「VISUAL DEFECT」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加

半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of easily, reliably detecting a defect such as a flaw and dirt on the surface of a cigarette.例文帳に追加

シガレットの表面における傷や汚れ等の欠陥を容易に、しかも確実に検出することのできる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The lens has the film composed of polythiourethane on the lens base material as main component whose surface defect can be observed by a visual inspection shown by JIS-T7313.例文帳に追加

JIS-T7313に示される視覚的な検査により表面欠陥が観察されるレンズ基材上にポリチオウレタンを主成分とする被膜を有するレンズ。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element capable of preventing complication of design, cost increase and a display defect and obtaining satisfactory visual angle characteristics without feeling rough surface of display even when a visual angle is inclined.例文帳に追加

液晶表示素子において、設計の複雑化やコストアップ、また表示不良の発生を防止でき、視角を傾けた場合でも表示のざらつき感を感じることなく、良好な視角特性が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

To allow visual inspection for a foreign matter and the like, in addition to pattern inspection, and to accurately inspect a defect mode as to a defect.例文帳に追加

本発明の課題は、パターン検査に加えて異物等の外観検査が可能で且つ欠陥がどのような欠陥モードなのかを正確に検査することができる金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

In this system, appearance defect information detected by the visual examination device and electrical defect information detected by a probe examination device are collated with a review process threshold and review- processed by an edition process means.例文帳に追加

外観検査装置で検出される外観的な欠陥情報およびプローブ検査装置で検出された電気的な欠陥情報を見直処理しきい値に照らして編集処理手段で見直処理すること。 - 特許庁

An image processing section 15 determines an inspection area based on the image for area thus picked up and detects a visual defect in the inspection area based on the inspection area thus determined and the image for defect thus picked up.例文帳に追加

画像処理部１５は、撮像された領域用画像に基づいて検査領域を決定し、決定した検査領域と撮像された欠陥用画像とに基づいて検査領域内の外観欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time for a visual inspection by an inspector by digitizing the result of the inspection of the distribution of the defect of a semiconductor element by analyzing the distribution by a computer.例文帳に追加

半導体素子の欠陥の分布をコンピュータで解析してその検査結果を数値化し、検査員による目視検査の時間を短縮する。 - 特許庁

To improve efficiency of visual inspection of a liquid crystal panel determined as a defective unit by automatic inspection, in a defect inspection system of the liquid crystal panel which includes automatic inspection.例文帳に追加

自動検査を含む液晶パネルの欠陥検査システムにおいて、自動検査で不良品と判定された液晶パネルの目視検査を効率化する。 - 特許庁

To provide a means capable of easily recognizing where the region is on the monitor screen in observing a defect region on a large substrate using a monitor device for visual inspection, and to provide a visual inspection system including the means.例文帳に追加

目視観察用のモニター装置を用いて、大型基板上の欠陥部位を観察するに当たり、当該部位が該モニター画面上のどこにあるのか容易に認識できる手段及びこの手段を備える目視検査システムを提供する。 - 特許庁

In a high-magnification inspecting step S4, the high-magnification inspecting image of the visual field region is acquired by positioning the position of the stored crystal defect in the visual field region so as to change an objective distance through the use of a high-power objective lens 14b.例文帳に追加

高倍率検査ステップＳ４では、高倍率の対物レンズ１４ｂを用いて、記憶された結晶欠陥の位置を視野領域の中に位置させて対物距離を変えて、視野領域の高倍率検査画像を取得する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a PTP packing machine capable of enhancing inspection precision, in particular, for a pocket part side, to enhance visual appearance quality of a PTP sheet, in defect inspection in a manufacturing process for the PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、特にポケット部側の検査精度の向上を図ることで、ＰＴＰシートの外観品質の向上を図ることができる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nicols method that is representative one for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査の代表的なひとつである、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥等が見づらくなることがなく、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and its visual inspection method of an aluminium extruded profile which determines easily and objectively whether an inspected aluminium extruded profile is a quality product or a defective product, by inspecting the aluminium extruded profile on whether a visual defect such as a streak is generated on the aluminium extruded profile.例文帳に追加

アルミニウム押出形材にストリーク等の外観欠陥が発生していないかどうかについてアルミニウム押出形材を検査し、検査したアルミニウム押出形材が良品か不良品かを容易にかつ客観的に判定することができるアルミニウム押出形材の外観検査装置及びその外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual function disorder improving agent, particularly a visual function disorder improving agent that has the effects of promoting axon extension in retinal gangliocyte and promoting regeneration of optic nerve cells and is useful in treating visual function disorders in association with various eye diseases caused by damage, defect, degeneration, etc., in retina and optic nerves.例文帳に追加

視覚機能障害改善剤の提供、特に網膜神経節細胞の軸索伸展促進作用、視神経細胞の再生促進作用を有し、網膜や視神経の損傷や欠損、変性等に起因する種々の眼疾患に伴う視覚機能障害の治療に有用な視覚機能障害改善剤等の提供。 - 特許庁

To provide a visual inspection method of a transparent sheet for reducing a frequency at which a defect is overlooked even if the transparent sheet is not inspected on front and back surfaces.例文帳に追加

透明シートを表裏反転させて検査しなくても、欠陥を見逃してしまう頻度を低下することができる透明シートの目視検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device equipped with an image processing device capable of performing defect detection processing highly accurately, even when the image width of an input image is changed.例文帳に追加

入力画像の画像幅が変化しても、高い精度にて欠陥検出処理を行うことができる画像処理装置を備えた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

When the defect parts are the foreign matters adhered on the surface, the apparatus distinguishes between the vanishing points and the foreign matters since the color arrangement of pixels reflected in a background by the visual angles changes.例文帳に追加

欠陥部位が表面に付着した異物の場合には、視角によって背景に写り込む画素の色配列が変わるため、滅点と異物とを区別することができる - 特許庁

To provide a liquid crystal display element where a display defect due to light leakage from an oblique visual field angle is improved, high quality is realized and the manufacturing cost is not increased.例文帳に追加

斜め視野角からの光漏れによる表示不良を改善し、高品位な液晶表素子を実現し、かつコストアップにもならない液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To eliminate defects of a solder ball and a connection defect without requiring mounting facility with high precision and also eliminate man-hours for visual inspection and later adjustment.例文帳に追加

はんだボール及び接続不良による不具合をなくすと共に、高精度な実装設備を不要とし、かつ目視検査及び手直し作業にかかる労力を不要とする。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method.例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。 - 特許庁

After the semiconductor chip is mounted an each device area followed by bonding using a bonding wire 6, a visual inspection such as on discontinuity of the bonding wire 6, is performed and a defect mark FM is posted onto the surface of the semiconductor chip 4 having a assembly-related defect.例文帳に追加

各々のデバイス領域に半導体チップ４を搭載して、ボンディングワイヤ６によるボンディング後、ボンディングワイヤ６の断線などの外観検査を行い、組み立て不良がある半導体チップ４の表面に不良マークＦＭを貼り付ける。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

To rationalize visual inspection, to provide an electronic photographic member of high quality, and to provide an image of high quality, by concurrently detecting automatically generation of an interference fringe and an appearance defect in the electronic photographic member, without depending on visual observation.例文帳に追加

電子写真感光体の干渉縞の発生と外観欠陥とを同時に目視に依らず自動で検知することにより、目視検査を合理化し、高品質な電子写真感光体を提供し、更には高画質の画像を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a system for defect classification capable of shortening the work time of the visual examination of a product determined to be defective by an automatic inspection machine in a manufacturing process of a color filter or the like and capable of efficiently performing the input work of defect classification data.例文帳に追加

カラーフィルタ等の製造工程において、自動検査機で不良と判定された製品についての目視検査の作業時間を短縮するとともに、不良区分情報の入力作業を効率良く行うことができる不良分類システムを提供する。 - 特許庁

To surely mark a defect position so as to encircle a defect of pressing flaw, scratch, etc., generated in rolling and to easily identify presence/absence and the defective positions of a steel plate in visual inspection.例文帳に追加

圧延時に生じた押し疵や擦り疵等の欠陥を囲むように欠陥位置を示すマーキングを鋼板表面に確実に施すことができ、この結果、客先での鋼板の目視検査時において、鋼板に存在する欠陥の有無および位置を容易に認識することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device capable of performing accurate visual inspection by preventing misunderstanding dust or the like on the outside face of a substrate as an internal defect.例文帳に追加

基板外面上の塵埃等を内部欠陥と誤認することを防止することにより、正確な外観検査を行うことのできる検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a manufacturing method or the like, capable of detecting a cord having a defect in a coil or the like, without depending on a visual sense in the process of manufacturing a non-contact type IC card on a substrate in a multiple way.例文帳に追加

基材に非接触型ＩＣカードを多面で製造する工程において、コイル等に欠陥のあるカードを視覚によらず検知できる製造方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for visual inspection of a photomask to improve the throughput of inspection without generating a pseudo defect, and to prevent decrease in guaranteed accuracy of an inspection apparatus.例文帳に追加

疑似欠陥を発生させないで、検査処理のスループット向上を図り、検査装置の保証精度を低下させないフォトマスクの外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspecting device capable of detecting a defect of an aperture grill, which has been performed by a complicated visual inspection by an inspecting person, in relatively simple structure and operation.例文帳に追加

検査者による煩雑な目視検査により行われていたアパーチャグリルの欠陥の検出を、比較的簡単な構成および動作により行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

This visual inspection method includes determination concerning whether a defect extracted from inside an inspection domain of an image 21A of an inspection object 11a by comparison with a template 21A is acceptable or not.例文帳に追加

被検査体１１ａの画像２１Ａの検査領域上からテンプレート（２１Ａ）との比較によって抽出された欠陥が許容内か否かを判定することを含む外観検査方法。 - 特許庁

To provide a liq. crystal display device with a lateral electric field system having excellent image quality with coloring by variation of visual angle direction reduced and preventing reduction of aperture rate and generation of a defect to the minimum.例文帳に追加

視角方向の変化による色付きが少なく、画質が優れ、開口率の低下や欠陥の発生を最小限にとどめた横電界方式液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an equipment and a method for visual inspection in which an inspection area can be determined accurately and a defect in the inspection area can be detected with high accuracy.例文帳に追加

検査領域を正確に決定することができるとともに、検査領域内の欠陥を高精度で検出することができる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a support system which is made efficient by a method wherein an observation operation for confirming the shape of an external appearance defect is narrowed down properly from an enormous number of defects detected by the high sensitivity of a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置の高感度化により検出された膨大な欠陥数から、外観不良の形状を確認する観察作業を適切に絞り込み、効率化を図ること。 - 特許庁

The inspection supporting system sorts each defect detected with an inspection apparatus conforming to a plurality of inspecting conditions in accordance with combinations of the inspecting conditions for detecting respective defects, and calculates for each sorting visual distribution of the inspection objects of the defect belonging to each sorting on the basis of the location information of the defect belonging to the relevant sorting.例文帳に追加

本検査支援システムは、複数の検査条件によって検査装置が検出した各欠陥を、その欠陥が検出された検査条件の組み合わせで分類し、各分類ごとに、その分類に属する欠陥の、検査対象の外観上における分布を、当該分類に属する欠陥の位置情報に基づき算出する。 - 特許庁

To provide a method and device for visual inspection of electronic components which can securely surely decide only a real defect, without being affected by unevenness, sealed characters, etc., included in a photographed image of the package of electronic components and the recording medium, where the program for enabling a computer to actualize the visual inspection processing is recorded.例文帳に追加

電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむらや捺印文字等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる、電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a defect limit specimen tool for visual inspection of an eyeglass lens that easily and certainly inspects whether there is a defect that has adverse effect on the field of view in a predetermined region and reduces the influence of an inspecting person on the inspection results.例文帳に追加

所定の領域内に視野を害する欠陥があるか否かを容易かつ確実に検査することができ、また検査者の検査結果への影響を低減することができるようにした眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, the visual inspection of a multiple layers phase defect becomes possible by an easy and practical through-put in a hole pattern which cannot be inspected easily by a mask inspection, and the yield is improved by supplying a defect free mask which is performed with a defective relief according to classification of the cause of failure.例文帳に追加

これにより、マスク検査では容易に検査できないホールパターンにおける、多層膜位相欠陥を容易かつ実用的なスループットで外観検査が可能となり、欠陥の原因の分類に応じた欠陥救済を行った無欠陥マスクを供給することで歩留まりが向上する。 - 特許庁

To provide an oxygen indicator free from visual defect in an oxygen indicator part even under the condition where a packing material inside is highly humid, and having a sufficient response speed, and a package arranged therewith.例文帳に追加

本発明の酸素インジケータは、包材内部が高湿状態でも酸素インジケータ部の外観不良が無く、十分な応答速度を有する酸素インジケータおよびそれを配置した包装体を提供する。 - 特許庁

To easily inspect a high pressure gas vessel in a short time, positively inspecting a dangerous defect apt to be overlooked in visual observation, without depending on individual criterion.例文帳に追加

個人の判断基準に依存することなく、また目視では見落としがちな危険な欠陥を確実に点検でき、さらに簡単で短時間に高圧ガス容器の検査を行うことができるようにする。 - 特許庁