「normal test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

After the reset release, the test mode setting signal TESTMODE[7:0] is fixed, and the normal external input terminal 1 can be used as a normal input terminal.例文帳に追加

リセット解除後は、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]は固定され、通常外部入力端子１は通常入力端子として使用できる。 - 特許庁

The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.例文帳に追加

テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準（Ｖ_ｒｅｆ＿ｔｅｓｔ）を有する。 - 特許庁

To provide a test circuit having an effect for suppressing the cost of LSI production by eliminating a LSI test pin unnecessary for a normal operation.例文帳に追加

通常動作に不要であるLSIテストピンを削除し、LSI製造コストの増加を押さえる効果を持つ、テスト回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

A normal signal 3 and a test output signal 4 are connected to tristate buffers 11 and 12 which are controlled with a test mode switching signal 5, respectively.例文帳に追加

通常信号３とテスト出力信号４をそれぞれテストモード切替信号５により制御されるトライステートバッファ１１、１２に接続する。 - 特許庁

To provide a test burn-in board(TBIB) handler capable of preventing mounting inferiority of an IC on a normal IC socket on a TBIB with superior test efficiency.例文帳に追加

試験効率が良く、ＴＢＩＢ１上の正常ＩＣソケットにＩＣ１Ａの実装不良を防止できるＴＢＩＢハンドラを提供する。 - 特許庁

The transmission unit 3 can transmit a radio wave by switching an operation wave used for normal operation and a test wave used for a test of the wireless device 2.例文帳に追加

送信部３は、通常の運用に使用する運用波と、無線装置２の試験に使用する試験波とを切り替えて送信可能である。 - 特許庁

In this transmission, the communication rate in the normal mode is different from that in a test mode, and parity signals in the normal mode and the test mode adopt odd parity in one of the two, and even parity in the other.例文帳に追加

この伝送に、検査モードと通常モードでは異なる通信レートにすること、パリティ信号を、検査モードと通常モードの一方を奇数パリティとし、他方を偶数パリティとすることを含む。 - 特許庁

The system is provided with a clock generating unit which has a test circuit corresponding to a device to be tested having a test circuit responding to a test signal and which supplies first clocks corresponding to operational frequencies of a test device being normal and the device to be tested to the test device and the device to be tested.例文帳に追加

テスト信号に応答するテスト回路を有する被テストデバイスに対応したテスト回路を持ち、正常とされたテストデバイス、被テストデバイスの動作周波数に対応した第１クロックをテストデバイス及び被テストデバイスに供給するクロック生成装置を設ける。 - 特許庁

A mode setting circuit switches an operation mode to a normal operation mode or a test mode in accordance with an external control.例文帳に追加

モード設定回路は、外部制御により動作モードを通常動作モードまたはテストモードに切り替える。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can test easily whether each memory cell is normal or not.例文帳に追加

各メモリセルが正常か否かを容易にテストすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit of a little power consumption at the time of normal operation.例文帳に追加

通常動作時において消費電力の少ないテスト回路を有する半導体装置を提供する - 特許庁

Preferably, the first operation mode is a terminal test mode, and the second operation mode is a normal operation mode.例文帳に追加

好ましくは、第１の動作モードは、端子試験モードであり、第２の動作モードは、通常動作モードである。 - 特許庁

Therefore, for example, normal stress can be given to the adjacent memory cell in a burn-in test.例文帳に追加

したがって、たとえばバーンインテストにおいて隣接メモリセルに対して正規のストレスを与えることができる。 - 特許庁

Concretely, the substrate voltage of a P-channel MOS transistor is made higher in a test than normal.例文帳に追加

具体的には、試験時において通常時よりもＰチャンネルＭＯＳトランジスタの基板電圧を高くする。 - 特許庁

As the result of the property test, only a head slider determined to be normal is stuck to the micro-actuator by resin.例文帳に追加

特性試験の結果、正常と判定されたヘッドスライダのみ、マイクロアクチュエータと樹脂接着する。 - 特許庁

When received signals in the receiving systems are normal during a test, it is determined that the receiving systems and the transmitting systems of the semiconductor integrated circuit 100 are normal.例文帳に追加

テストで、受信システムでの受信信号が正常であれば、半導体集積回路１００の受信システムと送信システムとは正常と判断される。 - 特許庁

When the signals are normal, the operation of the whole semiconductor integrated circuit device 1 is checked by the test bench TB to judge whether or not the operation is normal.例文帳に追加

正常の場合、半導体集積回路装置１全体としての動作をテストベンチＴＢによってチェックし、正常であるか否かを判断する。 - 特許庁

The test signal generating means 10 generates and outputs a plurality of test signals TS so that the quality of a digital modulated signal in normal operation is lowered.例文帳に追加

テスト信号生成手段１０は、通常動作時のデジタル変調信号の品質を低下させた複数のテスト信号ＴＳを生成して出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit raised in effect of an accelerated test in a reliability evaluation test while suppressing consumption current in normal operation.例文帳に追加

通常動作時における消費電流を抑えたまま、信頼性評価試験における加速試験の効果が高められた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Information regarding the tilt of a recording head is detected on the basis of the test pattern by recording the test pattern with a scanning rate slower than that in normal recording.例文帳に追加

通常の記録よりも遅い走査速度によりテストパターンを記録し、このテストパターンに基づき記録ヘッドの傾きに関する情報を検出する。 - 特許庁

The normal signal 3 or test output signal 4 is selected by controlling the test mode switching signal 5 and outputted to an output terminal 6.例文帳に追加

テストモード切替信号５を制御することにより通常信号３とテスト出力信号４のどちらかを選択して、出力端子６へ出力する。 - 特許庁

To provide a synchronous semiconductor memory which can discriminate easily normal/defective condition at the time of dynamic burn-in test by doubling operation speed in a test mode.例文帳に追加

テストモード時の動作速度を２倍にすることにより、動的バーインテストの際の良否判定を容易にできる同期型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To enable screening of a defective memory cell by a die sort test by shortening a RAS restore time of a random cycle time at a normal mode more than that at a test mode.例文帳に追加

テストモード時にランダムサイクルタイムのRASリストア時間を通常モード時よりも短縮してダイソートテストによる不良メモリセルをスクリーニングできるようにする。 - 特許庁

Refreshing is performed based on the refresh- address for a test by this application, next, normal read-out or write-in is performed based on the address for the second test.例文帳に追加

この印加により、まず、テスト用リフレッシュアドレスに基づくリフレッシュが行われ、次いで、第２のテスト用アドレスに基づく通常の読出または書込が行われる。 - 特許庁

An image forming apparatus regards a start signal as a trigger, and writes the positioning test pattern between papers (Lb) when continuously writing a plurality of normal images, and reads the test pattern with a sensor on an intermediate transfer belt in order to regulate an image formation control condition to be fed back.例文帳に追加

スタート信号をトリガとし、複数枚の通常画像を連続して書込む際の紙間（Lb）で位置合わせ用等のテストパターンを書込む。 - 特許庁

At the time of scanning test, an internal clock generating circuit 3 outputs a clock signal for test of high level width smaller than a clock signal CLK at the time of normal operation.例文帳に追加

スキャンテスト時に内部クロック生成回路３では通常動作時のクロック信号ＣＬＫよりも小さいハイレベル幅のテスト用クロック信号を出力する。 - 特許庁

Even if the DUT 1 becomes faulty, the apparatus can terminate processing by switching from the faulty test channel to the unused and normal test channel and conduct a test without a recovery process.例文帳に追加

ＤＵＴ１が故障したとしても、故障したテストチャネルを未使用且つ正常なテストチャネルに切り替えることにより、処理を終了して復旧処理を行うことなく、試験を行うことができる。 - 特許庁

To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity.例文帳に追加

通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。 - 特許庁

The test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc1 having a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS1 and generates a test mode signal TM of a L level.例文帳に追加

テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ１に応じて通常動作時の電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ１を検出してＬレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

On receiving the inspection signal, the fire alarm 3 starts the operation confirmation test and confirms whether operation is normal.例文帳に追加

点検信号を受信した火災警報器３は動作確認テストを開始し、正常動作か否かを確認する。 - 特許庁

To decide whether an over current protection value of a main current is within a normal range without a special test facility.例文帳に追加

特殊なテスト設備を要せず、メイン電流の過電流保護値が正常範囲に収まっているか判定する。 - 特許庁

When the test data are normal as the result of inspection, the signal 23 is outputted and reported to a corresponding control part 300.例文帳に追加

その結果、正常ならバス転送許可信号２３が出力され当該制御部３００に通知される。 - 特許庁

Data on a stress-strain characteristic of the terminal-constituting material are acquired by a normal tensile test.例文帳に追加

また、端子を構成する材料についての応力−歪み特性のデータを通常の引張試験により取得する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 is provided with a normal mode, a plurality of test modes, and a setting confirming mode as an operation mode.例文帳に追加

半導体装置１は、通常モードと複数のテストモードと設定確認モードとを動作モードとして備える。 - 特許庁

Data on stress-strain characteristic of the terminal strength are obtained by a normal tensile test.例文帳に追加

また、端子を構成する材料についての応力−歪み特性のデータを通常の引張試験により取得する。 - 特許庁

PREPARATION USEFUL FOR NORMAL RECOVERY OF FUNCTIONAL REDUCTION IN BOTH OR EITHER IN LIVER FUNCTION AND RENAL FUNCTION TEST例文帳に追加

肝機能および腎機能検査で両方或いは片方の機能低下の正常回復に役立つ調製物 - 特許庁

When all the mode selection signals are set to the output test mode, the integrated circuit 10 makes normal operations.例文帳に追加

全てのモード選択信号を出力テストモードへセットした時、集積回路１０は通常の動作を行う。 - 特許庁

To provide a testing device capable of identifying a defective optical module, with normal passage of test signal being allowed.例文帳に追加

不良品の光モジュールの特定が可能で、試験信号の正常通過も可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable normal tests of LSIs and continuity tests of power source terminals and GND terminals by the same test board.例文帳に追加

ＬＳＩの通常の試験と電源端子及びＧＮＤ端子の導通試験を同一のテストボードで可能にする。 - 特許庁

Try lying on one of the baseline questions, it might trick the test into thinking that everything you say is normal.例文帳に追加

基本的な事は 嘘をついてみて 検査の思考を騙すかもしれない あなたが言うすべてが正常です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The control part 24 is set in either a normal operation mode or a test mode on the basis of the instruction information received through the communication I/F 15, controls the execution of the series of bill validation operations when set in the normal operation mode and controls the execution of a test operation when set in the test mode.例文帳に追加

制御部２４は、通信Ｉ／Ｆ１５を介して受信した指示情報をもとに、通常動作モードまたはテストモードのいずれかに設定し、通常動作モードに設定した場合に一連の紙幣識別動作の実行を制御し、テストモードに設定した場合にテスト動作の実行を制御する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device which can be restrained from increasing in power consumption in a normal operation mode, while making normal input pin function as a test pin.例文帳に追加

通常の入力ピンにテストピンとしての機能を持たせながらも、通常動作モードにおいて消費電力を増加させない半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for a temperature test having suitable controllability and operability for a temperature needed from a normal temperature to a high temperature region, which is small-sized and low-priced in the temperature test.例文帳に追加

温度試験において、必要な常温から高温領域の温度を制御性および操作性がよく、小型で安価な温度試験用半導体装置を提供する。 - 特許庁

When all the sensor temperatures satisfy temperature rise conditions, the normal end of test run is determined, and an LED of a test run completion display part 11g is lighted (step S111).例文帳に追加

全てのセンサ温度が昇温条件を満たすときは試運転正常終了と判定され、試運転完了表示部１１ｇのＬＥＤが点灯する（ステップＳ１１１）。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device in which a read test can be performed by the path same as that of normal read without adding a test circuit to a read path.例文帳に追加

読み出し経路にテスト回路を追加することなく、通常読み出しと同じ経路で読み出しテストが可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁