「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a Fabry-Perot resonator that is compatible with a temperature adjustable device, is also compatible with a magnet device for generating a static magnetic field in the Y-axial direction, and can improve the degree of freedom of a measured sample, and to provide an ESR (electron spin resonance) device using such a Fabry-Perot resonator.例文帳に追加

温度可変装置との相性が良く、Ｙ軸方向に静磁場を発生する磁石装置とも相性が良く、測定試料の自由度を向上できるようなファブリ・ペロー共振器、および、そのようなファブリ・ペロー共振器を用いたＥＳＲ装置を提供する。 - 特許庁

The invention concerns a device for inspecting and/or processing a sample on a stage by use of a probe or image pickup device including a column having a beam generating means and deflecting means and for controlling, using the position control means, the position of the stage relative to the probe or image pickup device.例文帳に追加

当発明は、ビーム生成手段及び偏向手段を有するカラムを含むプローブ又は撮像装置を用いてステージ上のサンプルを検査及び/又は処理し、ステージのプローブ又は撮像装置に対する相対的な位置を位置制御手段で制御する装置に関する。 - 特許庁

To further quickly remove a sample adsorbed by a microchemical device such as a flow passage wall face by washing when reaction is executed by using the microchemical device, to realize quick and highly efficient reaction and analysis, and further, to make an expensive micro device usable for a long period of time.例文帳に追加

マイクロ化学デバイスをもちいて反応を行うにあたり流路壁面などマイクロ化学デバイスに吸着された試料を洗浄により速やかに除去し、迅速かつ高効率な反応や分析を実現し、さらには高価なマイクロデバイスを長期間使用可能にすることを課題とするものである。 - 特許庁

In order to measure the color of a sample under the prescribed observing condition and in a prescribed observing direction, an image observing device is constructed (S201) and a print obtained by outputting grid point data in a device color space is installed at an observing device for color measuring (S203 to S205) to store the result of color measuring in a profile (S206).例文帳に追加

試料を所定の観察条件下かつ所定の観測方向で測色するように、画像観察装置を構築し（S201）、デバイス色空間上の格子点データを出力したプリント物を該観察装置に設置して測色し（S203〜S205）、該測色結果をプロファイルに格納する（S206）。 - 特許庁

The system comprises a pretreatment device 10 which removes impurities from a bio-sample by using a column 26 and supplies the standard material, an electro-chemical detector which quantitatively analyzes a biochemical quantity of the bio-sample by using a column 50, and an analyzing device 12 having a cell for measuring UV absorption which quantitatively analyzes the standard material by using a column 52.例文帳に追加

カラム２６を用いて生体試料から夾雑物を除去すると共に、標準物質を供給する前処理装置１０、カラム５０を用いて生体試料の生化学量を定量分析する電気化学検出器、及びカラム５２を用いて標準物質を定量分析するＵＶ吸収測定用セルを備えた分析装置１２とから構成されている。 - 特許庁

The multiplication device including a multiplier for outputting digital data obtained by multiplying the arbitrary coefficient at a sample period is provided with an adder 304 for adding the digital data to a multiplication of a previous sample and supplying the resultant data to the multiplier and a switch 302 for feeding back the output of the multiplier to the adder 304.例文帳に追加

任意の係数を乗算したディジタルデータをサンプル周期で出力する乗算器を含む乗算装置であって、ディジタルデータと１サンプル前の乗算出力とを加算して乗算器に供給する加算器３０４と、乗算器の出力を加算器３０４へ帰還させるスイッチ３０２とを備える。 - 特許庁

In the ion chromatography for detecting the anion in a sample by a detector 5 after the sample is successively passed through a column 3 and a suppressor 4 together with an eluent, a degassing device 6 is arranged at the rear stage of the suppressor 4 to remove a carbon dioxide in the eluent after having passed through the suppressor 4.例文帳に追加

溶離液と共に試料をカラム３に通しさらにサプレッサ４を通過させた後、検出器５により試料中の陰イオンを検出するイオンクロマトグラフにおいて、サプレッサ４の後段に脱気装置６を配置することでサプレッサ４を通過した後の溶離液中の二酸化炭素ガスを除去する。 - 特許庁

The measuring device has a confocal optical system having a Nipkow disk 120, radiates laser beams for inspection and heating to a plurality of places of an inspected sample via the confocal optical system, and simultaneously obtains thermophysical property information of the plurality of places based on the reflected lights from the plurality of places of the inspected sample.例文帳に追加

ニポウディスク１２０を有する共焦点光学系を備え、共焦点光学系を介して被検査対象のサンプルの複数の箇所に、検査用と加熱用レーザ光を照射し、被検査対象のサンプルからの複数の箇所からの反射光に基づき複数の箇所の熱物性情報を同時に取得する。 - 特許庁

To provide a sample preparation device of small occupied area for large diameter wafers, realizing miniaturization of devices, equipped with an introductory means of a TEM holder, to which test pieces of several microns adhere without pressure increase or contamination in vacuum vessels, and having a sample chamber of the required minimum volume enabling quick observation.例文帳に追加

装置の小型化を実現し、かつ、真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μｍの試料片が固着されるＴＥＭホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が必要最小限の、占有面積の小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

In a nucleic acid analysis device for analysis of nucleic acid in a sample through fluorometry, a localized surface plasmon is generated by light irradiation and a nucleic acid probe or a nucleic acid synthetic enzyme for the analysis of the nucleic acid in the sample is disposed in a region of generation of the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、蛍光測定により試料中の核酸を分析する核酸分析デバイスにおいて、光照射により局在型表面プラズモンが発生し、かつ、試料中の核酸を分析するための核酸プローブや核酸合成酵素が前記表面プラズモンの発生部位に配置されていることに関する。 - 特許庁

To provide a measuring method and a measuring kit of high sensitivity for measuring a protein in a sample dispensing with an expensive device and tool in measurement, easy in an operation for measurement, very short in a required measuring time, and capable of measuring a micro-amount of protein contained in the sample.例文帳に追加

測定に当たり高価な装置や器具を必要とせず、測定の操作が簡便であり、測定に要する時間が極めて短く、かつ試料中に微量に含まれるタンパク質をも測定することができる高感度な試料中のタンパク質の測定方法及び測定キットを提供することを目的とする。 - 特許庁

In the pattern inspection of a semiconductor device, a basic pattern used for correcting the mounting position of a sample substrate on a supporting base is recorded previously, the positional shift of mounting is corrected using the basic pattern, the image of a pattern formed on the sample substrate mounted on the supporting base is acquired, and then the defect of the pattern is detected from the image thus acquired.例文帳に追加

半導体装置のパターン検査において、試料基板の支持台に載置する際の載置位置の補正に用いる基本パターンを予め記録し、基本パターンを用いて載置位置のずれを補正して、支持台に載置された試料基板に形成されたパターンの画像を取得し、取得された画像から、パターンの欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam irradiation method and a charged particle beam device, capable of restraining unevenness in electrostatic charge, even if a sample contains a plurality of different materials, in a pre-dosing area or the sample contains density of patterns in the pre-dosing area which is different for different positions.例文帳に追加

本発明は、予備照射領域内に異なる複数の材質が含まれていたり、予備照射領域内のパターンの密集度が位置によって異なるような試料であっても、帯電の不均一さを抑制することが可能な荷電粒子ビーム照射方法、及び荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an optical measuring device and an optical measuring method capable of acquiring an excellent position signal adjusting signal even if a measuring object is a fine particle, detecting accurately the position of a measuring object sample (fine particle), and measuring efficiently fluorescence, scattered light or the like emitted from the sample.例文帳に追加

測定対象が微小粒子であっても良好な位置信号調整信号を得ることができ、測定対象の試料（微小粒子）の位置を精度良く検出し、試料から発せられる蛍光や散乱光などを効率よく測定ことが可能な光学的測定装置及び光学的測定方法を提供する。 - 特許庁

When a shape of the tone curve is changed by a user, a control device 103 applies the image processing to an image using the changed tone curve, stores the image to which the image processing is applied into an SDRAM while associating with the tone curve as a sample image, and displays the sample image and the associated tone curve.例文帳に追加

制御装置１０３は、使用者によってトーンカーブの形状が変更された場合には、変更後のトーンカーブを用いて画像に対して画像処理を施し、画像処理を行なった後の画像をサンプル画像としてトーンカーブと関連付けてＳＤＲＡＭに記録し、サンプル画像とトーンカーブとを関連付けて表示する。 - 特許庁

A composite charged particle beam device equipped with an FIB column and an SEM column is provided with an SE3 detector detecting a secondary electron (referred to herein as a third-order electron) emitted by a back scattered electron generated when a sample is irradiated with an electron beam and colliding a structure in a sample chamber.例文帳に追加

本発明では、FIBカラムとSEMカラムを備える複合荷電粒子線装置に、電子ビームを試料に照射したときに発生する後方散乱電子が試料室の構造物に衝突することによって放出される二次電子（本明細書では、三次電子という）を検出するSE3検出器を設けている。 - 特許庁

To provide a standard sample for charged particle beam and a charged particle beam device using the same, allowing measurement of fine dimensions of an image in a submicrometer to tens of micrometers in high accuracy in TEM and/or STEM for observation by using electrons transmitted through a sample, or SEM.例文帳に追加

本発明の目的は、試料を透過した電子を用いて観察するＴＥＭやＳＴＥＭ、或いはＳＥＭにおいて、画像のサブミクロンから数１０μｍの微小寸法を高い精度で測定可能にする荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

This ultrasonic acoustic velocity measuring device for determining the acoustic velocity of the ultrasonic wave propagating in the sample flowing in the prescribed direction has a constitution equipped with an interception means for intercepting direct inflow of the sample into an ultrasonic wave propagation region on the upstream side of the flow of the ultrasonic wave propagation region.例文帳に追加

所定の方向に流れる試料中を伝播する超音波の音速を求める超音波音速測定装置において、超音波伝播領域の前記流れの上流側に、当該超音波伝播領域に前記試料が直接流入するのを妨げる妨害手段を備えた構成とする。 - 特許庁

To provide a device for two-dimensional cataphoresis capable of easily and uniformly adding a sample to one-dimensional gel and also easily performing the two-dimensional cataphoresis with one support substrate in a two-dimensional cataphoresis method, a sample injection tool used for it, and the two-dimensional cataphoresis method using it.例文帳に追加

二次元電気泳動法において、一次元目ゲルに試料を簡便に均一に添加することができ、さらに一つの支持基板で簡単に二次元電気泳動を行うことができる二次元電気泳動用装置及びそれに用いられる試料注入器具並びにそれを用いた二次元電気泳動法を提供すること。 - 特許庁

To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加

冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

The surface plasmon resonance angle detection device 1 applies light from a light source 19 to the sample solution of a sensor chip where a prism 5 is bonded to a surface in that no metal thin film is formed of a glass substrate 17 where the metal thin film is formed, detects a resonance angle according to reflection light intensity from the metal thin film, and specifies a sample.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴角検出装置は金属薄膜が成膜されたガラス基板の金属薄膜の非成膜面にプリズムを密着させたセンサーチップの試料溶液に対し、光源からの光を照射して金属薄膜からの反射光強度により共鳴角を検出して試料を特定する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating an ultraviolet radiation protective effect in vitro measurement reflecting a light deterioration phenomenon of a measuring sample by irradiation light, and showing high correlation with in vivo SPF value even in a measuring sample having a high SPF value, and to provide a device for evaluating an ultraviolet radiation protective effect by using the method.例文帳に追加

照射光による測定試料の光劣化現象を反映し、且つ、ＳＰＦ値の高い測定試料においても、ｉｎ ｖｉｖｏ ＳＰＦ値と高い相関を示す、ｉｎ ｖｉｔｒｏ測定による紫外線防御効果の評価方法、及びこの方法を用いた紫外線防御効果の評価装置を提供する。 - 特許庁

To measure and analyze a contamination state of a sample at low cost without a time delay, and to take a proper contamination countermeasure, by transmitting measurement data acquired by measuring the sample by a detection device by a user, to an environmental information server through a network, and operating and analyzing the contamination state by the environmental information server based on detection data.例文帳に追加

ユーザが試料を検出装置で測定した測定データをネットワークで環境情報サーバに送信し、環境情報サーバが検出データに基づいて汚染状態を演算、解析することにより、試料の汚染状態を時間遅れなく低コストで計測、解析し、適切な汚染対策を可能とする。 - 特許庁

To provide a structure analyzing method of soft material due to beam irradiation capable of simply fixing a sample of the soft material subjected to beam irradiation to a measuring instrument so as not to move the same and simply keeping a state that a solution is allowed to uniformly flow to the sample, and a soft material holding device.例文帳に追加

ビーム照射を行う軟質材料の試料を測定装置に動かないように簡易に固定することができ、さらに試料に溶液を均一になるように流した状態を簡易に維持して計測を行うビーム照射による軟質材料の構造解析方法及び軟質材料保持装置を提供する。 - 特許庁

In a rear exposure device for the liquid crystal display panel, apart from a sample fixing stage 10 suctionally fixing a peripheral part of a glass substrate 11, a mask holding frame 20 suctionally holding a glass mask 21 is prepared and the mask holding frame 20 is arranged in the sample fixing stage 10 so as to be movable in the up and down directions.例文帳に追加

液晶表示パネル用背面露光装置において、ガラス基板１１の周辺部を吸着固定する試料固定台１０とは別に、ガラスマスク２１を吸着保持するマスク保持フレーム２０を用意し、このマスク保持フレーム２０を試料固定台１０内において上下動可能に配置する。 - 特許庁

In the finger fixing device for fixing a finger to sample a fingerprint when sampling the fingerprint, an inlet port 1 for presenting strong suction power until the end of the insertion of the finger at a prescribed position and maintaining weak suction power after the end of the insertion is provided at a position facing the inserting direction of the finger to sample the fingerprint.例文帳に追加

指紋を採取するに際して指紋採取指を固定する指固定装置であって、指紋採取指の挿入方向と相対する位置に、所定位置への指の挿入が終了するまでは強い吸引力を発揮し、挿入終了後は弱い吸引力を維持する吸気口１を設ける。 - 特許庁

In the reflected X-ray small angle scattering device for irradiating the sample 5 on a substrate with X rays at a fine angle and measuring X rays scattered from the sample using a two-dimensional detector 6, an attenuation mechanism 7 for attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of the detector 6.例文帳に追加

基板上の試料５に対してＸ線を微小角度で照射し、前記試料から散乱されるＸ線を２次元型の検出器６を用いて測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、前記検出器６面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させる減衰機構７を設ける。 - 特許庁

The analyzing device 1 is equipped with a microchip 11 housing a fluid sample to be analyzed, a storing section 12 for storing the microchip 11, an element 13 for heating or cooling the microchip 11 to adjust the temperature of the fluid sample in the microchip 11 and an arranging section 14 where the element 13 is installed.例文帳に追加

分析装置１は、分析対象となる流体試料を収容するマイクロチップ１１と、マイクロチップ１１を収容する収容部１２と、マイクロチップ１１を加熱あるいは冷却し、マイクロチップ１１中の流体試料の温度調整を行う素子１３と、素子１３が設置される設置部１４とを備える。 - 特許庁

The device measures the energy spectrum of the scattered ions scattered from a sample onto which an ion beam 15 is irradiated, and includes an ion detector for detecting the scattered ions within a vacuum container in which a magnetic field is formed, and an aperture 16 for ion sorting provided between the ion detector and the sample.例文帳に追加

イオンビーム１５が照射された試料から散乱する散乱イオンのエネルギースペクトルを測定するための装置であって、磁場が形成された真空容器内で前記散乱イオンを検出するイオン検出器と、このイオン検出器と前記試料との間の位置に設けられるイオン選別用のアパーチャ１６とを備える。 - 特許庁

To provide a sensuous evaluation measure creating method, program and sensuous evaluation measure creating device, in which a rank of a test sample matches the order of numerical values of created measured, the created measures express the measures as an evaluator actually feels, and a single measure is created to the test sample.例文帳に追加

テストサンプルの序列と、作成された尺度の数値の大小の順序が整合し、作成された尺度が、評価者が実際に感じるような尺度を表し、さらに、テストサンプルに対して単一の尺度が作成される官能評価尺度作成方法、プログラムおよび官能評価尺度作成装置を提供する。 - 特許庁

A charged particle beam device has an irradiation system, having an objective lens for focusing charged particle beams and irradiating a sample with the focused beams; a deflection scanning system for deflection-scanning the charged particle beams; and a scanning image forming system for detecting signals generated from the sample by the irradiation of the charged particle beams and then forming a scanning image.例文帳に追加

荷電粒子線装置は、荷電粒子線を集束させて試料に照射する対物レンズを有する照射系と、荷電粒子線を偏向走査する偏向走査系と、荷電粒子線の照射により試料から発生する信号を検出して走査像を生成する走査像生成系と、を有する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device suitable for obtaining clear images in a whole or in a given image region, at the time of measuring and inspecting a sample coexisting with a place having a focus matched and a place not having a focus matched in an image due to effects of unevenness or the like on a sample face.例文帳に追加

試料面上の凹凸等の影響により、画像内にて焦点の合う個所と、合わない個所が併存するような試料を測定，検査する際に、画像内の全体、或いは所定の領域内にて鮮明な画像を取得するのに好適な荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁

A scribing device 10 is equipped with a table 11 for placing and holding a semiconductor wafer 1 and is further equipped with a wheel cutter 24 for forming a scribe groove 2, corresponding to the contour of each sample piece on the surface of the wafer 1 held on the table 11, and a scriber 34 for engraving an identification mark by each region of respective sample piece.例文帳に追加

スクライブ装置１０は、半導体ウェーハ１を載置し保持するテーブル１１を備え、このテーブル１１上に保持されたウェーハ１の表面に対し、各サンプル片の輪郭に対応してスクライブ溝２を形成するホイールカッター２４と、各サンプル片の領域ごとに識別記号を彫刻する罫書針３４と、を備える。 - 特許庁

The pattern retrieving device comprises a means for storing the feature quantities of images of a plurality of definitions different from each other of each sample pattern, a means for calculating the feature quantity of the presented pattern, and a means for measuring a distance between the feature quantity of the image of each definition of each sample pattern and the feature quantity of the presented pattern.例文帳に追加

各サンプル模様の相互に異なる複数の解像度の画像の特徴量を格納する手段と、提示された模様の特徴量を計算する手段と、各サンプル模様の各解像度の画像の特徴量と前記提示された模様の特徴量との間の特徴量距離を測定する手段と、を備える。 - 特許庁

At the observation of the sample, a magnification control circuit 12 sends a magnification control signal to a deflection control circuit 10 and the control device 26 calls the interlaced scanning line number corresponding to the observation magnification from the table 26 and supplies it to the deflection control circuit 10, and makes interlaced scanning two-dimensionally on the sample by electron beam.例文帳に追加

試料観察時、倍率制御回路１２は偏向制御回路１０に倍率コントロール信号を送り、制御装置２６はテーブル２６から観察倍率に応じた飛び越し走査線数を呼び出して、偏向制御回路１０に供給し、電子ビームで試料上を二次元的に飛び越し走査させる。 - 特許庁

The device further includes a sink capable of supporting or controlling flow rate of a sample passing through the transportation or culture zone, the sink has an area having a projection which is substantially perpendicular to the surface of the sink, and is constituted so as to respond to an external influence restricting a capability of receiving the liquid crystal sample.例文帳に追加

また、輸送又は培養ゾーンを通るサンプルの流速を支持又は制御できるシンクを更に備えており、このシンクが、その表面に対して実質的に垂直な突起を有する領域を備えていて、液体サンプルを受け取る能力を規制する外的影響に対して応答するようになっている。 - 特許庁

To provide a light irradiation device which has a function for specifying an irradiation position on a sample part by light of a wavelength and irradiating the sample part by light of different wavelengths, and can easily and freely change an irradiation color, an irradiation strength, an irradiation spot diameter and an irradiation time according to a command from information processing means.例文帳に追加

本発明は、波長の光で標本部位の照射位置決めを特定し、異なる波長の光で標本部位を照射する機能や、照射色、照射強度、照射スポット径、照射時間を情報処理手段からの指令により簡単に自在変更できる光照射装置を提供することである。 - 特許庁

A control unit 16 controls a microscope device 13 that magnifies and images a sample 12 with one or more imaging methods, and images and records the image of the sample 12 with one or more imaging methods according to an imaging method list in which combinations of imaging methods specified by a user are registered.例文帳に追加

コントロールユニット１６は、１以上の撮像手法で試料１２を拡大して観察する画像を撮像する顕微鏡装置１３を制御し、ユーザにより指定された撮像手法の組み合わせが登録された撮像手法リストに従って、１以上の撮像手法で試料１２の画像を撮像して記録する。 - 特許庁

This evaluation is executed by using a device including irradiation sources 3, 4 capable of irradiating radiation rays with sufficient energy for emitting photoelectrons 8 from the protection film of the sample 1 of the recording medium and work function measurement means 6, 7 for detecting the photoelectrons 8 from the sample 1 and for outputting them as the work function.例文帳に追加

この評価は、記録媒体試料１の保護膜から光電子８を放出させるのに十分なエネルギーの放射線を照射可能な照射源３、４と、試料１からの光電子８を検出し仕事関数として出力する仕事関数測定手段６、７とを含む装置を用いて実施できる。 - 特許庁

To provide an ion chromatography apparatus capable of solving, as much as possible, a problem of background noise caused by a condensation column included in a conventional device including the concentration column, a problem concerned with time required for a sample concentration process, a problem requiring a highly accurate pressure-resistant pump, and so on in an ion chromatography apparatus for concentrating a sample.例文帳に追加

試料の濃縮を行なうイオンクロマトグラフ装置において、濃縮カラムを備えた従来の装置が有する、濃縮カラムに起因するバックグランドノイズの問題、試料の濃縮工程に時間がかかる問題、高精度な耐圧ポンプを必要とする問題、などを最大限に解決可能なイオンクロマトグラフ装置を提供すること。 - 特許庁

An associative storage device comprises a match line of which the potential is varied in accordance with whether data of a memory cell coincides with a retrieval key of a search bus or not, a precharge circuit precharging the match line, a sample-and-hold circuit sampling a potential of the match line and holding it, and a detector circuit detecting a potential held by the sample-and-hold circuit.例文帳に追加

連想記憶装置は、メモリセルのデータとサーチバスの検索キーとが一致するか否かに応じて電位が変化するマッチラインと、マッチラインをプリチャージするプリチャージ回路と、マッチラインの電位をサンプルしてホールドするサンプルアンドホールド回路と、サンプルアンドホールド回路がホールドした電位を検出する検出回路を含む。 - 特許庁

The preprocessing utilizes synchronization of the common system clock, synchronization of channel decoding according to a different channel protocol matching the interfaces of the different types, and synchronization to form a sample word which is stored in an intermediate storage device for supplying the sample word to central arithmetic processing from a PCM bit stream.例文帳に追加

このプリプロセスは、共通のシステムクロックに対する同期、異なるタイプのインタフェースに符合する異なるチャネルプロトコルに従うチャネルデコードに対する同期、及び該ＰＣＭビットストリームから、これよりサンプルワードが中央演算処理に供給される中間的な記憶装置に記憶されるサンプルワードを形成するように同期を利用する。 - 特許庁

The dark field illumination device 140 is provided with an illumination part 141 which has a light emission part of outputting illumination light and is arranged on the sample support part and a reflection part 142 which is loadably/unloadably attached to the outer periphery of the objective lens 105 and reflects the illumination light toward the sample 124.例文帳に追加

この暗視野照明装置１４０は、照明光を出力する光出射部を有し、前記観察試料支持部に配置される照明部１４１と、対物レンズ１０５の外周に着脱可能に取り付けられ、前記照明光を観察試料１２４に向けて反射する反射部１４２と、を具備している。 - 特許庁

To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.例文帳に追加

試料径が１ｍｍ程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁

The manipulator device also includes one manipulator and a focus stage for focusing on the sample, and by providing a means for integrally actuating the manipulator and the focus stage or synchronizing the manipulator with the focus stage, the observation can be similarly achieved for the second movable stage while keeping the sample placed on the first stage and the manipulator needle in the focused state.例文帳に追加

また、１つのマニピュレータと、試料と焦点を合わせるためのフォーカスステージを有し、これらが一体、あるいは同期させる手段を具備することで第一のステージに載置された試料の焦点と操作針の焦点が同一の状態のまま、移動可能な第二のステージも同様な状態で観察が可能となる。 - 特許庁