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depth direction analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 34



例文

DEPTH DIRECTION ANALYSIS METHOD例文帳に追加

深さ方向分析方法 - 特許庁

DEPTH DIRECTION ANALYSIS METHOD OF SAMPLE例文帳に追加

試料の深さ方向分析方法 - 特許庁

DEPTH DIRECTION ANALYSIS METHOD OF ELEMENT例文帳に追加

元素の深さ方向分析方法 - 特許庁

To provide a measuring method which enables an accurate surface analysis in a depth direction.例文帳に追加

深さ方向の表面分析が正確にできる測定方法を提供する。 - 特許庁

例文

IMPURITY ANALYSIS METHOD IN DEPTH DIRECTION OF SEMICONDUCTOR WAFER BY ELECTROCHEMICAL METHOD例文帳に追加

半導体ウェーハの電気化学法による深さ方向の不純物分析方法 - 特許庁


例文

To provide an analysis device that can perform highly precise analysis by taking an influence of a particle located in the depth direction into consideration, in magnetization distribution analysis for each particle in a two-dimensional cross section.例文帳に追加

2次元断面内にある各粒子の磁化分布の解析において、奥行き方向にある粒子の影響を考慮することにより精度よく解析する解析装置を提供する。 - 特許庁

In the measuring process, using a glow discharge light emission analysis method, concentration distribution of a component element in the depth direction from the surface of the sample S is measured.例文帳に追加

測定工程では、グロー放電発光分析法を用いて、試料Sの表面からの深さ方向における成分元素の濃度分布を測定する。 - 特許庁

In this laminate including at least a pair of mutually contacting layers, a detection peak of 0.01 to 0.7 μm in terms of a full width at a half maximum, with regard to a depth in which an interface region of the mutually contacting layers is recognized when an element quantitative analysis in the depth direction by a glow discharge emission spectroscopic analysis process is performed.例文帳に追加

少なくとも1対の相接する層を有する積層体であって、グロー放電発光分光分析法による深さ方向の元素定量分析において、前記相接する層の界面領域が存在する深さに、半値全幅0.01〜0.7μmの検出ピークが認められる積層体。 - 特許庁

To suppress a diffusion phenomenon of a metal element induced by oxygen ion beam irradiation as primary ion used for analysis, concerning a depth direction analysis method of the metal element and a secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加

金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。 - 特許庁

例文

Acquired OCT raw signals are provided for a data processing and determiner 50 to perform profile computation processing in the depth direction of reflectance (S1), profile analysis processing in the depth direction of reflectance (S2), and determination processing (S3) as data processing and determination processing.例文帳に追加

得られたOCT生信号は、データ処理および判定部50へ与えられて、データ処理および判定処理として、「反射率の深さ方向のプロファイル算出処理」(S1)、「反射率の深さ方向プロファイル解析処理」(S2)および「判定処理」(S3)が行われる。 - 特許庁

例文

A 2D FFT process section 20 executes a frequency analysis of reception signals, which are repeatedly acquired from the interior of a range gate defining the depth range in a subject, in each of the depth direction and the repetition direction to acquire a two-dimensional power spectrum of Doppler frequency.例文帳に追加

2DFFT処理部20は、被検体内における深さの範囲を定めたレンジゲート内から繰り返し得られる受信信号について、深さ方向と繰り返し方向の各々に関する周波数解析を行うことにより、ドプラ周波数の2次元パワースペクトルを得る。 - 特許庁

The glow discharge analysis apparatus 1 analyzes components in a depth direction of the sample S by sputtering to a surface of the sample S using a glow discharge, and has a display 35 for displaying a depth component ratio graph 36 for indicating so as to correspond an average of the component ratio of each layer classified by the component ratio of each region of the sample to a location in the depth direction.例文帳に追加

グロー放電による試料S表面へのスパッタリングを用いて試料Sの深さ方向の成分分析を行なうグロー放電分析装置1であって、試料の各部の成分比によって層に分類した各層の成分比の平均を、深さ方向の位置に対応させて表わす深さ成分比グラフ36の表示部35を有する。 - 特許庁

The copper foil includes a surface treatment layer which has at least a part of a copper foil surface with azole-based compound and C=O and N and C detection amount obtained by detecting N and C through depth-direction analysis by XPS, and which has an average value D_0 of 2.0-5.0 nm in a depth range larger than a background level.例文帳に追加

銅箔表面の少なくとも一部にアゾール系化合物及びC=Oを有する表面処理層が形成され、XPSによる深さ方向分析で、N及びCを検出し、且つ、N及びC検出量がバックグラウンドレベルよりも大きい深さ範囲の平均値D_0が2.0〜5.0nmである銅箔。 - 特許庁

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.例文帳に追加

試料片8をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第1平面5sの表面にある分析対象面12を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面4の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁

To acquire component composition and concentration distribution in a depth direction with high sensitivity on additives, mainly an aromatic plasticizer that appears in the Raman spectrum, in an analysis of triacetyl cellulose.例文帳に追加

トリアセチルセルロースの分析において、ラマンスペクトルに現れる添加剤、主に芳香族系可塑剤について、高感度に、深さ方向の成分組成や濃度分布の把握を可能にする。 - 特許庁

To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analytical method and device for analyzing progress of surface crack capable of taking the difference between crack progress characteristics in the depth direction and on the surface into consideration, in order to progress analysis for the surface crack of a structural member.例文帳に追加

構造部材の表面き裂の進展解析について、深さ方向と表面上でのき裂進展特性の違いを考慮することが可能な表面き裂の進展解析方法および装置を提供する。 - 特許庁

The oil well pipe screw joint has a constitution that making a residual stress of the bottom of the screw in the axial direction in the depth between the surface reaches to 40μm minus 400 MPa or smaller as a value of the X-ray stress analysis.例文帳に追加

ネジ底部の軸方向残留応力が表面から40μmまでの深さの間、X線応力解析での値として−400MPa以下にする。 - 特許庁

To provide an element analysis method which enables the measurement of a concentration distribution of elements contained in metal samples in the depth direction with a high degree of accuracy by means of a secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

二次イオン質量分析法により金属試料に含まれる元素の深さ方向の濃度分布を高精度に測定可能な元素分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray fluorescence spectrometer capable of carrying out a sufficiently accurate analysis of coating weights and compositions of a plated coating on an alloyed hot-dip galvanized steel plate having the compositions nonuniform in the depth direction.例文帳に追加

合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光X線分析装置を提供する。 - 特許庁

To measure setting depth or physical condition of a stick member like a guardrail post through measurement and analysis of the elastic wave (compressional wave) in the longitudinal direction caused by hammering a received oscillator attached on buried stick member.例文帳に追加

埋設された棒部材に受振子を取り付けハンマーなどの打撃による長さ方向の弾性波(疎密波)を測定し分析することで、ガードレール支柱のような棒部材の根入れ深さもしくは物理的状態を測定可能とする。 - 特許庁

Whether a variability in intensity of the main metallic elements obtained is within a predetermined domain is determined (S110), and when it is within the predetermined domain, the primary ion incident angle is decided as the primary ion incident angle for analyzing the element of analysis object (S114), and finally the depth direction analysis is implemented (S116) of the element of analysis object.例文帳に追加

得られた主要金属元素の強度の変動率が所定の範囲内か否かを判断し(S110)、所定の範囲内の場合はその一次イオン入射角度を分析対象の元素を分析するための一次イオン入射角度に決定し(S114)、分析対象の元素の深さ方向分析を行う(S116)。 - 特許庁

To provide a corneal opacity analysis apparatus allowing an operator to grasp the degree of existence of opacity in the direction of thickness of a cornea on the whole cornea at a glance for selecting the kind of operation and determining the depth of resection of the cornea.例文帳に追加

混濁が角膜の厚み方向にどの程度存在するのかを角膜全体について一目で把握することができ、手術の種類の選択や角膜の切除深さの決定判断等に供することができる角膜混濁解析装置を提供すること。 - 特許庁

Because the ratio of ions of a kind included in an ion beam 31 can be determined, the simulation of ion distribution in the implantation depth direction can be performed, when a shower-type ion implantation device 5 for executing ion implantation without carrying out the mass spectrometry analysis is used.例文帳に追加

イオンビーム31中のイオン種の割合が分かるので、質量分析せずにイオン注入を行うシャワー型イオン注入装置5を用いた場合に、注入深さ方向のイオン分布のシミュレーションを行えるようになる。 - 特許庁

To make clear a standard related to the lowering degree of energy in a situation that oxygen primary ions are irradiated with low energy to reduce the effect of a transient region in secondary ion mass analysis in a concentration analyzing method of an impure element in a depth direction.例文帳に追加

深さ方向不純物元素濃度分析方法に関し、二次イオン質量分析に於いて、酸素一次イオンを低エネルギーで照射してトランジェント領域の影響を低減しようとする場合、どこまで低エネルギーにすればよいかの基準を明確化しようとする。 - 特許庁

A shape analysis control part 19 for a control part 2 in the CNC turning machine 1 searches a recess shape part extending in the circumference direction from cross sectional shape data, and based on the width and depth of the recess shape part, discriminates whether the recess shape part is a circumference groove turnable by a groove turning tool or not.例文帳に追加

CNC旋削加工機1における制御部2の形状解析制御部19は、断面形状データから周方向に延びる凹形状部を検索し、その幅及び深さに基づき、この凹形状部が溝入れバイトで旋削可能な周溝であるか否かを判別する。 - 特許庁

The analysis program 12 determines oscillatory waves (ground input waves) that occur in the ground for each section in a mesh-like map that is divided in the mesh shape (S104), and calculates the distribution of the ground response (acceleration, velocity, relative displacement, distortion, and the like) in a depth direction in each division based on the determined oscillatory waves (S110).例文帳に追加

解析プログラム12は、基盤に生ずる振動波(基盤入力波)を、メッシュ状に区画されたメッシュ状地図の各区画毎に決定し(S104)、決定した振動波に基づいて、各区画における深さ方向での地盤応答(加速度、速度、相対変位、ひずみ等)の分布を計算する(S110)。 - 特許庁

The method for preparing the sample for quantitative analysis is for measuring the distribution of concentration of the metallic element to be measured diffused as an impurity from the second metal film 4 to the first metal film 3 in a depth direction in the first metal film 3 in the first and second stacked metal films 3 and 4.例文帳に追加

積層された第1および第2の金属膜3,4において、第2の金属膜4より第1の金属膜3へ不純物として拡散した被測定金属元素に関する、第1の金属膜3中での深さ方向濃度分布測定を行うための定量分析用試料の作製方法である。 - 特許庁

To provide a glow discharge analyzer capable of conducting an element analysis, in a depth direction, of a thin film using as a base material an organic film not resistant against heat, or of a thin film constituted of a compound having strong bonding strength represented by the organic film or phosphate.例文帳に追加

熱に弱い有機系フィルムを基材とした薄膜または有機系フィルムまたはリン酸塩に代表される結合力の強い化合物から構成される薄膜の深さ方向の元素分析が行えるグロー放電分析装置を提供すること。 - 特許庁

Regarding problems which have a major effect on the soundness etc. of the business, the inspector must have dialogues between the inspector and the financial institution and carry out especially in-depth analysis and clarification of the causes, which will lead to a shared understanding with the financial institution regarding the direction of actions needed for fundamental improvement of the problems (direction of improvement). 例文帳に追加

検査官は、経営の健全性等に重大な影響を与える問題点については、金融機関との間で、問題の本質的な改善のために必要な対応の方向性(改善の方向性)に関する認識を共有することにつながるよう、双方向の議論により、特に深度ある原因分析を行い、原因の解明に努める必要がある。 - 金融庁

To provide a calculation method of the diffusion coefficient of a metal impurity by measuring metal impurity concentration distribution along a few cm in the depth direction in quartz glass, regarding the diffusion of the metal impurity having an extremely fast diffusion rate in quartz glass in such a way that the diffusion distance reaches a few cm in a short diffusion time, for which heretofore the analysis has been difficult.例文帳に追加

従来分析が困難であった、短時間の拡散で拡散距離が数cmにも及ぶ石英ガラス中の非常に速い拡散速度を持つ金属不純物の拡散について、石英ガラス中の、深さ方向に数cmに渡る金属不純物濃度分布を測定し、金属不純物の拡散係数を算出する方法を提供する。 - 特許庁

The specimen input part, the analysis part and the specimen storage part are constituted so that the height sizes thereof from the installation floor surface are standardized as 850 mm-950 mm and the depth sizes thereof are standardized as 750 mm-800 mm, and that each width size is standardized to be a multiple of the size in the longitudinal direction of the specimen rack.例文帳に追加

また、上記検体投入部と分析部と検体収納部とが、設置床面からの高さ寸法を850mm〜950mmとし、奥行き寸法を750mm〜800mmに規格化されており、かつ、それぞれの横幅寸法を、検体ラックの長手方向の寸法の倍数となるように規格化されて構成されている。 - 特許庁

When performing depth direction analysis of at least one metal element of Ga, In, Cu, Au or Ag in a sample using monocrystal silicon as a base material by a mass spectrometry method by using oxygen as primary ion, at least a deeper domain than a domain where the sample is oxidized by oxygen as primary ion, is reformed beforehand as a diffusion suppression domain for suppressing diffusion of the metal element resulting from oxidation of the sample.例文帳に追加

一次イオンに酸素を用いて単結晶シリコンを母材とする試料中のGa、In、Cu、Au或いはAgの少なくとも一つの金属元素の深さ方向分析を二次イオン質量分析法によって行う際に、前記試料が前記一次イオンとしての酸素により酸化される領域より少なくとも深い領域を、予め試料の酸化に伴う前記金属元素の拡散を抑制する拡散抑制領域に改質しておく。 - 特許庁

例文

In a metal sheet wherein at least a resin coating film layer using an aminoplast resin as a curing agent is provided on one side or both sides of a metal sheet subjected to chemical conversion treatment, the element concentration distribution in the depth direction of the coating film is measured with respect to a top coating film layer by high frequency discharge type glow discharge emission spectrochemical analysis.例文帳に追加

化成処理を施した金属板の片面もしくは両面に、1層以上のアミノプラスト樹脂を硬化剤として用いた樹脂塗膜層をトップ塗膜層として有する金属板において、トップ塗膜層について高周波放電式グロー放電発行分光分析で塗膜の深さ方向の元素濃度分布を測定し、トップ塗膜層の空気に接している表面をゼロ点とし、ここから深さ方向の距離をTとし、更に、Nc=[窒素のスペクトル強度]/{[窒素のスペクトル強度]+[酸素のスペクトル強度]+[炭素のスペクトル強度]}と定義したときに、Ncの値が次の(A)0μm≦T≦0.5μmのいずれかの深さにおけるNcの値が0.45以上である。 - 特許庁

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