「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a heating device which can ensure workability, when a sample is put in or out, and can simultaneously prevent the overshooting of temperature, when the temperature is returned, and to provide a cell culture apparatus.例文帳に追加

試料出し入れ時の作業性を確保しつつ、温度復帰時のオーバーシュートを防止することができる加熱装置および細胞培養装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The colorimetric device measures the colors of the color patches C while moving a head along the width of the sample medium M and it takes a certain time to measure the colors of the color patches C.例文帳に追加

測色装置ではヘッドをサンプルメディアＭの幅方向に移動させながらカラーパッチＣの測色を行うが、カラーパッチＣを測色するためにはある程度の時間を必要とする。 - 特許庁

To provide a laser light irradiation amount adjusting mechanism onto a measuring sample, and a thermal constant measuring device equipped with the mechanism, when measuring the thermal diffusivity by using a laser flash method.例文帳に追加

レーザフラッシュ法による熱拡散率測定を実施する際における、測定試料へのレーザ光照射量調節機構及びこの機構を備えた熱定数測定装置の提供。 - 特許庁

First, a line L11 showing the relation of the actual displacement amount of the relative position of an observation sample to an objective to feed amount by the driving device is obtained in a range R14.例文帳に追加

まず、範囲Ｒ１４において駆動装置による送り量に対する観察試料と対物レンズの相対位置の実際の変位量の関係を示す直線Ｌ１１を得る。 - 特許庁

This analytic device for a laboratory comprises the base housing 1 for movably supporting the sample tray 4 having a plurality of housing parts 5 for housing at least two samples.例文帳に追加

実験室用分析装置は、二つまたはそれ以上の試料を収容するための複数の収容部５を設けた試料トレイ４を移動可能に支持する基部ハウジング１を備えている。 - 特許庁

To provide an immunoassay device for measuring an analyte in blood and correcting a measured value with the hematocrit value of a sample to give an equivalent plasma analyte concentration.例文帳に追加

免疫測定装置において、血中の分析対象物質を測定し、等価血漿分析対象物質濃度を示すように、試料のヘマトクリット値を用いて測定値を補正する。 - 特許庁

To provide a soil sampling device capable of surely sampling a soil sample from desired depth and secure a sufficient sampling amount in the case of a ground survey.例文帳に追加

所望深度の地盤試料を確実に採取することが出来ると共に、地盤調査にあたって十分な採取量を確保することができる地盤試料採取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a spectroscopy device and method that easily analyzes characteristics of a sample in a short time without sufficient knowledge of spectra of near-infrared light and infrared light.例文帳に追加

近赤外光及び赤外光のスペクトルについての知識が十分でなくとも、サンプルの特性を容易且つ短時間で分析することができる分光分析装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The method includes acquiring a plurality of images corresponding to at least one field of view using an imaging device having an objective and a stage for holding a sample to be imaged.例文帳に追加

本方法は、対物レンズと、撮像される試料を保持する台とを有する撮像装置を使用して、少なくとも１つの視野に対応する複数の画像を収集することを含む。 - 特許庁

To enable compatibility of induced Raman scattering imaging and imaging of fluorescence of multiphoton excitation in the same device, and to perform imaging of a sample by various imaging methods.例文帳に追加

誘導ラマン散乱イメージングおよび多光子励起の蛍光のイメージングを同一の装置において両立することを可能とし、種々のイメージング方法により標本のイメージングを行う。 - 特許庁

To perform wide area irradiation of a light flux of a long wavelength onto a sample and spot-irradiation of a light flux of a short wavelength from the same light source regarding a microscope device.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡装置に関し、同一の光源からの長波長の光束を試料に広域照射し短波長の光束をスポット照射することを目的とする。 - 特許庁

To provide a FAIM filter and a detection system for creating spectrum of a sample by controlling a flow of selected ions at a higher speed and with higher accuracy as compared with a conventional FAIM device.例文帳に追加

従来のＦＡＩＭ装置に比べて、選択イオンの流れをより高速、かつ高精度で制御して、サンプルのスペクトルを作成するＦＡＩＭフィルタおよび検出システムを提供する。 - 特許庁

A semiconductor inspection device with a plurality of primary electron beams is provided with an adjustment means for setting a position where the plurality of primary electron beams are emitted to a sample for inspection.例文帳に追加

複数の一次電子ビームを有する半導体検査装置において、前記複数一次電子ビームが被検査試料を照射する位置を個別に設定調整手段を有する。 - 特許庁

In addition, a lateral flow device is produced that allows detecting the anti-lipoidal antibody and allows simultaneously detecting a non-treponemal antibody and a treponemal antibody in a biological sample.例文帳に追加

また、抗リポイド抗体の検出を可能にするならびに生体サンプル中での非トレポネーマ抗体およびトレポネーマ抗体の同時検出を可能にする側方流動装置を作製する。 - 特許庁

To observe or inspect a sample by correctly selecting the desired position for observation or inspection and to prevent a filament from being cut in an electron beam biprism device.例文帳に追加

電子線バイプリズム装置において、試料の観察または検査したい場所を正確に選択して観察または検査できるようにし且つフィラメントの切断が発生しないようにすること。 - 特許庁

After the carrier liquid in which carbon dioxide is dissolved is made to a desired processing temperature by a first heating device 18, a sample liquid including a microorganism or the like to be processed is introduced to the carrier liquid.例文帳に追加

二酸化炭素が溶解したキャリア液を第一の加温器１８で目的の処理温度にした後、処理対象の微生物等を含む試料液をキャリア液に導入する。 - 特許庁

To provide a device and a method by which preparation and evaluation of a sample optimized in ion species and/or implanting amount can be carried out efficiently.例文帳に追加

注入するイオンの種類および／または注入量を最適化する目的に適合した試料の作成や評価を効率的に行うことを可能とする装置と方法の提供。 - 特許庁

Further, the device can include a fluid controller for selecting a liquid or a gas for use in moving the tissue sample through a cutter.例文帳に追加

さらに、上記装置は、カッターの中を通して組織サンプルを移動させることにおいて使用するための液体または気体を選択するための、流体制御装置を含むことができる。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device which is equipped with a sample holding circuit and can lower an offset voltage of a video signal having a noise signal removed.例文帳に追加

本発明は、サンプルホールド回路を備えるとともにノイズ信号が除去された映像信号におけるオフセット電圧を低くすることができる固体撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When a sample stage is manually moved, a control device 6 stops the action of the point analysis, and starts the function of a scanning electron microscope to obtain a SEM image.例文帳に追加

手動により試料ステージの移動を行おうとする場合、制御装置６は点分析の動作を停止し、走査電子顕微鏡の機能を起動してこのときのＳＥＭ像を得る。 - 特許庁

To provide a converged ion beam machining device capable of forming an etched slot having a desired size at a desired position of a sample in a manner that sets its side walls at a desired angle.例文帳に追加

試料に対して、所望の箇所に、所望の大きさのエッチング溝を、その側壁が所望の角度となるように形成することが可能な集束イオンビーム加工装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plate column device for a pin spot enabling micro crystallization by performing desalting treatment useful for sensitivity improvement quickly at low cost of a measuring sample to be analyzed by a mass spectrometer.例文帳に追加

質量分析計で分析される測定試料の脱塩処理を低コストで迅速かつ感度向上に役立つ微小結晶化が可能なピンスポット用プレートカラム装置を実現する。 - 特許庁

A controller 4 included in the X-ray exposing device delays a leading timing of the sample-rotating pulse signal Pω compared with a leading timing of the shutter opening and closing pulse signal Ps.例文帳に追加

このＸ線露光装置に含まれる制御装置４は、試料回転用パルス信号Ｐωの立ち上がりタイミングを、シャッタ開閉用パルス信号Ｐｓの立ち上がりタイミングよりも遅らせる。 - 特許庁

To provide a device capable of observing an HAADF image based on high scattering angle annular detection without restricting maximum allowable pressure of a gas introduced into a sample chamber.例文帳に追加

試料室内へ導入するガスの最大許容圧力を制限することなく、又、高散乱角円環状検出に基づくＨＡＡＤＦ像観察ができる装置を提供する。 - 特許庁

A wiring 4 of a sample 3 id disconnected at a section 5 to be machined of the wiring 4, with the section 5 etched in the depth direction by scanning the section 5 with an ion beam focused by means of an ion optics device 1.例文帳に追加

イオン光学装置１で集束したイオンビーム２を試料３の配線４の加工部５でスキャンさせることにより、加工部５を深さ方向にエッチングして断線させる。 - 特許庁

In this Raman spectroscopic device 10, the laser beam L emitted from a laser beam source 20 is passed through a cylindrical lens 22 and a slit plate 23 to be linearly deformed to irradiate the sample S.例文帳に追加

ラマン分光装置１０は、レーザ光源２０から発したレーザ光Ｌをシリンドリカルレンズ２２及びスリット板２３の通過により直線状に変形して試料Ｓへ照射する。 - 特許庁

A measurement mechanism includes at least one small angle light emission device matched with a measurement window of the sample vessel, and a detector disposed opposite to the measurement window.例文帳に追加

測定機構であって、少なくとも１つのサンプル容器の測定窓に整合した少なくとも１つの小角光放出装置と、測定窓の反対側に配置された検出器とを含む。 - 特許庁

To set samples stably on a Raman spectroscopic analysis apparatus as fixed to a sample holder for a cross-section cutting device and also to finely adjust samples for rotating to any angle.例文帳に追加

断面切削装置用試料ホルダーに固定したままで試料をラマン分光分析装置に安定して設置でき、さらに試料を任意の角度で回転させる微調整ができる。 - 特許庁

A voice input device 101 specifies equipment to be controlled with an input voice by using a voice sample-equipment number corresponding table 104 in a voice recognizing section 103.例文帳に追加

音声入力装置１０１は、音声認識部１０３において音声標本−機器番号対応テーブル１０４を用いて入力音声から制御対象となる機器の特定を行う。 - 特許庁

To obtain a gas component concentration measuring device and a gas component concentration measuring method, capable of measuring accurately the concentration of material included in a very small concentration in a sample having multiple mixed components.例文帳に追加

多成分が混在する試料中の微量濃度含まれている物質の濃度を正確に測定できるガス成分濃度計測装置およびガス成分濃度計測方法を得る。 - 特許庁

To provide a conductivity measuring device capable of adjusting continuously a separation distance between probes, enhancing the reproducibility of a pressing force of each probed onto a sample, and thereby measuring the conductivity with accuracy.例文帳に追加

プローブ間の離間距離を連続的に調節し、各プローブを試料に押当てる力の再現性を高めて導電率を精度良く測定可能な導電率測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device having remarkably improved throughput by ensuring image accuracy and allowing reduction of a setting time of a stage with a sample mounted thereon.例文帳に追加

本発明の目的は、画像精度を確保すると共に、試料を載置したステージの制定時間の短縮を可能にして大幅なスループット向上を図った荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetooptic effect measurement device capable of heating a micro region on a sample and carrying out temperature measurement and magnetic measurement of the region accompanying the heating.例文帳に追加

試料上の微小領域を加熱し、この加熱に伴う同領域の温度計測並びに磁気計測を実施することが可能な磁気光学効果計測装置を提供するにある。 - 特許庁

To provide a sample storage device that can store a number of samples under reliable management though in a simple configuration, and can be suitably used in small test or research facilities.例文帳に追加

簡素な構成でありながら、多数の試料を確実な管理下にて保管することができ、小規模な試験、研究施設において好適に使用可能な試料保管装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample for X-ray evaluation for preparing a measuring part on the same condition as a real device during scattering measurement using coherent X-rays, and to provide a preparing method therefor.例文帳に追加

コヒーレントＸ線を用いた散乱測定において、測定部位を実デバイスと同様の条件で作製できるＸ線評価用試料及びその作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma-processing device capable of reducing generation of particles and elongating the life of a part, even if a high-frequency power is applied to a base for sample mounting.例文帳に追加

試料を載置する載置台に高周波を印加する場合であっても、パーティクルの発生を低減することができ、部品の寿命を長くすることができるプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring a pressure loss of a ceramic honeycomb filter which has a simple constitution and reliable sealing properties, and is capable of easily and reliably measuring a pressure loss of a sample.例文帳に追加

簡単な構成でシール性を確実にし、容易に確実にサンプルの圧損を測定可能なセラミックスハニカムフィルターの圧損測定方法及び測定装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a cut face inspection device and a cut face inspection method capable of evaluating accurately a cut face of a quartz plate regardless of the attitude of the quartz plate to a sample stand.例文帳に追加

試料台に対する水晶板の姿勢に関わらず、正確に水晶板のカット面の評価を行うことが可能なカット面検査装置、及びカット面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple and inexpensive assay method detecting the presence or the amount of a chemical substance present in an environmental sample without using an expensive measuring device such as that of a fluorescent method.例文帳に追加

蛍光法のような高価な測定装置を用いることなく、環境試料中の化学物質の存在または存在量を検定できる簡便かつ安価なアッセイ方法の提供。 - 特許庁

To provide a small-sized automatic protein quantitative determining apparatus which reduces the load on an analysis operator, prevents the bacterial contamination of each process device during collection of a sample liquid and shortens a measuring time.例文帳に追加

分析作業員の負担が少なく、試料液の採取時に各工程機器への細菌汚染がなく、測定時間が短く、小型化な自動蛋白質定量装置を提供する。 - 特許庁

To provide a film thickness measuring device capable of continuously analyzing the film thickness of a sample to be measured even in the case that changes in a light source with the passage of time is calibrated at some midpoint.例文帳に追加

光源の経年変化の較正を途中で行なう場合であっても、測定試料の薄膜の解析を連続的に行なうことが可能な膜厚測定装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent chips caused at slicing from adhering again to a cutting plane in a slicing device repeating slicing of the surface of a sample and taking in data on the cutting plane in succession.例文帳に追加

試料の表層部分のスライスを繰り返しながら、順次、切断面のデータを取り込むスライサ装置において、スライスによって発生した切り屑が切断面に再付着することを防止する。 - 特許庁

When high voltage is applied across the electrode 8 and the gel 12 by a power supply device 14, the sample goes toward the lower end of the glass pipe 2 along the inner wall thereof to start electrophoresis and is electrophoretically separated.例文帳に追加

そして、電源装置１４により電極８とゲル１２間に高電圧を印加すると、試料はガラス管２の内壁に沿って下端に向って電気泳動を開始し、分離されていく。 - 特許庁

A plasma doping device is provided into such a structure that a plasma generating chamber 1 for generating a plasma and a doping chamber 2 for introducing impurities in the surface of a sample to be processed communicate with each other.例文帳に追加

プラズマを発生させるプラズマ発生室１と、被加工試料の表面に不純物を導入するためのドーピング室２とが、互いに連通するように設けられている。 - 特許庁