「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an evaluating method for a charged particle beam drawing device in which a pattern drawn using a charged particle beam is evaluated and when a desired pattern is not drawn, the cause thereof is specified, and to provide the charged particle beam drawing device that can draw the desired pattern on a sample.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いて描画されたパターンを評価し、所望のパターンが描画されていない場合に、その原因を特定することのできる荷電粒子ビーム描画装置の評価方法と、試料に所望のパターンを描画することのできる荷電粒子ビーム描画装置とを提供する。 - 特許庁

An imaging control unit composed of a TG 4, an AFE 5, a synchronizing control section 6 and a system control section 7 controls an imaging device 3 under a predetermined imaging condition, and picks up an observation image of a sample, formed on a light receiving surface of the imaging device 3, under a microscope.例文帳に追加

ＴＧ４、ＡＦＥ５、同期信号生成部６、及びシステム制御部７で構成される撮像制御部は、所定の撮像条件の下で撮像素子３を制御して、撮像素子３の受光面に結像した標本の顕微鏡での観察像の画像を撮像させる。 - 特許庁

To provide an optical disk device and an optical head device in which the servo of laser light quantity or an objective lens can be high-reliably performed by enabling high-speed sample/hold (S/H) without being affected by stray capacitance on a data transmission line.例文帳に追加

この発明は、データ伝送路の浮遊容量の影響を受けることなく高速でのサンプルホールドを可能として、レーザ光量や対物レンズのサーボを高い信頼性を持って実現することができるようにした光ディスク装置及び光ヘッド装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a control device for vending machine, which prevents an operation error of a commodity purchaser, and a switch device for vending machine for increasing the flexibility of layout between a commodity sample and a switch while maintaining excellent maintainability and waterproof/dust preventing effect.例文帳に追加

商品購入者による操作誤認の発生を防止することを可能とした自動販売機用制御装置を提供すると同時に、商品見本とスイッチとのレイアウトの自由度を高めることができるとともに、メンテナンス性及び防水・防塵牲に優れた自動販売機用スイッチ装置を提供する。 - 特許庁

The region on the sample 4 that should be observed is scanned two-dimensionally with an electron beam from an electron gun 1, and a secondary electron image in the observation is displayed in a display device 34 by a signal based on a secondary electron from the observation region inspected at a secondary electron inspection device 31 by this scanning.例文帳に追加

電子銃１からの電子ビームで試料４上の観察すべき領域を二次元的に走査し、この走査により二次電子検出器３１で検出された観察領域からの二次電子に基づく信号により表示装置３４に観察領域の二次電子像を表示させる。 - 特許庁

An AIDC sensor 42 detecting toner adhesive amount to a sample toner pattern formed on a photoreceptor drum, a temperature sensor 43 and a humidity sensor 44 detecting the temperature and the humidity of the inside of the device are connected to a CPU 61 constituting the control circuit 60 of the image forming device.例文帳に追加

画像形成装置の制御回路６０を構成するＣＰＵ６１には、感光体ドラム上に形成されたサンプルトナーパターンのトナー付着量を検出するＡＩＤＣセンサ４２、装置内部の温湿度を検出する温度センサ４３及び湿度センサ４４が接続される。 - 特許庁

This tissue array preparation device using at least one donor block 2 including an examination tissue 3 and a sample support 22 wherein one labeled tissue fragment of the examination tissue 3 is arranged, and having a constitution including a hollow needle 5 for collecting a sample from the examination tissue 3 has a sighting device 12 for positioning the hollow needle 5 over the donor block 2.例文帳に追加

被検組織（３）を含む少なくとも１つの供与体ブロック（２）と、該被検組織（３）の標識された１つの組織断片が配される試料支持体（２２）とを用いると共に、該被検組織（３）から試料を採取するための中空ニードル（５）を含んで構成される、組織アレイの作製装置において、前記供与体ブロック（２）の上方において前記中空ニードル（５）を位置決めするために、照準装置（１２）を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a soil contaminant measuring device capable of simultaneously measuring heavy metal and halogenated hydrocarbon in a short time through the use of a common soil sample to be measured, achieving the concentration, compactness, and portability of the device by performing two different types of measurements by one device, and obtaining merits by making a field and an analysis site close to each other.例文帳に追加

共通の被測定土壌試料を用い、短時間で同時的に重金属とハロゲン化炭化水素の測定ができ、２つの異なる種類の測定を１つの装置で行うことで装置の集約小型化と可搬性を可能とし、現場と分析場所との近接化によるメリットを得ることができる土壌の汚染物質測定装置の提供を課題とする。 - 特許庁

The inspection device is equipped with a plurality of detection devices 11, 12 to receive electron beams emitted from a sample W and to obtain image data expressing the sample W, and a switching mechanism M to make the electron beams incident on one out of a plurality of the detection devices 11, 12, and the plurality of the detecting devices 11, 12 are arranged in the same container MC.例文帳に追加

検査装置は、試料Ｗから放出された電子ビームを受け取って、試料Ｗを表す画像データを取得する複数の検出装置１１、１２と、複数の検出装置１１、１２のうちの一つに電子ビームを入射させるための切り換え機構Ｍとを具備し、複数の検出装置１１、１２が同一の容器ＭＣ内に配置されていることを特徴とする。 - 特許庁

In addition, this doping device 10 is equipped with deflection electrodes 60 provided between the neutralizing chamber 16 and the sample 18 to remove the charged particles 54 which have not been neutralized in the neutralizing chamber 16, and measuring means 64, 66, 68 and 70 each measuring the amount of dope irradiated to the sample 18 by measuring the charged particles 54 which have been removed from the deflection electrodes 60.例文帳に追加

また、このドーピング装置１０は、中性化室１６と試料１８との間に設けられ、中性化室１６で中性化されなかった荷電粒子５４を除去する偏向電極６０と、偏向電極６０により除去された荷電粒子５４を計測することにより試料１８へのドープ量を計測する計測手段６４，６６，６８，７０とを備えている。 - 特許庁

To accurately measure the position of patterns and the patterns by highly precisely matching the patterns over the entire surface of a flat sample without being influenced by the change of a parameter in an electro-optical system due to re-focusing when there is a distortion exceeding the focus depth in the electro-optical system on the flat sample, as to a method and a device for collating the patterns.例文帳に追加

本発明は、パターン照合方法およびパターン照合装置に関し、平坦試料上で電子光学系の焦点深度を超えた歪みがある場合などに再フォーカス合わせによる電子光学系のパラメータの変化による影響を受けることなく平坦試料の全面に渡って高精度にパターンマッチングしてパターンの位置およびパターン測長を正確に行うことを目的とする。 - 特許庁

The device 1 for measuring the emission from the sample held in each of the wells of a microplate 20 includes an image acquiring part 40 for acquiring a two-dimensional emission image, a light guide optical system 41 for guiding the two-dimensional image of the microplate 20 containing the emission from the sample to the image acquirig part 40 and the sheetlike filter member 30 arranged on a light path of the two-dimensional image.例文帳に追加

マイクロプレート２０のウェル内に保持された試料からの発光を測定する発光測定装置１を、２次元の発光画像を取得する画像取得部４０と、試料からの発光を含むマイクロプレート２０の２次元画像を画像取得部４０へと導く導光光学系４１と、２次元光像の光路上に配置されたシート状のフィルタ部材３０とを備えて構成する。 - 特許庁

To provide a soil sampling device by which a cubic capacity of a sampling space for housing a soil sample is sufficiently secured, the collected soil sample is taken out from the sampling space easily, and the soil at a non-target underground depth is prevented from being mixed into the sampling space by preventing a shutter plate for opening/closing a sampling port for taking the soil into the sampling space from falling off.例文帳に追加

土壌サンプルを収容する採取空間の容積を充分に確保でき、採取した土壌サンプルを採取空間から容易に取り出すことができ、採取空間へ土壌を取り込む採取口を開閉するためのシャッター板の脱落を防止することにより採取空間への目的外の地下深度の土壌の混入を回避できる土壌採取器を提供すること。 - 特許庁

The ion beam machining system, where the focused ion beam 2 is radiated onto the semiconductor device 9 to be machined in its predetermined region, while preventing charge-up with the electron shower 19 supplied from an electron shower gun 20 comprises a controllable power supply 21 for applying a bias to the sample stage 10 and an ammeter 22 for detecting the sample current, without being affected by the electron shower 19.例文帳に追加

集束されたイオンビーム２を半導体装置９上に照射し、電子シャワー銃２０から供給される電子シャワー１９によりチャージアップを防止しつつ、所定の領域を加工するイオンビーム加工装置において、調整電源２１により試料ステージ１０にバイアス印加を行い、電子シャワー１９による影響を受けずに電流計２２で試料電流を検出する。 - 特許庁

To provide a sample pre-processing technique for locally cutting out the place desired to be analyzed of a device to form a needle-like projection, and a technique capable of subjecting even a sample having a multilayered structure, which contains an element layer of a small evaporation electric field in the circumstances described hereinbelow, to sequential stable ion evaporation to enable SAP analysis of an atomic level.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、デバイスの分析したいところを局所的に切出して針状突起にする試料予備加工の技術を提示すると共に、後述する事情の中で小さな蒸発電界の元素層を含む多層構造の試料であっても順次の安定したイオン蒸発を可能とし、原子レベルのＳＡＰ分析を可能とする技術を提供することにある。 - 特許庁

The resistivity measurement method, measuring the electric resistance of a sample with a four-probe resistivity measurement device, supplies an application current for each of a plurality of measuring points of the sample and measures a voltage value and, when the measured voltage value is determined to be beyond a predetermined range of a voltage value at the last measurement point, reconfigure a current value of the application current.例文帳に追加

４探針抵抗率測定装置により試料の電気抵抗を測定する抵抗率測定方法であって、前記試料における複数の測定ポイント毎に印加電流を供給して電圧値を測定し、前記測定した電圧値が前回の測定ポイントの電圧値の所定範囲を超えると判定した場合に、前記印加電流の電流値を再設定する。 - 特許庁

In the testing method for accelerating the deterioration in the electrophotographic photoreceptor in which an electrifying step by an electrifier and an exposure step by an exposure device are simultaneously carried out, a sample presser member is arranged between the photoreceptor and the electrifier and the material of the surface of the sample presser member facing the electrifier is formed of a material having insulation properties.例文帳に追加

電子写真用感光体に、帯電器による帯電工程と露光装置による露光工程とを同時に行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体と前記帯電器との間にサンプル押さえ部材が配置され、該サンプル押さえ部材の前記帯電器に対向する面の材質が絶縁性を有する材料で形成されていることを特徴とする。 - 特許庁

To prevent the visual field deviation of a characteristic object at a stage without being sufficiently corrected in obtaining a coordinate value in a scanning electron microscope used in converting a coordinate value of a characteristic object on a sample sent from the other device to the coordinate value in the scanning electron microscope, in the scanning electron microscope having a function for observing the characteristic object on the sample.例文帳に追加

試料上の特徴物を観察する機能を有する走査電子顕微鏡において、他の装置から送られてくる試料上の特徴物の座標値を走査電子顕微鏡での座標値に変換する際に用いる走査電子顕微鏡での座標値を取得するときに十分な補正のかかっていない段階での特徴物の視野ずれを防ぐ。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁

To provide a device that can measure the surface temperature of a minute region of a sample at high accuracy, high space resolution, and high speed by a thermo-reflectance method, can analyze the temperature dependence of the surface reflection even of a sample whose temperature dependence of the surface reflection is not known, and can instantly determine the temperature using the results.例文帳に追加

試料の極微少領域の表面温度をサーモリフレクタンス法により高精度・高空間分解能・高速度で測定することを可能とするとともに、表面反射率の温度依存性が知られていない試料についても、その表面反射率の温度依存性を解析し、その結果を用いて温度を即時に決定することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁

This test device has a memory stored with a plurality of calibration regulation amounts corresponding to a plurality of calibration numbers and is adapted to store a test sensor for collecting a sample, and the test sensor contains a reagent adapted to generate reaction indicating the concentration of the analyte in the sample and has a plurality of columns of calibration number corresponding thereto.例文帳に追加

試験装置は、複数の較正番号に対応する複数の較正調節量が記憶されているメモリを有しサンプルを収集するための試験センサを収容するように適合されており、試験センサは、サンプル中の分析対象物の濃度を示す反応を生じさせるように適合されている試薬を含み、対応する複数桁の較正番号を有する。 - 特許庁

By constituting a sample of a finite element model by dividing a representative structure of facial muscles and skin into finite elements, automatically measuring and incorporating shape measurements of a face of an individual person as typical point data by an artificial visual device, and giving the coordinates of a plurality of representative points 31 to 43 thus obtained to the sample of the finite element model, an individual finite element model is generated.例文帳に追加

顔の筋とヒフの代表的な構造を有限要素に分割して有限要素モデルのひな形を構築し、個々の人間の顔の形状測定を人工視覚装置により代表点データとして、自動計測して取込み、これにより得られた複数の代表点３１〜４３の座標を有限要素モデルのひな形に与えて個人別の有限要素モデルを生成する。 - 特許庁

In analyzing an impurity of a carbon sample, in concentrated sulfuric acid contained in a carbon oxidizing reactor 2, nitric acid vapor produced by a nitric acid vapor generating device 3 is supplied to and contacted with the carbon sample under a temperature of 200°C or higher to oxidize carbon and to remove it as carbon dioxide, followed by analyzing the impurity remaining in the concentrated sulfuric acid.例文帳に追加

カーボン試料中の不純物を分析するに際し、カーボン酸化反応器２に収容した濃硫酸中において該カーボン試料に、２００℃以上の温度下で、硝酸蒸気発生器３により生成せしめた硝酸蒸気を供給することにより接触せしめてカーボンを酸化して二酸化炭素として除去した後、残存する濃硫酸溶液中の不純物を分析する。 - 特許庁

To provide a weight measuring device of sludge sample capable of measuring ignition loss with high measuring accuracy by measuring the real weight of an object to be measured under consideration of the influence of heat convection in a heating and weighing chamber.例文帳に追加

加熱計量室における熱対流の影響を考慮して被測定物の真の重量を測定し、計測精度の高い強熱減量計測を行なうことができる汚泥試料の重量計測装置を提供する。 - 特許庁

This device includes a face image input part 1, an image processing part 2 which superimposes the sample patterns, advice, etc., on an inputted face image and an image projection part 3 which projects a superposed face image in front of a user.例文帳に追加

顔画像を入力する顔画像入力部１と、入力した顔画像に見本パターンやアドバイス画像等を重畳する画像処理部２と、その重畳画像をユーザの目前に映し出す画像投影部３とを備える。 - 特許庁

A receiving sound volume setting value after the speaking person adjusts the receiving sound volume with the key 11 is stored in a storing device 10 as the sample of a detected value.例文帳に追加

通話者が受話音量調節キー１１で受話音量を調節後の受話音量設定値と、この時に送話信号レベル検出器７で検出される送話信号５を検出値のサンプルとして記憶装置１０に格納しておく。 - 特許庁

To provide a shading correcting device capable of appropriately correcting shading without the need to obtain an image through the use of a test sample and calculate a correction amount in advance, and to provide a shading correcting method.例文帳に追加

あらかじめテスト用試料を用いて画像を取得して補正量を算出しておく必要がなく、かつ、適切にシェーディング補正を行うことが可能なシェーディング補正装置及びシェーディング補正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This device is made up of an objective lens for detecting an image of a sample, a laser lighting means for lighting the pupil thereof, a means for reducing the coherence of laser lighting, a storage-type detector, and a means for processing a detection signal thereof.例文帳に追加

試料の像を検出する対物レンズと、その瞳に対して照明を行うレーザ照明手段と、レーザ照明の可干渉性を低減する手段と、蓄積型の検出器と、その検出信号を処理する手段とからなる。 - 特許庁

To provide a sample fine suction structure capable of moving a fluid without depending on the physical properties of matter to be used and using a special outside drive device such as an outside pump, usable alone and able to incorporate, and its forming method.例文帳に追加

使用する物体の物性に依存せず、外部ポンプなどの特殊な外部駆動装置なしで、流体を移動でき、単体でも使え、組み込みも可能な、簡易な微小吸引構造体及びその形成方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an image recognition device and an image recognition method, efficiently setting a sample point for comparing a characteristic of an image, and capable of executing an identification process in a short time, and to provide a program making a computer to execute the method.例文帳に追加

画像の特徴を比較するサンプル点を効率的に設定し、本人確認処理を短時間で実行することができる画像認識装置、画像認識方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを提供すること。 - 特許庁

Therefor with differences in structure, size, fixing and wiring methods, and temperature between the sample cell and the reference cell, it is possible to substantially heighten the effects of removing the noise components of the conventional absorption detecting device and improve detection sensitivity.例文帳に追加

したがって試料セルと比較セルの構造・寸法の差、固定・配線方法の差、温度差などがあっても、従来の赤外吸収検出装置のノイズ成分の除去の効果を一段と高め、検出感度が向上する。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray device measurable in the same detection lower limit each time, even when there are a change in the sample size, a change in sensitivity by a difference in a main component and a change in the size of a background by influence of a coexistent element.例文帳に追加

試料のサイズの変化や、主成分の違いによる感度の変化、共存元素の影響によるバックグランドの大きさの変化があった場合でも毎回同じ検出下限で測定できる蛍光Ｘ線装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, the pattern expressing power of a commodity card display device can be improved and the customer attracting ability of an automatic vending machine can be improved, because the patter of the commodity card 15 projected upon the translucent board 12 looks like a deep commodity sample.例文帳に追加

これにより、半透明な電照板に投影された商品カードの図柄が、奥行きのある商品見本として見え、商品カード表示装置の図柄表現力を向上でき、自販機の集客力向上が図れる。 - 特許庁

To provide a high pressure vessel device in which a sample can be easily taken into and taken out of a treating chamber by a simple manner, the treating chamber is surely closed and the ingression of the dust occurring when opening and closing of a cap into the treating chamber is inhibited.例文帳に追加

簡便な方法により処理室への試料の取り入れ、取り出しが可能で、密閉性が確実で、且つ、蓋の開閉に伴い発生する粉塵が処理室内へ進入しないようにした高圧容器装置を提供すること。 - 特許庁

The texture treatment device (1) comprises a retort (2) for processing textural study sample by using a plurality of reagents, a plurality of reagent storage containers (3), conduit system (6) for transferring reagents from the reagent storage containers (3) into the retort (2), and a controller (5).例文帳に追加

組織処理装置（１）は、複数の試薬で組織学試料を処理するレトルト（２）、複数の試薬貯蔵容器（３）、及び試薬貯蔵容器（３）からレトルト（２）へ試薬を移送する導管システム（６）及び制御装置（５）を有する。 - 特許庁

To provide an adapter for a gel-layer carrying plate used for a submarine type or vertical type electrophoretic device and a semiautomatic sample dispensation method using the adapter in order to solve problems occurring in an electrophoretic operation using many samples.例文帳に追加

多数の試料での電気泳動操作において起こる問題を解決すべく、サブマリン型及び垂直型電気泳動装置に用いるゲル層担持プレートのアダプタ及び該アダプタを用いた半自動試料分注方法を提供すること。 - 特許庁

To enable an electron beam device to carry out high-accuracy observation and analysis and to easily and accurately carrying out aberration correction with higher accuracy, in carrying out the aberration correction with the use of a standard sample with particles deposited on a substrate.例文帳に追加

電子線装置において、基板上に粒子を堆積した標準試料を用いて収差補正を行う際に、高精度な観察及び分析を可能とし、より精度の高い収差補正を容易且つ正確に行う。 - 特許庁

The reaction treatment device is provided with a first discrimination information reading part for reading the discrimination information of the reaction vessel plate before being installed to a plate installation part and the discrimination information of a sample stored in the reaction vessel plate.例文帳に追加

反応処理装置は、プレート設置部に設置される前の反応容器プレートの識別情報とその反応容器プレートに収容されるサンプルの識別情報とを読み取るための第１識別情報読取り部を備えている。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a puncture testing device for tires which enables visual observation of the condition of a puncture and remarkable reduction in puncture testing cost, by reproducing the condition of the puncture having an inside pressure by using a sample piece of a tire.例文帳に追加

タイヤのサンプル片を用いて内圧を付与したパンク状況を再現することにより、パンク状況を目視により観察可能にし、かつタイヤのパンク試験コストを大きく削減することが可能なタイヤのパンク試験装置を提供する。 - 特許庁

A rasterizing device 3 generates a sample bit map font 7 generated by rasterizing an outline font 6 with an original mesh size, and an evaluation target bit font 8 generated by rasterizing the same outline font 6 with a size for an evaluation target.例文帳に追加

ラスタライズ装置１２は、アウトラインフォントをオリジナルのメッシュサイズでラスタライズして生成した見本ビットマップフォントと、同一のアウトラインフォントを評価対象となるサイズでラスタライズして生成した評価対象ビットマップフォントとを生成する。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

The visual inspection device 1 has a constitution equipped with a threshold generation means 33 for generating the detection threshold on each spot on the sample 23 by performing statistical processing of pixel values of the imaged images acquired by imaging a plurality of samples 23.例文帳に追加

外観検査装置１を、複数の試料２３を撮像した撮像画像の画素値の統計処理によって、前記試料２３上の各箇所毎に、前記検出閾値を生成する閾値生成手段３３を備えて構成する。 - 特許庁

To provide a device facilitating verification whether an analysis condition of a registered background measurement angle position and the like are suitable for a sample to be analyzed or not in a wavelength-dispersive scanning type fluorescent X-ray spectrometer.例文帳に追加

波長分散型で走査型の蛍光Ｘ線分析装置において、登録したバックグラウンドの測定角度位置等の分析条件が、分析対象の試料に適切か否かの検証を容易にできる装置を提供する。 - 特許庁

A sample is placed on an electrode part 21 of a measuring device 20, and AC voltage having the selected frequency is applied to the electrode part 21, whereby only the yeast is accumulated at needle parts 22a, 23a of comb tooth-like electrodes 22, 23.例文帳に追加

測定装置２０の電極部２１にサンプルを置き、選定した周波数を有する交流電圧を電極部２１に印加することにより、櫛歯状電極２２、２３の針状部２２ａ、２３ａに酵母のみを集積させる。 - 特許庁