「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(77ページ目) - Weblio英語例文検索

The defect inspection device of the present invention is equipped with a laser light source 1, emitting optical beam; a one-dimensional diffraction grating converting light into one-dimensional multi-beam; an objective lens 9 for converging multi-beams; a half-mirror 6a separating the optical beam reflected from a sample from the optical beam entering into the sample; and a wedge 17 bifurcating the separated optical beams.例文帳に追加

本発明にかかる欠陥検査装置は光ビームを発生するレーザー光源１と、光を１次元のマルチビームに変換する１次元回折格子と、マルチビームを集束する対物レンズ９と、試料で反射した光ビームを試料に入射する光ビームから分離するハーフミラー６ａと、分離された光ビームを分岐するウェッジ１７を備えている。 - 特許庁

To provide a device and a method of inspecting a failure of the charged particle beam capable of performing the focused clear observation and the accurate failure inspection even in the case of using a charged up sample by automatically correcting a displacement of the focal point position due to the charge up generated in the sample as an object of observation.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The electron beam device comprises a primary optical system 10 which scans a plurality of locations on the sample by a plurality of electron beams, a secondary optical system 20 which converges the secondary electrons emitted from the sample S by the scanning of electron beams into a plurality of secondary electrons and introduces into each detector 31, and a detection system 30 which detects respectively the plurality of introduced secondary electrons.例文帳に追加

複数の電子ビームで試料上の複数の箇所を走査する一次光学系１０と、電子ビームの走査により試料Ｓから放出された二次電子を複数の二次電子に集束して、各々の検出器３１に導入する二次光学系２０と、導入された複数の二次電子をそれぞれ検出する検出系３０とを備えている。 - 特許庁

The electron beam device is provided with a primary optical system 10 scanning a sample by focusing a plurality of primary electron beams, a secondary optical system 30 introducing a plurality of secondary electrons emitted from the sample by the first electron beams to each detector 41, and a detection system 40 performing image processing of a plurality of detection signals outputted from each detector.例文帳に追加

複数の一次電子線を集束して試料上を走査する一次光学系１０、一次電子線により試料から放出された複数の二次電子を各検出器４１に導入する二次光学系３０及び各検出器から出力される複数の検出信号を画像処理する検出系４０を備えている。 - 特許庁

The data processing device comprises a parameter estimating means 21 for estimating a parameter for maximizing a likelihood function shown by the expression with respect to θ=(λ^T, β^T)^T by applying a maximum likelihood method to the sample data, and a posterior probability calculating means 22 for calculating posterior probability of data y_i using the sample data and estimated parameter.例文帳に追加

前記データ処理装置は、前記標本データに対して、最尤法を用いて以下の数３３で示す尤度関数をθ=（λ^T ，β^T ）^T について最大にするパラメータを推定するパラメータ推定手段２１と、前記標本データと推定されたパラメータとを用いて、データｙ_i の事後確率を計算する事後確率計算手段２２とを含む。 - 特許庁

The measuring device 11 for the phosphoric acid is provided with a column 19 including a hydrophilic vinyl polymer having an imino-diacetic acid group supporting zirconium, a first liquid transmitting means 23 transmitting a sample containing the phosphoric acid to the column 19, and a second liquid transmitting means 35 transmitting base solution 33 from a reverse direction of a direction that transmitting the sample to the column 19.例文帳に追加

リン酸測定装置１１は、ジルコニウムを担持したイミノ二酢酸基を有する親水性ビニルポリマーを含むカラム１９と、リン酸を含有する試料をカラム１９に送液する第１送液手段２３と、カラム１９に試料を流した方向とは逆方向から塩基溶液３３を送液する第２送液手段３５と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This color arrangement supporting device for supporting color arrangement to the discolored image including a plurality of areas to be subjected to color arrangement comprises an inputting part for inputting a sample image subjected to color arrangement that gives desired impression, an extracting part for extracting colors of the sample image from the sample image inputted by the inputting part and a displaying part for displaying the colors extracted by the extracting part.例文帳に追加

本発明に係る配色支援装置は、配色を施されるべき複数の領域を含む未配色画像への配色を支援するための配色支援装置であって、所望の印象を与える配色が施された見本画像を入力するための入力部と、前記入力部により入力された前記見本画像から該見本画像の色を抽出する抽出部と、前記抽出部により抽出された前記色を表示する表示部とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an acoustic model learning device, an acoustic model learning method and a program for the same for extracting only a voice sample useful for generating an acoustic model out of observed voice samples to generate a highly reliable acoustic model.例文帳に追加

観測された音声サンプルのうち音響モデルの作成に有用なものだけを抽出し、信頼性の高い音響モデルを作成する音響モデル学習装置、音響モデル学習方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To realize a method of manufacturing a membrane sample for a scanning transmission electron microscope which is suitable for being used in the inspection of a multilayer structure in a semiconductor device and which is handled easily, and to realize an observation method for the membrane sam ple.例文帳に追加

半導体デバイスの多層構造の検査に用いて好適であり、取り扱いが容易な走査透過電子顕微鏡用薄膜試料作製方法および薄膜試料の観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a method and device capable of reducing such a disadvantage that an existing method for fluorescent X-ray analysis uses only a limited number of combination of X-rays in analyzing a sample and availability of analysis is tightly limited.例文帳に追加

既知の蛍光Ｘ線分析するたの方法は、制限された数のＸ線ラインの組合せしかサンプルを分析するのに使用されないので、分析の可能性が厳しく制限されるという欠点を有している。 - 特許庁

This capillary array includes a photodetection part, a sample supply part, a buffer solution supply part, and a voltage impression part, and is used immediately with incorporation into the electrophoretic device, since all the functions required for electrophoresis are provided.例文帳に追加

光検知部，試料供給部，緩衝液供給部及び電圧印加部を備えたキャピラリアレイであって、電気泳動に必要な機能をすべて備えているから、電気泳動装置へ組み込めば直ちに使用できる。 - 特許庁

A reflection/transmission device 14 allows transmission of a first partial light beam of the light, which is generated from the light source 11 and passed a reaction tube containing a mixture of a sample and a reagent, and reflects a second partial light beam of the light.例文帳に追加

反射／透過器１４は、光源１１から発生され、試料と試薬との混合液が収容された反応管を透過した光の第１の部分光を透過し、光のうちの第２の部分光を反射する。 - 特許庁

To provide a interconnection verifying system capable of verifying a precision of a wire bonding device or the interconnection in which a manufacturing error of an electronic component is considered without developing a sample product in which wire bonding of the electronic component is completed.例文帳に追加

本発明は、電子部品のワイヤボンディング済みのサンプル品を作成しなくても、ワイヤボンディング装置の精度や、電子部品の製造誤差が考慮された配線検証を可能とする配線検証システムを提供する。 - 特許庁

To provide a color information providing system, a color information providing method and a program, which can provide color information capable of accurately reproducing the color of a color sample on a display (color display device) installed in a different environment.例文帳に追加

異なる環境に設置されたディスプレイ（カラー表示装置）上に、正確に色見本の色を再現できる色情報を提供する色情報提供システム、色情報提供方法およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

The microscopic device has an optical separation means 21 for separating exciting light and fluorescence from a sample 27, and a detection means 22 for detecting the quantity of the incident exciting light transmitted through the separation means 21.例文帳に追加

励起光と標本２７からの蛍光とを分離する光学分離手段２１と、前記光学分離手段２１を透過した前記入射励起光の光量を検出する検出手段２２を有する顕微鏡装置。 - 特許庁

A measuring equipment using a superconducting quantum interfering element is constituted of a cooling unit 5 including a temperature detecting device 6, magnetic sensor 7, and sample setting stand 8, and a distance controller 1 for controlling them.例文帳に追加

超伝導量子干渉素子を用いた計測装置は、温度検出装置６と磁気センサ７と試料設置台８を含む冷却ユニット５と、それらをコントロールする距離制御装置１から構成されている。 - 特許庁

The inert gas introduction device (7) introduces an inert gas (22) for removing a gas (21) remaining in a hole (12) provided at the sample stand (10) into the hole (12) upon precoating before the film deposition.例文帳に追加

前記不活性ガス導入装置（７）は、前記成膜時の前のプリコート時に、前記試料台（１０）に設けられた穴（１２）に残留しているガス（２１）を除去するための不活性ガス（２２）を前記穴（１２）に導入する。 - 特許庁

To realize a device for analyzing, texture-discriminating and visualizing image information in an optical image measuring instrument for discriminating and displaying specific texture even if there is no preliminary knowledge with respect to the image characteristics of the texture of a sample.例文帳に追加

試料の組織の画像特性に対する事前知識なくても、特定組織を判別表示することが可能な光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置を実現する。 - 特許庁

To provide a frequency characteristic evaluation device and a program for the same, which can calculate the frequency characteristic of a signal wiring, without requiring a special sample or a special signal generator.例文帳に追加

特別な試料あるいは特別な信号発生器を必要とせずに、信号配線の周波数特性を算出することのできる周波数特性評価装置および周波数特性評価装置用のプログラムを得る。 - 特許庁

The device has a constitution wherein droplets including a sample are discharged into a gas passage by utilizing a frictional resistance from the gas, and the position or the speed in the gas passage can be controlled by an electric field.例文帳に追加

マイクロ流路内にガスを流すマイクロ流体デバイスを用い、ガスからの摩擦抵抗を利用して試料を含む液滴をガス流路内に放出し、ガス流路内での位置や速度を電界で制御できる構成とした。 - 特許庁

To provide a surface measuring device uninfluenced by a pattern even in the case of a sample having the pattern formed on the surface, capable of realizing a wider effective measuring area compared with a resolution of height information.例文帳に追加

表面にパターンが形成された試料の場合でも前記パターンの影響を受けず、かつ、高さ情報の分解能に比べて広い有効計測面積が可能となる表面測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical characteristic inspection device capable of precisely measuring the double refraction (retardation) possessed by each of the layers in a multilayered double refractive sample processed into a polarizing plate at every layer, and an optical characteristic inspection method.例文帳に追加

偏光板加工された多層複屈折試料における各層が有する複屈折（リタデーション）を、層ごとに精度よく測定することができる光学特性検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnostic device for directly obtaining physical sonic speed at each sample point in a subject on the basis of a receiving signal of an ultrasonic echo reflected in the subject.例文帳に追加

被検体内において反射された超音波エコーの受信信号に基づいて、被検体内の各サンプル点における物理的な音速を直接的に求めることができる超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-spectroscope device, an electron spectroscope and a sample analysis method which are capable of conducting gas reaction treatment in an analytical laboratory and further obtaining a spectrum having a superior S/N ratio in a short time even if it is conducted in such a case.例文帳に追加

試料のガス反応処理を分析室で行え、その場合でも、Ｓ／Ｎ比の良いスペクトルを短時間に得ることができる電子分光装置および電子分光器ならびに試料分析方法を提供する。 - 特許庁

This analysis sample treatment device 10 is constituted of a microwave irradiation part 12, a decomposition container 14, an introduction tube 26 of medical fluid, a pressure sensor 36, a temperature sensor 38, a gas discharge mechanism 40 and a control part 50.例文帳に追加

分析試料処理装置１０は、マイクロウェーブ照射部１２，分解容器１４，薬液の導入管２６，圧力センサ３６，温度センサ３８，ガス排出機構４０，制御部５０により構成されている。 - 特許庁

In this focus maintaining device for optical equipment, a distance member 3 having optical path length equal to the focal distance (f) of the objective lens 1 of the optical equipment is disposed and integrated between the objective lens 1 and a sample cell 2.例文帳に追加

光学機器の焦点維持装置において、光学機器の対物レンズ１の焦点距離ｆと等しい光学的光路長を有する間隔部材３を、対物レンズ１と試料セル２との間に配置し一体化した。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a stratum transfer behavior capable of performing a micromock-up method in a boring hole by pushing a microreactor against the boring hole without cutting out a sample from a rock bed, and an evaluation device of the stratum transfer behavior.例文帳に追加

サンプルを岩盤から切り出すことなく、ボーリング孔にマイクロリアクタを押し当て、ボーリング孔内にてマイクロモックアップ法を実行することができる地層移行挙動の評価方法及び装置を提供する。 - 特許庁

An abnormal compound extraction part 2 extracts an abnormal compound by comparing with a normal value, an analysis value obtained by analyzing a pretreated urine sample having internal reference material added thereto by a GC/MS device 1.例文帳に追加

異常化合物抽出部２は前処理され内部標準物質が添加された尿試料をＧＣ／ＭＳ装置１により分析して得られた分析値を健常値と比較して異常化合物を抽出する。 - 特許庁

To provide a heating device for a microscope by which the temperature of a transparent plate for heating on which an inspection sample is placed or a transparent plate for protection are always kept at a specified temperature, whose temperature disribution is uniform, and which can be made thinner.例文帳に追加

従来の顕微鏡用加温装置は検体を載せる発熱用透明板または保護用透明板が常に所望の温度に保つのが難しく、またその温度分布が不均一になりがちである。 - 特許庁

A control/operation device 14 calculates a ratio Ia/Ip of the sample absorbing current value Ia to the irradiation current value Ip and compares the same with the predetermined change judging condition data of a database 15 to monitor the presence of the charge.例文帳に追加

制御／演算装置１４は照射電流値Ipに対する試料吸収電流値Iaの割合Ia/Ipを求め、データベース１５の予め定めておいた帯電の判定条件データと比較して帯電の有無を監視する。 - 特許庁

To provide an eddy current inspection device capable of detecting a physical property of a sample with high precision by accurately acquiring a sensitivity of a sensor, and an eddy current type inspection method.例文帳に追加

センサの感度を正確に取得することにより、被検体の物理特性を高精度に検出することが可能な渦電流式検査装置および渦電流式検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To set the end face of a glass plate to a measuring device easily and properly without especially processing the opposite side to be parallel to a measuring side, if only a sample piece is prepared, leaving the measuring side as it is.例文帳に追加

測定辺だけを残しながらサンプル片を用意しさえすれば、対辺を特に測定辺と平行に加工しないでも、ガラス板の端面を測定装置に対し容易に適正にセットすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a standard sample for the measurement of film thickness which is to be used for the control of the film thickness of a carbon film and which does not cause degradation in the measurement accuracy caused by contamination with an organic substance in the measurement device.例文帳に追加

カーボン膜の膜厚管理のためのものであって、測定装置内における有機物汚染に原因した測定精度の低下を伴わうことのない、膜厚測定用標準試料を提供すること。 - 特許庁

To remarkably reduce treatment operation of a sample and a substrate in measurement and impart high reliability to analytical data in a microprobe analysis device for carrying out various kinds of calibration by utilizing enzyme activity, etc.例文帳に追加

酵素活性等を利用して各種の検量を行なう微小分析装置において、測定に際しての試料や基質の取り扱い作業を大幅に軽減し、分析データに高い信頼性を付与できるようにする。 - 特許庁

To provide a shading correction method and an image inspection device that can easily carry out shading correction with high accuracy even when a reference sample for shading correction partially gets dust or dirt.例文帳に追加

シェーディング補正方法および画像検査装置において、シェーディング補正用の基準サンプルに部分的にゴミが付着したり汚れが生じたりするような場合でも、精度よく容易にシェーディング補正することができるようにする。 - 特許庁

An SPR sensor device has a sample fixing portion 24 in which a measurement reference surface L is set at a lower surface side, and the protruding portions 16 of the microchip 10 are pressed to the measurement reference surface L, thereby holding and fixing the microchip 10.例文帳に追加

ＳＰＲセンサ装置は測定基準面Ｌが下面側に設定された試料固定部２４を有し、この測定基準面Ｌにマイクロチップ１０の突出部分１６を押付けてマイクロチップ１０を保持・固定する。 - 特許庁

To obtain a gas introduction device capable of analyzing effectively the minute amount of gas adsorbed, stored, or sealed in a material with a simple structure and easy operation in a mass spectrometer for measuring a gas sample.例文帳に追加

気体試料を測定対象とする質量分析装置において、素材に吸着ないし吸蔵または内封されている微量気体を有効に分析し得る、簡単な構成で操作の簡便な気体導入装置を得る。 - 特許庁

To provide a microscopic-image processing apparatus which can analyze a tissue sample without depending on an observation device and by which the quantification and the conversion of a staining state and the structure of the tissue itself can be clarified.例文帳に追加

観察装置に依存しない組織標本の解析を可能にするとともに、染色状態の定量化、変換、組織自体の構造を明確にすることができる顕微鏡画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a computerized method and its device which analyze sets of readout values from samples in order to determine which sample has a prescribed characteristic in biological or chemical analysis such as nucleic acid analysis.例文帳に追加

所定の特性の試料がどれかを決定するための、核酸分析のような生物学的又は化学的分析において、それぞれの試料からの読取値のセットを分析する電算化方法と装置の提供。 - 特許庁

To measure resistance of samples fluctuating at high speed through vibration tests and impact test and the like, by devising wiring structure for a fraction of sample resistance to a Wheatstone bridge of a dynamic strain measuring device.例文帳に追加

動歪測定器のホイーストンブリッジに対する試料抵抗分の配線構造を工夫することで、振動試験や衝撃試験等により高速で変動する試料の抵抗値を高精度に測定可能とする。 - 特許庁

In this method, a device, which includes a mechanism for optionally diverting a part of mobile phase, flowing through a mobile phase transport pipe, into a liquid transport pipe containing stationary phase to separate sample components, is used.例文帳に追加

移動相輸送導管を流れる移動相の一部を、試料構成要素を分離するための固定相を含む流体輸送導管へ選択的に方向転換させるためのメカニズムを含む装置を使用する。 - 特許庁

To provide a device which can attenuate the intensity of light with selected wavelength in a selected lighting area to an arbitrary extent and further properly protect a photosensitive area of a sample to be examined.例文帳に追加

選択された照明領域において、選択された波長の光の強度を、任意の程度に減衰することができ、更に被検試料の感受性領域を適正に保護することができる装置を提供すること。 - 特許庁

An X-ray beam 48 emitted from the focal point 34 become parallel beams 60 when the beam 48 is reflected by the mirror 16 and the beams 60 strike the sample 12 through the opening 52 of the slit device 18.例文帳に追加

Ｘ線焦点３４から出射されたＸ線ビーム４８は放物面多層膜ミラー１６で反射して平行ビーム６０となり，選択スリット装置１８の開口５２を通過して試料１２に当たる。 - 特許庁

To provide a quantitative determination method for nucleic acid for quantitatively and accurately determining each of a plurality of kinds of target nucleic acids contained in a nucleic acid sample, and to provide a quantitative determination device for nucleic acid used for the quantitative determination method.例文帳に追加

核酸試料中に含有されている複数種類の標的核酸を、それぞれ高精度に定量するための核酸の定量方法、及び、該定量方法に用いられる核酸の定量装置の提供 - 特許庁