「electron reflection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The element includes a transparent substrate 1 on which a translucent reflection film 2, transparent electrode film 3, hole injection layer 4, hole transporting layer 5, light emitting layer 6, electron transporting layer 7, electron injection layer 8, and an electrode layer 9 are laminated.例文帳に追加

透明基板１上に半透明反射膜２、透明電極層３、正孔注入層４、正孔輸送層５、発光層６、電子輸送層７、電子注入層８、電極層９が積層されている。 - 特許庁

A transmission electron microscope 5 photographs a three-dimensional shape of the surface 12a of the static bio cells and that of a static organic sample 11, after photographing by the reflection electron microscope 4.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５は、反射型電子顕微鏡５による撮影終了後に、静止したバイオセル１２の表面１２ａの三次元形状と、静止した生体試料１１の三次元形状を撮影する。 - 特許庁

To provide a thin film type electron emissive display element having excellent picture quality by forming an element structure hard to be influenced by the reflection of outside light.例文帳に追加

本発明は、外光反射に影響されにくい素子構造にすることにより画質の優れた薄膜型電子放出表示素子を得ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of efficiently detecting reflection electrons emitted by a sample at a small angle without degradation of resolution at the time of capturing a sample image.例文帳に追加

試料像の取得時における分解能の低下をもたらすことなく、試料からの低角度放出反射電子の検出を効率良く行う。 - 特許庁

To provide a cathode ray tube enabled to obtain an excellent image with high contrast, by reducing re-incidence of the reflection electron into a fluorescent surface.例文帳に追加

反射電子の蛍光面への再入射を低減することにより、高いコントラストを有する良好な画質が得られる陰極線管を提供する。 - 特許庁

At this time, the electron beam repeats diffused reflection, because ruggedness 102a exist on the fluorescent layer 102 and ruggedness 100a on the screen panel 100.例文帳に追加

このとき、蛍光体層１０２には凹凸部１０２ａ、またスクリーンパネル１００には凹凸部１００ａが存在するため、電子ビームは乱反射を繰り返す。 - 特許庁

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°.例文帳に追加

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The bottom SVMR sensor element comprises a mirror surface reflective layer 22 of iron tantalum oxide (FeTaO) exhibiting excellent mirror surface reflection characteristics of electron.例文帳に追加

電子の鏡面反射特性に優れた鉄タンタル酸化物（ＦｅＴａＯ）よりなる鏡面反射層２２を備えるように、ボトムＳＶＭＲセンサ素子を構成する。 - 特許庁

The change in momentum of the electron as a result of the reflection is cancelled by an equal and opposite change in momentum of the whole crystal. 例文帳に追加

(ブラッグ)反射の結果による電子の運動量の変化は、大きさが等しく逆向きの結晶全体の運動量の変化によって相殺される。 - 科学技術論文動詞集

A distribution of a reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scanning microscope and an adjacent terminal, and a shape of an area expressing the vicinity of an edge is digitalized to calculate a tapering tendency based on a result thereof.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

Distribution of reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scan type microscope and an adjacent terminal, and the shape of an area representing the edge vicinity is digitized to calculate a taper gradient from the result.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

The electron beam control device is equipped with a selecting means which selects one or more parameters that specify a curve to approximate by the curve waveforms that represent the strength of the reflected electron beam, and a modifying means which modifies, at least, either the irradiation conditions or the reflection conditions of the electron beam.例文帳に追加

本装置は、反射電子ビームの強度を表す波形を曲線で近似するために、曲線を規定する１以上のパラメータの値を選択する手段と、前記１以上のパラメータの値が許容値でない場合に、電子ビームの放射条件及び反射条件の少なくとも一方を変更する手段とを備える。 - 特許庁

This brings the realization of smaller volume of the reflection of an electron beam 11 which collides with the side-wall 9b, the color purity deterioration reduction and thus the brightness improvement.例文帳に追加

これにより、側壁部９ｂに衝突する電子ビーム１１の反射量を少なくすることができ、色純度の低下を軽減し、輝度を向上させることができる。 - 特許庁

Since the mirror surface reflective layer 22 exists, resistance is decreased and mirror surface reflection characteristics of electron are enhanced significantly as compared with a conventional SVMR sensor element.例文帳に追加

この鏡面反射層２２の存在に基づき、従来のボトムＳＶＭＲセンサ素子と比較して抵抗が低くなり、電子の鏡面反射特性が著しく向上する。 - 特許庁

The beam spot of an electron beam and the laser spot of a laser beam 13, which is oscillated by a visible laser oscillator 6, are made to coincide with a point P by adjusting a laser beam reflection mirror 8.例文帳に追加

電子ビームのビームスポットと可視レーザ発振器６から発振されるレーザビーム１３のレーザスポットとをレーザ光反射鏡８を調節して共にＰ点に合わせる。 - 特許庁

To detect the missing of a mask pattern or a deposit using transmission electrons instead of reflection electrons when inspecting the defect of a scattering-type mask by applying electron beams.例文帳に追加

電子線を照射して散乱型マスクの欠陥検査を行なう際、反射電子ではなく透過電子を用いてマスクパターンの抜けあるいは付着物の検出を行なう。 - 特許庁

A reflection electron microscope 4 irradiates incident beams 15 on the surface of bio cells 12, and photographs continuous images as a two-dimensional intensity distribution of their reflected and scattered beams 21.例文帳に追加

反射型電子顕微鏡４は、バイオセル１２の表面に入射線１５を照射し、その反射散乱線２１の二次元強度分布である連続画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a color cathode-ray tube in which a shielding amount and a reflection amount of light or electron beam caused by a mask hole-opening are reduced, and a picture quality is improved.例文帳に追加

マスク開孔に起因する光あるいは電子ビームの遮蔽量および反射量を低減し、画像品位の向上したカラー陰極線管を提供することにある。 - 特許庁

To prevent re-reflection of reflected electrons or secondary electrons emitted from a sample surface to the sample surface side, and to increase the amount of electrons detected by an electron detector.例文帳に追加

試料面から放出される反射電子や二次電子の試料面側への再反射を防止すると共に、電子検出器での電子検出量を増大させる。 - 特許庁

To provide an inspection technology capable of carrying out high-sensitivity detection of microscopic contamination or detects at high speed by eliminating negative charge by electron beam irradiation in a sample made of an insulator, in an inspection device by a reflection electron image.例文帳に追加

反射電子結像による検査装置において、絶縁物からなる試料においても電子線照射による負帯電を解消し、極微小の異物や欠陥の高感度検出を高速に行うことが可能となる検査技術を提供する。 - 特許庁

The observation condition includes the working distance, vacuum, addition/subtraction of the detection signals from a reflection electron detection element divided into a plurality, the voltage being applied to the bias electrode of a low vacuum secondary electron detector, and the mixing ratio of signals when displaying a mixing image.例文帳に追加

観察条件には、ワーキングディスタンス，真空度，複数に分割された反射電子検出素子の検出信号の加減算操作、低真空二次電子検出器のバイアス電極に印加する電圧、ミキシング画像を表示する際の信号の混合比がある。 - 特許庁

A magnetoresistance effect element, in which a sensor current is flowed in a direction perpendicular to a film surface, has an electron reflection layer on at least one of a pin layer, free layer, or nonmagnetic intermediate layer.例文帳に追加

センス電流を膜面に対して垂直方向に流す磁気抵抗効果素子において、ピン層、フリー層あるいは非磁性中間層の少なくともいずれかに電子反射層を設ける。 - 特許庁

RARE EARTH HYDRIDE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND ELECTRON EMITTING ELECTRODE, REFLECTION TYPE DISPLAY ELEMENT, RADIATION SUPPRESSING FILM, AND REFORMING APPARATUS USING RARE EARTH HYDRIDE例文帳に追加

希土類水素化物、希土類水素化物の製造方法並びに希土類水素化物を用いた電子放出性電極、反射型表示素子、輻射抑制膜及び改質装置 - 特許庁

In the manufacturing process of a reflective mask blank and a reflective mask which have: a substrate 11; a multilayer reflection layer 21 formed on a surface of the substrate 11; an absorption layer 51 formed on the multilayer reflection layer 21, electron beam is irradiated on an area to be a light-shielding frame to generate a mixing layer in the multilayer reflection layer 21.例文帳に追加

本発明は、基板１１と、前記基板１１の表面に形成された多層反射層２１と、前記多層反射層２１の上に形成された吸収層５１を有する反射型マスクブランクおよび反射型マスクの製造工程において、遮光枠となる領域に電子線を照射して多層反射層２１にミキシング層を発生させる。 - 特許庁

To provide an observation method for identifying a fine particle set to which a heterogeneous element has been added using: a method of determining observation conditions of SEM reflection electron measurement capable of giving a maximum luminance contrast and performing measurement with high reproducibility with respect to the kind and thickness of a film-like element; and a method of predicting a combination of element kinds that can be identified by SEM reflection electron measurement.例文帳に追加

薄膜状元素の種類と厚さに対して、輝度コントラストが最大となり且つ再現性よく計測することができるSEM反射電子計測の観測条件を決定する方法および、SEM反射電子計測により識別することが可能な元素種類組み合わせを予測する方法を用いて異種元素が付加された微粒子セットを識別する観察方法を提供すること。 - 特許庁

When each luminance signal transmitted from a pair of reflection electron detectors is respectively set as L and R and a luminance signal transmitted from a secondary electron detector as S, an adjusted value Lc of L and an adjusted value Rc of R are respectively calculated by using a primary homogeneous expression of L, R, and S.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置によると、１対の反射電子検出器からの輝度信号をそれぞれＬ、Ｒ、２次電子検出器からの輝度信号をＳとするとき、それぞれＬ、Ｒ及びＳの１次同次式を用いてＬの調整値Ｌｃ及びＲの調整値Ｒｃを演算する。 - 特許庁

To provide an electron absorber which is adaptable to continuous vapor deposition on a film base material of a large area as well by solving a problem that electrons heat other parts than a vapor deposition material by the reflection phenomenon or diffusion phenomenon, and an electron beam heating type vapor deposition apparatus using the same.例文帳に追加

電子が反射現象または拡散現象によって蒸着材料以外の箇所を加熱してしまう問題を解消し、大面積のフィルム基材への連続蒸着にも対応できる電子吸収体およびそれを用いた電子線加熱蒸着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a base material on which patterns are formed which can reduce surface reflection without forming any dielectric film and prevent a pickup function from decreasing and its metal mold, an optical pickup device, an electron beam lithography, a base material drawn thereon by the method, and an electron beam lithographic device.例文帳に追加

本発明は、誘電体膜を形成することなく表面反射の低減を図ることができ、ピックアップ機能の低下を防止することのできる被描画基材、その金型、光ピックアップ装置、電子ビーム描画方法、その方法にて描画された基材、及び電子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

SILVER ALLOY, SPUTTERING TARGET, REFLECTOR FOR REFLECTION LCD, REFLECTION WIRING ELECTRODE, THIN FILM, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, OPTICAL RECORDING MEDIUM, ELECTRO MAGNETIC WAVE SHIELD, METAL MATERIAL FOR ELECTRONIC PART, WIRING MATERIAL, ELECTRONIC PART, ELECTRONIC APPLIANCE, PROCESSING METHOD OF METAL FILM, ELECTRON OPTICAL PART, LAMINATE, AND GLASS OF BUILDING MATERIAL例文帳に追加

銀合金、スパッタリングターゲット、反射型ＬＣＤ用反射板、反射配線電極、薄膜、その製造方法、光学記録媒体、電磁波遮蔽体、電子部品用金属材料、配線材料、電子部品、電子機器、金属膜の加工方法、電子光学部品、積層体及び建材ガラス - 特許庁

A protection layer made of a material with a high secondary electron emission coefficient is additionally formed on a portion facing to a discharge space, of a back worked substrate having a phosphor layer, a backing reflection layer, barrier ribs, and the like.例文帳に追加

蛍光体層、下地反射層や隔壁等、背面加工基板の中で放電空間に面した部分に２次電子放出係数の高い材料でできた保護層を追加形成する。 - 特許庁

To provide a method for forming an electron reflection membrane on a shadow mask, that has a high masking power along with a reasonable adhesiveness, while spraying a colloidal solution of bismuth oxide to render an even thickness, but never causing a pore stack for a shadow mask.例文帳に追加

酸化ビスマス等の懸濁液を均一な厚さに吹き付けながら、シャドウマスクの孔づまりが起こらず、隠蔽性が高くかつ適度な付着性を有する電子反射膜をシャドウマスクに形成する。 - 特許庁

To provide an electron emission display capable of realizing a high-brightness screen by raising light reflection efficiency of an anode electrode through a care taken so as not to damage the anode electrode at baking of an intermediate film.例文帳に追加

中間膜焼成時にアノード電極が損傷しないようにし、アノード電極の光反射効率を上げて高輝度画面を実現することができる電子放出ディスプレイを提供する。 - 特許庁

The detecting signal selecting signal generator of the reflection electron of the control part 15 is constituted by including a counter or the like renewed by the frame scanning unit, and can be realized by a simple circuit or software.例文帳に追加

制御部１５の反射電子の検出信号選択信号発生器は、フレーム走査単位に更新されるカウンターなどを含んで構成されており、極めて簡単な回路やソフトウェアで実現可能である。 - 特許庁

This method for sterilizing grains is characterized by dropping the grains on an inclined reflection plate from the upper side to reflect and rotate the grains, freely dropping the rotated grains and then irradiating the dropping rotated grains with low energy electron beams.例文帳に追加

傾斜した反射板に上方から粒状物を落下させ反射させることによって回転を与えて自由落下させ、回転落下する粒状物に低エネルギー電子線を照射する。 - 特許庁

This display panel is for a cathode ray tube of high quality in which a halation distortion is suppressed, and is equipped with a transparent board 14, a reflection preventive film 13 formed opposite to an electron gun of the transparent board 14 and a phosphor layer 12 formed on the reflection preventive film 13.例文帳に追加

本発明による表示パネルは、ハレーション歪みを抑制した高品位陰極線管用であって、透明基板（１４）と、この透明基板（１４）の電子銃と対抗する側に形成した反射防止膜（１３）と、この反射防止膜（１３）上に形成した蛍光体層（１２）とを具えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a shadow mask for a cathode-ray tube causing no inconvenience such as the deterioration of an image by irregular reflection of an electron beam even when a pseudo bridge is formed in a slot tension type shadow mask.例文帳に追加

スロットテンションタイプのシャドウマスクにおいて、擬似ブリッジが形成された場合であっても、電子ビームの乱反射による画像の悪化等の不具合の無いブラウン管用シャドウマスクを提供することを目的とする。 - 特許庁

In this case, the light which is not absorbed by the dyes and has transmitted the electron capture-dye layer 30 and reached the catalyst layer 60 is diffused and reflected by a rough surface of the catalyst layer 60 and a part of the reflection light is absorbed by the dyes.例文帳に追加

このとき、色素に吸収されず、電子捕集−色素層３０を透過して触媒層６０に到達した光は、触媒層６０の粗面で拡散反射し、反射光の一部は色素に吸収される。 - 特許庁

A plurality of surface patterns having a boundary wherein a reflection characteristic of light or electron beam at a light shielding film surface varies are disposed as dedicated patterns for measuring mask position accuracy on the light shielding film in the device pattern forming region of the photomask.例文帳に追加

フォトマスクのデバイスパターン形成領域の遮光膜に、遮光膜表面での光線又は電子線の反射特性が変化する境界を持つ表面パターンをマスク位置精度測定専用パターンとして複数配置しておく。 - 特許庁

The SEM-type inspection apparatus for repeatedly scanning a sample with electron beams, generating inspection images and reference images based on secondary electrons or reflection electrons generated from the sample, and obtaining a defective section from the differential image has a function for varying the number of pixels in the repeated scanning direction of the electron beams in the images generated.例文帳に追加

試料に電子線ビームを繰り返し走査させ、試料から発生する２次電子または反射電子に基づき検査画像および参照画像を生成し、それらの差分画像から欠陥部を求めるＳＥＭ式検査装置において、生成画像における電子線ビームの繰り返し走査方向の画素数を可変にする機能を備える。 - 特許庁

In one embodiment, the surface pattern can be easily realized by, for example, providing a shallow step on the surface of the light shielding film in the device pattern forming region, and making the reflection of light or electron beam different from surroundings.例文帳に追加

一実施例によれば、その表面パターンは、デバイスパターン形成領域の遮光膜の表面に、例えば、浅い段差などを設けることにより、光線又は電子線の反射が周囲と異なるようにしておくことによって、容易に実現できる。 - 特許庁

A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加

試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁

With this, reflection of driving signals outputted from the driving circuit 21 is avoided, so that there is no fear of overshooting or linking generated in impressed voltage on the blanking electrodes 14a, 14b to enable to carry out blanking of electron beams with accuracy.例文帳に追加

これにより、駆動回路２１から出力される駆動信号の反射が回避されるため、ブランキング電極１４ａ,１４ｂへの印加電圧にオーバーシュートやリンキングが発生することがなくなり、精度よく電子線のブランキングを行うことが可能となる。 - 特許庁

A reversal reflection type dark image electronic detector comprises a seven-color image pickup machine, a seven-detection printing ring shape, electron scanner, cathode ray tube or an automatic on-off cathode ray tube, a printing film during advance is continuously photographed in a stationary state, and the defective place of the printing film is detected to be removed.例文帳に追加

７色カラー撮像機、７検出印刷輪状、賭電子走査、ブラウン管器或いは自動開閉ブラウン管器からなり、進行中の印刷フィルムを静止状態にて連続撮像し、印刷フィルムの不良個所を検出し取り除く。 - 特許庁

When a metal such as Al or Ag having high light reflection efficiency is used as the material serving as an electron and hole source, even if an area ratio of the metal to the phosphor surface is set to 50%, probability (η) of light finally coming out to the outside attains to about 90% by repetition of reflection-absorption on metal thin films, accordingly there is substantially no problem on luminous efficiency.例文帳に追加

電子及び正孔の供給源となる材料として光の反射効率の高いAl、Agなどの金属を使用した場合、蛍光体表面に占める面積比率を５０％としても、金属薄膜において反射・吸収を繰り返すことにより、最終的に外部に出ることが出来た光の確率（η）は約90％となり、発光効率上はほとんど問題がない。 - 特許庁

Reflection preventing parts for reducing the reflectance of incident light are provided by arranging projections/recessions 5a finer than the wavelength of the light are arranged on the front and rear surfaces of a glass plate 5 in the window of a package 2 for storing an image sensor 1 as an electron element for receiving the light.例文帳に追加

光を受光する電子素子としてイメージセンサ１を収容するパッケージ２の窓部のガラス板５の表面および裏面に、光の波長の長さよりも微細な凹凸部５ａを設けて入射光の反射率を低減する反射防止部を設けている。 - 特許庁