「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a disposable device to be used for blood examination capable of simultaneously diluting a blood sample into two kinds of prescribed dilution ratios, and holding all contaminated materials.例文帳に追加

血液サンプルを２種類の所定の希釈比に同時に希釈することができ、すべての汚染された材料を保持することができる血液検査に使用する使い捨て装置を提供する。 - 特許庁

First of all, the apparatus deterioration evaluation support device 1 acquires and stores physical data (an acoustic level, apparatus output, and sample data of the outside air temperature) at an initial stage of apparatus operation (S401).例文帳に追加

機器劣化評価支援装置１は、まず、機器運転の初期段階における物理データ（音響レベル、機器出力及び外気温度のサンプルデータ）を取得し、記憶する（Ｓ４０１）。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of uniformly irradiating an entire sample with electromagnetic wave in a prescribed frequency range while suppressing heat generation of an electromagnetic wave source.例文帳に追加

電磁波の発生源の発熱量を抑制しつつサンプルの全体に所定の周波数領域の電磁波を均一に照射することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable observation and working by charged particle beams while confirming and discriminating the appearance of a sample confirmed by an optical microscope or the like at all time in operation of a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置のオペレーションに際して、光学顕微鏡などで確認された試料の外観を常時確認識別しながら、荷電粒子線による観察・加工を可能とすること。 - 特許庁

To provide an interference device and a measuring technique of planar shapes so as to resolve narrow-spacing of interference band occurred at the time of measurement of a test planar plane (a sample) with steep slope.例文帳に追加

急峻な傾斜を持つ被検体平面〔サンプル〕の計測時に生ずる干渉縞の狭間隔化を解消するようにした干渉装置及び平面形状の測定方法を得る。 - 特許庁

To provide a halftone plate forming device which saves time required from the determination of a print sample upto the format start of printing and a material and consequently, reduces printing cost.例文帳に追加

印刷見本の確定から正式の印刷開始までに要する時間や資材を少なく出来、この結果、印刷コストを低下出来る網版形成装置を提供することである。 - 特許庁

This fluorescent X-ray analysis device is provided with a computing means 16 for estimating the measured intensity of scattered radiation of the characteristic X-ray from the X-ray tube 1, from theoretical intensity computed according to the composition of the sample 13.例文帳に追加

Ｘ線管1 からの特性Ｘ線の散乱線4 の測定強度を、試料13の組成に応じて計算した理論強度から推定する算出手段16を備える。 - 特許庁

To accurately measure the grain size distribution in a state of canceling the noise superposed to the scattered light information obtained from a measuring sample including measuring object grain, in a grain size distribution measuring device.例文帳に追加

粒径分布測定装置において、測定対象粒子を含む測定サンプルから得られる散乱光情報に重畳するノイズをキャンセルし、より正確な測定を行う。 - 特許庁

To provide a sample device which can certainly realize the adsorption of gas under the ultrahigh vacuum of 10^-5Pa or below in the photoelectron microscope and can stably keep this ultrahigh vacuum.例文帳に追加

光電子顕微鏡内の１０^-5Ｐａ以下という超高真空下において確実にガス吸着を実現でき、かつ、この超高真空を安定して維持できる試料装置を提供する。 - 特許庁

To provide an atom position fixing device and atom position fixing method suppressing deviation in relative position between a probe and a sample atom due to the influence of thermal drift and creep.例文帳に追加

熱ドリフト及びクリープの影響による探針と試料原子との相対位置のずれを抑制することができる原子位置固定装置及び原子位置固定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for precisely evaluating two dimensional distribution of crystal structure defects of a semiconductor sample by a photoluminescence method in nondestructive and noncontact manner.例文帳に追加

フォトルミネッセンス法により、非破壊、非接触で半導体試料の結晶構造欠陥の２次元分布の評価を高精度で行うことを可能にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device which can quantitatively measure a magnetic field even in a sample where an occurred magnetic field is weak and only a minute change in magnetic field is caused.例文帳に追加

発生する磁場が微弱で、微小な磁場変化しか生じさせない試料に対しても、その磁場を定量的に計測することができる方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for processing ion beam capable of making a sample suitable for use for a TEM without using a shielding plate.例文帳に追加

本発明はイオンビーム加工装置に関し、ＴＥＭに用いて好適な試料を遮蔽板を使用せずに作製することができるイオンビーム加工装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To sample dust or the like including allergen without reducing a sucking force, concerning a sampling device used for sampling the dust or the like including allergen from an environment.例文帳に追加

環境中からアレルゲンを含む粉塵などを採取するために使用されるサンプリング装置において、吸引力を低下させないでアレルゲンを含む粉塵などをサンプリングすることを目的とする。 - 特許庁

To perform sensing of high sensitivity by effectively capturing the substance to be measured in a sample cell on the surface of a plasmon active substrate or in the vicinity thereof in a sensing device.例文帳に追加

センシング装置において、試料セル中の被測定物質をプラズモン活性基体の表面又はその近傍に効果的に捕捉させて、高感度なセンシングを行うことを可能とする。 - 特許庁

An absolute distance measuring device based on a laser interferometer can combine measurement technologies of low, intermediate, and high resolution to determine an absolute distance to the surface of a sample.例文帳に追加

レーザ干渉計に基づく絶対的距離測定装置は、低、中、高解像度の測定技術を組み合わせて、サンプル表面までの絶対的距離を高解像度で求めることができる。 - 特許庁

Noise distribution detection means 11 detects the distribution of the electromagnetic field strength measured by the electromagnetic field strength meter 6 as approximate distribution of the electromagnetic noise generated in the sample device 100.例文帳に追加

ノイズ分布検出手段１１は、電磁界強度計６で測定された電磁界強度の分布を、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの近似的な分布として検出する。 - 特許庁

To actualize a multipoint output hold device, using a multiplexer means, which can hold the hold voltage of a sample holding capacitor at the value right before a control means hangs up when the control means hangs up.例文帳に追加

制御手段のハングアップ時にサンプルホールドコンデンサの保持電圧をハングアップ直前の値に保持することを可能とする、マルチプレクサ手段を用いた多点出力ホールド装置を実現する。 - 特許庁

To provide a particle size distribution measuring device capable of preparing a sample quickly and accurately by monitoring simultaneously and precisely a transmittance of inspection light belonging to a different wavelength band.例文帳に追加

異なる波長帯域に属する検査光の透過率を同時且つ的確にモニターして、素早く正確に試料調整できるようにした粒子径分布測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an automatic focusing device capable of easily positioning a focal position adjusting lens for adjusting the focal position of illuminating light for autofocus at a desired position on a sample.例文帳に追加

オートフォーカス用の照明光の焦点位置を調整する焦点位置調整レンズを標本の所望の位置に容易に合わせることができるオートフォーカス装置を備えた顕微鏡。 - 特許庁

To provide a monocrystal ingot processing device capable of highly precise machining on a monocrystal ingot to a lattice plane, and moreover without requiring sample formation for lattice plane measurement.例文帳に追加

単結晶インゴットを格子面に対して高精度に加工することができ、しかも格子面測定用のサンプルを作製する必要のない単結晶インゴットの処理装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, a user can specifically and accurately understand the effect of use of a specific function of the photographing device by comparing sample photographs, for example, before and after the use.例文帳に追加

これによりユーザは、撮影装置の特定の機能を使用した場合の効果を、例えば使用前と使用後のサンプル写真を比較することによって、具体的かつ正確に理解することができる。 - 特許庁

To provide an FAIM filter for creating a spectrum of a sample by controlling a flow of selection ions at higher speed and higher accuracy than a conventional FAIM device, and provide a detection system.例文帳に追加

従来のＦＡＩＭ装置に比べて、選択イオンの流れをより高速、かつ高精度で制御して、サンプルのスペクトルを作成するＦＡＩＭフィルタおよび検出システムを提供する。 - 特許庁

To provide a photodetection device and a photodetection method, capable of simply and inexpensively coping with the changes in a medium temperature, without impeding measuring work on a test sample.例文帳に追加

被検試料に関する測定作業を阻害することなく、媒質温度の変化に簡便にまた安価に対応することができる、光検出装置及び光検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a capillary separated evaporation chamber and a nozzle device and method that are used for improved electron ionization liquid chromatography mass spectrometry of a sample in a supersonic molecular beam.例文帳に追加

超音波分子ビーム中のサンプルの改良された電子イオン化液体クロマトグラフィ質量分光測定のための毛管で分離された蒸発チェンバーおよびノズルの方法および装置の提供。 - 特許庁

To provide a device for controlling light radiation excited and/or backscattered and/or reflected by a sample, including one or a plurality of wavelengths toward various optical exits.例文帳に追加

試料において励起および／または逆散乱および／または反射される、１つまたは複数の波長を含む光放射をさまざまな光出口に向けて制御するための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a spectrophotometric device for determining an analyte present in a sample having various background matrixes and possibly having substantial component interference.例文帳に追加

種々のバックグラウンドマトリックスを有し、実質的な成分干渉をおそらく有するサンプル中に存在する分析物濃度を決定する方法および分光光度装置を提供すること。 - 特許庁

The method includes, using a vacuum system, extracting a sample from a single phase flow of liquid immersion fluid of a fluid handling structure of a lithography device or from a fluid handling structure.例文帳に追加

方法は、真空システムを使用して、リソグラフィ装置の流体ハンドリング構造の又は流体ハンドリング構造からの液浸流体の単相流から、サンプルを抽出することを含む。 - 特許庁

The probe device reduces adverse effect on the sample caused by sputter particles generated by ion beam irradiation to the probe, debris of the probe, and the ion beams passing through the vicinity of the probe.例文帳に追加

本発明により、プローブへのイオンビーム照射により発生したスパッタ粒子，プローブの破片，プローブの近傍を通過したイオンビームなどによる試料などへの悪影響を低減できる。 - 特許庁

A switch 30 of a sample and hold circuit 3 inputs thereto the plurality of analog signals from the delay circuit 2 and is turned on/off in arbitrary timing within a signal interval, corresponding to one pixel of the imaging device.例文帳に追加

サンプルホールド回路３のスイッチ３０は、遅延回路２からの複数のアナログ信号を入力とし、撮像素子の１画素に対応する信号区間内の任意のタイミングにてオン・オフする。 - 特許庁

To provide a grating illumination microscope which will not lower contrast of microscopic images, by preventing the light coming from parts other than the focal position in a sample from being imaged on an imaging device.例文帳に追加

標本中における焦点位置以外の部分からの光が撮像素子に結像されることを防ぎ、顕微鏡画像のコントラストを低下させない格子照明顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

To provide a micro fluid device for preventing a backward flow and a pulsation flow of a liquid sample when it is transmitted, and obtaining the stable flow rate accuracy of a liquid transmission to an analysis section.例文帳に追加

送液される際の液体試料の逆流及び脈流が発生せず、分析部への送液について安定な流量精度が得られるマイクロ流体デバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of notifying the device state to a place other than a room where the analyzer is installed, without preparing exclusive hardware or software for a computer network.例文帳に追加

コンピュータネットワークのための専用のハードウエアやソフトウエアを用意しなくても、装置が設置されている部屋以外から装置状態を知ることができる試料分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a particle-size measuring device, a particle-size measuring method and a computer program for measuring particle size, based on fluorescent X-ray spectra of the particles on the surface of a sample.例文帳に追加

本発明は、試料表面の粒子の蛍光Ｘ線スペクトルに基づいて粒子径を測定する粒子径測定装置、粒子径測定方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

A light receiving device 20 is provided with a sample detection circuit, the sampling period of which is further longer than that of communication light but shorter than that of identifying light.例文帳に追加

また、受光装置２０には、通信光の点滅周期よりも十分に長いが対照光の点滅周期よりも短い周期でサンプリングを行うサンプリング検出回路を設ける。 - 特許庁

To provide a makeup support device with which a person can alone perform the makeup while looking at the sample patterns and advice superposed on the person's face image and also receiving the correction or change instructions.例文帳に追加

顔画像に重畳表示された見本パターンやアドバイスを見ながら化粧し、修正や変更の指示を受けながら一人で化粧できる化粧支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a super-small-angle X-ray scattering measuring device capable of accurately capturing a scattering line from a sample in a super-small-angle region by suppressing the occurrence of a smearing phenomenon.例文帳に追加

スメアリング現象の発生を抑えることにより、超小角領域における試料からの散乱線を正確に捕えることができる超小角Ｘ線散乱測定装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problems wherein, in an NMR device, when an output from a room-temperature shim coil is enlarged, a temperature gradient is generated in a sample domain, and an NMR spectrum line width is widened, to thereby lower sensitivity.例文帳に追加

ＮＭＲ装置では、室温シムコイルの出力が大きくなった場合に、試料領域に温度勾配が発生し、ＮＭＲスペクトル線幅が広がり感度低下を招く。 - 特許庁

A sample gathering boring device is mounted on a fixed frame 7 of a boring machine 1; can retractably move to the ground; and excavates by applying vibromotive force in addition to dead weight.例文帳に追加

穿孔機械１の固定フレーム７上に搭載され、地盤に対し進退移動可能で、かつ、自重に加え起振力が与えられ掘削する試料採集用の穿孔装置である。 - 特許庁

To provide a lighting device for a vending machine with which the thickness of the vending machine can be reduced, and which can uniformly illuminate a sample and reduce the manufacturing costs.例文帳に追加

自動販売機の厚みが薄型化され、商品見本を均等に照明することができ、かつ製造コストを低減させることができる自動販売機用照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of facilitating the section of a secondary X-ray to be properly measured and performing a precise analysis when an object to be analyzed is a tin film sample in fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析において、分析対象が薄膜試料である場合に、適切な測定すべき２次Ｘ線の選択を容易にし、正確な分析ができる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring device capable of imaging a result of an analysis of light intensity and capable of overlapping and comparing an image of the result of the analysis with an image of a sample.例文帳に追加

光強度の解析結果のイメージングを行うことができるとともに、これら解析結果のイメージと試料の画像との重ね合わせや比較も可能にした測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ATR measuring device capable of stirring a liquid sample in a non-contact state even when a measuring chip is provided with an evaporation preventing means such as a rid, and quickly performing the measurement.例文帳に追加

測定チップに蓋等の蒸発防止手段が施されていても非接触で液体試料を撹拌でき、迅速な測定が可能なＡＴＲ測定装置を提供する。 - 特許庁

The method for calibrating the water vapor permeability measuring device includes a step of attaching the standard sample for calibration 10 to a water vapor introduction line or a water vapor detection line of the water vapor permeability measuring device, and a step of calibrating the water vapor permeability measuring device.例文帳に追加

また、上記の校正用標準試料１０を水蒸気透過度測定装置の水蒸気導入ラインまたは水蒸気検出ラインに取り付けて水蒸気透過度測定装置を校正することを特徴とする水蒸気透過度測定装置の校正方法である。 - 特許庁

The small-sized pulse electron spectroscopic analyzing device is provided with the short pulse electron beam generating device 10, a spectroscopic short pulse laser generating device 80, a synchronous circuit for synchronizing the short pulse laser and the high frequency, and a measuring instrument for measuring the short pulse laser passing though a sample for spectroscopic analyzing.例文帳に追加

一方、小型パルス電子分光分析装置は、この短パルス電子ビーム発生装置１０と、分光用短パルスレーザー発生装置８０と、短パルスレーザーと高周波とを同期させる同期回路と、分光分析用試料を透過した短パルスレーザーを測定する測定器とを備えた構成とした。 - 特許庁