「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(75ページ目) - Weblio英語例文検索

The reference values of the fiber orientation angle and fiber orientation strength of the sample for calibration are obtained by a direct method of measuring the number of fibers or an indirect method of measuring it with an optional fiber orientation measuring device.例文帳に追加

較正用試料の繊維配向角と繊維配向強度の基準となる値は、繊維の本数を実測する直接法、あるいは任意の繊維配向測定装置により測定する間接法による。 - 特許庁

Besides, light emitted from an illumination light source 11 is excited by the exiting filter 13, then, the observation sample 10 is illuminated by the exited light, then, the excited fluorescence reaches an eyepiece 42 or an image pickup device 45.例文帳に追加

また、照明光源１１からの光は、励起フィルター１３により励起光とされて観察試料１０を照明し、励起された蛍光が接眼レンズ４２又は撮像器４５に達する。 - 特許庁

This sample information acquisition device 1 has a casing 45, a carrier 30 provided inside the casing 45 to mount a plurality of substrates 31, and an optical system 60 for reading optically information of the substrates 31.例文帳に追加

サンプル情報取得装置１は、筐体４５と、筐体４５内に設けられた、複数の基板３１を載置するキャリア３０と、基板３１の情報を光学的に読み取る光学系６０とを有する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suitably and rapidly detecting a defect even when the manufacturing process is varied or the periodicity of images of an area to be inspected on a sample is low.例文帳に追加

製造プロセスが変動しても、また、試料から検査対象領域を撮像した撮像画像に周期性が少なくても、良好かつ迅速に欠陥検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process of reviewing failure using electronic microscope and to provide a failure reviewing device which can reduce a man-hour of user required for setting automatic focus by electron beam and to facilitate the observation of a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた欠陥のレビュー方法、および欠陥のレビュー装置において、電子ビームの自動焦点合わせの設定に要するユーザの工数を低減し、試料の観察を容易化する。 - 特許庁

A liquid containing the sample is passed through the microflow device comprising the randomized flow path, wherein sequestering agents are attached, and thereby, the desired target cells or the target molecules are detected and/or separated.例文帳に追加

封鎖剤を付着させたランダム流路を備えるマイクロフロー装置に試料を含む液体を通過させることにより、所望の標的細胞または標的分子が検出および/または単離される。 - 特許庁

To provide a passage changeover type analyzer having flow rate fluctuation resistance and high stability and measurement accuracy even in the case of a minimum sample flow condition, and a measuring device using it.例文帳に追加

最小限の試料流量条件においても、流量変動に強く、安定性および測定精度の高い流路切換式分析計およびそれを用いた測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission type X-ray diffraction device capable of excluding an effect of scattered X rays in an incident part to the utmost to detect the diffracted X rays generated in a sample, and an X-ray diffraction method.例文帳に追加

入射部での散乱Ｘ線の影響を極力排して試料で生じた回折Ｘ線を検出できる透過型のＸ線回折装置とＸ線回折方法とを提供する。 - 特許庁

To provide an optical device unit which is capable of easily and surely collecting a fluid sample from a target organism (such as human being or animal) or an environmental atmosphere, a detection apparatus and a detection method.例文帳に追加

対象となる生体（人間や動物など）や環境雰囲気から流体試料を簡易にかつ確実に採取できる光学デバイスユニット、検出装置及び検出方法を提供すること。 - 特許庁

Hence, even if there is an irradiation distribution, the values integrated by the imaging device camera 13 are equivalent to that in the case of any point of the sample being irradiated with the same light amount.例文帳に追加

これにより、照度分布が有っても、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３で積分された値は、試料のどの点でについても、同じ光量の光で照明されたと等価な値となる。 - 特許庁

To provide an information retrieving method and an information retrieval device for quickly and easily extracting the same system information by using the sample information.例文帳に追加

サンプル情報を用いて高速、容易に同系統情報を抽出するとともに、無価値な情報が検索結果に混入することが低減できる情報検索方法と情報検索装置を提供する。 - 特許庁

Then, the article configured of the same surface raw materials as the selected sample raw materials is arranged in an image displayed on the picture of a display device 20, that is, a virtual space.例文帳に追加

すると、選択したサンプル素材と同じ表面性状の素材により構成される物品が、ディスプレイ装置２０の画面上に表示された画像中、すなわち仮想空間内に配置される。 - 特許庁

To provide a nondestructively-measurable surface evaluation device capable of discriminating in a wide range, foreign matter or fine irregularities on the sample surface or the change of a structure or a composition, and measuring easily in a short time with high accuracy.例文帳に追加

試料表面上の異物や微細な凹凸、構造や組成の変化を、広い範囲で識別でき、短時間かつ容易に、高精度に測定できる、非破壊測定可能な表面評価装置を提供。 - 特許庁

The wafer exposed by using the correction parameter is inspected by an overlap inspection device 3, and inspection/measurement positions of a plurality of sample shots are informed to the central processing unit 4 (data transfer 19).例文帳に追加

上記補正パラメータを用いて露光処理されたウエハは、重ね合わせ検査装置３により検査され、複数のサンプルショットの検査計測位置が中央処理装置４に通知される（データ転送１９）。 - 特許庁

To provide a gaseous sample introducing device of a mass spectroscope capable of responding even to an automatic control by a computer while leaving such an advantage that three modes can be switched by a single valve operation.例文帳に追加

１つの弁操作で３つのモードの切り換えを行なえるという利点を残しながら、しかも、コンピュータによる自動制御にも対応可能な質量分析装置の気体試料導入装置を提供する。 - 特許庁

The device is equipped with a pressure vessel (test chamber) 2, which stores humidifying water 4 and also is capable of having a test sample 8 to be installed therein, and the inside of the pressure vessel 2 is constituted to have an additive gas to be introduced.例文帳に追加

加湿水４を貯溜するとともに内部に試料８を設置可能な圧力容器（試験槽）２を備え、この圧力容器２の内部には添加ガスを導入可能に構成されている。 - 特許庁

To provide a device for inspecting a periodic pattern sample with good optical transparency for easily discriminating the flaws and irregularities having an effect on display or the flaws causing the manufacturing trouble of products.例文帳に追加

表示に影響するような欠陥及びムラや製品製造での不具合につながる様な欠陥を容易に判別し、良好な光透過性周期性パターン試料検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a moving stage device in which the height of a sample placement face is reduced to provide high vertical rigidity from the face to a base.例文帳に追加

Ｘ軸およびＹ軸ステージ本体の剛性の影響を受けることなく、試料載置面の高さを低く押さえ、この面からベースまでの垂直方向の剛性の高い移動ステージ装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a PCB concentration determination method and a device therefor capable of measuring simply and quickly the PCB concentration in a liquid sample such as a transformer oil including an insulating oil for a pole transformer.例文帳に追加

柱上変圧器の絶縁油を含むトランス油等の液状試料中のＰＣＢ濃度を簡便かつ迅速に測定することができるＰＣＢ濃度定量方法及び装置を提供する。 - 特許庁

When analysis is performed by a single- beam measurement device, a magnetic-layer side surface of a floppy disk as a sample S is brought into close contact with a bottom surface of the prism at a contact pressure of 10 kgf/cm2 or less.例文帳に追加

シングルビーム測定装置による分析に際しては、サンプルＳとしてのフロッピーディスクの磁性層形成側の表面をプリズム底面に接圧１０ｋｇｆ／ｃｍ^2以下で密着させる。 - 特許庁

To provide an inspection method and device using an electronic beam capable of preventing the incorrect detection of a defect in a sample even if the methods of acquiring a reference image and an inspection image are different from each other.例文帳に追加

本発明は、基準画像と検査画像の取得法が異なっても試料の欠陥の誤検出を防止できる電子ビームを用いた検査方法及び検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a color matching method capable of showing a purchaser a combination of a raw fabric colored by illumination and an ornamental piece, without requiring effort for preparing a sample raw fabric, and to provide a color matching device.例文帳に追加

サンプル生地製作の手間がなく、照明により彩色された生地と装飾片の組み合わせを購入者に見せることができる色彩適合方法及び色彩適合装置を提供する。 - 特許庁

To provide a crystallizability evaluation device of a polysilicon thin film capable of evaluating the crystal state of a polysilicon (p-Si) thin film sample with high precision in a non-destructive and non-contact state in a short time and capable of further evaluating the crystal state of a local region.例文帳に追加

ポリシリコン（ｐ−Ｓｉ）薄膜試料の結晶状態を、非破壊及び非接触で、かつ短時間で、かつ高精度で評価でき、さらに、局所領域の結晶状態を評価できること。 - 特許庁

To provide an electrolyte analyzer which can accurately and easily measure the concentration of electrolyte of the component to be measured contained in a solution sample, without increasing the size of the entire device.例文帳に追加

装置全体を大型化させることなく、試料溶液に含まれる被測定成分の電解質濃度を正確、かつ容易に測定することができる電解質分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a micro fluid device capable of controlling the generation number of bubbles and a size of the bubble, capable of flow-controlling a sample by simple structure, and allowing repeated use.例文帳に追加

気泡の発生個数や気泡の大きさをコントロールでき、簡単な構造で試料の流動制御を行うことができると共に、繰り返し使用することができるマイクロ流体デバイスを提供する。 - 特許庁

An electrode plate 104 of a sample plate 100 is mounted on an electrophoretic device body, and a plug 106 is inserted into a high voltage line connecting hole 107 to be connected to a high voltage cable.例文帳に追加

サンプルプレート１００の電極プレート１０４を電気泳動装置本体に設置するとともに、泳動用高電圧ライン結線用穴１０７にプラグ１０６を挿入し、高圧配線ケーブルに接続する。 - 特許庁

The probe holding device is equipped with a probe holding part capable of fitting a probe, and a temperature control means for controlling the temperature of the probe, and used to acquire the sample.例文帳に追加

プローブを取り付け可能なプローブ保持部と、前記プローブの温度を調整するための温度調整手段とを備え、且つ試料を取得するために用いられることを特徴とするプローブ保持装置である。 - 特許庁

The lighting device has a light source 3 which is a cold cathode fluorescence lamp, and a reflecting plate 2 which reflects illuminating light emitted from the light source 3 and illuminates the sample 1.例文帳に追加

本発明の自動販売機用照明装置は、冷陰極蛍光ランプである光源３と、光源３から照射される照射光を反射して商品見本１に照射する反射板２とを有する。 - 特許庁

This connection device is constituted so as to connect a separation means 1 equipped with the separation column 4 for separating a gas sample at every component and a detection means 2 for detecting the component separated by the separation column 4 in a vacuum state.例文帳に追加

気体試料を成分毎に分離する分離カラム４を備える分離手段１と、分離カラム４で分離された成分を真空状態下で検出する検出手段２とを接続する。 - 特許庁

A tape is fed intermittently by a positioning device so as to position accurately a wetting area of the test element attached with the liquid sample, in a measuring portion.例文帳に追加

液体試料の被着されたテストエレメントの湿潤領域を測定箇所に正確にポジショニングするため、テストエレメント上の液体試料の存在に応答するポジショニング装置によってテープ送りを断続する。 - 特許庁

To provide a voltage control delay device whose control voltage to delay time characteristics are hard to be influenced by variation in all the samples even if characteristics of configuration element such as transistors are varied by every sample.例文帳に追加

サンプル毎にトランジスタなどの構成素子の特性がばらついたとしても、すべてのサンプルにおいて制御電圧—遅延時間特性がばらつきの影響を受け難い電圧制御遅延装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sampling device and a sampling method of mixed soil in an unsolidified state as sample soil for examining the effect of the stirring and mixing of grouting hardener with soil in soil improvement work.例文帳に追加

地盤改良工事において、注入した硬化材と土壌との撹拌混合効果をべるための試料土、すなわち、未硬化状態の混合土の採取装置及び採取方法に関する。 - 特許庁

According to this, an electrophoretic device capable performing a continuous separating and fractioning operation of a sample by free flow electrophoresis and automatically separating and fractioning a plurality of subjects by a fractioning mechanism can be provided.例文帳に追加

フリーフロー電気泳動によってサンプルの連続的な分離・分取作業が可能であり、且つ分取機構によって複数検体を自動で分離分取することが可能な電気泳動装置を提供できる。 - 特許庁

This device is constituted so that samples are dispensed by a single dispensing mechanism 3 to a plurality of measuring parts 10 and 11, each measurement parts 10 and 11 are dedicated to one sample type, and a measuring operation and a maintenance operation are executed in parallel.例文帳に追加

複数の測定部に対して単一の分注機構で試料を分注できるように構成し、個々の測定部を試料種類毎の専用とし、測定操作と保守操作を並行に実施する。 - 特許庁

This device is equipped with a shutter 7 that switches a photosensitive film 5 placed in intimate contact with a sample between a shield position where the film 5 is shielded and an exposure position where an X-ray detection means 5 is exposed to a light source.例文帳に追加

試料と密着配置された感光フィルム５を覆う遮蔽位置と、Ｘ線検出手段５を光源に対して露出させる露光位置とに切換えるシャッタ７を備えてなる。 - 特許庁

To provide a method which enables the simple evaluation of the characteristics of the inner surface of a tubular sample, a contact angle measuring system directly used therein, and a gas-liquid interface observing device.例文帳に追加

簡便にチューブ状試料の内表面の特性を評価することが可能な方法、ならびにそれに直接使用する接触角測定システムおよび気液界面観測装置を提供する。 - 特許庁

The set conditions of the electron lens and the like and an electron beam irradiance level on the sample calculated from the coordinate value of a stage are integrated in a two-dimensional array 28, and an irradiance level map is displayed on a display device 25.例文帳に追加

電子レンズ等の設定状態とステージの座標値から算出される試料上での電子線照射量を二次元配列28に積算し、照射量マップを表示装置25に表示する。 - 特許庁

To provide a face image sample producing device capable of acquiring face image samples for persons from an image in which persons are not full-faced, by associating each person with a person ID.例文帳に追加

映像中の人物が正面を向いていない状態でも人物と人物ＩＤを対応付け、各人物の顔画像サンプルを採取することができる顔画像サンプル採取装置を提供することができる。 - 特許庁

To provide a fluorescent spectrum correction method and a fluorescent spectrum correction device that can eliminate overlaps of each of spectra with high accuracy without preparing a sample dyed by a single color for each of fluorescent dyes.例文帳に追加

蛍光色素毎に単染色サンプルを準備しなくても、各スペクトルのオーバーラップを精度良く解消することができる蛍光スペクトル補正方法及び蛍光スペクトル測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a digital audio data inspection device capable of easily inspecting the error of a digital audio signal input/output to/from digital audio equipment being equipment to be inspected, in sample units of a specific length.例文帳に追加

被検査機器であるデジタルオーディオ機器で入出力されるデジタルオーディオ信号の誤り検査を、特定の長さのサンプル単位で容易に行えるようなデジタルオーディオデータ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrode device for electrochemical measurement chip that can measure even liquid sample with high sensitivity and reliability and is suitable for simultaneous multipoint measurement and a disposable.例文帳に追加

液体試料に対しても高感度で且つ信頼性の高い測定を行うことができると共に同時多点測定および使い捨てに適した電気化学計測チップ用電極装置を提供する。 - 特許庁

To provide a viscoelasticity measuring device with the function of inspecting an automatically measurable temperature range without manual operation in measuring an unknown sample with an unknown measurable temperature range for viscoelasticity measurement.例文帳に追加

粘弾性測定において測定可能な温度域の分からない未知の試料の測定において、人手を介さず自動で測定可能な温度域を調べる機能を備えた粘弾性測定装置を提供する。 - 特許庁

To minimize the unevenness of the speed distribution of a fluid sample flowing in a sensing part in a micro channel direction in a micro fluid device in which the biochemical analysis and reaction are carried out.例文帳に追加

微小流路中で生化学的な分析や反応を行うマイクロ流体装置において、センシング部を流れる流体試料の微小流路断面方向での速度分布のむらを小さくする。 - 特許庁

The analysis device 200 receives the data of the secondary electron spectra from the electronic spectroscope 150, and by analyzing the data, finds information for evaluating the nature of the measurement sample (evaluation value).例文帳に追加

解析装置２００は、電子分光器１５０から二次電子スペクトルのデータを受け取り、当該データを解析することによって、測定試料の性質を評価するための情報（評価値）を求める。 - 特許庁

In order to solve the problems, the scanning electron microscope is proposed that is equipped with a function in which device conditions are monitored based on information obtained in a state that electron beam does not reach a sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、電子ビームを試料に到達させない状態で、得られた情報に基づいて、装置コンディションをモニタする機能を備えた走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁