「microscope images」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an illuminating method by which the optical images of a sample at different positions in an optical axis direction can be observed, and a microscope having an illuminator provided with the illuminating method.例文帳に追加

標本の光軸方向の異なる位置における光像を観察可能とする照明方法と、これを具備する照明装置を有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A reflection electron microscope 4 irradiates incident beams 15 on the surface of bio cells 12, and photographs continuous images as a two-dimensional intensity distribution of their reflected and scattered beams 21.例文帳に追加

反射型電子顕微鏡４は、バイオセル１２の表面に入射線１５を照射し、その反射散乱線２１の二次元強度分布である連続画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations having an ultrasonic probe generating a tomographic image of a region to be operated on by which an operator can effectively perform surgical operations by obtaining tomographic images of high resolution depending on the operating circumstances.例文帳に追加

術部の断層画像を生成する超音波プローブを有し、術者は手術状況に応じて高解像の断層画像情報が得られ、効率的に手術が遂行できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To project images while maintaining the characteristics of an interchangeable lens and an intermediate when projecting the image of a CCD on the receiving surface of an CDD for instance by mounting the intermediate such as an interchangeable lens and an interference filter in an optical system such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学系に交換レンズと干渉フィルタのような中間物を装着し、ＣＣＤなどの受光部に物体像を投影するとき、交換レンズと中間物の特性、特徴を生かしたままで投影する。 - 特許庁

A confocal microscope 10 which is provided movably in the Z-axis direction by a Z-stage 21, images a focal image on a Z-position different relative to a sample 16 by a measuring camera 18, and outputs it to a control unit 20.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０は、Ｚステージ２１によりＺ軸方向に移動可能に設けられ、試料１６に対して異なるＺ位置での焦点画像を測定カメラ１８で撮像し、制御ユニット２０へ出力する。 - 特許庁

The digital recording system 11 has its recording part 20 composed of a CCD camera and recording media so that images obtained by the microscope system 10 can digitally be stored and displayed on the monitor 12.例文帳に追加

デジタル記録系１１は、顕微鏡系１０により得た画像をデジタル的に記憶するとともに、モニタ１２により表示できるように、記録部２０をＣＣＤカメラと記録メディアで構成する。 - 特許庁

A probe, means for replacing the inside of a sample chamber with prescribed gas and means for turning into images by ion current detection or absorbed current detection are incorporated to realize a safe SEM (scanning electron microscope) whose risk of electrical discharge is low.例文帳に追加

探針と、試料室内を所定のガスで置換する手段と、イオン電流検出や吸収電流検出による画像化手段を備えることにより、放電の危険性の低い安全なＳＥＭを実現する。 - 特許庁

Images of the foreign matter particles in respective positions on a reference wafer are acquired using a microscope type surface inspection device, and are image-processed to calculate particle sizes of the respective foreign matter particles.例文帳に追加

また、顕微鏡型表面検査装置を用いて、基準ウェーハの各位置における異物粒子の画像を取得し、画像処理を行って各異物粒子の粒径を算出する。 - 特許庁

To provide a microscope system with which an observation object is easily tracked without causing troublesomeness on display even if operation of a microscope that causes a change of observation environment is performed when observation images obtained by imaging the same observation object by a plurality of observation methods are superposed to be observed.例文帳に追加

本発明では、同一の観察体に対して複数の観察方法で撮像した観察画像を重畳させて観察しているときに、観察環境の変化を生じさせる顕微鏡の動作が行われた場合でも、表示上の煩わしさがなく、容易に観察体の追跡を行うことができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

Particles to be created by changing the ratio of different elements for indexing a probe are used; an SEM image is obtained by a scanning electron microscope for detecting the position and the size; and further, the position and the size of characteristic X rays generated, when electrons irradiated to the particles by the scanning electron microscope are obtained, by obtaining element analysis images, by using an energy dispersion type characteristic X-ray detector.例文帳に追加

プローブのインデクシング用に異なる元素の比率を変えて作成する粒子を用い、走査型電子顕微鏡でＳＥＭ像を得て容易にその位置と大きさを検出し、さらに、走査型電子顕微鏡で粒子に電子を照射する時に発生する特性Ｘ線をエネルギー分散型特性Ｘ線検出器により元素分析像を得ることで位置と大きさを得る。 - 特許庁

The microscope control device includes: an evaluation value calculation unit for calculating an evaluation value for evaluating the presence or absence of a sample for each local area constituting one of a pair of phase difference images of the sample imaged by a microscope; and an area determination unit for determining an area in which the sample is imaged in the one of the phase difference images based on the calculated evaluation value.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡制御装置は、顕微鏡により撮像されたサンプルの一組の位相差像の一方について、当該位相差像の一方を構成する局所的な領域毎に、前記サンプルの有無を評価するための評価値を算出する評価値算出部と、算出された評価値に基づいて、前記位相差像の一方において前記サンプルが撮像されている領域を判定する領域判定部と、を備える。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information.例文帳に追加

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In another example of the visual inspecting method and apparatus, images are acquired by a confocal microscope having two corresponding pinhole arrays provided in its illumination and light receiving sides and a single TDI camera.例文帳に追加

本発明の他の態様によれば、対応する２つのピンホールアレイ（３７，３８）を顕微鏡の照明側と受光側に設けた共焦点顕微鏡と１つのＴＤＩカメラ（４０）により画像を取得する外観検査方法及び装置が提供される。 - 特許庁

To provide a multifocal confocal Raman spectroscopic microscope capable of obtaining a planar spectrum image at a high speed and obtaining a plurality of band images at the same time without damaging a sample even in the case where the sample is a living cell.例文帳に追加

試料が生細胞である場合においても試料にダメージを与えることなく、面的なスペクトルイメージを高速に取得することができ、複数のバンドのイメージを同時に取得することができる多焦点共焦点ラマン分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In an MR guided surgical system which is carried out in the bore of an MR magnet, there is provided a microscope system for viewing a required part of a patient which includes stereoscopic viewing components arranged for use in generating 2D and 3D images displayed to a surgeon.例文帳に追加

磁石のボア内で行われるＭＲガイド手術システムにおいて、外科医に表示される２Ｄと３Ｄ画像を生成する際に使用するために配置された立体視部品を含む、患者の必要とされる部分を表示するための顕微鏡システムが提供される。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can easily obtain a confocal color image of a necessary area or focus measurement data by making pixels or pixel groups of a confocal image and a CCD color image correspond to each other even when both the images are different resolution.例文帳に追加

共焦点画像とＣＣＤカラー画像の解像度が異なる場合であっても、両画像の画素又は画素群を対応付けることにより、必要な領域の共焦点カラー画像又は共焦点測定データが容易に得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an information processor, an information processing method, a program, an imaging device and an imaging device having a light microscope which can generate multiple images subject to which stitching processing, while suppressing deterioration of an imaged sample.例文帳に追加

撮影される試料の劣化を抑ながら、スティッチング処理される複数の画像を生成することを可能とする情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

A Hilbert phase microscope is used to obtain parameters such as shape and volume for each frame, from high-resolution phase information relating to a transparent object, and quantify dynamical changes at a nanometer order resolution on the basis of a lot of images obtained on the millisecond time scale.例文帳に追加

ヒルベルト位相顕微鏡を使用し、透光性物体に関連した高解像度位相情報から、一フレーム毎の形状、体積のようなパラメータを得、ミリ秒の時間スケールで取得した多数の画像をもとに、ダイナミックな変動をナノメートルオーダーの分解能で定量化する。 - 特許庁

In a photoelectronic microscope which images photoelectrons emitted from a specimen via an objective lens by irradiating the specimen with light from a light source, and obtains a magnified image, the objective lens includes two or more electrodes, and the two or more electrodes are installed in such a manner that the light passes between two electrodes.例文帳に追加

光源からの光を試料に照射することにより前記試料から放出される光電子を対物レンズを介して結像し、拡大像を得る光電子顕微鏡において、前記対物レンズに、２以上の電極を備えさせ、２以上の前記電極を、前記光が２つの電極間を通るように設置する。 - 特許庁

To obtain a pretreating device and method with a processing function for preventing a partially or wholly non-conductive sample from being charged up and contaminated at the time of applying a conductive paste on the surfaces of the sample and obtaining satisfactory images through an electron microscope.例文帳に追加

試料表面に導電性ペーストを塗布する際に、試料の一部またはすべてが非導電性である試料のチャージアップや汚染を防ぎ、良好な電子顕微鏡像が得られるための処理機能を有した前処理装置、ならびに前処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system for improving working efficiency by reducing a confirmation work load using a microscope by discriminating types of defects and deciding whether the types are appropriate, by processing the defective images with a plurality of thresholds for all the defects within a substrate.例文帳に追加

基板内の全ての欠陥に対して複数の閾値によって欠陥画像を処理して欠陥の種類の判別と良否判定を行う事により、顕微鏡による確認作業負荷を削減する事を可能とし、作業効率を向上させる検査システムを提供する。 - 特許庁

Reflectance of the particle in the minute flow field is reflected by the first and the second reflection surfaces and makes incidence on the optical path of the microscope and a plurality of images for the same particle obtained from different viewpoints are imaged on a single imaging surface of the imaging apparatus.例文帳に追加

微小流動場の粒子の反射光が第１及び第２反射面によって反射して顕微鏡内の光路に入射し、異なる視点から得られた同一粒子の複数の像が撮像装置の単一の結像面に結像する。 - 特許庁

The electron microscope includes a signal processing part which calculates a deterioration function of images based on the detection signal obtained by scanning charged particle beams with two kinds of scanning speeds of a scanning speed in the band width of a detector and its amplifying circuit and a scanning speed exceeding the upper limit of the band width.例文帳に追加

検出器およびその増幅回路の帯域幅内の走査速度と、上記帯域幅の上限を超える走査速度の２種の走査速度で荷電粒子線を走査して得られる検出信号に基づき、画像の劣化関数を算出する信号処理部を設ける。 - 特許庁

A second image acquisition control part 63 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of the confocal microscope with light of a light quantity shown by the second light quantity setting data, and records the image in the memory 66.例文帳に追加

続いて、第２の画像取得制御部６３は、第２の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ６６に記録する。 - 特許庁

A first image acquisition control part 62 of a control unit 60 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of a confocal microscope with light of a light quantity shown by the first light quantity setting data, and records the image in a memory 66.例文帳に追加

制御ユニット６０の第１の画像取得制御部６２は、第１の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ６６に記録する。 - 特許庁

The microscope 202 is controlled in such a manner that the microscopic images when the position of the focus is in the position after the movement are successively acquired every time the movement of the position of the focus with respect to the sample is made at the intervals of the movement by this control.例文帳に追加

そして、該制御によって標本の位置に対する焦点の位置の移動が該移動の間隔でなされる度に、該焦点の位置が該移動後の位置であるときにおける顕微鏡画像を順次取得させるように顕微鏡２０２を制御する。 - 特許庁

To provide a microscopic image synthesizing device capable of adhering plural images, which are picked up by an image pickup means mounted with a lens for a microscope, without requiring an expensive PC-controlled power stage and forcing a user to perform complicated operation.例文帳に追加

この発明は、高価なＰＣ制御の電動ステージを用いる必要がなく、かつユーザに複雑な操作をしいることなく、顕微鏡用レンズが装着された撮像手段で撮像された複数の画像を貼り合わせることができる顕微鏡画像合成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which can obtain light observation images on both a main and a subordinate observation side, holds a main and a subordinate observation lens barrel at a proper distance to obtain the sufficient degree of freedom of the subordinate observation side, and holds the proper height and shift of an eye point.例文帳に追加

主観察側及び副観察側ともに明るい観察像を得ることができ、しかも、主観察鏡筒と副観察鏡筒とが適切な距離を保ち、副観察側の自由度を十分保ち、かつ、適切なアイポイントの高さ及びシフトを保つことが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By overlapping an image A of an optical microscope 2 for observing the package 1 and that B of an X-ray fluoroscope 3 for observing the package 1 through using an image processor 4 to display their images on a monitor system 5, a region required for seal breaking can be determined.例文帳に追加

パッケージ１を観察する光学顕微鏡２の画像Ａと、パッケージ１を観察するＸ線透過装置３の画像Ｂとを、画像処理装置４によって重ね合わせしてモニター装置５に表示し、開封処理に要求される領域を確認できる。 - 特許庁

The microscope comprises an observatory optical system 10 composed of an objective lens 11, an imaging lens 12 and an eyepiece 13, an index image projection section 30 projecting two index images and a half mirror 26 connecting an optical path of the index image projection section 30 with an optical path of the observatory optical system 10.例文帳に追加

顕微鏡は、対物レンズ１１と結像レンズ１２と接眼レンズ１３からなる観察光学系１０と、二つの指標像を投射する指標像投射部３０と、指標像投射部３０の光路を観察光学系１０の光路に結合するハーフミラー２６とを有している。 - 特許庁

With the help of a means of inputting a space size or a distance d an operator wishes to observe, and by calculating observation conditions alleviating influence of high contrast and superposed false images based on the values, desired modulation is applied on acceleration voltage or the like of the electron microscope.例文帳に追加

操作者が観測を希望する空間的な大きさまたは距離dを入力する手段と、この値に基づく像が高いコントラスト、且つ重畳する偽像の影響を低減せしめる観察条件を算出し、それに基づき電子顕微鏡の加速電圧等に所望の変調をかける。 - 特許庁

Regarding the optical microscope including a finite objective lens or a pair of infinite objective lenses and an imaging lens, by dividing an optical path behind the imaging lens into two and making a difference in optical path lengths, two images having different focuses are projected on the light receiving surface of an image acquisition apparatus such as a CCD camera.例文帳に追加

有限系対物レンズ、あるいは、一対の無限系対物レンズと結像レンズを備えた光学顕微鏡において、結像レンズ以降の光路を二つに分け、光路長に差を与えることにより、二つの焦点の異なる像をＣＣＤカメラ等の画像取得装置の受光面に投影する。 - 特許庁

A plurality of frame images extracted from a dynamic image taken from a phase-contrast microscope are subjected as pre-processing to differential processing for background deletion, binarization processing for converting a density image into a binary image, and reducing and enlarging processing of an image for noise removal.例文帳に追加

位相差顕微鏡から取り込まれる動画像中から抽出した複数のフレーム画像は、背景消去用の差分処理、濃淡画像を二値画像に変換する二値化処理、ノイズ除去のための画像の収縮膨張処理が、前処理としてなされる。 - 特許庁

Resultantly, the state of a sample 11 can be easily checked only by taking an eye off the eye contact part of the microscope and turning the eye line downward as shown in 20A of the Fig.1 and the observation of sample images, check of sample state and manipulator operation etc. can be smoothly performed.例文帳に追加

その結果、２０Ａのように顕微鏡の接眼部から眼を離して視線を下方に落とすだけで試料１１の状態を容易に確認することができ、試料像の観察と試料状態の確認やマニュピレータ操作等をスムーズに行うことができる。 - 特許庁

A high speed video camera 9 enlarges, with a microscope lens 8, the state where the photosensitive layer of the photosensitive colored resin sheet 14 is adhered to the adhering face 12a of the glass substrate 12 and images the state when the thermo-compression roller 5 passes through the downside of an opening 3c of a holding base plate 3.例文帳に追加

ハイスピードビデオカメラ９は、熱圧着ローラ５が保持基板３の開口３ｃの下方を通過する際に、感光性着色樹脂シート１４の感光層がガラス基板１２の貼着面１２ａに貼着される状態を顕微鏡レンズ８で拡大して撮像する。 - 特許庁

A measuring implement 3 having a position indicator 32 is installed so that it can rotate integrally with the test object 5, and enlarged images of the position indicator 32 formed by a microscope 1 at a plurality of points of time in a process of rotation of the test object 5 are picked up respectively by an image capturing camera 17.例文帳に追加

位置指標３２を有する測定用治具３を被検体５と一体的に回転し得るように設置し、被検体５が回転する過程の複数の時点において、顕微鏡１により形成される位置指標３２の拡大像を撮像カメラ１７によりそれぞれ撮像する。 - 特許庁

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position.例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 - 特許庁

The charged particle beam microscope acquires a plurality of frame images by scanning the field of view of the sample (S304, 305), adds the images together (S307), computes the dimensions of the pattern formed on the sample (308), and at the same time acquires pattern information (314) using a separated image (309, 310) composed of a single frame image comprising a frame image, a subframe image, and the like.例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡において、試料の観察視野を走査して得られたフレーム画像を複数枚取得し（Ｓ３０４、Ｓ３０５）、それらの画像を積算し（Ｓ３０７）、試料上に形成されたパターンの寸法を算出（Ｓ３０８）すると共に、フレーム画像を構成する１フレーム画像またはサブフレーム画像等からなる分別画像（Ｓ３０９，Ｓ３１０）を用いてパターン情報を取得する（Ｓ３１４）。 - 特許庁

Concerning a plurality of grouping areas whose peripehral parts overlap each other in a photographing object area of a microscope image, the data of a plurality of screening and zooming static images photographed at the highest magnification and the data of a plurality of focusing static images photographed with variable focal points in the respective grouping areas are created.例文帳に追加

顕微鏡像のうちの撮影対象領域を、互いに周辺部の一部が重なり合う複数の区分け領域について、最高倍率で撮影された複数のスクリーニング・ズーミング用静止画像のデータと、前記各区分け領域においてそれぞれ焦点を変えて撮影された複数のフォーカシング用静止画像のデータを作成する。 - 特許庁

After the sample 10a to measure the resistance characteristics is irradiated with cation beams and charged, the sample 10a is observed with a scanning ion microscope, and the part (low resistance part) 6 where the electric resistance is different from the other area is detected from the contrast of electronic images (secondary electronic images) by a secondary electron from the sample 10a to be tested.例文帳に追加

抵抗特性を測定すべき被検試料１０ａに陽イオンビームを照射して帯電させた後、被検試料１０ａを走査イオン顕微鏡にて観察し、被検試料１０ａから生じる二次電子による電子像（二次電子像）のコントラストから、電気抵抗値がその他の領域とは異なる箇所（低抵抗箇所）６を検出する。 - 特許庁

A control unit 16 controls a microscope device 13 that magnifies and images a sample 12 with one or more imaging methods, and images and records the image of the sample 12 with one or more imaging methods according to an imaging method list in which combinations of imaging methods specified by a user are registered.例文帳に追加

コントロールユニット１６は、１以上の撮像手法で試料１２を拡大して観察する画像を撮像する顕微鏡装置１３を制御し、ユーザにより指定された撮像手法の組み合わせが登録された撮像手法リストに従って、１以上の撮像手法で試料１２の画像を撮像して記録する。 - 特許庁

This scanning confocal microscope has selecting means (21) for selecting the luminance signal of an optimum wavelength band from a plurality of the luminance signals varying in the wavelength bands of the light outputted after photoelectric conversion by imaging means and image building means (20) for building the three-dimensional images or the images of a deep depth of focus by utilizing the luminance signal of the optimum wavelength band.例文帳に追加

撮像手段で光電変換されて出力される光の波長帯域の異なる複数の輝度信号から最適な波長帯域の輝度信号を選択する選択手段（２１）と、この最適な波長帯域の輝度信号を利用して三次元画像或いは焦点深度の深い画像を構築する画像構築手段（２０）とを備えた走査型共焦点顕微鏡である。 - 特許庁

The microscope for observing a specimen cultured in a culture vessel is provided with a focusing part to adjust the focus to at least two planes comprising the first plane containing the specimen in the culture vessel and the second plane different from the first plane based on a prescribed condition and an image taking part to take images on the first and the second planes to form images.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡であって、培養容器において試料が存在する第１の面と、所定の条件に基づいて、第１の面と異なる第２の面との少なくとも２つの面に対して焦点調節を行う焦点調節部と、第１の面と第２の面とにおいて、撮像して画像を生成する撮像部とを備える。 - 特許庁

The screening method comprises the analysis of cell images photographed by a microscope, the evaluation of the parameterized value of the deviation of the contour of the cell from circles C_I and C_O as a morphological character representing the morphological character of each cell in the cell images and the screening of medicines based on the evaluation.例文帳に追加

顕微鏡により取得した細胞画像を解析し、細胞画像中の各細胞の形態的な特徴を表す形態特徴量として、細胞の輪郭の円Ｃ_Ｉ，Ｃ_Ｏからのずれ量をパラメータ化した値を評価し、この評価に基づいて薬剤スクリーニングを行うスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁