「non-defective unit」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Even when an article is one which should be sorted as a non-defective article, the determination unit 6 determines a separate metering unit 2 for placing the article (defective article).例文帳に追加

また、物品が不良品として振り分けられるべきものである場合にも、決定部６は、当該物品（不良品）を載置すべき他の計量部２を決定する。 - 特許庁

To provide a test device capable of observing different output values at normal time and at a failure time, improving the failure detection rate of the whole circuit, and improving the discrimination ability between a non- defective unit and a defective unit.例文帳に追加

正常時と故障時とで異なる出力値を観測することが可能で、回路全体の故障検出率を向上でき、良品／不良品の判別能力を向上できるテスト回路を得ることである。 - 特許庁

To obtain an impedance measuring device for an electronic component, capable of preventing misjudgment that a defective unit is judged as a non- defective unit in the case of measuring terminals with contact failure, using a simple circuit.例文帳に追加

測定端子の接触不良時に不良品を良品と誤判定することを簡単な回路で防止しうる電子部品のインピーダンス測定装置を提供する。 - 特許庁

A quality decision unit 13 reads out data on the spectrum of an integrated circuit chip, which is an object of inspection from a spectral data retention unit 11 and reads out data on the reference spectrum of an integrated circuit chip, which is a complete non-defective, from a complete non- defective data retention unit 14.例文帳に追加

良否判定ユニット１３は、検査対象の集積回路チップのスペクトルデータをスペクトルデータ保存ユニット１１から読み出し、また、完全良品の集積回路チップの基準スペクトルデータを完全良品データ保存ユニット１４から読み出す。 - 特許庁

Thus, it uses subdivided reference values to determine the unit actually fault-sensed as defective due to non-defective foreign material to be acceptable, not the actual defective unit, preventing fault sensing to enhance inspection efficiency in the testing processes.例文帳に追加

したがって、本発明によると、細分化された基準値を利用して実際に不良ユニットではなく、良品性異物による不良として過検出されたユニットを良品として判別することによって、過検出を防止して検査工程での検査効率を向上させることができる。 - 特許庁

Moreover, data on the positions of the chip which is the object of inspection, and the chip which is the complete non- defective, are respectively read out from a positional data retention unit 12.例文帳に追加

更に、検査対象のチップ及び、完全良品のチップの位置データを位置データ保存ユニット１２からそれぞれ読み出す。 - 特許庁

Then it uses the 2nd brightness illuminometer reference value to determine whether the unit determined as defective actually has any pattern defect or non-defective foreign material.例文帳に追加

そして、不良として判別されたユニットは第２の明るさ照度計基準値を利用して実際にパターン不良であるか、良品性異物による不良であるかを判別する。 - 特許庁

When the unit 13 detects the defective product, the board 2 is sorted from the non-defective product, the printer 12 is stopped or various type conditions are changed.例文帳に追加

半田検査機１３が不良品を検出したとき，そのプリント配線板２を良品から分別すると共に，半田印刷機１２を停止させ，又は各種条件を変更する。 - 特許庁

To provide a taping unit and an electronic component inspection device which carry out an appearance inspection of an electronic component inserted in a carrier tape pocket, and exchange a defective product with a non-defective product efficiently.例文帳に追加

キャリアテープポケットに挿入された電子部品の外観検査を行い、不良品を効率よく良品と交換するテーピングユニット及び電子部品検査装置を提供。 - 特許庁

Accordingly, since the front mother substrate is separated into two front substrates, and the protective layer is formed only for the front substrate screened as the non-defective unit, even if a defective front substrate exists in the front mother substrate, superposing work of the defective substrate is not executed.例文帳に追加

このため、前面マザー基板を２枚の前面基板に分断して、良品として選別された前面基板のみに対して、保護層を形成するので、前面マザー基板に不良となる前面基板が存在していたとしても、この不良の前面基板の重ね合わせ作業を実施することがない。 - 特許庁

When manufacturing the front substrate of a PDP, a separating step of separating a front mother substrate, and a non-defective unit screening step of screening non-defective units from the front substrates separated in the separating step are executed between a dielectric layer forming step and a protective layer forming step.例文帳に追加

ＰＤＰの前面基板の製造時において、誘電体層形成工程と、保護層形成工程との間に、前面マザー基板を分断する分断工程と、この分断工程で分断されて得られた前面基板から良品を選別する良品選別工程とを実施する。 - 特許庁

The lamp unit B that is determined as a non-defective product is mounted on the body C, and the imaging unit 2 picks up an image of the light emitting surface of the lamp unit B.例文帳に追加

不良品ではないと判定されたランプユニットＢが本体部Ｃに装着され、上記ランプユニットＢの発光面を撮像部２が撮像する。 - 特許庁

Then, the determination unit 6 determines a separate metering unit 2 for placing an unloaded article (non-defective article) to sort the articles to each rank, based on the recognized weight value.例文帳に追加

そして、決定部６は、認識した重量値に基づいて物品をランクに振り分けるために、降ろされた物品（良品）を載置すべき他の計量部２を決定する。 - 特許庁

A computer 17 stores the results of analysis inputted from each frequency analyzing unit 84, compares the results of analysis of the power supply current analyzing device connected to the non-defective DUT with the results of analysis of another power supply current analyzing device, and detects a defective DUT.例文帳に追加

コンピュータ１７は、各周波数解析ユニット８４から入力される解析結果を記憶し、良品であるＤＵＴを接続している電源電流解析装置の解析結果と、他の電源電流解析装置の解析結果を比較して、不良であるＤＵＴを検出する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a non-contact IC card used as a non-contact type also as a contact/non-contact type, which is reduced in defective disconnection of a coil by suppressing deformation of the coil in a functional unit in manufacturing an IC card, is less in variation of frequency characteristics and is excellent in communication performance, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

ＩＣカード製造時の機能ユニット内のコイルの変形を抑止して、コイルの断線不良を低減し、しかも周波数特性のバラツキが小さく、通信性能の優れた非接触式または非接触式・接触式兼用の非接触式ＩＣカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

In the loading system, loading equipment 4 includes a non-defective unit loading stage 41, a recyclable unit loading stage 42 and a defective unit loading stage 43 and the conveyance equipment 3 described above includes a selecting machine 33 for sorting and conveying the prepregs 1 conveyed in accordance with the results of the inspection made by the inspection instrument 2 to the respective loading stages.例文帳に追加

積載システムは、積載装置４が、良品積載ステージ４１と、リサイクル可能品積載ステージ４２と、不良品積載ステージ４３とを具備すると共に、上記搬送装置３が、上記検査装置２で検査した結果に基づいて搬送されるプリプレグ１を、各積載ステージに選別して搬送する選択機３３を具備する。 - 特許庁

When the chip 3 is determined to be non-defective, these unit plates 4 are layered and hot-pressed together with the other printed boards 2a to 2c and 2f to 2i, to manufacture a multilayer printed circuit board.例文帳に追加

半導体チップ３が良品とされた場合、その試験ユニット板４を他のフレキシブルプリント板２ａ〜２ｃ，２ｆ〜２ｉと共に積層して熱プレスし、多層プリント配線板を製造する。 - 特許庁

To provide a wire body feeding device capable of supplying the wire body having good quality of a non-defective unit by the stable prescribed tension without damaging the external surface of the wire body 1.例文帳に追加

線条体１の外表面を傷付けることなく良品質の線条体を安定した所定の張力で供給することができる線条体供給装置を提供する。 - 特許庁

As it is desirable for the element location in a head to be formed in the optimum location which becomes the lowest flying height, for a certain element as non defective unit, a flying surface pattern is formed so as to become a predetermined location relatively.例文帳に追加

ヘッドにおける素子位置は最も浮上量の低くなる最適な位置に形成する事が望ましいため、ある良品素子にたいし浮上面パタンを相対的に所定の位置となるように形成する。 - 特許庁

A difference of the internal gap before and after tightly fastening the nut 11 is compared with a set value predetermined on the basis of a non- defective item, and an obtained quality of the rolling bearing unit 1 for wheel support is determined.例文帳に追加

そして、上記ナット１１を緊締する前後での内部隙間の差を、良品を基に予め求めておいた設定値と比較して、得られた車輪支持用転がり軸受ユニット１の良否を判定する。 - 特許庁

To provide an inspection unit and an inspection method for a semiconductor device, which is capable of locating a defective region occurring, in the semiconductor device of a certain type which is kept in an activated state for a certain time and then turned to a non-activated state, after a certain time elapses.例文帳に追加

一定時間のみ状態が活性化され、その一定時間後は状態が非活性化されるように構成されたタイプの半導体装置に対しても、不良個所を特定することができるようにする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor by spray coating using coating liquids which do not allow the undissolved matter and agglomerated matter to lower the non-defective unit rate of the photoreceptor from remaining and the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

感光体の良品率を低下させる不溶解物や凝集物の残留のない塗工液を用いたスプレー塗工による電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体を得る。 - 特許庁

The element units 1 and 2 are pasted together to obtain the solar cell 10, so that an element unit which contains a defective solar cell element film is omitted in advance, only the element units which contain non- defective solar cell element films can be pasted together, and therefore the wasted material can be least.例文帳に追加

素子ユニット１，２の貼り合わせにより太陽電池１０を形成するようにしたので、欠陥の有る太陽電池素子膜を含む素子ユニットを予め除外し、欠陥の無い太陽電池素子膜を含む素子ユニットだけを貼り合わせることが可能になり、従って材料の無駄を最小限に抑えることができる。 - 特許庁

To provide a liquid drop non-ejection detecting device that does not require highly accurate setting of a positional relationship between an ejection nozzle of a liquid drop jet head and a liquid drop detecting unit and can detect presence or absence of defective ejection with high reliability for a long time, and to provide a liquid drop jet device.例文帳に追加

液滴吐出ヘッドの吐出ノズルと液滴検知ユニットとの位置関係を高精度に設定する必要がなく、長期間の使用に際しても高い信頼性を確保して吐出異常の有無を検出することができる液滴不吐出検出装置および液滴吐出装置を提供すること。 - 特許庁

Thus, before defective lubrication occurs to the constant velocity joint 5, only by replacement of the seal boot 21, a need for exchange of the whole of the equal velocity joint 5 or including the double row rolling bearing 6 is eliminated, man-hours and a replacement cost can be reduced in the non-separation type hub unit 1 for a vehicle.例文帳に追加

シールブーツ２１に検出用導線２８を埋設することで、この検出用導線２８が断線したこと、すなわちシールブーツ２１が破損したことを検出器２９が検出し、従って、等速ジョイント５が潤滑不良をおこす前にシールブーツ２１の交換のみで、等速ジョイント５全体、あるいは複列転がり軸受６も含めて交換するといった必要がなくなり、特に非分離タイプの車両用ハブユニット１では、工数や交換費用を削減できる。 - 特許庁