「IC socket」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a handler socket capable of commonly using a part even when a position of the positioning part of an IC carrier and a circuit board is changed and the terminal number and a terminal interval of an IC package are changed.例文帳に追加

ＩＣキャリアや回路基板の位置決め部の位置が変わったり、ＩＣパッケージの端子数や端子間隔が変化した場合でも、一部の共用化が図れるハンドラー用ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate and an IC socket such that connection places are decreased, an IC and substrate are connected without spoiling high frequency characteristics, and a mounting space is reduced.例文帳に追加

接続箇所を減らし、高周波特性を損なうことなくＩＣと基板とを接続することが可能であり、また、実装スペースを削減することが可能な基板及びＩＣソケットを提供すること。 - 特許庁

To provide a new contact device for IC socket which can stably contact by a simple structure, while reducing the contact pressure with respect to external contacts of an IC package, as much as possible.例文帳に追加

ＩＣパッケージの外部接点に対する接触圧力を出来るだけ小さくしながら、簡単な構造により安定した接触を行うことができる新規なＩＣソケット用接触装置を提供する。 - 特許庁

This IC socket has the base housing 11 of an insulating material and a large number of contacts 13, held along the outer periphery of the base housing 11 and being electrically connectable to a lead wire and a substrate of an IC.例文帳に追加

絶縁材質のベースハウジング１１と、該ベースハウジング１１の外周に沿って保持され、ＩＣのリード線及び基板に対して電気的に接続可能な多数本のコンタクト１３とを備える。 - 特許庁

To provide a socket for a semiconductor device capable of inhibiting to replace or exchange an IC package by other person than a user, and informing when the IC package is replaced or exchanged by a third person.例文帳に追加

使用者以外の人がＩＣパッケージを取り外しまたは交換することを抑止し、第３者が取り外しまたは交換したときは、それが分かるようにした半導体装置用ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of coping with high frequency by shortening the length of a wire between an IC lead and an electrode pad and lowering self-inductance, and improving the contact performance between a contact pin and the electrode pad.例文帳に追加

ＩＣリードと電極パッド間の線路長を短かくし、自己インダクタンスを低くして高周波対応を可能し、又、コンタクトピンと電極パッドの接触性が向上したＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

The probe pin 40 is incorporated into the IC socket interposed between the measured IC and the evaluation board with electrical characteristics, and has a capacitor 8 for reducing electric noise and a conductor section 6 connected with the capacitor 8.例文帳に追加

被測定ＩＣと電気的特性評価ボード間に介在されるＩＣソケットに組み込まれ、電気ノイズを低減するためのコンデンサ８及びコンデンサ８と接続される導体部６を有するプローブピン４０。 - 特許庁

The IC socket 1 is composed of a board fixing member 2 fixed to a circuit board 30 and a flat plate-like pressure bonding member 10 for pressing an IC 20 against the board fixing member 2 and fixing it.例文帳に追加

ＩＣソケット１は、回路基板３０に固定される基板固定部材２と、基板固定部材２に向けＩＣ２０を押しつけ固定するための平板状の圧着部材１０とで構成されている。 - 特許庁

This standard is stored to replace a prescribed outer shape of IC in a socket reception part 1A capable of storing the IC, and calibrates an influence imparted to a measured result by a measuring route from a plurality of electrodes 11A, 11B up to a measuring instrument, in the socket reception part 1A contacting with an input terminal or an output terminal of an electric signal from the IC.例文帳に追加

所定外形ＩＣを収容可能なソケット受け部１Ａに、当該ＩＣと置き換えて収容され、ＩＣの電気信号の入力端子または出力端子が接触するソケット受け部１Ａ内の複数の電極１１Ａ,１１Ｂから測定装置までの測定経路が測定結果に与える影響を校正するための標準器である。 - 特許庁

The terminal assembly 1 is structured by coupling terminals 8 to be fitted to an inner case 5 of the IC socket in a width direction by a carrier 9.例文帳に追加

端子集合体１は、ＩＣソケット３の内部ケース５に組み付けられる端子８をキャリア９によって幅方向に連結して構成する。 - 特許庁

A conductive metal 10 hardly solder-plated is fixed on the area A of the lead frame 11 welded by the contact pin 3 of an IC socket.例文帳に追加

ＩＣソケットのコンタクトピン３が圧接するリードフレーム１１の領域Ａに、半田めっきされ難い、導電性の金属１０を固着させる。 - 特許庁

When the suction pad is moved down toward an IC chip disposed in a test socket, the suction pad is moved down, jetting air.例文帳に追加

吸着パッドを検査用ソケットに配置されたＩＣチップに向かって下動させるとき、吸着パッドからエアーを噴射させながら下動させる。 - 特許庁

In an IC socket 1, a positioning film 4, an insulating resin film 3 and a pressure jig 5 are sequentially stacked, positioned and fixed on a supporting board 2.例文帳に追加

ＩＣソケット１は、支持ボード２の上に、位置決めフィルム４、絶縁性樹脂フィルム３及び押圧治具５が順次重ねられて位置決め固定される。 - 特許庁

As a result, the accuracy of connection of the lead frame 23 on the IC21 with the lead member 40 can be increased in the clamshell IC socket 10.例文帳に追加

したがって、クラムシェル型のＩＣソケット１０において、ＩＣ２１のリードフレーム２３とリード部材４０との接続精度を高めることができる。 - 特許庁

To provide an IC socket keeping stable properties against repeated burn-in, having an electric contact with a durable plated layer.例文帳に追加

繰り返しバーンインしても安定した特性を保ち、耐久性を備えたメッキ層を有する電気コンタクトが配設されたＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket allowing electric contacts to be arranged with high density, and capable of preventing deformation of the electric contacts by external force.例文帳に追加

ＩＣソケットにおいて、電気コンタクトを高密度に配置することが可能であると共に、電気コンタクトが外力により変形しないようにする。 - 特許庁

In the IC socket which is constituted by attaching a socket frame to the test board through the contact sheet, the above contact sheet has two or more open-sided spring type contacts which are arranged putting them in an order on an insulation film.例文帳に追加

コンタクトシートを介してソケット枠をテストボードに取付けて成るＩＣソケットにおいて、前記コンタクトシートが、絶縁フィルムに配列して設けられた複数個の片持ちばね形コンタクトを有することを特徴とする。 - 特許庁

Insertion grooves 21 are formed at both ends of a socket body of an IC socket 11, and insertion projections 26 of adaptors 23A, 23B which are formed penetrating position holes 25 are formed capable of sliding at the insertion grooves 21.例文帳に追加

ＩＣソケット１１のソケット本体部１３の両側部に嵌合溝部２１を設け、嵌合溝部２１には位置決め孔２５を貫通形成したアダプタ部２３Ａ、２３Ｂの嵌合突部２６を摺動可能に配設する。 - 特許庁

The IC socket 102 has a wiring part 123v connected in common to a plurality of electrode pads (power electrodes) 151v constituting an electrode group 156v provided for the interposer 106 as in-socket wiring.例文帳に追加

ＩＣソケット１０２は、ソケット内配線として、インターポーザ１０６が有する電極群１５６ｖを構成する複数の電極パッド（電源電極）１５１ｖに共通に接続される配線部１２３ｖを有する。 - 特許庁

To provide an inexpensive contact pin of an IC socket which maintains stable contact between a lead terminal of an IC chip and a contact part of the contact pin even when an oxide film is formed or a foreign substance is attached to the lead terminal of the IC chip or the contact part of the contact pin.例文帳に追加

ＩＣチップのリード端子あるいはコンタクトピンの接触部に、酸化被膜が形成された場合や異物が付着した場合でも、ＩＣチップのリード端子とコンタクトピンの接触部の安定した接触を保持出来るＩＣソケットのコンタクトピンを、安価に提供する。 - 特許庁

This IC socket 10 is equipped with a housing 14 having a supporting part 12, a plurality of contacts 16, the pressing member 18 to press an IC device supported by the supporting part toward the group of the contacts, and an energizing mechanism 22 to generate pressing force to press the IC device against the pressing member.例文帳に追加

ＩＣソケット１０は、支持部１２を有するハウジング１４と、複数のコンタクト１６と、支持部に支持したＩＣデバイスをコンタクト群に向けて押圧する押圧部材１８と、押圧部材にＩＣデバイスを押圧する押圧力を生じさせる付勢機構２２とを備える。 - 特許庁

The IC socket includes a plurality of contacts 26 which are formed of conductive elastic bodies and are provided so as to be contact with the engaging grooves 22 by energizing the leads 16.例文帳に追加

係着溝２２に対してリード１６を付勢して接触可能に設けられた導電性の弾性体から成る複数のコンタクト２６を有する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of preventing falling off of a contact without exerting an influence on high frequency measurement, and executing contact replacement easily.例文帳に追加

高周波測定への影響を与えることなくコンタクトの脱落を防止し、かつ、容易にコンタクト交換を行うことが可能なＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

The multiple switch 33 is operated to be opened after finish, and connection between the IC socket 34 and the first terminal group is interrupted to conduct measurement for a wafer 23.例文帳に追加

また、終了した場合にはこの有接点多重スイッチを開操作してＩＣソケットと第１端子群との間を遮断し、ウエハ２３の測定を行う。 - 特許庁

To enable a direct observation or the like of wave forms from an IC socket part, and suppress an influence given to the original signal for a test as much as possible.例文帳に追加

ＩＣソケット部から直接波形観察などをできるようにするとともに、本来の試験用の信号に与える影響を極力抑える。 - 特許庁

To provide an IC socket with a structure in which a contact and a land contact by metal and coping with multiple pins, fine pitch, large current, and high speed.例文帳に追加

コンタクトとランドが金属接触する構造で、生産性を悪化させずに、多ピン化、ファインピッチ化、大電流化、高速化に対応するＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket and a contact method thereof capable of suppressing failure at a lead bend and simply breaking electrical connection with a lead.例文帳に追加

リード曲りの不良の発生を抑制し且つ簡単にリードとの電気的接続を断つことができるＩＣソケット及びそのコンタクト方法を提供する。 - 特許庁

The IC tester uses a chuck for aligning the array of solder balls of a BGA according to the configuration of contact pins image-processed and stored by a socket calibration jig.例文帳に追加

ソケットキャリブレーション治具により画像処理・記憶されたコンタクトピン５の配列に合わせて、ＢＧＡ１のはんだボールの配列をチャック部にて合わせ込む。 - 特許庁

To obtain an IC socket wherein the length of a track line is short, an amount of movement of a contact point means is small, and an exchange of the contact point means is easy.例文帳に追加

ソケット内の線路長が短く、接点手段の移動量が小さく、接点手段の交換が容易なＩＣソケットの実現を課題とする。 - 特許庁

The heatsink is configured to include a deviation lock piece 3 pressed into contact with at least a pair of side walls opposite to each other of an IC socket 2 to which the heat generating element 1 is mounted.例文帳に追加

発熱素子１を実装するＩＣソケット２の少なくとも対向する一対の側壁に当接するずれ止め片３を備えて構成する。 - 特許庁

When a matrix card 72 is inserted thereto, it is connected to an IC socket circuit board 73 through a second contact point which is at the right end of the matrix card insertion slot 74.例文帳に追加

マトリクスカード７２を挿入すると、マトリクスカード挿入スロットの右端の第２のコンタクトポイントを経てＩＣソケット回路基板７３に接続する。 - 特許庁

The connection pin hole 5 is also provided on the bottom surface of the upper stage socket 1, corresponds to the IC land 2 on the upper surface, and has electrical conduction.例文帳に追加

一方、上段ソケット１の底面にも接続ピン用ホール５があり、これは上面のＩＣ用ランド２とそれぞれ対応しており電気的導通を持つ。 - 特許庁

The IC socket 1 for mounting a TSOP type semiconductor device H is constructed of a first base 2, a second base 3, and a third base 4.例文帳に追加

ＴＳＯＰ形の半導体装置Ｈを装着するＩＣソケット１は、第１ベース２、第２ベース３、および第３ベース４から構成されている。 - 特許庁

When a suction pad is moved down toward an IC chip disposed in a testing socket, the suction pad is moved down while jetting the gas from a tip thereof.例文帳に追加

吸着パッドを検査用ソケットに配置されたＩＣチップに向かって下動させるとき、吸着パッドの先端から気体を噴出させながら下降させる。 - 特許庁

Next, with the use of the jig for the electronic components 20A mounted on the IC socket 30, the semiconductor device 3A is positioned and mounted.例文帳に追加

次に、ＩＣソケット３０に装着された電子部品用治具２０Ａを用いて半導体装置３ＡをＩＣソケット３０位置決めして装着する。 - 特許庁

A base plate is provided with an IC socket main body 3 equipped with a plurality of pogo pins 5, base-plate-side pins 5a of which are in contact with a land 11.例文帳に追加

基板１に、複数のポゴピン５を備えたＩＣソケット本体３が設けられ、ポゴピン５の基板側ピン５ａはランド１１に接触されている。 - 特許庁

To provide an IC socket, an acceleration inspection-use substrate and a method for inspecting a semiconductor device, which can realize a sufficient heat dissipation effect in an acceleration inspection process.例文帳に追加

加速検査工程において十分な放熱効果を得ることが可能なＩＣソケット、加速検査用基板及び半導体デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the conventionally used long lead wires are eliminated from the inside of the IC socket 100, the L, C, and R between the lead terminals 6 and the pattern of the wiring board 14 become smaller.例文帳に追加

従来のようなＩＣソケット内部の長いリード線がなくしたため、ＩＣのリード端子６と基板のパターンとの間のＬ、Ｃ、Ｒが小さくなる。 - 特許庁

To provide an IC socket preventing influence of noises by lessening the diameter of through holes in a printed circuit board and setting a wider area for wiring.例文帳に追加

プリント配線基板上のスルーホールの直径を小さくして、より広い配線面積を取ることによりノイズなどの影響を防止するＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

Since resistance can be reduced by increasing the cross-sectional area of the wiring part 123v, supply loss of the power system in the IC socket 102 can be restrained.例文帳に追加

配線部１２３ｖの断面積を大きして抵抗を小さくできるため、ＩＣソケット１０２内における電源系の供給損失を抑制できる。 - 特許庁

To stably measure an electric characteristic of a device such as an IC or the like by surely connecting a terminal of the device to the contact element of a socket.例文帳に追加

ＩＣ等のデバイスの端子を、ソケットの接触子に確実に接触させて、デバイスの電気的特性の測定を安定して行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide an IC socket coping with high frequencies and capable of precluding shaving of solder plating on a lead sheathing and also shaving of a board electrode.例文帳に追加

高周波対応を可能とし、リード外装半田メッキの削れ、及びボード電極の削れを防止するＩＣソケットを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a socket for a semiconductor device capable of retaining the semiconductor device without giving scratches on an outer peripheral surface of an IC package of the semiconductor device when holding the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を保持する場合、半導体装置のＩＣパッケージの外周面に擦り傷を与えることなく半導体装置を保持できること。 - 特許庁

To provide an IC socket with easy handling which can prevent a damage by a wear of a circuit board electrode without giving an influence on a high-frequency measurement.例文帳に追加

高周波測定への影響を与えることなく基板電極の摩耗によるダメージを防止でき、取り扱いの容易なＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

To allow electric inspection with a narrow external electrode pitch, while coping with high integration and size reduction in a semiconductor integrated circuit, in a contact probe for an IC socket.例文帳に追加

ＩＣソケットのコンタクトプローブにおいて、半導体集積回路の高集積化，小型化に対応して、狭外部電極ピッチで電気的検査を可能にする。 - 特許庁