| 意味 | 例文 |
buffer-layerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2214件
The buffer layer is provided between the source electrode layer and the drain electrode layer, and the semiconductor layer forming the channel formation region, and is provided particularly for relaxing the electric field in the vicinity of a drain edge and improving the withstanding voltage of the transistor.例文帳に追加
バッファ層は、チャネル形成領域を形成する半導体層とソース電極層及びドレイン電極層との間にあって、特にドレイン端近傍の電界を緩和して、トランジスタの耐圧を向上させるように設けられる。 - 特許庁
Further, heat treatment is performed after the transparent electrode layer is formed to repair defects such point defects present in the crystal structure of a buffer layer, a light absorbing layer, or the transparent electrode layer for restoration of the original crystal structure.例文帳に追加
さらに、透明電極層を形成した後に熱処理を施し、バッファ層ないし光吸収層、又は透明電極層の結晶構造中に存在する点欠陥等の欠陥を修復して元の結晶構造に復元する。 - 特許庁
A p-type layer 12 and an n-type layer 11 that become a barrier layer are provided, the leakage of a hole in negative biasing accompanying a p-type layer buffer required for increasing a breakdown voltage is suppressed, and a hole in positive biasing can be efficiently discharged.例文帳に追加
バリア層となるp型層12及びn型層11を設け、高耐圧化へ必要なp型層バッファに付随する負バイアス時のホールのリークを抑制し、また正バイアス時のホールの排出を効率的に行うことができる。 - 特許庁
A semiconductor device 1 includes a substrate 2 which has an off angle of 50° to 65° relative to a plane direction [0001] and is made of silicon carbide, a buffer layer 21, and an active layer (an epitaxial layer 3, a p-type layer 4, and n+ regions 5 and 6).例文帳に追加
半導体装置1は、面方位{0001}に対しオフ角が50°以上65°以下である、炭化ケイ素からなる基板2と、バッファ層21と、活性層(エピタキシャル層3、p型層4、およびn+領域5、6)とを備える。 - 特許庁
The high frequency module is equipped with a multilayered board 15 which has: an inner layer flat ground 25 formed of a ground plane continuing to the inner layer; an RF circuit 4 mounted on one surface of a layer surface; and a digital circuit such as a buffer 8 mounted on the other surface of the layer surface.例文帳に追加
内層に連続したグランドプレーンからなる内層ベタグランド25を有し、一方の表層面にRF回路4を搭載し、他方の表層面にバッファ8等のデジタル回路を搭載した多層基板15を備える。 - 特許庁
A laminate structure of InP buffer layer 14, an active layer 16, a InP spacer layer 18 in the thickness of 200 nm, a GaInAs diffraction grating 20, and a InP clad layer 22 embedding the diffraction grating is provided on a InP substrate 12.例文帳に追加
InP基板12上に、InPバッファ層14、活性層16、膜厚200nmのInPスペーサ層18、のGaInAs回折格子20、及び回折格子を埋め込んだInPクラッド層22の積層構造を備える。 - 特許庁
In an electrode structure 30 for a fuel cell including an electrolyte membrane 1, a catalyst layer 2, and water repellent layer 3 in this order, a hydrophilic buffer layer 7 absorbing water in a low capillary pressure grade is formed adjacent to the catalyst layer 2.例文帳に追加
電解質膜1、触媒層2、及び撥水層3を、この順に含む燃料電池用の電極構造体30において、低毛管圧勾配で水を吸収する親水性バッファー層7を、触媒層2に隣接して形成する。 - 特許庁
To provide a method of forming a nitride semiconductor layer which crystal-grows a flat non-polarity nitride semiconductor layer having high quality without interposing a low-temperature buffer layer between a sapphire substrate and the nitride semiconductor layer.例文帳に追加
サファイア基板と窒化物半導体層との間に低温バッファ層を介在させることなく、平坦で高品質の無極性窒化物半導体層を結晶成長させる窒化物半導体層の形成方法を提供する。 - 特許庁
The relation of a distance Ls between a base layer (5), formed on the surface of a drift layer (3) and an n-type buffer layer (2) and film thickness t of a semiconductor substrate (10) formed contacting the drift layer (3), is set at Ls≤t≤2×Ls.例文帳に追加
ドリフト層(3)表面に形成されるベース層(5)とn型バッファ層(2)との間の距離Lsと、このドリフト層(3)に接して形成される半導体基板(10)の膜厚tとの関係を、Ls≦t≦2・Lsに設定する。 - 特許庁
The GaP light emitting device 1 has a structure of laminating an n-type GaP buffer layer 11, an n-type GaP layer 12, an N dope n-type GaP layer 13, and a p-type GaP layer 14 on an n-type GaP mono-crystal substrate 10.例文帳に追加
GaP発光素子1は、n型GaP単結晶基板10上に、n型GaPバッファ層11、n型GaP層12、Nドープn型GaP層13、p型GaP層14が積層された構造を有する。 - 特許庁
Further, a p-type weak anode layer arranged adjacently to the surface of the bottom of the buffer layer 30, and a rear side metallic contact (laminated structure of 23-26) connected to the weak anode layer, are formed.例文帳に追加
また、バッファー層30底部表面に隣接するように配置されたPタイプの弱アノード層と前記弱アノード層に接続する裏面側金属接点(23,24,25,26の積層構造)を備える。 - 特許庁
A p-type InP buffer layer 2, an active layer 3, and an n-type InP clad layer 4 formed on a p-type InP substrate 1 are processed through a first dry etching process for the formation of a ridge 6.例文帳に追加
p型InP基板1の上に形成された、p型InPバッファ層2、活性層3およびn型InPクラッド層4を第1のドライエッチングにより加工して、リッジ部6を形成する。 - 特許庁
Preferably, a backer material 60 composed of two layers of a nonwoven fabric layer 61 functioned as a buffer material and a resin foam layer 62 functioned as a heat insulating layer, is stacked on the rear face of each panel.例文帳に追加
好ましくは、各パネルの裏面には、緩衝材として機能する不織布層61と断熱層として機能する樹脂発泡体層62の2層からなるバッカー材60が積層される。 - 特許庁
An In_x1Ga_1-x1As layer is grown on a GaAs substrate 101 as a first layer buffer layer 102, which has lattice mismatch within a range keeping two dimensional growth for a base.例文帳に追加
GaAs基板101上に1層目のバッファ層102として下地に対し2次元成長を保つ範囲の格子不整合性を有するIn_x1Ga_1−x1As層を成長させる。 - 特許庁
The light receiving element is made by forming an n-InP buffer layer 102, an n-InGaAs optical absorption layer 103, and an n-InP window layer 104 in sequence on an InP substrate 101.例文帳に追加
本発明に係る受光素子は、InP基板101上に、n−InPバッファ層102、n−InGaAs光吸収層103、n−InP窓層104が順次形成されている。 - 特許庁
The epitaxial wafer for the field effect transistor comprises an InGaN low-temperature deposit layer 5 provided on the sapphire substrate 6, and GaN field effect transistor structures 1 to 3 provided on the layer 5 via a GaN buffer layer 4.例文帳に追加
サファイア基板6上にInGaN低温堆積層5を設け、そのInGaN低温堆積層5上に、GaNバッファ層4を介して、GaN系電界効果トランジスタ構造1〜3を設ける。 - 特許庁
Here, since the insulator 12 is embedded in the groove 11 which separates the buffer layers 5, the N-type clad layer 6, the MQW active layer 7 and the P-type clad layer 8 do not grow on the groove 11.例文帳に追加
このとき、バッファ層5を分離する溝11に絶縁体12が埋設されているので、溝11上には、N型クラッド層6、MQW活性層7およびP型クラッド層8が成長しない。 - 特許庁
The via hole is formed, where the via hole passes through the insulation region of a semiconductor layer and a buffer layer from the surface side of the semiconductor layer having an active region and the insulation one to a semiconductor substrate.例文帳に追加
活性領域と絶縁領域とを有する半導体層の表面側から、この半導体層の絶縁領域およびバッファ層を貫通して半導体基板に至るバイア・ホールを形成する。 - 特許庁
An n-type GaAlAs buffer layer 14, an n-type GaAs substrate 16, an n-type GaAlAs clad layer 18, and a GaAs active layer 20 (emission region) are formed on an n-type electrode 12.例文帳に追加
n形電極12上にn型GaAlAsバッファ層14、n形GaAs基板16、n形GaAlAsクラッド層18、GaAs活性層20(発光領域)が形成されている。 - 特許庁
The optical disk has at least the reflection layer 1003 on the substrate 1001 and performs reproduction of information by irradiation with light, wherein a buffer layer 1002 is provided between the substrate 1001 and the reflection layer 1003.例文帳に追加
基板1001上に少なくとも反射層1003を有し、光の照射により情報の再生を行う光ディスクにおいて、基板1001と反射層1003との間に緩衝層1002を設けたことを特徴とする光ディスク。 - 特許庁
A lower transparent panel substrate 20 has a TFT forming layer 40 formed on a buffer layer 32 on a lower glass substrate 30, and a flattening film 44 is formed on its gate film layer 36.例文帳に追加
下側の透明パネル基板20において、下ガラス基板30上のバッファ層32の上にTFT形成層40が形成され、そのゲート膜層36の上に平坦化膜44が形成される。 - 特許庁
The epitaxial substrate 1 is produced by successively epitaxially growing a target group III-nitride layer 13, an interlayer 14 and a group III-nitride layer 15 on a substrate 11 through a buffer layer 12.例文帳に追加
エピタキシャル基板1は、基材11の上に、バッファ層12を介して、目的とするIII族窒化物層13、中間層14およびIII族窒化物層15を順次エピタキシャル成長させることにより作製される。 - 特許庁
The epitaxial substrate 1 is made by depositing an underlying layer 12, a buffer layer 13, and a designed group-III nitride layer 14 on a base material 11 in order by epitaxial growth using the MOCVD method.例文帳に追加
エピタキシャル基板1は、下地層12、バッファ層13および目的とするIII族窒化物層14を基材11上にMOCVD法を用いて順次にエピタキシャル成長させることにより得られる。 - 特許庁
Thus, when a breakdown voltage is applied as a reverse-bias voltage, a depletion layer is stopped in the N cathode buffer layer 4 and is prevented from reaching the N^+ cathode layer 3, thereby suppressing leakage current.例文帳に追加
それによって、逆バイアス電圧として耐圧が印加されたときに、空乏層をNカソードバッファ層4の途中で止め、空乏層がN^+カソード層3に到達するのを防ぎ、漏れ電流を抑制する。 - 特許庁
A transport layer 403 reports the remaining size of a reception buffer of a receiver side device to a power supply control section 405 and a session layer/application layer 404 reports the data transfer rate to the power supply control section 405.例文帳に追加
トランスポート層403は受信側デバイスの受信バッファの残りサイズを電源制御部405に報告し、セッション層/アプリケーション層404は電源制御部405にデータ転送レートを報告する。 - 特許庁
The high breakdown voltage semiconductor device is characterized in that a low concentration collector diffusion layer of a first conductivity type is formed in a second conductivity type collector buffer layer so as to enclose a first conductivity type high concentration collector diffusion layer.例文帳に追加
第2導電型コレクタバッファ層内に第1導電型高濃度コレクタ拡散層を包囲するように第1導電型の低濃度コレクタ拡散層が形成されていることを特徴とする。 - 特許庁
Furthermore, the buffer layer 60 has a light refractive index larger than that of the low refractive index layer 31, and has a thickness larger than that of the low refractive index layer 31.例文帳に追加
また、緩衝層60の光屈折率は低屈折率層31の光屈折率よりも大きくなっており、かつ、緩衝層60の厚みは低屈折率層31の厚みよりも大きくなっている。 - 特許庁
This method also includes a step in which a buffer layer 108 to alleviate the impact applied to the printing layer when the opening is formed is locally provided in the periphery of the opening formation region in contact with the printing layer.例文帳に追加
開口部を設ける際に印刷層に加わる衝撃を緩和する緩衝層108を、開口部形成領域の周囲に印刷層に接して局所的に設ける工程を有する。 - 特許庁
On a 1st inter-layer insulating film 116 formed on the switching element, a buffer layer 117 for lattice matching between the 1st inter-layer insulating film 116 and the ferroelectric thin film is formed.例文帳に追加
スイッチング素子の上に形成された第1の層間絶縁膜116の上には、該第1の層間絶縁膜116と強誘電体薄膜との格子整合をとるバッファ層117が形成されている。 - 特許庁
Next, a buffer layer including a brittle layer in which the glass is deteriorated by irradiating a gas cluster ion or a coating layer whose surface is coated with a soft substance is formed on the surface of the glass substrate.例文帳に追加
次に、ガラス基板の表面に、ガスクラスタイオンを照射することによりガラスを劣化させた脆性層、又は柔軟な物質で表面を被覆した被覆層からなる緩衝層を生成する。 - 特許庁
A ground adhesive layer 4 is formed on the ground 1 of a sealed ground by coating, a buffer layer 5 is formed thereon by coating, and a water sealing layer 6 consisting of a polyurethane resin is formed thereon by coating.例文帳に追加
被遮水地の下地1上に、下地接着層4を塗布により形成し、その上に緩衝層5を塗布により形成し、その上にポリウレタン樹脂からなる遮水層6を塗布により形成する。 - 特許庁
The thermal buffer layer 25 is formed by winding up a semiconductive cushion tape from the external semiconductive layer 4 of a cable to the external semiconductive layer 24 at the joint such that the outside diameter becomes uniform.例文帳に追加
熱的緩衝層25は、半導電性クッションテープをケーブルの外部半導電層4から接続部の外部半導電層24にかけて外径が一様になるように巻き上げて形成する。 - 特許庁
The buffer thin film layer 3c is made to be composed of either a material whose electroconductivity is higher than that of the organic layer 6 among oxides of the metallic material constituting the metallic material layer 2c or an oxide of chromium.例文帳に追加
緩衝薄膜層3cは、金属材料層2cを構成する金属材料の酸化物のうち有機層6よりも導電性の高い材料か、クロムの酸化物からなることとする。 - 特許庁
An ohmic contact is formed by intentionally providing a buffer layer having a higher carrier concentration than an IGZO semiconductor layer between the IGZO semiconductor layer and the source and drain electrode layers.例文帳に追加
ソース電極層及びドレイン電極層とIGZO半導体層との間に、IGZO半導体層よりもキャリア濃度の高いバッファ層を意図的に設けることによってオーミック性のコンタクトを形成する。 - 特許庁
The negative electrode assembly 104 has a three-layered structure in which a negative electrode 106 is covered with a waterproof layer 110 and in which a buffer layer 108 is interposed between the negative electrode 106 and the waterproof layer 110.例文帳に追加
負極複合体104は、負極106を耐水層110で被覆し、負極106と耐水層110との間に緩衝層108を挿入した三層構造を有する。 - 特許庁
The performance monitor circuit and the performance monitor method are equipped with a buffer, stored a received packet in the transaction layer of a PCI Express in the buffer, and connected to the PCI express component transmitting the packet stored in the buffer.例文帳に追加
バッファを備え、受信したPCI Expressのトランザクション層のパケットをバッファに格納し、バッファに格納されたパケットを送信するPCI expressコンポーネントと接続する性能モニタ回路及びそのモニタ方法である。 - 特許庁
A buffer layer 15 where a housing opening 15a housing the IC chip 20 is formed is arranged on the coil 13.例文帳に追加
アンテナコイル13上に、ICチップ20を収納する収納開口15aが形成されたバッファ層15が配置される。 - 特許庁
SiN buffers 12 are dispersedly formed on the surface of a board 10, on which a low-temperature GaN buffer layer 14 is formed.例文帳に追加
基板10上にSiNバッファ体12を離散的に形成し、その上に低温GaNバッファ層14を形成する。 - 特許庁
On the surface of a light-transmissive substrate, a projecting light taking-in member is formed directly or through a buffer layer.例文帳に追加
光透過性基板の表面上に直接又はバッファ層を介して凸状の光取り込み部材を形成する。 - 特許庁
SiN buffers 12 are dispersedly formed on the surface of a board 10, and a low-temperature GaN buffer layer 14 is formed thereon.例文帳に追加
基板10上にSiNバッファ体12を離散的に形成し、その上に低温GaNバッファ層14を形成する。 - 特許庁
After the temperature is stabilized, the n-type GaN buffer layer 5, having a thickness of 1 μm, is further grown on the substrate 1.例文帳に追加
温度が安定した後に、更に厚さ1マイクロメートルのn型GaNバッファ層5を基板1上に成長する。 - 特許庁
The buffer layer 50 is formed of a material excluding resin and softer than the inorganic insulating layers 60, 62.例文帳に追加
緩衝層50は、樹脂を除く材料であって、無機絶縁層60,62よりも柔らかい材料から形成されてなる。 - 特許庁
To provide an inexpensive method of manufacturing organic EL elements suppressing leaks between a buffer layer and a second electrode.例文帳に追加
バッファ層と第2電極との間のリークを抑止した有機EL素子を低コストに製造する方法を提供する。 - 特許庁
When a buffer layer formed of ZrN is formed on a silicon substrate, the crystallinity of ZrN becomes extremely high.例文帳に追加
シリコン基板上にZrNからなるバッファ層を設けた場合に、当該ZrNの結晶性が極めて高くなる。 - 特許庁
In the case of SiC, the epitaxial growth of the buffer layer is effected at a temperature of 500-900°C at a speed of 0.1-1μm/h.例文帳に追加
SiCの場合、500〜900℃の温度でかつ0.1〜1μm/hの速度でバッファー層をエピタキシャル成長させる。 - 特許庁
The surface of the solid electrolyte 4 is texture-processed, and the texture-processed surface is in contact with the buffer layer 3.例文帳に追加
該固体電解質4の表面はテクスチャ加工が施され、該テクスチャ加工された表面が該緩衝層3と接する。 - 特許庁
The micro-cavity structure 14 is structured of a half mirror 16, a buffer layer 17, and a half mirror 18 sequentially formed on the base plate 12.例文帳に追加
マイクロキャビティ構造14は、基板12上に順に形成されたハーフミラー16と、バッファ層17と、ハーフミラー18とで構成されている。 - 特許庁
The extracted background images with a single layer and a plurality of layers are stored in a background buffer, and updated for each frame (S3).例文帳に追加
抽出された単層および複数層の背景画像を背景バッファに保存し、フレームごとに更新する(S3)。 - 特許庁
After the temperature is stabilized, an n-type GaN buffer layer 5 of a 1 micrometer thickness is further grown on the substrate 1.例文帳に追加
温度が安定した後に、更に厚さ1マイクロメートルのn型GaNバッファ層5を基板1上に成長する。 - 特許庁
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