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evaluating processの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 332件
To provide a method of manufacturing ceramics which enables to easily design and manufacture ceramics suppressed in variation of characteristics even in the manufacturing process by evaluating the characteristics and properties even in the manufacturing process as the same as in the developing process.例文帳に追加
セラミックスの製造工程においても開発段階と同じ特性や性状の評価を行い、製造工程中においても特性の変動を抑えたセラミックスを容易に設計し製造できるセラミックスの製法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing an electronic component and a method of evaluating the same, directly and appropriately evaluating a re-oxidized state of the electronic component and quantifying an oxygen deficiency amount caused by a re-oxidizing process.例文帳に追加
電子部品の再酸化状態を直接的かつ適切に評価でき、再酸化処理に起因する酸素欠損量を定量化できる電子部品の製造方法および評価方法を提供すること。 - 特許庁
- Validity of the internal capital adequacy assessment process (including the definition of capital and the methods of determining the range of risks to be covered by capital management and evaluating such risks) 例文帳に追加
・ 自己資本充実度の評価方法(自己資本の定義、管理対象とするリスクの決定及びリスク評価方法を含む。)の妥当性 - 金融庁
To design a DC-NW by simultaneously evaluating both an NW topology and DC arrangement by using an AHP(Analytic Hierarchy Process).例文帳に追加
AHPを用いてNWトポロジとDC配置の両方を同時に評価することで、DC−NWを設計することを目的とする。 - 特許庁
Then, the control part 1 executes a process of evaluating the character executing the motion according to the command by using character evaluation data.例文帳に追加
そして、この命令に対応する動作を実行したキャラクタをキャラクタ評価データを用いて評価する処理が、制御部1により実行される。 - 特許庁
The evaluating element 10 for evaluating the manufacturing process of a representative MOS transistor 1 included in an IC chip 100 formed on a wafer W includes a normal MOS transistor 10a formed on the wafer W by the same manufacturing process as that of the MOS transistor 1, and a native transistor 10b formed on the wafer W by an incomplete manufacturing process with only a channel doping process omitted from the manufacturing process.例文帳に追加
ウエーハWに形成されたICチップ100に含まれる代表的なMOSトランジスタ1の製造プロセスを評価するための評価素子10であって、MOSトランジスタ1と同一の製造プロセスによってウエーハWに形成された通常のMOSトランジスタ10aと、この製造プロセスからチャネルドープ工程だけを除いた不完全製造プロセスによって当該ウエーハWに形成されたネイティブトランジスタ10bと、を備えたものである。 - 特許庁
The method for screening the endocrine disruptor comprises a process for contacting a candidate material which is an object to be screened, a process for evaluating a form of spine included in nerve cells contacted with the candidate material and a process for evaluating the hormone-like action of the candidate material by using the evaluation result.例文帳に追加
本発明に係る内分泌撹乱物質のスクリーニング方法は、スクリーニング対象となった候補物質を神経細胞に接触させる工程と、前記候補物質を接触させた神経細胞に含まれるスパインの形態を評価する工程と、前記評価結果に基づいて前記候補物質のホルモン様作用を評価する工程と、を含む方法とする。 - 特許庁
The roller shape evaluation method is provided with both a process for determining criteria for evaluation on the basis of actually measured shape measurement values of rollers and a process for evaluating the shape of rollers through the use of the criteria for evaluation.例文帳に追加
ころ形状評価方法において、実際に測定されたころの形状測定値から評価基準を決定する工程と、評価基準を用いてころの形状を評価する工程とを備える。 - 特許庁
To perform a safe and appropriate business process by extracting/evaluating risk information and synergy information caused by role relations between people to be an essential part of the business process.例文帳に追加
ビジネスプロセスの本質部分である人間同士の役割関係から生じるリスク情報およびシナジー情報を抽出・評価し、安全かつ的確なビジネスプロセスを可能とする方法を提供する。 - 特許庁
An operation evaluating part 19 evaluates the operations in each operator on the basis of the operation information of each operator stored in the operation DB 13 and the process data stored in the process DB 17.例文帳に追加
オペレーション評価部19は、操作DB13に格納されているオペレータ毎の操作情報及びプロセスDB17に格納されているプロセスデータに基づいて、オペレータ毎に操作を評価する。 - 特許庁
To provide a technique enabling the quantitative grasp of a loss occurring in a treating process by identifying an unrecovered material produced in the recycling process and evaluating the value of the unrecovered material.例文帳に追加
再資源化プロセスで発生する非回収物を特定し、その非回収物が持つ価値を算出することで、処理プロセスで発生しているロスを定量的に把握することができる技術を提供すること。 - 特許庁
The processing method of semiconductor silicon wafer comprises a polishing process for polishing the surface of semiconductor wafer to the mirror-surface, an evaluation process for evaluating the flatness of a semiconductor wafer polished in the polishing process, an etching process for etching semiconductor wafer determined as defective in the flatness in the evaluation process using an alkali solution, and a re-polishing process for re-polishing the semiconductor wafer which etched in the etching process.例文帳に追加
半導体ウェーハの表面を鏡面研磨する研磨工程と、この研磨工程において研磨された半導体ウェーハの平坦度を評価する評価工程と、この評価工程により平坦度が不良と判定された半導体ウェーハをアルカリ溶液でエッチングするエッチング工程と、このエッチング工程によりエッチングされた半導体ウェーハを再研磨する再研磨工程とを有する半導体ウェーハの加工方法。 - 特許庁
To improve reliability in evaluating the electric charge of electronic device processes, by setting the threshold of potential gradient, in consideration of the electrostatic resistance of devices themselves and their scale in a potential gradient measuring apparatus and an electronic device process evaluating apparatus.例文帳に追加
電位勾配測定装置及び電子デバイスプロセス評価装置に関し、デバイス自身の静電気耐性と、そのスケールを考慮した電位勾配の閾値を設定することによって、電子デバイスプロセスの帯電評価の信頼性を向上させる。 - 特許庁
To provide a method and device for evaluating slidability of a steel wire, capable of evaluating easily on the field before using a wire-twisting machine, slidability of the steel wire before twisting the wire after a final wire drawing process.例文帳に追加
最終伸線工程後、撚線前におけるスチール素線のすべり性を、撚線機への仕掛け前に、現場において簡易に評価することが可能なスチール素線のすべり性評価方法およびすべり性評価装置を提供する。 - 特許庁
In the cell for evaluating vapor barrier properties, a metal layer that is corroded by reaction with moisture is formed on one side of the film sheet for evaluating the vapor barrier properties by a vacuum process, and the surface is sealed by the vapor impermeable metal layer.例文帳に追加
水蒸気バリア性を評価するフィルムシートの片面に、水分と反応して腐食する金属層を真空プロセスにて形成させた後、水蒸気不透過性金属層でこの面を封止した水蒸気バリア性評価用セル。 - 特許庁
To enhance its periodic output by improving a device having a device for optically scanning a cop and an evaluating device for evaluating a scanning process, in the device for directing orientation of the cop, particularly, a spinning cop.例文帳に追加
コップ、特に紡績コップの配向を検知するための装置であって、コップの光学的な走査を行なう装置と走査過程を評価するための評価装置とを有する装置を改善してその周期出力を高めることである。 - 特許庁
This process evaluation device receives a first evaluation value obtained by evaluating each element comprised in a process based on a first evaluation criterion and a second evaluation value obtained by evaluating each element comprised in the process based on a second evaluation criterion, classifies each element comprised in the process based on the received second evaluation value, and displays each classified element correspondingly to the first evaluation value.例文帳に追加
プロセス評価装置は、プロセスに含まれる要素それぞれを、第1の評価基準で評価して得られる第1の評価値と、プロセスに含まれる要素それぞれを、第2の評価基準で評価して得られる第2の評価値とを受け入れ、受け入れられた第2の評価値に基づいて、プロセスに含まれる要素それぞれを分類し、分類された要素それぞれに、第1の評価値を対応付けて表示する。 - 特許庁
To provide a defective wiring detection device which is capable of electrically evaluating whether the wiring is open or short-circuit both in an in-line manner or after a final process.例文帳に追加
インライン中及び最終工程後の両方においてオープン/ショートの電気的評価を行うことのできる配線不良検出素子を提供する。 - 特許庁
To provide a highly reliable cancer treatment apparatus or the like capable of evaluating treatment states in the process of treatment by a photodynamic therapy.例文帳に追加
光線力学的療法による治療の過程で治療状況を評価することが可能で信頼性が高い癌治療装置等を提供する - 特許庁
To provide a Cu evaluating method in a silicon wafer, with which Cu concentration in the silicon wafer can precisely be detected with high sensitivity without a complicated process.例文帳に追加
煩雑な工程を経ることなく、シリコンウェーハ中のCu濃度を正確、かつ高感度に検出可能なシリコンウェーハ中のCu評価方法を提供する。 - 特許庁
The quality evaluating/process monitoring method of the chemical membrane evaluates the quality of the membrane from an appearance of a crystal of the chemical membrane, and monitors processing stages.例文帳に追加
化成皮膜の皮膜評価/工程監視方法としては、化成皮膜の結晶の外観から皮膜品質の良否を評価したり処理工程を監視する。 - 特許庁
To provide a silicon wafer in which oxygen deposit is stably formed in dependent of crystal position or device process, a method of producing the same, and a method for evaluating the defect area of a silicon wafer whose pulling-up conditions and the defect area are unknown.例文帳に追加
結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image quality evaluation device, capable of evaluating image quality of a deteriorated image, by simply using the deteriorated image without referring to information of a decoding process.例文帳に追加
劣化画像単体で、復号過程の情報を参照することなく、劣化画像の画質評価を可能とする画質評価装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an elastic wheel capable of alleviating the problems of complex process, insufficient steering rigidity, difficulty in compact design, and hardness in evaluating effects of chinks.例文帳に追加
工程が複雑、操舵剛性が不十分、コンパクト設計がしにくい、すぐりの効果が推定しにくい、等の問題を軽減できる弾性ホイールの提供。 - 特許庁
To provide a program performance evaluation method capable of easily evaluating an operation simulation result from a plurality of view points in a processor designing process.例文帳に追加
プロセッサの設計過程において、動作シミュレーション結果の評価を複数の視点から容易に行うことができるプログラム性能評価方法を提供する。 - 特許庁
To evaluate a condition of a polysilicon film with good repeatability when evaluating a crystal condition of a polysilicon film formed by a low temperature polycrystallizing process.例文帳に追加
低温多結晶化プロセスで形成されたポリシリコン膜の結晶状態を評価する際に、再現性がよくポリシリコン膜の状態を評価する。 - 特許庁
To provide a silicon wafer and its manufacturing method capable of stably obtaining oxygen deposition without depending on a crystal position and a device process and to provide a method for evaluating the defect area of the silicon wafer whose pulling condition and the defect area are unknown.例文帳に追加
結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for evaluating a process of a production line by which the working burden of a operator including the operator's complex actions can be appropriately evaluated.例文帳に追加
作業者の複合的な動作を含む作業者の作業負担を適切に評価することができる製造ラインの工程評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a technique for easily and suitably evaluating whether a wafer has a high possibility of defect occurrence in a device process step.例文帳に追加
デバイスプロセス工程において欠陥が発生する可能性が高いウェーハであるか否かを容易且つ適切に評価することのできる技術を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING ELECTROSTATIC CHARGE IMAGE DEVELOPING TONER, EVALUATION APPARATUS, ELECTROSTATIC CHARGE IMAGE DEVELOPING TONER, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, DEVELOPMENT METHOD USING THE SAME, TONER CARTRIDGE, AND PROCESS CARTRIDGE例文帳に追加
静電荷現像用トナーの評価方法、評価装置、静電荷現像用トナー、その製造方法、これを用いた現像方法、トナーカートリッジおよびプロセスカートリッジ - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING ELECTROSTATIC CHARGE IMAGE DEVELOPING TONER, ELECTROSTATIC CHARGE IMAGE DEVELOPING TONER, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, DEVELOPMENT METHOD USING THE SAME, TONER CARTRIDGE, AND PROCESS CARTRIDGE例文帳に追加
静電荷現像用トナーの評価方法、静電荷現像用トナー、その製造方法、これを用いた現像方法、トナーカートリッジおよびプロセスカートリッジ - 特許庁
To difference-update an automaton for evaluating XML stream data, and to allow the automaton to rapidly process the XML stream data.例文帳に追加
XMLストリームデータを評価するためのオートマトンを差分更新するとともに、そのオートマトンがXMLストリームデータを迅速に処理できるようにすること。 - 特許庁
Compatibility Testing is the process of evaluating how well your web site or software product will work with popular third-party components and hardware such as, ... 例文帳に追加
互換性テストは, あなたのウェブサイトやソフトウェア製品が, ...のような一般的なサードパーティ・コンポーネントやハードウェアで, いかに良く動作するかを評価するプロセスです. - コンピューター用語辞典
To provide a method for evaluating dispersiveness of carbon black which can be used at any stage of the production process of Japanese ink and can be conducted quickly and readily.例文帳に追加
墨インキの製造工程のどの段階においても用いることができ、迅速かつ簡単に実施できるカーボンブラックの分散性の評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a structure of a semiconductor substrate for evaluating contamination, which is used so that contaminant of transition metal impurities in a semiconductor silicon substrate manufacturing process or a semiconductor device manufacturing process is exactly evaluated, and to provide a method for evaluating contaminant of metal impurities or the like by using the semiconductor substrate.例文帳に追加
半導体シリコン基板の製造或いは半導体デバイス製造工程に於ける遷移金属不純物等の汚染物質を正確に評価するのに用いる汚染評価用半導体基板の構造、及び該半導体基板を用いた金属不純物等の汚染物質の汚染評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing an optical device which uses a method for accurately evaluating a forming mold before applying for a forming process to define whether it is good or not and simply evaluating and judging the life of a carbon thin film exhausted by continuous press forming and the forming mold suitable for the forming process.例文帳に追加
成形用型を、成形工程に適用する前に的確に評価し、良否を識別すること、および、連続プレスによって消耗する炭素薄膜の寿命を、簡便に評価判定する方法を用いた光学素子の製造方法、及び成形工程に適した成形用型を提供すること。 - 特許庁
To provide an evaluating method simply introduced in a fabricating process so as to evaluate whether an epitaxial defect in a process of epitaxial growth of an epitaxial wafer arises or not at the stage of a silicon wafer or a silicon monocrystal before the process of epitaxial growth.例文帳に追加
エピタキシャルウエーハのエピタキシャル成長プロセスにおいてエピ欠陥が発生するか否かを、エピタキシャル成長プロセス前のシリコンウエーハあるいはシリコン単結晶の段階において、製造工程に取り入れられるほどの簡便さで評価する方法を提供する。 - 特許庁
This optical measurement method includes a homogenizing process performed after a liquid diluent is added to a sample containing the measurement target, a filtering process for removing a solid substance, an adding process for adding insoluble fine particles not causing the emission due to an excitation wavelength to a specimen in a concentration of 1-10% and a process for measurement and evaluating the measurement target.例文帳に追加
測定対象物を含有する試料に希釈液を加えて行う均質化工程と、固形物を取り除く濾過工程と、励起波長による発光がない不溶性微粒子を検体に対し濃度1〜10%となるよう加える添加工程と、測定対象物の測定評価工程を備える。 - 特許庁
The evaluating method of the internal defect of the sample comprises a dipping process of dipping the sample in molybdenum-containing solution containing molybdenum; a depressurizing process of depressurizing the molybdenum-containing solution in which the sample is dipped; a drying process of drying the sample; and a detecting process of detecting the distribution of the molybdenum in the sample.例文帳に追加
本発明は、モリブデンを含むモリブデン含有溶液に試料を浸漬する浸漬工程と、試料が浸漬されたモリブデン含有溶液を減圧する減圧工程と、試料を乾燥する乾燥工程と、試料中の前記モリブデンの分布を検出する検出工程とを含む試料内部欠陥の評価方法である。 - 特許庁
The starter is provided with a drive train control device having a means reading and evaluating driving parameters and a target quantity of an operating means between a start process and a stop process is set by the drive train control device.例文帳に追加
始動装置は,駆動パラメータを読み込んで評価する手段を備えたドライブトレイン制御装置を有しており,始動行程と停止行程の間の操作手段の目標量が,ドライブトレイン制御装置により設定される。 - 特許庁
The environment recyclability evaluation method includes a process for obtaining processing energy (E) generated at the time of processing the waste; a process for obtaining the quantity of carbon dioxide (C) generated at the time of processing the waste; and a process for evaluating and processing waste recycling energy from the values of (E) and (C).例文帳に追加
廃棄物の処理時に発生する処理時エネルギー(E)を求める工程と、前記廃棄物の処理時に発生する二酸化炭素量(C)を求める工程と、前記(E)及び(C)の値より廃棄物リサイクルエネルギーを評価処理する工程と、を含むことを特徴とする環境リサイクル性評価方法。 - 特許庁
The coating material composition can be designed from a process of degrading a coated article by acting an oxidizing agent, water and light to it, a process of evaluating the functionality on the degraded coated article and a process of selecting the components and/or compositions of the coating material composition on the basis of the evaluated result.例文帳に追加
塗工物に酸化剤と水と光とを作用させて劣化させる工程と、劣化した塗工物について機能性を評価する工程と、評価結果に基づいて塗工材料組成物の成分及び/又は組成を選択する工程、とから塗工材料組成物を設計する。 - 特許庁
To provide a membrane evaluating method and a quality evaluating/process monitoring system of a chemical membrane for objectively, quantitatively and inexpensively evaluating the quality of the crystalline chemical membrane such as a zinc phosphate membrane by using an actual product without the use of a processed specimen.例文帳に追加
リン酸亜鉛系皮膜などの結晶性の化成皮膜について、処理試験片を使用することなく実際の製品を使用して皮膜品質を評価することが可能であり、さらには、客観的且つ定量的な皮膜品質評価を安価に行うことが可能な皮膜評価方法及び化成皮膜の品質評価/工程監視システムを提供する。 - 特許庁
To provide a production history information managing device capable of evaluating the bottle neck of a production line by managing an inventory in process which is present on a production line in a real time.例文帳に追加
生産ライン上に存在する仕掛り在庫をリアルタイムで管理し、生産ラインのボトルネックを評価できる生産履歴情報管理装置を提供すること。 - 特許庁
The method includes evaluating the values for at least one metric based on the design parameters and the split parameters and considering at least one process condition.例文帳に追加
方法は、少なくとも1つの計量の前記値を、設計パラメータ及び分割パラメータに基づいて評価し、少なくとも1つのプロセス条件を考慮することを含み。 - 特許庁
To provide a simple method for evaluating the in-plane distribution of the resist pattern dimensions of a photomask blank coated with a resist, and to provide a process management method for a lithography line for mask production.例文帳に追加
レジストを塗布したフォトマスクブランクのレジストパターン寸法の面内分布の簡易評価方法、及びマスク製造用リソグラフィーラインの工程管理方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for evaluating a lubricating film for forging, by which an environment in which the lubricating film can be exposed in a multistage working process can be expressed.例文帳に追加
多段加工工程で潤滑皮膜が曝され得る環境を表現できる、鍛造用潤滑皮膜評価方法及び鍛造用潤滑皮膜評価装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for evaluating the floc grain diameter distribution, capable of covering tens of microns or smaller for judging the propriety of floc flocculation in a clean water treating process.例文帳に追加
浄水処理プロセスにおけるフロック凝集の良否を判断するために、数十μm以下までをカバーできるフロック粒径分布の評価方法を提供する。 - 特許庁
The method for evaluating presence or absence of functional abnormalities of the skin barrier comprises a process of measuring the expression of protease and/or its inhibitor on the skin surface of a specimen.例文帳に追加
被検体における皮膚表面のプロテアーゼ及び/又はそのインヒビターの発現を測定する工程を含む、皮膚バリアの機能異常の有無を評価する方法等。 - 特許庁
To eliminate variation in evaluations without depending on a person when evaluating that development work from start to end is executed without omission in a project development process.例文帳に追加
プロジェクトの開発工程で開始から終了までの開発作業が漏れなく実行されていることを評価する際に人に依存せずにバラツキが出ない評価にする。 - 特許庁
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