼの欠点を克服し、比活性が向上した改変型フラビンアデニン依存性グルコースデヒドロゲナーゼを提供する。 - 特許庁
To provide a lighting system and an inspection device for inspecting surface defects and pin holes of an object to be imaged by one inspection unit.例文帳に追加
撮像対象物の表面欠陥検査とピンホール検査を1つの検査ユニットで実現することができる照明装置と検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device provided with a capacitive element having excellent capacitance characteristics capable of preventing and refining working defects and the manufacturing method.例文帳に追加
加工不良の防止及び微細化が可能な良好な容量特性を持つ容量素子を有する半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a colloidal crystal making method which enables the easy and inexpensive making of a large-sized single crystal which has few lattice defects and shows low homogeneity.例文帳に追加
大型で、格子欠陥や不均一性の少ない単結晶を容易かつ安価に製造することができる、コロイド結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a pattern correcting method which can correct the electrode discontinuity by using fine wires as thin as about 10 μm with less contamination around the defects.例文帳に追加
10μm前後の細線で電極断線部などを修正することができ、かつ、欠陥部周辺の汚染が小さなパターン修正方法を提供する。 - 特許庁
Consequently, the hardening defects, such as the distortion and deformation of the gear can be prevented and the fluctuation in the amount of shrinkage in the inner shell section of the gear can be prevented.例文帳に追加
その結果、歯車の歪みや変形などの焼き入れ欠陥を防止できると共に、歯車の内郭部の収縮量の変動を防止できる。 - 特許庁
To provide a novel and enhanced modular micro fluid sample adjusting system which is capable of solving at least a part of defects of a conventional system.例文帳に追加
従来のシステムの欠点の少なくとも一部を解消できる新規で改善されたモジュラーミクロ流体サンプル調整システムを提供することにある。 - 特許庁
To remove moire caused on a liquid crystal screen owing to switching between a moving image mode and a still image mode and to solve problems of illumination defects of a lamp.例文帳に追加
動画モード/静止画モードの切り替えにより液晶画面上に発生するモアレを除去し、かつ、ランプの点灯不良の問題を解決する。 - 特許庁
The efficiency of the entire welding system is enhanced thereby, and the welding quality is uniformized to positively prevent weld defects.例文帳に追加
これにより、溶接加工システム全体の加工効率を高め、溶接品質を均一化することにより、積極的に溶接欠陥の防止をすることができる。 - 特許庁
To provide a technology to carry out an ink application free from defects by surely detecting the clogging of a discharge nozzle of an ink-jet head with an ink in the application of the ink.例文帳に追加
インク塗布の際にインクジェットヘッドの吐出ノズルのインク詰まりの有無を確実に検出して欠損のないインク塗布を可能にする技術を提供する。 - 特許庁
By this method, a photonic crystal having no defects and high quality which is formed at single crystal/single domain on the whole area of the substrate 100 is manufactured.例文帳に追加
この方法により、基板100全面に単結晶・単一ドメインで構成され、無欠陥の良質なフォトニック結晶を作製することができる。 - 特許庁
To provide a motor that reduces the mechanical stress exerted on an electrical connection of a control circuit member, and to prevent the occurrences of breakage of cables and other defects.例文帳に追加
制御回路部材の電気的接続部にかかる機械的ストレスを軽減し、断線不良等の発生を未然に防止することができるモータを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit where defects in circuit cells can be relieved without causing a big change in wiring, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加
配線を大幅に変更することなく回路セルの欠陥を救済することができる半導体集積回路とその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a ceramic package for an electronic device in which electrical defects due to milted excess solder are prevented in the case of solder sealing with a metal cap.例文帳に追加
金属キャップで半田封止する際、溶融した余分な半田による電気的不具合を防止する電子デバイス用セラミックパッケージを提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for inspecting a mask for use in fabricating an integrated circuit device that can easily detect defects in a semiconductor pattern.例文帳に追加
半導体パターンに形成された欠陥を容易に探し出すことのできる集積回路装置製造用マスクの検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
To improve a threshold current, operation current, production yield, and reliability, etc., by suppressing crystal defects which occur inside the structure of a semiconductor element.例文帳に追加
半導体素子の構造内部に発生する結晶欠陥を抑制してしきい値電流、動作電流、製造歩留まりや信頼性等を向上させる。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device that prevents crystal defects from occurring in a substrate on which semiconductor chips are mounted and reduces the manufacturing time.例文帳に追加
導体チップを搭載する基板の結晶欠陥を抑制すると共に、製造時間を短縮した半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁
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