「IC socket」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The interposer 106 for mounting a semiconductor chip thereon is fixed to an IC socket 102 mounted on a board 101.例文帳に追加

基板１０１に実装されたＩＣソケット１０２に、半導体チップが実装されるインターポーザ１０６を固定する。 - 特許庁

The pitch of the socket is made wider than the pitch at IC side up to the pitch allowable at base board side.例文帳に追加

本発明は、ＩＣ側のピッチよりも、基板側が許容するピッチまで広げたことを特徴とするソケットである。 - 特許庁

To rapidly evaluate which probe pin increases its contact resistance in a plurality of probe pins of an IC socket.例文帳に追加

ＩＣソケットの複数のプローブピンの内、どのプローブピンの接触抵抗が増大しているかを迅速に評価する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of executing the accurate electrical test for a long period under a temperature of 150°C.例文帳に追加

１５０℃の温度環境下、長期間正確な電気的テストを行うことができるＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

On an adaptor board 3 to be mounted on the DIP socket 2, the surface mounted type IC memory 4 is mounted.例文帳に追加

ＤＩＰソケット２に装着するためのアダプタ基板３上に、表面実装型のＩＣメモリ４を実装する。 - 特許庁

The IC socket 1 has the insulated housing 3 and a lever 8 rotatably mounted on this insulated housing 3.例文帳に追加

ＩＣソケット１は、絶縁ハウジング３と、この絶縁ハウジング３に回動可能に取り付けられたレバー８を有する。 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY IC SOCKET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

高周波ＩＣソケット、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁

Therefore, the substrate 1 is brought into contact with the device 6 to have a function equivalent to that of the existing IC socket.例文帳に追加

従い１の基板と６のデバイスが接触し既存のＩＣソケットと同等 の機能を有する事となる。 - 特許庁

To facilitate removal of an absorbing member after mounting an insulated housing to a circuit board in an IC socket.例文帳に追加

ＩＣソケットにおいて、絶縁ハウジングを基板に取り付けた後に、吸着部材の取り外しが容易なものとする。 - 特許庁

To provide a contact pin capable of restraining the deformation of a spherical terminal, and to provide an IC socket provided with the contact pin.例文帳に追加

球形端子の変形を抑制するコンタクトピン及びこのコンタクトピンが設けられたＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

A plurality of contact pins arranged in a socket body electrically connect an IC electrode mounted over them with a circuit board mounting the socket body itself.例文帳に追加

ソケット本体に配列された複数のコンタクトピンは、その上方に搭載されるＩＣ電極とソケット本体が搭載する配線基板間との電気的接続をする。 - 特許庁

The socket for inspection is an open top type IC socket used for inspecting a QFP, and has a centering mold guide allowing its position to be moved according to the dimension of the QFP.例文帳に追加

ＱＦＰの検査に用いるオープントップタイプのＩＣソケットであって、ＱＦＰの寸法に応じて位置を可動としたセンター寄せモールドガイドを有するＩＣソケット。 - 特許庁

To provide an IC socket having a compact structure in which respective contacts of an IC package can be contacted surely with respective contact and in which attachment and detachment of the IC package can be carried out easily.例文帳に追加

ＩＣパッケージの各接点を各コンタクトに確実に接触させることが出来ると共に、ＩＣパッケージの着脱を容易に行うことが出来る、コンパクトな構造のＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

In the IC socket having the socket main body and a latching mechanism made to be pivotally supported at one side of the socket main body and made to be engaged with the socket main body in the other side and having a cover member to have a pressurizing member at the center part and the contact to which the IC package is loaded, the pitch conversion substrate where the contact is arranged is installed exchangeably.例文帳に追加

ソケット本体と、該ソケット本体の一側に回動可能に枢支されて他側にソケット本体と係合されるラッチ機構を有し、かつ中央部分に押圧部材を有するカバー部材と、ＩＣパッケージが装着されるコンタクトとを有するＩＣソケットにおいて、前記コンタクトが配置されたピッチ変換基板が交換可能に設けられることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an IC characteristic measuring instrument capable of measuring the characteristics such as the saturated voltage characteristic of an IC held in a socket without being affected by the impedance of a number of connectors, relays, wirings, etc., connected with the IC measuring socket.例文帳に追加

本発明は、ＩＣ測定用ソケット内のＩＣの飽和電圧特性などの特性を測定する際に、ＩＣ測定用ソケットに接続される多数のコネクター、リレー及び配線等によるインピーダンスの影響を受けることなく測定できるＩＣの特性測定器を提供することを目的とする。 - 特許庁

the IC socket has many electric contacts 20 which electrically connect the electrodes of the IC to a test device through an electric circuit formed to a socket board, and the electric contacts 20 have nickel palladium plating layer at a contact point 20a contacting the electrode of the IC.例文帳に追加

そして、このＩＣソケットは、ソケットボードに形成した電気回路を介してＩＣの電極を試験装置に電気的に接続する多数の電気コンタクト２０を有し、これら電気コンタクト２０は、ＩＣの電極と接触する接点部２０ａにニッケルパラジウムメッキ層を有する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of corresponding to every kind of LSI packages while contact terminals of the IC socket and electrode terminals of the IC packages are contacting to each other in one-to-one correspondence, of which, an opening part of a depression means expands and contracts corresponding to every kind of LSI packages as well.例文帳に追加

ＩＣソケットの接触端子とＬＳＩパケージの電極端子が１対１で接触可能となりながらあらゆるＬＳＩパッケージにも対応すると共に、ＩＣソケットの抑え手段の開口部もあらゆるＬＳＩパッケージに対応して伸縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a socket testing method and a socket testing tool for testing an IC package by mounting the IC package having grid-shaped terminals at the lower surface of a package body, capable of easily testing the location of terminals of a socket, and capable of confirming actual contacting state of the terminals of the socket with the terminals of the IC package.例文帳に追加

パッケージ本体の下面に端子がグリッド状に設けられたＩＣパッケージが装着され、前記ＩＣパッケージの試験を行うソケットの検査方法およびその検査方法に使用される検査ツールに関し、ソケットの端子の位置の検査が簡単で、しかもソケットの端子、ＩＣパッケージの端子との実際の接触状態が確認できるソケットの検査方法及びソケットの検査ツールを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an IC socket that can be inspected by the number of processes equivalent to an inspection device for pressing a conventional package and without pressing the package, and to provide an inspection device of a semiconductor device having the IC socket and the inspection method therefor.例文帳に追加

従来のパッケージを押圧する検査装置と同等の工程数で、かつパッケージを押圧することなく検査することが可能なＩＣソケット及びこれを備えた半導体装置の検査装置、並びにその検査方法を提供する。 - 特許庁

An IC socket 100, mounted with an IC102 which is to be tested and transmits the signal required for testing, is provided with a plurality of IC housing parts where a plurality of ICs102 are housed for simultaneous testing in a socket body 101.例文帳に追加

試験対象のＩＣ１０２を搭載して、試験に必要な信号を伝達するＩＣソケット１００であって、ソケット本体１０１内にＩＣ１０２を複数個同時試験可能に収納する複数のＩＣ収納部を設けた。 - 特許庁

In the IC socket having a rotary latch mechanism latching a lid member to a socket body attached with an IC package, a rotary latch mechanism is provided for fixing and releasing the latch by rotating the knob by using the cam.例文帳に追加

ＩＣパッケージを装着したソケット本体に対して蓋部材をラッチする回転ラッチ機構を有するＩＣソケットにおいて、つまみを回転操作してカムを用いてラッチの固定と開放を行う回転ラッチ機構を有する。 - 特許庁

Further, since a disposition space is provided around the direct attachment position of the MPU, in a development stage, an IC socket is loaded on the space and the MPU is detachably mounted on the main control board through the IC socket.例文帳に追加

また、ＭＰＵの直付け位置の周囲には、配設スペースが設けられているので、開発段階においては、このスペースに、ＩＣソケットを搭載し、そのＩＣソケットを介して、ＭＰＵを主制御基板に着脱可能に装着することができる。 - 特許庁

Of the IC socket equipped a socket main body and a contact on which the IC package is mounted, the contact is provided with an elastic support part extended from a terminal contact part at a tip, which gets engaged with an underside of the positioning pedestal to support it.例文帳に追加

ソケット本体と、ＩＣパッケージが装着されるコンタクトとを有するＩＣソケットにおいて、前記コンタクトが、先端の端子接触部から延出する弾性支持部を有し、位置決め台座の下面に係合して支持する。 - 特許庁

In an IC socket 1, a base part 20 of a contact pin 18 is engaged between ribs 24 formed on a socket main body 3, and a plurality of contact pins 18 are fixed to the socket main body 3 by pressing protrusions 22a, 22b formed on the base part 20 into engaging holes 23a, 23b formed on the socket main body 3.例文帳に追加

ソケット本体３に形成されたリブ２４間にコンタクトピン１８の基部２０が係合され、この基部２０に形成された突起２２ａ，２２ｂがソケット本体３に形成された係合穴２３ａ，２３ｂに圧入されることにより、複数のコンタクトピン１８がソケット本体３に固定される。 - 特許庁

Probes P1-P6 for tests are inserted through the pressing lid of the IC socket in such a way as to be each in contact with the lead pins of the surface-mounting-type IC 10 placed on a seating 14.例文帳に追加

台座１４上に載置された面実装タイプのＩＣ１０の各リードピンに当接するように、ＩＣソケットの押え蓋を貫通してテスト用プロ-ブＰ１〜Ｐ６を配設する。 - 特許庁

At that time, a bottom surface of the heat sink 70 is in contact with an upper surface 60a of the package 60, with little excessive pressure applied to the package 60 and the IC socket 42.例文帳に追加

この時ヒートシンク７０の底面８０aはパッケージ６０の上面６０aに接触するが、過度な押圧力が、パッケージ６０及びICソケット４２に加わることがない。 - 特許庁

To provide a socket for IC inspection which is capable of bringing a probe 16 into accurate contact with an electrode of an IC chip to be inspected, even in a high temperature atmosphere, without impairing a high frequency characteristic.例文帳に追加

高周波特性を損なわずに、高温雰囲気でも、被検査ＩＣチップの電極にプローブ１６を精度良く当接できるＩＣ検査用ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket of which the contact can contact by metal to a land on the IC package side, and which can cope with multiple pins, fine pitch, large current, and high speed with high productivity.例文帳に追加

ＩＣパッケージ側のランドに対してコンタクトが金属接触でき、生産性が高く、多ピン化、ファインピッチ化、大電流化、高速化に対応できるＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

The socket connector is used for electrically connecting the IC package to a circuit board, and comprises a base, the cover, and the driving device making the cover slide against the base.例文帳に追加

本発明のソケットコネクタはICパッケージを回路基板に電気的に接続させるために用いられ、ベースと、カバーと、該カバーをベースに対して摺動させる駆動具とを含む。 - 特許庁

To prevent positional slippage of an IC device while applying pressing force on it, by reducing operating force of a pressing member and enlarging the dimension of the pressing surface of the pressing member, in an IC socket.例文帳に追加

ＩＣソケットにおいて、押圧部材の操作力を軽減し、押圧部材の押圧面の寸法を拡大し、押圧力を加える間のＩＣデバイスの位置ずれを防止する。 - 特許庁

To provide a burn-in apparatus comprising a means for easily detecting a contact condition between a power source terminal and a ground terminal of an IC and an IC socket.例文帳に追加

ＩＣの電源端子及び接地端子とＩＣソケット間の接触の良否を容易に検出することを可能とする手段を有するバーンイン装置を提供すること。 - 特許庁

Lands of patterns corresponding to a connecting terminal arrangement of the IC device are respectively formed on both faces of the socket board for the test.例文帳に追加

テスト用ソケットボードの両面にＩＣデバイスの接続端子配列に応じたパターンのランドをそれぞれ形成する。 - 特許庁

To greatly reduce thermal damage of an IC socket due to latch-up and the like in a semiconductor device occurring during screening.例文帳に追加

スクリーニングにおいて発生する半導体装置のラッチアップなどによるＩＣソケットの熱損傷を大幅に低減する。 - 特許庁

Thus, it becomes possible to test different kinds of IC devices by sharing one socket board for the test.例文帳に追加

こうすると、１つのテスト用ソケットボードを共用して異なる種類のＩＣデバイスを検査することができるようになる。 - 特許庁

To provide a socket for IC device which allows for efficient use of conductive contact pins and efficient replacement work.例文帳に追加

導電性コンタクトピンの効率的な利用と交換作業の効率化を可能にする、ＩＣデバイス用ソケットを提供する。 - 特許庁

As the IC card 2 is inserted, a card socket 11 moves while pushed in and then stops on abutting against a rear stopper 13.例文帳に追加

ＩＣカード２の挿入に伴い、カードソケット１１は押し込まれながら移動し、後部ストッパー１３に当たって止まる。 - 特許庁

To provide an IC socket wherein it has a pitch conversion substrate that can be used in common by the size of IC package or the like of ball grid array type and land grid array type, and wherein the IC package can be loaded superior and can be pressurized homogeneously.例文帳に追加

ボール・グリッド・アレイ・タイプやランド・グリッド・アレイ・タイプのＩＣパッケージ等のサイズにより共用できるピッチ変換基板を有し、ＩＣパッケージを良好に装着でき、かつ均等に押圧できるＩＣソケットを提供すること。 - 特許庁

Further, the spiral round shape of the contact pin has an elasticity, which gives a moderate pressure on the circuit board and the IC, thus conducted with each other, when the IC socket is mounted on the circuit board and the IC is mounted.例文帳に追加

また、コンタクトピンの螺旋状の円形は弾性を備え、ＩＣソケットを配線基板に搭載し、ＩＣを搭載したときに、配線基板とＩＣの電極とに適度な押圧を与え導通を得ることが出来る。 - 特許庁

To structure an IC socket usable in common to IC packages with short leads and long leads, having lead receiving parts conformably set even if the shapes, sizes, or thickness of the IC packages are different.例文帳に追加

ＩＣパッケージのリードの形状やサイズ、あるいは厚さ等が異なっても適合できるように設定されるリード受け部を有するショートリードおよびロングリードのＩＣパッケージに共用できるＩＣソケットを構成する。 - 特許庁

The IC socket of an open top type having a pinch-in contact forming an electric connection by insertion of an IC package is provided with a biasing mechanism for positioning the IC package by biasing it from one direction.例文帳に追加

ＩＣパッケージを挿入して電気的接続を形成する挟み込みコンタクトを有するオープントップタイプのＩＣソケットにおいて、前記ＩＣパッケージを一方向から片寄せして位置決めする片寄せ機構を有する。 - 特許庁

A slide plate 30 of an IC socket 1 is pulled by a cam shaft 40 and moved forward when a cam shaft 40 is turned in one direction, so that a lead pin 51 provided on an IC 50 contacts the contact 20 of a base housing 10.例文帳に追加

ICソケット１のスライドプレート３０は、カムシャフト４０を一方向に回動する際にカムシャフト４０によって引張られて往動し、これによりIC５０に設けられたリードピン５１がベースハウジング１０のコンタクト２０に接触する。 - 特許庁

To provide an IC socket device of which it is easy to automatize replacement work of IC chips and to cut down cost with the small number of parts, in configuration of retaining the IC chips with pressure in a rotation operation.例文帳に追加

本発明は、回転操作でＩＣチップを押圧保持する構成において、ＩＣチップの交換作業の自動化が容易であると共に部品点数が少なくてコストダウンが可能なＩＣソケット装置を提供すること。 - 特許庁

The electric connection of a mating side socket mounting member with the respective electrodes is performed by the elastic connection of the coil-shaped contact point 31, and an IC socket can be easily replaced since the solder connection is not used.例文帳に追加

相手方ソケット実装部材の各電極との電気的接続はコイル状接点３１の弾接によって行われ、半田接続を使用しないので容易に交換できる。 - 特許庁

To provide a socket for inspection, which allows an existing socket side to respond to design change even when design change of the dimension and angle of a mold of an IC, design change of a resin, or the like occurs.例文帳に追加

ＩＣのモールドの寸法及び角度の設計変更や樹脂の設計変更等が生じたとしても既存のソケット側で対応できるような検査用ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket wherein automatic mounting can be carried out easily without anxiety of deformation of a lead terminal, and assembling man-hours of a contact to the socket main body can be reduced.例文帳に追加

リード端子の変形の惧れなく自動的な搭載を容易に行うことができると共に、コンタクトのソケット本体への組付け工数を低減することが可能なＩＣソケットを提供する。 - 特許庁