「multiple defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To collect defect images steadily and at high throughput, in a method of observing defects on multiple samples in a short period of time by using a defect observation device.例文帳に追加

欠陥観察装置を用いて短時間に多数の試料上の欠陥を観察する方法において、高スループットで、かつ安定に欠陥画像を収集する。 - 特許庁

Subsequently, the method determines the type of the defect of the template based on time course of change of multiple images obtained by the imaging steps over multiple times.例文帳に追加

次に、複数回の撮像する工程によって得られた複数の画像の経時的な変化に基づいて、テンプレートの欠陥の種類を判定する。 - 特許庁

To provide a proxy device capable of reducing a load on a network and not causing an operational defect even if connected in multiple stages.例文帳に追加

ネットワークの負荷を軽減でき、多段接続されていても動作の不具合が引き起こされないプロキシ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device wherein individual pixel electrode has multiple sub pixel electrodes and a short circuit defect is easily corrected and to provide its defect correcting method.例文帳に追加

個々の画素電極が複数のサブ画素電極を有する液晶表示装置における短絡欠陥の修正が容易な液晶表示装置およびそのような欠陥の修正方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently carry out production management such as specification of a product number of a product with a machining defect from multiple products.例文帳に追加

多数の製品から加工不良がある製品の製品番号を特定するなど、生産管理を効率的に行なう装置を提供する。 - 特許庁

Thus, a defect that the processing in the multiple photographing image mode is automatically continued and a defective photographing image corresponding to the fault is automatically integrated as a multiple image processing object can be avoided.例文帳に追加

これにより、多重画像撮影モードによる処理が自動的に継続されて、該異常に対応する不良撮像画像が多重画像処理対象として自動的に組み込まれる不都合がなくなる。 - 特許庁

To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput.例文帳に追加

最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。 - 特許庁

In this multiplexing method, there is a defect such that the integrating time per each individual channel during a signal detection period is reduced by the number of multiple positions.例文帳に追加

これには信号が検出される間の個別チャネル当たりの積分時間が多重位置の数だけ低減されるという欠点がある。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF PATTERN DEFECT INSPECTION BY USING ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE AND MIRROR ELECTRON PROJECTION TYPE OR MULTIPLE BEAM TYPE ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステム、並びに写像投影型又はマルチビーム型電子線検査装置 - 特許庁

The disconnection and appearance defect of a wiring pattern in a printed circuit board 1 enabling multiple semiconductor devices 5 to be mounted are checked, and then a defect recognition mark 2 that can be identified by image recognition is added to a semiconductor device mount area corresponding to the defect location on the printed circuit board 1.例文帳に追加

複数の半導体素子５が搭載可能なプリント基板１の配線パターンの断線および外観不良のチェックを行い、プリント基板１の不良箇所に対応して該当する半導体素子搭載領域に画像認識などによって識別可能な不良認識マーク２を付与する。 - 特許庁

To provide a semiconductor laser element of long life and low threshold current density with no occurrence of multiple-mode by reducing the crystal defect of a nitrogen compound semiconductor film.例文帳に追加

窒素化合物半導体膜の結晶欠陥を低減し、寿命が長く、閾値電流密度が低く、多重モードの発生しない半導体レーザ素子を得る。 - 特許庁

Not on camera, because people do hate a cop killer and you so very much want to be admired, which is a defect, really, in a multiple murderer but...例文帳に追加

カメラの前ではね 世間の人達は 警官殺しは嫌いだし あなたは とっても称賛されたがってる 何人も殺す殺人犯としては それは欠点だけど - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide an electron beam measuring technique for inspecting the shape, dimensions, presence of an defect, and the like in regard to a pattern formed on a sample through a multiple exposure method.例文帳に追加

多重露光法により試料上に形成されたパターンの形状、寸法、または欠陥の有無等の検査を行う電子ビーム測定技術を提供する。 - 特許庁

A defect is detected which is generated in a wafer on which a pattern is formed, and positional relationships between a coordination system for indicating a defect position used by an inspection equipment 1 for outputting the position where the detected defect is generated and a coordination system used in the design data of the pattern are set in multiple ways (steps S3 and S4).例文帳に追加

パターンが形成されたウェハに発生した欠陥を検出し、検出した欠陥の発生位置を出力する検査装置１が使用する欠陥位置を指し示すための座標系と、パターンの設計データにおいて使用される座標系と、の間の位置関係を複数設定する（ステップＳ３、Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for solving a problem of requiring a high-rate data transfer means and a high-capacity memory or storage medium when using a configuration for simultaneously detecting images under multiple conditions and integrating them.例文帳に追加

複数条件の画像を同時に検出して統合する構成を用いた場合、高レートのデータ転送手段と大容量のメモリや記憶媒体が必要となる。 - 特許庁

A jig fixture 5 is inserted from multiple directions between the cap part 2-1 and the cap part 2-2 of the insulator 2 and, by applying stress on the cap part, the defect of the cap part is detected.例文帳に追加

ガイシ２の笠部２−１と笠部２−２との間に治具５を多方向より挿入し、笠部に応力を加えることにより、笠部の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an optical surface defect inspection device or an optical surface defect inspection method which can achieve high sensitivity inspection by enabling improvement in S/N by a multiple dividing cell system even without performing an autofocus operation.例文帳に追加

本発明は、オートフォーカス動作を行わなくとも、多分割セル方式によるＳ／Ｎ向上を可能とし、高感度の検査を実現できる光学式表面欠陥検査装置または光学式表面欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an electrostatic charging member which is free of the occurrence of static charge defect due to local unevenness of the close contact force of a multiple layer tube being formed simultaneously and the defect of the close contact of interlayers, a processing cartridge provided with the charging member, and to provide an an electrophotographic device.例文帳に追加

同時成形された多層チューブの局所的な密着力の不均一や各層間の密着不良に起因する帯電不良が生じない帯電部材、その帯電部材を有するプロセスカートリッジ及び電子写真装置を提供することにある。 - 特許庁

A method for inspecting a defect of a green honeycomb molded article 100 having a partition wall 112 that forms multiple flow channels 110 extending parallel to each other, and sealing portions 114 that seal upper ends of some of the multiple flow channels 110 and lower ends of the remaining of the flow channels 110.例文帳に追加

互いに平行に伸びる複数の流路１１０を形成する隔壁１１２、及び、複数の流路１１０の内の一部の上端及び残部の下端を閉鎖する封口部１１４を有するグリーンハニカム成形体１００の欠陥を検査する方法である。 - 特許庁

To obtain a manufacturing method or the like, capable of detecting a cord having a defect in a coil or the like, without depending on a visual sense in the process of manufacturing a non-contact type IC card on a substrate in a multiple way.例文帳に追加

基材に非接触型ＩＣカードを多面で製造する工程において、コイル等に欠陥のあるカードを視覚によらず検知できる製造方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a multiple-optical-axis photoelectric sensor configured such that a beam lighting device and a light receiving unit can be operated in cooperation with each other while preventing a defect such as noise through the configuration of the optical synchronization system.例文帳に追加

光同期方式にて構成してノイズ等の不具合を防止しつつも、投光器及び受光器が共に連携して作動可能な構成をなす多光軸光電センサを提供する。 - 特許庁

To easily extract a defect position and identify a position especially in inspection of wirings in fine, large-scaled and multiple shapes in a semiconductor device by an absorption current method.例文帳に追加

吸収電流法による半導体装置の特に、微細・大規模・多様形状の配線の検査において、欠陥箇所の抽出・位置同定を容易に行うことを可能とする。 - 特許庁

Thereby, the visual inspection of a multiple layers phase defect becomes possible by an easy and practical through-put in a hole pattern which cannot be inspected easily by a mask inspection, and the yield is improved by supplying a defect free mask which is performed with a defective relief according to classification of the cause of failure.例文帳に追加

これにより、マスク検査では容易に検査できないホールパターンにおける、多層膜位相欠陥を容易かつ実用的なスループットで外観検査が可能となり、欠陥の原因の分類に応じた欠陥救済を行った無欠陥マスクを供給することで歩留まりが向上する。 - 特許庁

To suppress an influence when a node defect occurs by transmitting a message to a plurality of receiving nodes without causing response explosion and grasping message receiving situations of the receiving nodes in one-to-multiple type message transmission.例文帳に追加

１対多のメッセージ伝送において、応答爆発を起こすことなくメッセージを複数の受信ノードに送信し、受信ノードのメッセージ受信状況を把握し、ノード障害発生時に影響を抑える。 - 特許庁

To suppress fading in a multiple path environment and to turn a defect of the presence of a reflection surface into an advantage, by using a 3rd polarization direction where a 3rd communication channel is generated effectively.例文帳に追加

第３の通信チャネルを効率的に生成する第３の偏波方向を用いることによって、多重路環境におけるフェージングの問題を改善し、反射面の存在を欠点から利点にすること。 - 特許庁

This cutter defect detecting method for the numerical control machine tool is characterized in that a distance detecting means measures a distance d to the cutter 3, while rotating the cutter 3 having multiple blade parts 3a, compares the measured data with similar measured data obtained from the blade 3 having no defect, and detects presence/absence of the defect of the blade 3 by difference from the both measured data.例文帳に追加

数値制御工作機械の刃物欠損検出方法において、複数の刃部３ａを有する刃物３を回転させながら、距離検出手段により前記刃物３までの距離ｄを測定し、その測定データと欠損の無い刃物３に対して得られた同様な測定データと比較して、両測定データの相違の有無により刃物３の欠損の有無を検出することを特徴とするものである。 - 特許庁

The ferroelectric substance metal oxide film 132 contains more stoichiometric bonds each between one metallic element out of the multiple metallic elements and oxygen element than bonds each including an oxygen defect between one metallic element and oxygen element.例文帳に追加

強誘電体金属酸化膜１３２は、複数の金属元素のうちの一の金属元素と酸素元素との化学量論的結合を、一の金属元素と酸素元素との酸素欠損を含む結合よりも多く含む。 - 特許庁

To provide the structure of an element end where there is no defect in the cutting plane after dicing, and missing does not occur in the pixel array in a large area imaging device where multiple image sensors are joined in the shape of tiles, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

複数の撮像素子をタイル状につなぎ合わせた大面積撮像装置において、ダイシング後の切断面に欠損が無く、画素配列に欠落を生じない素子端部の構造及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

When data is recorded in an optical disk, recorded data is divided into blocks corresponding to integral multiple of sectors of an optical disk, an error correction code is added for each block, data to which an error correction code is added is recorded making a fragment having the prescribed size corresponding to integral multiple of a block as a unit detecting whether a defect exists in a sector to be recorded or not.例文帳に追加

光ディスクにデータを記録する際に、記録するデータを、光ディスクのセクタの整数倍に対応したブロックに分割し、ブロック毎に誤り訂正符号を付加し、誤り訂正符号が付加されたデータを、記録しようとするセクタに欠陥があるか否かを検出しながら、ブロックの整数倍に対応した所定サイズのフラグメントを単位として記録する。 - 特許庁

To provide a high-resolution multiple mass filter wherein an electric field for separating ionized particles is never disturbed even if there is a film defect such as a pin hole in an inside electrode, or the beam diameter of the ionized particles entering the mass filter is large.例文帳に追加

内側電極にピンホール等の膜欠陥があっても、また、マスフィルタヘの入射イオン化粒子のビーム径が大きい場合でも、イオン化粒子を分離するための電界が乱されることがない分解能が高い多重極マスフィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method with a high yield suppressing a defect at a multi-layered connection position in manufacturing a multi-layer POP structure semiconductor device by multi-layering the semiconductor device in the state of a multiple patterning wiring substrate package, and thereafter cutting it by collective cutting.例文帳に追加

多数個取り配線基板実装パッケージの状態で多層化し、その後、一括切断による個片化をおこなって多層ＰＯＰ構造半導体装置を製造するとき、多層化接続個所での欠陥を抑止した、高歩留りでの製造方法を提供する。 - 特許庁

The defect detector comprises: XY coordinate transformation means 112 as coordinate transformation means for exciting an epitaxial growth substrate 17 where a compound semiconductor layer is grown epitaxially on a single crystal substrate by applying exciting light from above and then mapping the light emission intensity of photoluminescence over the whole epitaxial growth substrate; and defect detection means 113 for sequentially detecting defective pixels by using the difference between multiple pixels divided into coordinates by the coordinate transformation means 112 and multiple pixels adjacent thereto.例文帳に追加

単結晶基板上に化合物半導体層をエピタキシャル成長させたエピタキシャル成長基板１７の上方より励起光を照射して励起した後に、フォトルミネッセンスによる発光強度のマッピングをエピタキシャル成長基板全体に渡って行う座標変換手段としてのＸＹ座標変換手段１１２と、座標変換手段１１２により座標に分割された複数のピクセルのそれぞれとこれに隣接する複数ピクセルとの差を用いて、欠陥検出すべきピクセルが欠陥ピクセルかどうかを順次検出する欠陥検出手段１１３とを有している。 - 特許庁

To provide a coated paperboard with multiple laminations, having score crack resistance in the case of using as corrugated board, free from dropout defect caused by fall-off of inorganic materials and fine fibers, giving high printing gloss and having stamp printability especially to a corrugated board for vegetables and fruits.例文帳に追加

段ボール用途に使用した場合における耐罫割れ適性を有し、無機物や微細繊維欠落によるインク抜けがなく、また、高い印刷光沢が得られ、さらに、特に青果物用途の段ボールにおけるスタンプ印刷適性を有する多層抄き塗工板紙を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which is not only excellent in liquid coating stability, produces less air bubbles in a coating liquid, decreases image defects, has high sensitivity and high durability, obviates the degradation in image quality of the multiple photographs taken on the spot, the degradation in sensitivity, cleaning defect, etc., by film depletion and has excellent lubricity and mechanical characteristics.例文帳に追加

塗布液安定性に優れるのみならず、塗布液中の気泡の発生が少なく、画像欠陥が少なく、又、高感度、高耐久性で多数枚実写時の画質の低下、膜減耗による感度低下やクリーニング不良等がなく、潤滑性及び機械特性に優れる電子写真感光体を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an integrated optical element having three or more optical element portions integrated by butt joint technique, in which the integrated optical device having small optical loss and high optical coupling efficiency is achieved by suppressing film thickness unevenness nearby a butt joint connection portion and a crystal defect of a multiple quantum well structure nearby the butt joint connection portion.例文帳に追加

３つ以上の光素子部をバットジョイント集積する集積光素子の製造方法において、バットジョイント接続部近傍の膜厚不均一性や、バットジョイント接続部近傍の多重量子井戸構造における結晶欠陥の発生を抑制し、光損失の少なく光結合効率の高い集積光デバイスを実現する手法を提供する。 - 特許庁

To provide an ink set having a high ejection stability, without having an defect in points of hue, weather resistance, waterproof property and image quality, especially excellent in an image fastness of yellow in a mixed color part, and a method for improving the ozone fastness of the multiple order color by using the ink set.例文帳に追加

吐出安定性が高く、色相、耐候性、耐水性や画質面での欠点がないインクセットを提供することであり、特に混色部分でのイエローの画像堅牢性に優れたインクセット、及びそのインクセットを用いた多次色のオゾン堅牢性を改良する方法、並びにそのインクセットをインクジェット記録用として用いた、高品質の記録が可能なインクジェット記録方法の提供。 - 特許庁

A step between a reflection portion which reflects EUV light and an absorption portion which absorbs the EUV light is adjusted to a size which is an odd multiple of a 1/4 wavelength of the inspection light used for defect inspection that is carried out utilizing edge light shield effect by a phase difference between reflected light from the reflection portion and reflected light from the absorption portion when a reflection-type mask blank is irradiated perpendicularly with the inspection light.例文帳に追加

ＥＵＶ光を反射する反射部とＥＵＶ光を吸収する吸収部との段差を、欠陥検査に使用する検査光の１／４波長の奇数倍の大きさに調整し、検査光を垂直に照射した際の、反射部からの反射光と、吸収部からの反射光の位相差によるエッジ遮光効果を利用して欠陥検査を行うことにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

This porous scaffold for culturing a cell for a site of a defective living portion into a shape fitted to the defect, consists of particulate void sections and needle-like void sections, and is characterized in that the porous body which has a porous structure formed by connecting the particulate void sections to one another by the multiple needle-like sections is covered with an outer shell with the porosity less than that.例文帳に追加

本発明１の多孔質足場材は、欠損した生体部分に適合する形状に、当該箇所の細胞を培養する多孔質足場材であって、粒子状空隙部と針状空隙部とからなり、前記粒子状空隙部が多数の針状空隙部により相互に連通されてなる多孔質構造を有する多孔質体が、これよりも気孔率の小さい外郭により覆われてなることを特徴とする多孔質足場材である。 - 特許庁

To effectively utilize a dynamic range of an amplifier by avoiding a defect of an amplifier input reaching a multiple of number of carriers resulting from sum of maximum values of instantaneous amplitude of the carriers when phases of the carriers are matched in the case of using a method of synthesizing a plurality of the carriers from one or a few reference oscillators to decrease a maximum input voltage possibly to be caused.例文帳に追加

この発明は、周波数多重通信または符号多重通信を用いた移動体無線基地局の送信機等において、一つまたは少数の基準発振器から複数の搬送波を合成する方式を用いた時に各搬送波の位相が揃った場合搬送波瞬時振幅の最大値が加算され、増幅器入力が搬送波数の波数倍となってしまう欠点を無くし、生じうる最大入力電圧を小さくして増幅器のダイナミックレンジを有効に活用する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁