「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

The device for it includes at least an NMR measuring section for applying the ^31P-NMR-measurement to the solid sample, and a detecting section for detecting and/or quantitatively determining the bone mixing into the solid sample based on the peak intensity of the FID signal obtained by the NMR measuring section.例文帳に追加

そのための装置は、固体試料に対して^３１Ｐ-ＮＭＲ測定を行うＮＭＲ測定部と、ＮＭＲ測定部で得られたＦＩＤ信号のピーク強度から固体試料に混入する骨を検出及び／又は定量する検出部とを少なくとも備える。 - 特許庁

The sample, the strobe rate and the nominal data transfer rate compensate the deviation of a static transfer rate between the nominal transfer rate and the actual data transfer rate of the data signal, and they are transmitted to a quality optimization device 20 which establishes the correspondence of a timing during a sample to be collected.例文帳に追加

サンプル、ストローブ・レート、及び、公称データ転送レートは、公称データ転送レートとデータ信号の実際のデータ転送レートとの間における静的転送レート偏差を補償して、採取されるサンプル間にタイミングの対応を確立する品質最適化器に伝達される。 - 特許庁

To provide a sample ionization method which can be applied to an ionization device for a mass analyzer, which has excellent ionization efficiency and allows a minute amount of a sample to be analyzed with high sensitivity at atmospheric pressure and with which workload for maintenance of the mass analyzer can be reduced.例文帳に追加

大気圧下において、イオン化効率にきわめて優れ、微量の試料を高感度で分析することができ、質量分析機器のメンテナンスの手間を軽減することができる質量分析機器用イオン化装置に適用することができる試料イオン化方法を提供すること。 - 特許庁

In the charged particle beam device having a nozzle-shaped structure 12 in the sample exchange device 9 thereof, a high pressure gas 15 of nitrogen or the like is injected into the nozzle-shaped structure 12 and blown out from a gas jetting port 14 disposed at its tip part toward the surface of a sample 8, and the dust and foreign substances are blow off and removed.例文帳に追加

荷電粒子線装置の試料交換装置９内にノズル状構造物１２を設けた荷電粒子線装置で、前記ノズル状構造物１２内部に窒素等の高圧ガス１５を注入し、その先端にあるガス噴出口１４から試料８表面上に向けて噴出し、ゴミや異物等を弾き飛ばして除去する方法。 - 特許庁

To provide a reagent composition for immunochromatography or a sample dilution liquid capable of suppressing a nonspecific reaction in comparison with a conventional technology for detecting a detection object by using an immuno-chromatographic device, and to provide a high-performance high-sensitivity immuno-chromatographic device using the reagent composition or sample dilution liquid, and a detection kit capable of performing quick and simple inspection.例文帳に追加

免疫クロマトグラフィー装置を用いて検出対象物を検出する従来技術に比して、非特異的反応を抑制することができるイムノクロマトグラフィー用試薬組成物、もしくは試料希釈液の提供、およびそれを用いた、高性能、高感度な免疫クロマトグラフィー装置ならびに迅速、簡便な検査ができる検出キットを提供する。 - 特許庁

To provide a sample atomization lead-in device capable of lowering a memory effect by quickly removing liquid drops adhered on the surface of the inner space of the device to a drain, capable of improving repeatability of atomization efficiency by equalizing thickness of a sample on an ultrasonic diaphragm of an ultrasonic nebulizer.例文帳に追加

試料霧化導入装置の内側空間の表面に付着した液滴を速やかにドレインに排除することによりメモリー効果の低減を可能とし、また、超音波ネブライザーの超音波振動板上の試料の厚さを均一化することにより試料の霧化効率の再現性向上を可能とする試料霧化導入装置を実現する。 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND SYSTEM FOR PROVIDING ADVICE OF PREPARATION COSMETICS, DEVICE, METHOD, AND SYSTEM FOR MANAGING PROVISION OF COSMETIC SAMPLE, PROGRAM FOR PROVIDING ADVICE OF PREPARATION COSMETICS AND RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM FOR MANAGING PROVISION OF COSMETICS SAMPLE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

調合化粧品のアドバイス提供装置、調合化粧品のアドバイス提供方法、調合化粧品のアドバイス提供システム、化粧品サンプル提供管理装置、化粧品サンプル提供管理方法、化粧品サンプル提供管理システム、調合化粧品のアドバイス提供プログラム及び記録媒体、化粧品サンプル提供管理プログラム及び記録媒体 - 特許庁

In a probe device having an ion beam system for irradiating an ion beam, and a probe control device for driving the probe arranged in a vacuum sample chamber, a zone for processing the probe with ion beams is arranged in the sample chamber, and sputter particles of the probe and ion beams passing through in the vicinity of the probe are captured in the zone.例文帳に追加

本発明は、イオンビームを照射できるイオンビーム装置と、真空試料室内に配置されたプローブを駆動するプローブ制御装置と、を備えたプローブ装置において、プローブをイオンビームで加工するための領域を試料室内に設け、プローブのスパッタ粒子やプローブ近傍を通過したイオンビームを当該領域に捕捉させることに関する。 - 特許庁

To provide a lubricant deterioration detecting device, which detects deterioration of lubricant by light transmittance, capable of stably detecting the light transmittance of a sample and the degradation state of the lubricant without being affected with a change in thickness/temperature of the sample with a high degree of freedom of arrangement into a bearing, and the bearing equipped with the lubricant degradation detecting device.例文帳に追加

軸受内部などへの配置の自由度が高く、試料の厚さや温度変化による影響を受けずに試料の光透過率あるいは潤滑剤の劣化状態を安定して検出できる透過率・潤滑剤劣化検出装置、およびその潤滑剤劣化検出装置を備えた検出装置付き軸受を提供する。 - 特許庁

This method is characterized by using an ion etching device annexed to a device and a metallic material disposed next to the insulating specimen when a surface of the specimen is thinly filmed with a metallic component not contained in the insulating material within an XPS measurement chamber to prevent electrostatic charge on the surface of the sample, when analyzing the insulating sample by XPS.例文帳に追加

ＸＰＳにより絶縁性試料を分析するに際し、ＸＰＳ測定室内部で該絶縁性試料表面に該絶縁物に含まれていない金属成分を薄く成膜して、該絶縁性試料表面の帯電防止をはかる際に、装置付属のイオンエッチング装置と該絶縁試料に隣接配置した金属材料を用いることを特徴とする。 - 特許庁

This form factor measurement device 1 is constructed of a capillary viscometer 2 measuring viscosity of a lipoplex sample solution, a laser sensor 3 automatically measuring a flow time of the sample solution, a pressure regulator 4 regulating a pressure inside the capillary viscometer 2, and a control computing device 5 calculating the form factor according to measured measurement values.例文帳に追加

形状因子測定装置１は、リポプレックス試料液の粘度を測定する毛細管粘度計２、試料液の流下時間を自動測定するためのレーザセンサ装置３、毛細管粘度計２内の圧力を調整する圧力調整装置４、及び測定された計測値をもとに形状因子を算出する制御演算装置５から構成されている。 - 特許庁

To provide an electrostatic latent image measuring device and an electrostatic latent image measuring method which can measure size of an electrostatic latent image with high accuracy by measuring the coordinate of a sample, with respect to the change of an observation area by electrification, without damaging the sample, and to provide an image forming apparatus having an image carrier measured by using the device and method.例文帳に追加

ダメージを与えず、帯電による観察領域の変化に対して、試料の座標を計測することで、静電潜像の寸法を高精度に測定することができる静電潜像の測定装置、静電潜像の測定方法およびこれらの装置および方法を用いて測定された像担持体を有する画像形成装置を得る。 - 特許庁

The non-destructive inspection apparatus, using a SQUID device, comprises a coil for applying an AC magnetic field to a sample from the outside, a magnetic flux density multiplication means for multiplying magnetic flux density generated in the coil for applying it to the inside of the sample, and a refrigerator which operates electrically for cooling the SQUID device.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤ素子を用いた非破壊検査装置において、試料に外部から交流磁界を印加するコイルと、該コイルで発生する磁束密度を増倍して試料内部に印加する磁束密度増倍手段と、ＳＱＵＩＤ素子を冷却するために電気的に作動する冷凍機とを具備することを特徴とする非破壊検査装置。 - 特許庁

A temperature sensor 41 detecting temperature in a reservoir 16 is connected to a heating control device 42, and a microwave heating device 51 heating an extracting object sample 17 in the reservoir 16 by irradiating it with the microwave is connected to the heating control device 42.例文帳に追加

収容部１６内の温度を検出する温度センサ４１を加熱制御装置４２に接続し、収容部１６内の抽出対象試料１７にマイクロ波を照射して加熱するマイクロ波加熱装置５１を加熱制御装置４２に接続する。 - 特許庁

There are provided a dispensing device 5 which includes a dispensing probe turned and moved up or down for dispensing a liquid specimen including a reagent and a sample, and a cleaning tank for cleaning the dispensing probe after dispensation, a method for cleaning a dispensing probe of a dispensing device, and the automatic analysis device.例文帳に追加

回動、かつ、昇降され、試薬及び検体を含む液体試料を分注する分注プローブと、分注後の前記分注プローブを洗浄する洗浄槽とを備えた分注装置５、分注装置の分注プローブ洗浄方法及び自動分析装置。 - 特許庁

This specimen processing device 1 reads a specimen bar code of a specimen container T by a preprocessing unit 22 provided in a specimen input recovery device 2, and conveys a sample rack to a blood analyzer 5 or a smear preparation device 6 by specimen conveyance devices 3, 4.例文帳に追加

検体処理装置１は、検体投入回収装置２に設けられた前処理ユニット２２によって検体容器Ｔの検体バーコードを読み取り、検体搬送装置３，４によってサンプルラックを血液分析装置５又は塗抹標本作製装置６へ搬送する。 - 特許庁

To provide a stage device provided with a mark stand capable of adjusting a focus of an electron beam or deflection sensitivity by using a mark at the height actually same as the height of a sample surface such as a mask, and an electron beam drawing device using the stage device.例文帳に追加

マスクなどの試料面の高さと実質的に等しい高さのマークを用いて、電子ビームの焦点や偏向感度を調整することが可能なマーク台が設けられたステージ装置と、このステージ装置を用いた電子ビーム描画装置とを提供する。 - 特許庁

An optical device unit detachably attached to a detection apparatus includes: an optical device 4 that has an electrical conductor and enhances Raman scattering light generated by receiving light from a light source A; and a first induction part 420 that induces a gaseous sample to the optical device 4.例文帳に追加

検出装置に着脱可能な光デバイスユニットであって、電気伝導体を有し、光源Ａからの光を受けて生じたラマン散乱光を増強可能な光デバイス４と、前記光デバイス４に気体試料を誘導する第１の誘導部４２０とを含む。 - 特許庁

This device is an automatic photographic processing device for automatically performing photographic processing to photographic sensitive material and a sample for setup as a series of stages, and it is equipped with the densitometer 2, a carrying means 3 carrying the sample for setup to the densitometer 2, and a setup means 4 automatically setting and correcting the photographic processing condition based on the measured result on the density of the sample for setup.例文帳に追加

本発明に係わる自動写真処理装置は、写真感光材料とセットアップ用サンプル２１とに対して写真処理を一連の工程で自動的に行う自動写真処理装置であって、濃度計２と、前記セットアップ用サンプル２１を前記濃度計２へと搬送する搬送手段３と、前記セットアップ用サンプル２１の濃度測定結果に基づいて写真処理条件を自動的に補正して設定するセットアップ手段４とを具備することを特徴とする。 - 特許庁

The automatic diffusion speed screening apparatus for volatile substances is characterized in that it is provided with a vessel with a septum containing a sample and diffusing volatile substances included in the sample; a collecting device collecting the volatile substances in the air of the vessel; a transferring means transferring the volatile substances collected in the collecting device to an analyzing device; and an analyzing part analyzing predetermined components.例文帳に追加

試料が収納され、前記試料に含有する揮発性物質を放散させるためのセプタム付容器と、前記容器の気中に存在する揮発性物質を捕集するための捕集装置と、前記捕集装置に捕集した揮発性物質を分析装置に移送するための手段と、所定成分を分析する分析部と、を備えることを特徴とする揮発性物質の放散速度自動スクリーニング装置を使用して行う。 - 特許庁

This sample inspection device comprises: a microscope 1 equipped with a CCD camera and an illumination device; an image processing device 8 for controlling the microscope 1; an inspection stage 2 for moving an inspection object 3 to an inspection position; a stage drive control device 4 for driving and controlling the inspection stage 2; and a system control device 6 for controlling the whole inspection system.例文帳に追加

試料検査装置は、ＣＣＤカメラ及び照明装置を備えた顕微鏡１、この顕微鏡１を制御する画像処理装置８、被検査対象３を検査位置に移動する検査ステージ２、この検査ステージ２を駆動・制御するステージ駆動・制御装置４及び検査システム全体を制御するシステム制御装置６で構成される。 - 特許庁

The prior information about the digital content comprises the sample data of the digital content, distribution device manager information, receiving device manager information, transmission device manager information, and a digital signature such obtained by encrypting the hash value of the digital content with the receiving device manager information embedded as a digital watermark using the secret key of the manager of the distribution device.例文帳に追加

デジタルコンテンツの事前情報とは、デジタルコンテンツのサンプルデータと、配信装置管理者情報と、受信装置管理者情報と、送信装置管理者情報および受信装置管理者情報を電子透かしとして埋め込んだデジタルコンテンツのハッシュ値を配信装置管理者の秘密鍵を用いて暗号化したデジタル署名からなる。 - 特許庁

This semiconductor device inspection apparatus 1 is equipped with a stage 141 disposed in a vacuum chamber 11 for setting the semiconductor device (sample S), a femto-second laser device 12 for generating a femto-second laser beam FSLB for cutting the semiconductor device, and a scanning electron microscope (SEM 17) for observing the cut face W of the semiconductor device cut by the laser beam.例文帳に追加

半導体デバイス検査装置１は、半導体デバイス（試料Ｓ）をセットする真空チャンバー１１内に配設されたステージ１４１と、半導体デバイスを切削するフェムト秒レーザビームＦＳＬＢを生成するフェムト秒レーザ装置１２と、当該レーザビームにより切削した半導体デバイスの切削面Ｗを観察する電子顕微鏡（ＳＥＭ１７）とを備えている。 - 特許庁

In the method for measuring the properties of the solid particles, the suspension containing the solid particles is used to dilute the concentration of the solid particles, such that there is no change in the properties of the solid particles in the sample suspension, to thereby prepare a measuring sample, and the properties of the solid particles in the measuring sample are subsequently measured by using a particle property evaluation device.例文帳に追加

固体粒子の性状を測定する粒子性状の測定方法であって、前記固体粒子を含む試料懸濁液中の前記固体粒子の性状が変化することがないように前記試料懸濁液を利用して前記試料懸濁液中の固体粒子濃度を希釈して測定試料を調製し、その後前記測定試料中の固体粒子の性状を粒子性状評価装置を用いて測定する。 - 特許庁

To provide an electrostatic chuck device capable of keeping constant the temperature of a focus ring during processing, stabilizing the temperature of the outer peripheral part of a planar sample, thereby uniformizing etching characteristics within a plane of the planar sample and preventing the deposition of deposit on the focus ring by adjusting the temperature of the focus ring provided so as to surround the planar sample of a silicon wafer or the like.例文帳に追加

シリコンウエハ等の板状試料を囲むように設けられたフォーカスリングの温度を調整することにより、処理中のフォーカスリングの温度を一定に保持することができ、板状試料の外周部の温度を安定化することができ、よって板状試料の面内におけるエッチング特性を均一化することができ、フォーカスリング上に堆積物が堆積するのを防止することができる静電チャック装置を提供する。 - 特許庁

The device for detecting the solidified structure of steel in which after polishing a sample section of a steel cast slab, the sample section is corroded includes an outer tank 2 containing water 7 containing micro-bubbles, ultrasonic oscillators 5, 6 resonating the water by application of ultrasonic waves of 30 kHz-3 MHz to the water 7, and an inner tank 3 immersed in the outer tank 2 and containing a corrosive liquid 8 corroding the sample section.例文帳に追加

鋼鋳片の試料断面を研磨した後で、試料断面を腐食させる鋼の凝固組織検出装置であって、マイクロバブルを含む水７を収容する外槽２と、水７に３０ｋＨｚ〜３ＭＨｚの超音波を印加し水共振させる超音波発振装置５、６と、外槽２内に浸漬させるとともに試料断面を腐食させる腐食液８を収容する内槽３とからなる。 - 特許庁

A plasma processing device, which performs surface treatment for a workpiece sample by ionizing the raw gas inside a vacuum container with an evacuation means, a raw gas supply means, a processing sample installation means and a high frequency power application means to a workpiece sample, is constituted to control the temperature of a workpiece substrate to a temperature pattern which is preset according to proceeding of treatment.例文帳に追加

排気手段と、原料ガス供給手段と、被加工試料設置手段と、被加工試料への高周波電力印加手段を有する真空容器内で、前記原料ガスをプラズマ化し、被加工試料の表面処理を行うプラズマ処理装置において、被処理基板の温度を処理の進行に従って予め設定された温度パターンに制御するよう構成したことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 特許庁

The microscopic inspection apparatus 100 is equipped with a cassette 102 which can house a plurality of sheets of samples 101, an elevator to vertically move the cassette 102, a microscope 132 to enlarge and observe a sample 101, an XY stage 105 to appropriately place the sample 101 in an observation position, and a carrying device 104 to carry the sample 101 between the cassette 102 and the XY stage 105.例文帳に追加

顕微鏡検査装置１００は、複数枚の標本１０１を収納し得るカセット１０２と、カセット１０２を上下方向に昇降させるエレベーター１０３と、標本１０１を拡大観察する顕微鏡１３２と、標本１０１を観察位置に適宜配置するためのＸＹステージ１０５と、カセット１０２とＸＹステージ１０５の間で標本１０１を搬送する搬送装置１０４とを備えている。 - 特許庁

This new topograph measuring method and its device are characterized by detecting the electrostatic force working between the cantilever and the sample, and feeding back a cantilever bias potential at which the electrostatic force becomes minimum to the cantilever, in the noncontact type atomic force microscope for scanning the sample surface by the cantilever to execute measurement, while maintaining an attraction gradient between the cantilever and the sample constant.例文帳に追加

本発明による新トポグラフ測定方法およびその装置は、カンチレバーと試料間の引力勾配を一定に維持しながらカンチレバーで試料表面を走査することにより計測する非接触型原子間力顕微鏡において、カンチレバーと試料間に作用する静電気力を検出し、該静電気力が最小となるカンチレバーバイアス電位をカンチレバーにフィードバックすることを特徴とする。 - 特許庁

For the electron beam device irradiating an electron beam emitted from an electron gun on the surface of a sample, and estimating the surface of a sample by detecting a secondary electron emitted from the surface of the sample, the electron gun has a plurality of thermionic cathodes arranged in a single electrode, and the top end of the plurality of thermionic cathodes are adjusted so as to locate at an electron emission hole of the electrode.例文帳に追加

電子銃から放出された電子線を試料表面に照射し、該試料表面から放出された二次電子を検出することにより試料表面の評価を行う電子線装置において、上記電子銃は単一の電極の内部に複数の熱陰極を配置し、上記電極の電子放出穴位置に上記複数の熱陰極の陰極先端を合わせた構造からなる。 - 特許庁

The polarized light analyzing device 100 is equipped with a beam projection part 130 which projects a light beam on an object sample 114, a polarizer 138, a return prism 170 which returns and directs the light beam reflected by the object sample 114 to a measurement sample 123 in parallel at an interval, an analyzer 140, and an optical detector 150 which detects the light transmitted through the analyzer 140.例文帳に追加

偏光解析装置１００は、対象試料１１４に向けて光ビームを射出するビーム射出部１３０と、偏光子１３８と、対象試料１１４で反射された光ビームを間隔おいて平行に折り返して測定試料１２４に方向付ける折り返しプリズム１７０と、検光子１４０と、検光子１４０を透過した光を検出するための光検出器１５０とを備えている。 - 特許庁

The observation device includes: a camera 106 turnably provided to a sample 102 placed on a stage 103, and capable of photographing the sample 102 from a desired angle direction; and an arithmetic part 108 for arithmetically calculating contrast of the photographic image of the sample 102 obtained by the camera 106, wherein the arithmetic part 108 arithmetically calculates the contrast for a range based on a photographing angle θ of the camera 106.例文帳に追加

ステージ１０３上に載置した試料１０２に対して回動可能に設けられ、試料１０２を所望の角度方向から撮影可能なカメラ１０６と、カメラ１０６により得られる試料１０２の撮影画像のコントラストを演算する演算部１０８とを備えた観察装置において、演算部１０８は、カメラ１０６の撮影角度θに基づいた範囲に対してコントラストを演算するようにする。 - 特許庁

This birefringence authentication device includes a light source, a polarizer, a sample stand and a photoreception part, and has a layer including a plurality of areas different in birefringences, in a sample stand side of the polarizer, and the article authentication system includes an article arranged on the sample stand, having a birefringence pattern of visualizing a latent image in the photoreception part, and having a patterning optical anisotropic layer on a support body.例文帳に追加

光源、偏光子、試料台、および受光部を含み、該偏光子の試料台側に複屈折性が異なる領域を複数含む層を有する複屈折パターン認証装置、ならびに前記試料台に配置され前記受光部において潜像を可視化する複屈折パターンを有する物品であって支持体上にパターニング光学異方性層を有する物品を含む物品認証システム。 - 特許庁

The charged particle beam device (electron beam exposure device) 1 includes a charged particle beam (electron beam) focusing means 90 which has an electro-optic lens barrel 10, a sample chamber 8, etc., and which introduces a gas into a housing to lower the degree of vacuum.例文帳に追加

荷電粒子線装置（電子ビーム露光装置）１を、電子光学鏡筒１０や試料室８等からなるハウジング内にガスを導入して真空度を低下させる荷電粒子線（電子ビーム）集束手段９０を備えて構成する。 - 特許庁

Values each close to the pixel values of the sample image 1006, which are converted to information as to the color space of the target device, are extracted from the central values of the color space signals independent of the output device in the first profile.例文帳に追加

第１のプロファイルにおける出力デバイスに独立な色空間の信号の代表値から、ターゲットデバイスの色空間の情報に変換されたサンプル画像１００６の各画素毎に当該画素の値に近い値を抽出する。 - 特許庁

To provide a microwave plasma treatment device, that has a long sealing member life and can prevent the contamination of a sample, even when high-density plasma is to be generated, and the sealing member used for the microwave plasma treatment device.例文帳に追加

高密度のプラズマを生成する場合であっても、封止部材の寿命が長く、また試料の汚染を防止することができるマイクロ波プラズマ処理装置、及び該マイクロ波プラズマ処理装置に使用する封止部材を提供する。 - 特許庁

A discrimination device creation section 16 of a device 10 which decides a kind and the discrimination condition of the feature value, creates a discriminator corresponding to each of the plurality of feature values which can be used for the discrimination processing on the basis of a sample data group.例文帳に追加

特徴量の種類と識別条件を決定する装置１０の識別器作成部１６が、サンプルデータ群に基づいて、識別処理に用いられ得る複数の特徴量の各々について、対応する識別器を作成する。 - 特許庁

To provide a needle-integrated type measuring device simple in structure and bringing a bio-sensor chip and a device body into electrical continuity between them when puncture and sample collection are done by concurrently driving a puncture needle and a bio-sensor chip.例文帳に追加

穿刺具およびバイオセンサチップを同時に駆動して穿刺および試料採取を行った際に、簡単な構造でバイオセンサチップと装置本体との電気的導通を図ることができる針一体型測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device which can automatically sample an image adequate for fingerprint matching from a fingerprint image inputted from an input device even if the image has variance in shading distribution or variance in ridge pattern thickness.例文帳に追加

画像の濃淡分布のばらつきまたは隆線パターン太さのばらつきがあっても、入力装置から入力されている指紋画像から指紋照合に適切な画像を自動的に採取可能な画像撮像装置を提供する。 - 特許庁

A judging part 5 in the time-of-flight mass spectrometer sets switches 7 and 8 to the side of a TDC functional device 3 when sample is within a density range without counting loss based on a signal from an ADC functional device 4 and signal processing is carried out in the TDC method.例文帳に追加

判定部５はＡＤＣ機能部４からの信号に基づいて、サンプルが数え落としの無い濃度範囲の場合には、スイッチ７、８をＴＤＣ機能部３側に設定し、ＴＤＣ方式により信号処理を行う。 - 特許庁

The printing device prepares test data to output a sample of a letter or graphics (circle, rectangle, image or the like), reads the printed test pattern by a scanner or the like, measures the amount of extension of a sheet by dividing the sheet into appropriate blocks and stores the measured results in a storage device.例文帳に追加

文字や図形（円、矩形、イメージ等）のサンプルの出力されるテストデータを用意し、印刷されたテストパターンをスキャナ等で読み込ませ、用紙を適当なブロック毎に分割して用紙の伸び量を測定し記憶装置に格納する。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

This gas sampler 1 for a portable gas analyzer provided with a cooler or a cooling device 8 for passing a gas sample before sending it to the gas analyzer has the cooler or the cooling device 8 operable by a means other than electric power.例文帳に追加

ガスサンプルがガス分析器に送られる前に通過する冷却器もしくは冷却装置（８）を備える携帯型ガス分析器用ガスサンプラー（１）は、電力以外の手段で作動可能な冷却器もしくは冷却装置（８）を有する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device allowing observation by an electron microscope to be rapidly carried out by correctly detecting a foreign substance in a film without causing LMIS pollution; a sample processing method; and a semiconductor inspection device.例文帳に追加

ＬＭＩＳ汚染を発生させることなく、膜中の異物を正確に検出し電子顕微鏡による観察を迅速に行うことができる荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

The reconstructed picture of the part of the sample is formed by a controller 31 on the basis of a plurality of pictures stored in the device 32 and is displayed by a low magnification picture display device 33.例文帳に追加

画像記憶装置３２により記憶されている複数の画像に基づいて、試料の一定範囲の再構成画像が制御装置３１により作成され、この再構成画像が低倍率画像表示装置３３により表示される。 - 特許庁