「test command」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

When a test mode signal is inputted, the command latch circuit 2A outputs a DQ signal synchronized to the ZQ Enable signal to the outside of a semiconductor device 100 via the DQ circuit 4.例文帳に追加

コマンドラッチ回路２Ａは、テストモード信号が入力されると、ＤＱ回路４を介してＺＱＥｎａｂｌｅ信号に同期したＤＱ信号を半導体装置１００の外部へ出力させる。 - 特許庁

The memory 401 stores the same data as the train radio transmission data to be transmitted from a train radio command station provided outside a railroad vehicle as the test train radio transmission data in advance.例文帳に追加

メモリ４０１は、鉄道車両の外部に設けられる列車無線指令局から送信される列車無線伝送データと同一のデータを試験用列車無線伝送データとして予め格納する。 - 特許庁

(c) Methods of handling, maintenance, and test of engine, engine accessory, and engine's command system (excluding an glider other than powered glider without tow attachment and powered glider with tow attachment) 例文帳に追加

ハ　発動機、発動機補機及び発動機の指示系統の取扱い、整備方法及び検査方法（曳航装置なし動力滑空機及び曳航装置付き動力滑空機以外の滑空機の場合を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

(d) Methods of handling, maintenance, and test of propeller, propeller accessory, and propeller's command system (excluding an glider other than powered glider without tow attachment and powered glider with tow attachment) 例文帳に追加

ニ　プロペラ、プロペラ補機及びプロペラの指示系統の取扱い、整備方法及び検査方法（曳航装置なし動力滑空機及び曳航装置付き動力滑空機以外の滑空機の場合を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

(d) Basic methods of handling, maintenance, and test of propeller, propeller accessory, and propeller's command system (excluding an glider other than powered glider without tow attachment and powered glider with tow attachment) 例文帳に追加

ニ　プロペラ、プロペラ補機及びプロペラの指示系統の取扱い、整備方法及び検査方法の基礎（曳航装置なし動力滑空機及び曳航装置付き動力滑空機以外の滑空機の場合を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

When any value is not set, or when the value should be changed for the test, a user designates the value so that a function for generating and executing the command of the debugger can be offered.例文帳に追加

値が未だ設定されていない場合や、テストのために値を換える必要がある場合には、ユーザがその場で値を指定することによって、デバッガのコマンドを生成し実行する機能を提供する。 - 特許庁

At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).例文帳に追加

非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁

When a command is specified for output data (test item) of one block in a model 20, a test case generator specifies a boundary 70 between a subsystem 40 including the block and a subsystem 30 preceding the subsystem 40, and calculates set points of input data to the subsystem 40 at the boundary 70 such that the test item becomes the target value.例文帳に追加

テストケース生成装置は、モデル２０中の１つのブロックの出力データ（すなわち検査項目）に対して目標値が定められている場合において、ブロックを含むサブシステム４０と、サブシステム４０の前段のサブシステム３０との境界７０を特定し、検査項目が当該目標値となるように、当該境界７０におけるサブシステム４０に対する入力データの設定値を算出する。 - 特許庁

In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.例文帳に追加

半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁

This disaster-preventive reception board 1 is constituted by connecting optical fiber detectors 3 to a transmission line which is led out, and a disfeaturement monitor part 100 receives and monitors disfeaturement analog value signals which are sent as the fire detectors 3 are placed in test operation with a test command and show the degree of disfeaturement of light- transmitting windows.例文帳に追加

外部に引き出された伝送路に光学式火災検知器３を複数接続した防災受信盤で１あって、汚損監視部１００は、試験コマンドによる火災検知器３の試験動作に伴って送信される透光性窓の汚損度合いを示す汚損アナログ値信号を受信して監視する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁

Address information needed to analyze the memory test pattern operation is read out of a memory test pattern source 2 to calculates address operation and a pattern operation analytic log 5 for the pattern operation analysis is generated; and address operation in command performance is extracted from the pattern operation analytic log 5 to generate a pattern operation grasping log 7.例文帳に追加

メモリテストパターンソース２よりメモリテストパターン動作の解析に必要なアドレス情報を読み取り、アドレス動作を計算により求め、パターン動作解析のためのパターン動作解析ログ５を生成し、パターン動作解析ログ５より、コマンド実行時のアドレス動作を抽出し、パターン動作把握ログ７を生成する。 - 特許庁

This operation system for the running support road system has a system operation management device performing online-processing of daily operation monitoring of equipment constituting the running support road system at all times in a batch and is provided with functions for giving a remote diagnostic processing command for daily inspection and operation test and recording test operation by this device.例文帳に追加

走行支援道路システムの運用方式であって、走行支援道路システムを構成する設備機器の日常の常時動作監視を一括オンライン処理するシステム運用管理装置を有し、この装置で日常点検、動作試験のリモート診断処理指令、試験動作記録機能を具えている。 - 特許庁

The image forming position for a measurement color is corrected based on the first judgement result of the judging means when issuing the test command (when detecting the position of a pattern) in addition to the positional deviation of patterns 93 and 95 to a reference position.例文帳に追加

そして、基準位置に対するパターン９３，９５の位置ずれ量に加えて、テスト指令時（パターンの位置の検出時）における判断手段の第１判断結果に基づき測定色の画像形成位置を補正する。 - 特許庁

Further, since a whole pattern stopping command 38 is not received, the pattern displayed before the power cut can be displayed again when the power is on again without outputting test projection testing information to the outside (such as a connector 20).例文帳に追加

更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁

Further, as a whole pattern stop command 38 is not received, a pattern displayed before the power shutdown is redisplayed when power is turned on again without outputting any test shooting information to the outside (connector 20, or the like).例文帳に追加

更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁

(c) Basic methods of handling, maintenance, and test of engine, engine accessory, and engine's command system (excluding an glider other than powered glider without tow attachment and powered glider with tow attachment) 例文帳に追加

ハ　発動機、発動機補機及び発動機の指示系統の取扱い、整備方法及び検査方法の基礎（曳航装置なし動力滑空機及び曳航装置付き動力滑空機以外の滑空機の場合を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

Further, as a whole symbol stopping command 38 is not received, symbols displayed before the power shut-off can be redisplayed when the power supply is returned without outputting test shooting information to an outside part (such as a connector 20).例文帳に追加

更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁

In a test mode, the timing adjustment part 40 adjusts the timing so that the read data read from the memory cell array 15 by the read command can be compared with expectation data input from the external terminal 10.例文帳に追加

タイミング調整部４０は、テストモードにおいて、リードコマンドによってメモリセルアレイ１５から読み出したリードデータと外部端子１０から入力される期待値データとを比較可能とするようにタイミング調整を行う。 - 特許庁

Here, when the mobile phone 80 is held in the posture at the time of reception of the test command by the mobile phone 80, the mobile phone 80 and multifunction printer 10 must be in position relation where they can transmit and receive data to each other.例文帳に追加

ここで、携帯電話８０の姿勢を該携帯電話８０がテストコマンドを受信したときの姿勢に維持すれば、携帯電話８０とマルチファンクションプリンタ１０は互いにデータの送受が可能な位置関係になっているはずである。 - 特許庁

When the means 110 detects the fault occurrence, a command acquiring means 101 inputs a restarting procedure file and executes restarting processing, so that the automatic test can be continuously executed even at the occurrence of the fault.例文帳に追加

また、障害検出手段１１０で障害発生を検出した場合、コマンド取得手段１０１が再開手順ファイルを読み込んで再開処理を行うので、障害発生時にも継続して自動試験を行うことができる。 - 特許庁

When receiving a forenotice of online batch for the test from the online systems and the input telegraphic messages match between the online systems, the information processing device interrupts the input of the telegraphic messages and notifies each online system of an execution command of the online batch.例文帳に追加

オンラインシステムからテスト用のオンラインバッチの予告通知を受信した際、投入済みの電文がオンラインシステム間で一致している場合、電文投入を中断し、オンラインバッチの実行指示を各オンラインシステムに通知する。 - 特許庁

A test mode discriminating circuit 31 inputs an external command consisting of a chip-select signal/CS, a row address strobe signal/RAS, a column address strobe signal/CAS, a write-enable signal/WE, and the like, while inputs memory address signals A0-An.例文帳に追加

テストモード判定回路３１は、チップセレクト信号／ＣＳ、ロウアドレスストローブ信号／ＲＡＳ、コラムアドレスストローブ信号／ＣＡＳ及びライトイネーブル信号／ＷＥ等からなる外部コマンドを入力するとともに、メモリアドレス信号A0〜Anを入力する。 - 特許庁

Moreover, because an all figure patterns stopping command 38 is not received, a figure pattern having been displayed before cutting the power supply can be redisplayed when the current is again switched on without outputting trial test information to the outside (a connector 20, or the like).例文帳に追加

更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁

When the rectifier output voltage Vrdc is controlled below a battery discharge voltage Vbdc, a discharge test voltage command value and battery discharge voltage Vbdc are inputted to a differential amplifier 7.例文帳に追加

切換回路６により、第２電圧指令値Ｖｒｅｆ２に変流器ＣＴ２による出力電流信号とリミッタ回路４の下限値を加算した放電試験電圧指令値により整流器出力電圧Ｖｒｄｃは制御される。 - 特許庁

In a FCRAM, when receiving a mode register set detecting signal bMSET generated by a command detecting circuit and a detecting signal AILTC<;7>; of arbitrary one bit VA<;7>; of an address signal input, a mode register set or test mode entry is switched in accordance with a logic level of the signal AILTC<;7>;.例文帳に追加

FCRAM において、コマンド検知回路で生成されたモードレジスタセット検知信号bMSET とアドレス信号入力の任意の１ビットVA<7> の検知信号AILTC<7>を受け、信号AILTC<7>の論理レベルに応じてモードレジスタセットまたはテストモードエントリを切り換える。 - 特許庁

This semiconductor memory device includes a CPU core circuit, a bus connected to the CPU core circuit, and a memory BIST circuit for performing a memory test according to a command supplied through the bus from the CPU core circuit.例文帳に追加

半導体記憶装置は、ＣＰＵコア回路と、ＣＰＵコア回路に接続されるバスと、ＣＰＵコア回路からバスを介して供給される命令に応じてメモリ試験を実行するメモリＢＩＳＴ回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The driver IC for display 10 has an interface circuit 100 through which signals are to be putted and outputted between the MPU 300 and the interface circuit, a command decoder 110 decoding the test command inputted from the MPU 300 via the circuit 100 and an inspecting circuit 200 outputting the inspection result signal based on a signal from the decoder 110.例文帳に追加

表示用ドライバＩＣ１０は、ＭＰＵ３００との間で信号が入出力されるインターフェース回路１００と、ＭＰＵ３００からインターフェース回路１００を介して入力されたテストコマンドをデコードするコマンドデコーダ１１０と、コマンドデコーダ１１０からの信号に基づいて検査結果信号を出力する検査回路２００とを有する。 - 特許庁

A command latch circuit 100 to which an access command READ CMD is inputted outputs a low level pulse synchronizing with an external clock CLK, outputs an internal pre-charge signal PRE of a low level through a NAND gate 11 and a NAND gate 75 of a test mode sequence circuit 10, and resets an activation signal WL of a work line from a control circuit 200.例文帳に追加

アクセスコマンドＲＥＡＤ ＣＭＤが入力されたコマンドラッチ回路１００は、外部クロックＣＬＫに同期してローレベルパルスを出力し、テストモードシーケンス回路１０のＮＡＮＤゲート１１及びＮＡＮＤゲート７５を介してローレベルの内部プリチャージ信号ＰＲＥを出力して、制御回路２００からワード線の活性化信号ＷＬをリセットする。 - 特許庁

The selection signal generation circuit activates one of selection signals corresponding to each of word line in accordance with an external command signal indicating a test operation mode and an external selection code signal for specifying word line voltage used for the memory device, during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage is a desired level or not.例文帳に追加

選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの１つを活性化する。 - 特許庁

Built-in self test is started by the command of CPU 12 and the test results of a memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory inspection compressor 17 and the logic circuit inspection compressor 15, it is compared with an expectation value which is previously stored in the memory 11 and the result is diagnosed in the one chip microcomputer 10.例文帳に追加

そして、ＣＰＵ１２の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ１１および論理回路群１３のテスト結果をメモリ検査用圧縮器１７および論理回路検査用圧縮器１５から読み出して、１チップマイクロコンピュータ１０内部において、あらかじめメモリ１１に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。 - 特許庁

This DDR (double data rate) SDRAM (synchronous DRAM) performs write-in operation having write-latency at the normal operation, and at a test, receives a data strobe signal DQS and a data signal before one clock cycle of a write-command WRT and performs write-in operation having no write-latency.例文帳に追加

このＤＤＲ ＳＤＲＡＭは、通常動作時はライトレイテンシを持った書込動作を行ない、テスト時はライトコマンドＷＲＴの１クロックサイクル前にデータストローブ信号ＤＱＳおよびデータ信号を受けてライトレイテンシを持たない書込動作を行なう。 - 特許庁

A command for acquiring an analog waveform contained in the device test program 112 is executed, a content thereof is analyzed by a language analysis executing part 116, and then reading-in of the analog waveform is indicated from a tester library 118 to a tester bus emulator 120.例文帳に追加

デバイステストプログラム１１２に含まれるアナログ波形の取得命令が実行され、その内容が言語解析実行部１１６によって解析されると、テスタライブラリ１１６からテスタバスエミュレータ１２０に対してアナログ波形の取り込みが指示される。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit is provided with a memory section (5) which has a plurality of memory banks (BNK0 to BNK3) and is accessed by specifying an X address and an Y address and a self-test section (3) which tests the memory section by responding to an instruction made by a command.例文帳に追加

半導体集積回路は、複数のメモリバンク（ＢＮＫ０〜ＢＮＫ３）を有し、バンクアドレス、Ｘアドレス及びＹアドレスを指定してアクセスされるメモリ部（５）と、コマンドによる指示に応答して前記メモリ部をテストするセルフテスト部（３）を有する。 - 特許庁

This device is provided with: an electric power supply voltage change means provided in the power source part and changing electric power supply voltage; and a control part outputting command to change electric power supply voltage to the electric power supply voltage change means at a time of diagnosis of the test part.例文帳に追加

本装置は、電源部に設けられ、給電電圧を変動させる給電電圧変更手段と、試験部の診断時に、給電電圧を変動させる指令を給電電圧変更手段に出力する制御部と、を備える装置である。 - 特許庁

A command decoder 2 synchronizes with an external clock signal CLK when the test mode is set in the semiconductor memory, and sequentially generates an internal control signal that is similar to that when a plurality of commands are inputted in a normal mode at predetermined timing in response to a prescribed external control signal (command) inputted from a control input terminal (/RAS, /CAS, /WE, and /CS).例文帳に追加

コマンドデコーダ２は、半導体記憶装置にテストモードが設定されると、外部クロック信号ＣＬＫに同期して、制御入力端子（／ＲＡＳ、／ＣＡＳ、／ＷＥ、及び、／ＣＳ）から入力される所定の外部制御信号（コマンド）に応答して、通常モード動作時に複数のコマンドが入力されたときと同様な内部制御信号を、所定のタイミングで順次に生成する。 - 特許庁

As a switching condition to the test mode, the control mode is switched from the ordinary control mode to the test mode only when a designated mode switching command signal is input to a specified input terminal 16v which is the input terminal other than the used input terminals and whose input voltage is kept constant in ordinary use among the input terminals provided in a micro-computer 16.例文帳に追加

このテストモードへの切換条件として、マイクロコンピュータ１６に設けられた入力端子のうち使用入力端子以外の入力端子であって通常使用時には入力電圧が一定に維持される特定入力端子１６ｖに所定のモード切換指令信号が入力されたときにのみ前記制御モードが前記通常制御モードからテストモードに切換えられるようにする。 - 特許庁

Two AND gates 9, 10 controlled by an output from an external writing mode detection circuit 6 are connected on the way of control signals TEST, CHIP-ERASE outputted only by the external writing mode out of outputs from a command decoder 8 for detecting commands, and in the case of the MC mode, the output of the control signals TEST and CHIP-ERASE is interrupted.例文帳に追加

コマンドを検出するコマンドデコーダ８の出力の内、外部書込モードの時にのみ出力される制御信号ＴＥＳＴ、ＣＨＩＰ−ＥＲＡＳＥの途中に外部書込モード検出回路６の出力によって制御されるＡＮＤゲート９及び１０を設け、マイコンモードの場合に、制御信号ＴＥＳＴ及びＣＨＩＰ−ＥＲＡＳＥの出力を遮断する。 - 特許庁

The peripheral part 30 includes a second individual authentication part for collating the added second individual test value with a second arithmetic value held in advance when receiving the second control command or authenticating the main controller 10 on the basis of the result of authentication received from the post-stage part 20.例文帳に追加

周辺部３０は、第２制御コマンドの受信時は付加された第２個体検査値と予め保持する第２演算値とを照合し、或いは、後段部２０から受信した認証結果に基づき主制御部１０を認証する第２個体認証部を備える。 - 特許庁

The post-stage part 20 includes a first individual authentication part 24 for collating the added first individual test value with a first arithmetic value held in advance when receiving the first control command to authenticate the main controller 10 and transmits the result of authentication to the peripheral part 30.例文帳に追加

後段部２０は、第１制御コマンドの受信時は付加された第１個体検査値と、予め保持する第１演算値とを照合し主制御部１０を認証する第１個体認証部２４を備え、認証結果を周辺部３０へ送信する。 - 特許庁

Upon receiving a specified command from an operating section 32, a controller 40 forms a test print image in a specified region at the left and right end parts within a printable region being recognized by the set values of left and right blanks and the coordinate values at the left and right ends of paper 2.例文帳に追加

コントローラ４０は、操作部３２から所定のコマンドが入力されたとき、左右余白の設定値及び検出された紙２の左右端の座標値から認識される印刷可能領域のうち左右端部の所定領域にテスト印刷画像を形成する。 - 特許庁

The test master can vary an input timing of the command for competition evaluation into the evaluation object macro over a part or the whole of a time range from a starting point of time of operation of the evaluation object macro up to just before finish time with respect to the access.例文帳に追加

テストマスタは、前記アクセスに対する評価対象マクロの動作の開始時点から終了直前までの時間範囲の一部又は全部にわたって、前記評価対象マクロに対する前記競合評価用の命令の投入のタイミングを可変させる。 - 特許庁

Combinations of command values of the plurality of sorts of controlled variables with respect to the target values of the plurality of sorts of combustion parameters are calculated by the controlled variables arithmetic expression 32, so that the burden of conformance test work requring the huge number of tests is reduced.例文帳に追加

したがって、制御量演算式３２を用いて、複数種類の燃焼パラメータの目標値に対する複数種類の制御量の指令値の組み合わせを算出できるので、膨大な試験点数を要する適合試験作業の負担を軽減できる。 - 特許庁

In response to an assembly command code read out from a storage device 2, a test routine embedding-in part 14 embeds a check routine generated by a check routine generation part 12, in an free space of a target memory 3 on the basis of memory management table information owened by a target memory management part 13.例文帳に追加

記憶装置２から読み出したアセンブリ命令コードに対して、検査ルーチン組み込み部１４は、検査ルーチン生成部１２が生成した検査ルーチンを、ターゲットメモリ管理部１３保有のメモリ管理テーブル情報に基づいて、ターゲットメモリ３の空き領域に組み込む。 - 特許庁

Further, the communication line state management means 321 is provided with a storage means for storing a result to a test command in a communication line storage part 331 for each communication route and a decision means for deciding a communication line to be operated by the storage means.例文帳に追加

更に、通信路状態管理手段３２１は、通信ルート毎に試験コマンドに対する結果を通信路記憶部３３１に格納する格納手段と、格納手段により運用すべき通信路を決定する決定手段を有することを特徴とする。 - 特許庁