「Testing Times」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In this compression fatigue testing method, the non-contact state of an indenter and a sample is provided one or more times during measurement.例文帳に追加

測定中に圧子と試料が非接触である状態を１回以上設けることを特徴とする圧縮疲労試験方法。 - 特許庁

To provide a satellite adjusting and testing system and method capable of dispensing with a number of times of preparation work and decomposing work for using a number of testing chambers, and dispensing with moving a satellite between the testing chambers by executing assemblage of the satellite and a lot of tests in a single testing chamber.例文帳に追加

衛星の組み立て及び多くの試験を単一の試験チャンバ内で実施することによって、多数の試験チャンバを使用する場合に必要な多数回の準備作業及び分解作業をなくし、衛星を試験チャンバ間で移動する必要をなくす、衛星調整−試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

For example, the amount of change of the voltage of the waveform for testing to the waveform for recording is set to 1.3 times of the voltage of the waveform for recording as the upper limit.例文帳に追加

例えば、記録用波形に対するテスト用波形の電圧の変化量は、記録用波形の電圧の１．３倍を上限とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of debugging a test program of a DSP (digital signal processor), any times as needed, by using a virtual environment.例文帳に追加

ＤＳＰのテストプログラムのデバッグをいつでも必要なときに仮想環境を用いて行うことができる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

By making the focused address not only the single address but also a designated address range, the total number of times of testing as a whole is reduced by performing screening testing for the address range in which the failure occurred when the failure occurs after the testing of the whole address range concerned.例文帳に追加

又、本発明は、着目アドレスを単一アドレスではなく所定のアドレス範囲とすることにより、当該全アドレス範囲の試験後に故障が発生した場合には、故障が発生したアドレス範囲についてスクリーニング試験を行うことにより、全体として試験回数を抑えることを目的とする。 - 特許庁

The second spring part 56 generates a load pressing a spring lower part 36 onto the board side 48 of an apparatus testing device, to thereby enable superior electrical contact, by pressing the housing and the board of the apparatus testing device onto the board with a constant load at all times.例文帳に追加

第二バネ部５６は、機器試験装置のボード側４８にスプリング下部３６を押し付ける荷重を発生させ、ハウジングと機器試験装置のボードとを常に一定の荷重でボードに押し付け良好な電気的接触が可能となる。 - 特許庁

Testing food material A is material A is dished out by a moderate weight according to the amounts of food ingested in the morning, noon and evening for the past several weeks of each subject as a tested subject, and testing food C for three days, that is, nine times in total is prepared.例文帳に追加

試験用食品素材（Ａ）を、検査の対象となる被験者１人１人の過去数週間の朝昼晩の摂食量に基づいて、適度な重量に取り分けると共に、３日分・計９回の試験用食品（Ｃ）を作る。 - 特許庁

An applying means 11b in the testing mode of a first circuit part 11 applies binary logic level voltage to a specific terminal of a first connector 11a alternately multiple times.例文帳に追加

第１の回路部１１の試験モード時印加手段１１ｂは、第１のコネクタ１１ａの特定の端子に２値の論理レベルの電圧を交互に複数回印加する。 - 特許庁

Since a plurality of smart card chips respond to stimulus at random times in some cases, the system is well adapted for testing of such the plurality of smart card chips.例文帳に追加

複数のスマートカードチップがランダムな時間に刺激に対して応答する場合があるので、そのシステムはそのような複数のスマートカードチップを検査するのに適応する。 - 特許庁

To provide a urine collection tube that makes the transporting of urine specimens easier and can reduce the number of transferring times of the urine specimen required for appropriately testing or assaying the specimen.例文帳に追加

尿標本の輸送を簡単にし、尿標本を適切にテストまたは分析するために必要な移し変えの回数を減少させる管を提供することを課題とする。 - 特許庁

To test a plenty of LEDs in several times without complexing and increasing a price of an apparatus, thereby reducing a time and labor required for testing.例文帳に追加

装置の複雑化及び高価格化を招くことなく、多数のＬＥＤを複数回に分けて試験することを可能し、それにより試験に要する時間及び労力を低減することにある。 - 特許庁

The required number of magnetic heads for testing can be mass-produced for a short time by performing the surface state reproducing step a plurality of times according to the number of descriptions of required reliability evaluation tests.例文帳に追加

表面状態再現工程を必要な信頼性評価試験の種類数に応じて複数回行えば必要な数の試験用磁気ヘッドを短時間で量産できる。 - 特許庁

To provide a main signal load testing device etc., capable of conducting a load test in the device even if the difference between the packet transfer processing capability in the device and the packet transmission and reception capability of a CPU is ≥255 times.例文帳に追加

装置内のパケット転送処理能力とＣＰＵのパケット送受信能力の差が２５５倍以上であっても、装置内での負荷試験が可能な主信号負荷試験装置等を提供する。 - 特許庁

This, in turn, allows manufacturing tolerances and alignment tolerances to be relaxed, test times and test complexity to be reduced, and overall manufacturing and testing costs to be reduced.例文帳に追加

このことは、今度は、製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。 - 特許庁

To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.例文帳に追加

チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.例文帳に追加

本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times are determined from the result of the testing erasure and registered in a memory 19 of the optical disk device.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定し、光ディスク装置のメモリ１９に登録する。 - 特許庁

The fibrils extending from the fibrillated rayon are interlaced with at least either of other fibril and other fiber, and the fiber sheet has a dry surface-friction strength of ≥3 times when measured by the JIS P-8136 abrasion resistance testing method.例文帳に追加

前記フィブリル化レーヨンから延びるマイクロファイバーが、他のマイクロファイバーと他の繊維の少なくとも一方に交絡して、繊維シートはＪＩＳ Ｐ８１３６の耐摩耗強さ試験方法における乾燥時の表面摩擦強度が３回以上である。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times according to the optimum erasure condition are determined from the result of the testing erasure.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、最適消去条件に従い各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定する。 - 特許庁

At testing, external input instruction of a plurality of number of times is inputted to a decoder circuit, selected results of each of external input instruction of the plurality of number of times inputted to the decoder circuit are held in a holding circuit, first selection lines to be selected out of a plurality of first selection lines in accordance with holding contents are selected in parallel.例文帳に追加

テスト時において、複数回の外部入力指示をデコーダ回路に入力し、デコーダ回路に対して入力された複数回の外部入力指示それぞれにおける選択結果を保持回路で保持し、保持内容に応じて複数の第１の選択線のうち選択対象とされた第１の選択線を並列に選択する。 - 特許庁

To provide an abnormality discrimination apparatus, an image forming apparatus, and a maintenance system correctly carrying abnormality discrimination for a testing object even when status information is not acquired for a specified number of times which is necessary for extracting featured values used for computing an index value.例文帳に追加

指標値を算出するために用いる特徴量を抽出するために必要な所定回数の状態情報が取得されていなくても、被検対象の異常判定を正しく行うことのできる異常判定装置、画像形成装置および保守システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a pattern generator capable of bringing a pattern storage capacity stored in the pattern generator equivalently into phase number times of an interleave, in a sequential pattern generation mode wherein a pattern generation mode is not accompanied with a repeating loop and the like.例文帳に追加

パターンの発生形態が繰り返しループ等を伴わないシーケンシャルなパターン発生形態の場合において、パターン発生器に格納できるパターン格納容量を等価的にインタリーブの相数倍にすることができるパターン発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To create basic data for product development, stock control and the like by recording and totaling kinds of cosmetics, number of times, time, dates etc., on which a customer tests at the cosmetics tester counter displaying various kinds of cosmetics used while the customer is testing the cosmetics.例文帳に追加

顧客が化粧品を試す際に用いられる種々の化粧品が配列されている化粧品テスターカウンタにおいて、顧客が試す化粧品の種類、回数、時間、日時等をホストコンピュータに記録し、それらを集計して、商品開発、在庫管理等の基礎データとする。 - 特許庁

The bending test for testing the number of times of bending of wires before disconnection due to bending is performed individually for wire 1 comprising the wire harness, then based on the individual results of the bending test for each wire, the bending life span for the whole wire harness is estimated.例文帳に追加

屈曲により断線に至るまでの屈曲回数を試験する屈曲試験を、前記ワイヤーハーネスを構成する各電線１に対して個別に行い、その各個別の電線１の屈曲試験結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの全体の屈曲寿命を推測する。 - 特許庁

A plurality of periodic time-stamp packets are transmitted to a communications apparatus of a receiver side with a testing transmission rate (R) set currently, and the variation trend of the transmission delay time difference between the time-stamp packets is evaluated, based on the respective times at which the time-stamp packets are received by the communications apparatus of the receiver side.例文帳に追加

複数の周期的なタイムスタンプパケットを、受信側の通信装置へ、現在設定されている試験伝送率(R)で伝送し、受信側の通信装置にタイムスタンプパケットのそれぞれが受信された時刻に基づいて、タイムスタンプパケット間の伝送遅延時間差の変化傾向を検査する。 - 特許庁

To provide a high-frequency low-power circuit technique which achieves with low consuming powers the necessary performances for respective circuit modules, and deals with the contractions of their design terms and testing times and the variations of their manufacturing processes, in an integrated circuit apparatus formed out of a plurality of CMOS circuit modules.例文帳に追加

複数のＣＭＯＳ回路モジュールで構成される半導体集積回路装置において、各回路モジュールが必要な性能を低消費電力で達成し、設計期間の短縮、テスト時間の短縮およびプロセス製造ばらつきへの対応を可能とする高性能低電力回路技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁

Adaptively adjusting the impulse response of the optical signal output from the laser in this way allows the optical TX to dynamically adapt to and compensate for a wide range of factors that typically cause performance degradation and result in reduced product yields, increased testing times, and increased test complexity, and higher costs.例文帳に追加

このようにレーザから出力される光信号のインパルス応答を適用性良く調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加や試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光ＴＸは動的に適応及び補償できるようにされる。 - 特許庁

In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁