「normal test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a charge/discharge control circuit that switches a normal application state and a test state without using an external test terminal, and also to provide a charging-type power supply device.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常応用状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁

The normal output buffer circuit 113 outputs a third output signal as an output buffer for normal operation through a second terminal 123 while the test-mode-ready buffer circuit 111 operates on the basis of the TEST signal.例文帳に追加

通常出力バッファ回路１１３は、テストモード対応バッファ回路１１１がＴＥＳＴ信号に基づいて動作する間、第２端子１２３を介して通常動作の出力バッファとして第３出力信号を出力する。 - 特許庁

To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加

試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁

Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加

従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証ＯＫとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証ＯＫとなる。 - 特許庁

When a test execution part 68 detects a test execution operation by differently pushing an alarm stop switch 20 in a normal monitoring state, the test execution part 68 outputs a prescribed point in a fire alarm sound of a prescribed pattern, such as a sweep alarm sound to be subjected to acoustic pressure measurement test, as a test sound from a speaker 56.例文帳に追加

試験実行部６８は、通常監視状態における警報停止スイッチ２０の押分け等による試験実行操作を検知した場合、所定パターンの火災警報音の内の音圧測定の対象となるスイープ警報音などの所定箇所をスピーカ５６から試験音として出力させる。 - 特許庁

The comparison circuit 24 discriminates whether an accessed memory cell is normal or abnormal by comparing the expected value data with the data Dt for test.例文帳に追加

比較回路２４は、アクセスを行ったメモリセルが正常か異常かをデータＤｓ，Ｄｔの比較により判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of preventing an unexpected transition from a normal mode to a test mode.例文帳に追加

誤って通常モードからテストモードに移行することを防止する半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

It is enabled for two modems to exchange diagnostic and/or test information that is not exchanged during normal communication.例文帳に追加

２つのモデムが、通常の通信中では交換しない診断情報および（または）テスト情報を交換可能にする。 - 特許庁

By a usual imaging method, the dust check image 1 of the test pattern of a model eye performs normal record as shown in (a).例文帳に追加

通常の撮像方法により模型眼のテストパターンの塵埃チェック画像１が（ａ）のように正常に記録する。 - 特許庁

Thereby, same timing can be kept in the internal clocks FICLK and ICLK even at the time of a test and at normal operation.例文帳に追加

このことにより、テスト時であっても通常動作時であっても内部クロックFICLKとICLKを同じタイミングを維持することができる。 - 特許庁

A user break controller (UBC) is used to test whether or not functions are executed by a CPU in a normal order.例文帳に追加

ユーザブレークコントローラ（ＵＢＣ）を用いてＣＰＵが実行する関数の実行順が正常であるか否かを検査する。 - 特許庁

When a result in the test mode is different from a result in the normal mode, abnormality occurrence is informed to the outside by a detecting circuit 30.例文帳に追加

テストモードと通常モードにおいて結果が異なる場合に検出回路３０によって外部に異常を連絡する。 - 特許庁

The signal degradation due to the test stab conductors is not generated during normal operations since the electrical conductive materials are not inserted.例文帳に追加

通常動作時には、導電物が挿入されないためテスト用スタブ配線による信号の劣化も発生しない。 - 特許庁

To surely prevent an IC for FDD device from being changed over to a test mode after it is made to enter into a normal mode.例文帳に追加

ＦＤＤ装置用ＩＣがノーマルモードに入った後は、誤ってテストモードに切り換るのを確実に防止可能にする。 - 特許庁

To automatically detect the wear of a probe pin in a normal test measuring process concerning a method of monitoring probe pin wear.例文帳に追加

プローブピン摩耗の監視方法に関し、プローブピンの摩耗を通常の試験測定工程において自動的に検出する。 - 特許庁

Upon detecting temperature abnormality, switches 44, 45 are turned from a normal circuit 46 to a temperature detection test circuit 40.例文帳に追加

温度異常を検知するときには、スイッチ４４・４５が通常回路４６から温度検知用テスト回路４０に切り替わる。 - 特許庁

A control signal 'read' is made to be 'H' in a normal mode in which read-out of data is performed, in a test mode, it is made to be 'L'.例文帳に追加

制御信号ｒｅａｄは，データ読み出しが行われる通常モードでは”Ｈ”となり，テストモードでは”Ｌ”となる。 - 特許庁

socket option is enabled, urgent data is put into the normal data stream (a program can test for its location using the SIOCATMARK 例文帳に追加

ソケットオプションが有効になっていると、緊急データは通常のデータストリームの中に混ぜて送られる (プログラムは下記のSIOCATMARK - JM

LSSD is a kind of scan design which uses separate system and scan clocks to distinguish between normal and test mode. 例文帳に追加

LSSDはスキャン設計の一種であり、正常モードとテストモードとを区別するのにシステムクロックとスキャンクロックを別々に使う。 - コンピューター用語辞典

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

First, a test (20) is performed of items which are assumed to be unrepairable and to be unrecoverable to normal one even if switched over to a redundant cell including the test of circuit current with power supply applied, and a test (30) of a circuit current after writing '0' to all cells is performed.例文帳に追加

まず、セルの切り替えにより修復し良品化することが出来ない項目を電源投入時の回路電流を含んで検査（２０）し、パス品に対して、全セルに「０」を書き込み後の回路電流の検査３０を行う。 - 特許庁

When a test signal for controlling switching between a normal operation mode and a test mode indicates the test mode, the switching circuit 4 makes an input signal IT to the monitoring circuit 2 different from an input signal IN to the main body circuit 1.例文帳に追加

切り替え回路４は、通常動作モードとテストモードの切り替えを制御するテスト信号がテストモードを示すときは、監視用回路２への入力信号ＩＴを、本体回路１への入力信号ＩＮとは異なる信号とする。 - 特許庁

And the test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc2 having a higher voltage level than a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS2 and generates a test mode signal TM of a H level.例文帳に追加

そして、テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ２に応じて通常動作時の電圧レベルよりも高い電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ２を検出してＨレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

Further, when the transmission station transmits a normal signal to the reception station, the system is configured such that the transmission station side switches a line from the test signal to the normal signal.例文帳に追加

また、送信局から受信局に通常の信号が送信される場合には、送信局側で自動的にテスト信号から通常信号に回線を切り替えるように構成する。 - 特許庁

All the secondary electrons having an initial speed of 2 eV or less emitted from the test piece surface in the direction of an angle 90°C or less against normal of the test piece surface are made to pass the secondary optical system.例文帳に追加

試料面から試料面の法線に対して９０°以下の角度の方向へ放出される２ｅＶ以下の初速度を持つ二次電子がすべて二次光学系を通される。 - 特許庁

After keeping the test voltage as long as prescribed test time, the voltage and the current and monitored by the voltmeter 13 and the ampere meter 14, to determine whether the transformer is in the normal state or not.例文帳に追加

そして、規定された試験時間だけ試験電圧に保った上で電圧計１３および電流計１４により電圧および電流を監視し、正常か否かを判定する。 - 特許庁

A tri-state input/output buffer having small drive capacity and a test control circuit for controlling the entire test are provided in parallel at an input/output terminal under normal use of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の通常使用されている入出力端子に、並列にドライブ能力の小さいトライステート入出力バッファーを設け、テスト全体を制御するテスト制御回路を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which allows acceleration test for a signal line impressed with a certain voltage, at normal times of an ordinary operation mode simultaneously with an acceleration test for a peripheral circuit.例文帳に追加

通常動作モード時に一定の電圧が印加される信号線の加速試験を、周辺回路の加速試験と同時に行なうことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The polarization filter 20 is removed as indicated in the figure in a normal visual acuity correction inspection, and the polarization filter 20 is made to face the front surface of the test lens frame in a deflection cross test.例文帳に追加

通常の視力矯正検査においては、図に示すように、偏光フィルター２０を退去させ、偏向十字テストにおいては、偏光フィルター２０をテストレンズ枠前面に臨ませて行う。 - 特許庁

By a test mode control circuit 14, the functional block 12 is shifted to the test mode from the normal operation mode during the activating process of the operation inhibiting signal EN and the receiving process of the external clock CK.例文帳に追加

テストモード制御回路１４は、動作禁止信号ＥＮの活性化中かつ外部クロックＣＫの受信中に機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させる。 - 特許庁

To solve the problem that malfunction occurs since changing of a scan test signal becomes a noise occurrence source during a normal mode in a semiconductor integrated circuit having a scan test signal wiring.例文帳に追加

スキャンテスト信号配線を有する半導体集積回路において、ノーマルモード時にスキャンテスト信号が変化することでノイズの発生源となり、半導体集積回路が誤動作してしまう。 - 特許庁

Furthermore, in this case, the lighting time can be set to be shorter than a normal lighting retention time, and the next test can be performed in a short time, thus, the test can be performed efficiently.例文帳に追加

また、この際、点灯時間を通常の点灯保持時間よりも短く設定できるので、短時間で次のテストを行うことができ、効率よくテストを行うことができる。 - 特許庁

First of all, each correlation coefficient matrix is generated, relative to each of time-series data for a test and normal time-series data for reference.例文帳に追加

テスト用時系列データと、参照用正常時系列データの各々について、先ず相関係数行列を作成する。 - 特許庁

A test by a memory tester for a normal SDR can be performed by providing an exclusive data input circuit having two DDR memories.例文帳に追加

ＤＤＲメモリが２つの専用データ入力回路を備えることで、通常のＳＤＲ用メモリテスタでテストが可能なる。 - 特許庁

The program circuit 24 confirms a cut-off state of a fuse with a severer condition in a test mode than that in the normal condition.例文帳に追加

プログラム回路２４は通常モードにおけるよりもテストモードにおいて厳しい条件でヒューズの切断状態を確認する。 - 特許庁

A control means 1a sets a normal operation mode and sets a switching time to a time count means 1b to start a protocol test.例文帳に追加

制御手段１ａは、正常動作モードを設定し、計時手段１ｂに切替え時間を設定してプロトコル試験を開始する。 - 特許庁

To provide an impedance matching device having a test function for testing whether or not the mechanical part of a variable impedance element is normal.例文帳に追加

可変インピーダンス素子の機構部が正常であるか否かを検査する機能を備えたインピーダンス整合装置を提供する。 - 特許庁

A reference reception signal is recorded by using a normal reference pipe, and an inspection reception signal is recorded by using the test object pipe.例文帳に追加

正常な基準管を用いて基準受信信号を記録し、検査対象管を用いて検査受信信号を記録する。 - 特許庁

In the polyolefin microporous film, pin holes after a Gelbo Flex test at normal temperature in 1,000 cycles is 5 pieces/m^2 or less.例文帳に追加

常温、１０００サイクルにおけるゲルボフレックス試験後のピンホールが５個／ｍ^２以下である事を特徴とするポリオレフィン微多孔膜。 - 特許庁

An AND gate 4 takes a logical product of NOT of a SCANTEST signal for switching between normal operation and a scan test mode and a CLK signal.例文帳に追加

ＡＮＤゲート４は通常動作とスキャンテストとのモードを切り替えるSCANTEST信号の否定とCLK信号との論理積をとる。 - 特許庁

To surely preventing a digital processing device from malfunctioning, even if receiving test-use data at normal mode due to some form of trouble.例文帳に追加

ディジタル処理装置が通常モード時に何らかのトラブルで検査用データを受信しても、誤動作を確実に防止できること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus capable of accurately and efficiently discriminating normal/defective products of a device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスの良品・不良品の判定を精度良く且つ効率的に行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charge/discharge control circuit that can be switched between a normal state and a test state without an external terminal for testing.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路の提供。 - 特許庁

To test an event that occurs in a network in normal communication without needing huge amounts of time.例文帳に追加

膨大な時間を必要とすることなく、正常な通信においてネットワーク内で発生する事象を試験することを課題とする。 - 特許庁