「testing area」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LOW-POWER AND AREA-EFFICIENT SCAN CELL FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING例文帳に追加

集積回路テスト用の低電力で面積効率の良いスキャンセル - 特許庁

(v) Name of the civil training and testing area to be flown in 例文帳に追加

五　飛行を行おうとする民間訓練試験空域の名称 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This whole area is closed for weapons testing for the next 24 hours.例文帳に追加

この区域は 今から24時間... 武器の試験のために 閉鎖されています。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The invention is a kind of the electronic component testing system which includes many testing areas and is provided with a pick and place device in each testing area.例文帳に追加

本発明は一種の電子部品テストシステムであり、多数のテストエリアを包含し、各テストエリアはそれぞれ、取放（ｐｉｃｋ ＆ ｐｌａｃe）装置が設けられる。 - 特許庁

The color filter 1000 includes the pixel area 100 and an area 200 for sticking precision testing.例文帳に追加

本発明のカラーフィルタ１０００は、画素領域１００および着弾精度試験用領域２００を含む。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR APPLYING TRIGGER AND FREQUENCY AREA TESTING AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

トリガをかける方法及びシステム並びに周波数領域試験測定装置 - 特許庁

The application of the wettability testing liquid and the measurement of the repelling area after the passage of the preset time are repeated for every unit area.例文帳に追加

単位面積毎に濡れ性試験液の塗布と所定時間経過後にはじいた面積の測定を繰り返す。 - 特許庁

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain.例文帳に追加

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of usage of a memory area of a main memory in a testing device.例文帳に追加

試験装置におけるメインメモリの記憶領域の利用効率を向上させる。 - 特許庁

In the area 200 for sticking precision testing, an evaluation area sectioned with the 2nd shading layer 122 is provided.例文帳に追加

着弾精度試験用領域２００には、第２の遮光層１２２によって区画される評価領域が設けられている。 - 特許庁

To reduce chip occupied area by contracting a circuit scale and to reduce testing time.例文帳に追加

回路規模を縮小してチップ占有面積を削減し、さらに試験時間を短縮する。 - 特許庁

To accurately test area deviation that partially takes place in a pattern in testing the area deviation of a periodic pattern on the basis of an area image.例文帳に追加

面積画像に基づいて周期性パターンの面積ズレを検査する際、パターン内に部分的に生じている面積ズレをも正確に検査できるようにする。 - 特許庁

The degree of dirt on the seal edge portion is judged from the area of the total area of the seal edge portion, where the wettability testing liquid is repelled.例文帳に追加

シールエッジ部の全面積のうちの濡れ性試験液をはじいた面積から、シールエッジ部の汚れの程度を判断する。 - 特許庁

To easily perform testing and suppress an increase in cost and an increase in a chip area.例文帳に追加

容易にテストを実行することができ、コストの増大及びチップ面積の増加を抑制すること。 - 特許庁

A wettability testing liquid such as a colored wettability testing liquid is applied to the seal edge portion SE of a panel glass 1a of a cathode ray tube for measuring an area out of a total applied area, where the wettability testing liquid is repelled after the passage of a preset time after application.例文帳に追加

陰極線管のパネルガラス１ａのシールエッジ部ＳＥに、着色された濡れ性試験液などの濡れ性試験液を塗布し、塗布部分の面積のうち、塗布から所定時間経過後において濡れ性試験液をはじいた面積を測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.例文帳に追加

半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing circuit and a testing method of a semiconductor integrated circuit for suppressing an increase in chip area and easily analyzing fail in a semiconductor memory.例文帳に追加

チップ面積増加を抑制し、且つ半導体記憶装置の不良解析が容易な半導体集積回路の試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To effectively treat FPI wastewater (penetrant testing wastewater discharged from liquid penetrant testing process) while restraining running cost and a site area from increasing.例文帳に追加

ＦＰＩ廃水（浸透探傷検査工程から排出される浸透検査廃水）の処理を、ランニングコスト及び敷地面積を抑えつつ効果的に行う。 - 特許庁

A monitor electrode for testing of the predetermined area is provided at the area guided from the adjacent area of the natural circuit wires in the circuit structure for propagating high-frequency signals.例文帳に追加

高周波信号が伝搬する回路構成の、本来の回路配線から近接して引き出したところに所定面積の検査用のモニタ電極を備える。 - 特許庁

In a mobile communication system to perform the short message service, a terminal 2 for testing which can send the short message for testing to a radio area is provided in a moving exchange station 3 side, and a mobile set 5 for testing which can return the transmission of the received short message for testing as it is, is provided in the radio area.例文帳に追加

ショートメッセージサービスを実施している移動通信システムにおいて、移動交換局３側に、試験用ショートメッセージを無線エリアへ発信できる試験用端末２を設け、無線エリアに、受信した前記試験用ショートメッセージをそのまま折り返して返信できる試験用移動機５を設けてあることを特徴とする。 - 特許庁

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION WHICH IS NOT VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method.例文帳に追加

大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION TO BE VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証する初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

The performance determination testing medium having a recorded area 102 and an unrecorded area 103 is used, performance determination testing data is read from the recorded area 102 in the performance determination testing of the information recording/reproducing device, and the data is temporarily stored in a buffer memory, whereby the performance testing is carried out without making any performance determination test data in the information recording/reproducing device.例文帳に追加

既記録領域１０２と未記録領域１０３とを有する性能判定試験媒体を用い、情報記録再生装置の性能判定試験時に既記録領域１０２から性能判定試験データを読み出し、該データをバッファメモリに一時的に格納することで、情報記録再生装置内で性能判定試験データを作成することなく性能判定試験を実行する。 - 特許庁

The area 20 for sticking precision testing is positioned not in the pixel area 20 and includes a 2nd shading layer 122 and the layer 26 for sticking precision testing which is provided to cover at least the 2nd shading layer 122.例文帳に追加

着弾精度試験用領域２００は、画素領域２０以外に位置し、第２の遮光層１２２と、少なくとも第２の遮光層１２２を覆うように設けられる着弾精度試験用層２６とを含む。 - 特許庁

When |reference value Z0-focus value Z1 in a shot area to be exposed| >1.0 μm, the abnormal focus testing apparatus 3 determines that the focus is abnormal.例文帳に追加

｜基準値Ｚ_0−露光するショット領域のフォーカス値Ｚ_1｜＞１．０μｍのとき、フォーカス異常と判断する。 - 特許庁

(ii) Flight in a civil training and testing area specified by Ordinances of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism set forth in Article 95-3 例文帳に追加

二　民間訓練試験空域における第九十五条の三の国土交通省令で定める飛行 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a material testing machine that accurately measures a position of a bench mark using the entire area of a bench-mark profile, and a method for measuring a bench mark of a material testing machine.例文帳に追加

標線のプロファイルの全域を利用して標線の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の標線測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine, capable of calculating an accurate cross-sectional area and a contraction value regardless of the shapes of fracture surfaces.例文帳に追加

破断面形状を問わず正確な断面積や絞り値が算出できる材料試験機を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for efficiently and accurately testing a display having a non-rectangular display area.例文帳に追加

非矩形状の表示エリアを有する表示装置を効率的に高精度に検査可能とする方法、装置の提供。 - 特許庁

To provide a skin test sheet for surface measurement for testing the amount of moisture evaporation and/or secretory components, etc. on a broad area of skin.例文帳に追加

皮膚の広い範囲の水分蒸発量やと分泌成分等を検査する面測定用皮膚検査シートを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a liquid crystal display element which is suited for a large-area liquid crystal display element and can shorten the time for the test.例文帳に追加

大面積液晶表示素子に適合し、検査時間を短縮し得る液晶表示素子の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine that accurately measures a position of an edge using the entire area of a profile of a test piece edge, and a method for measuring test piece width of a material testing machine.例文帳に追加

試験片の端縁のプロファイルの全域を利用して端縁の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法を提供する。 - 特許庁

Each logical part 5, 6, 7 receives the data to be stored in its new data area, and it transmits an answer through the LAN 2 to a monitoring and testing part 3.例文帳に追加

各論理部はそのデータを受信すると、自身の新データエリアに格納し、ＬＡＮ２を介してモニタ・試験部３にアンサを送信する。 - 特許庁

To provide an electronic equipment capable of exactly testing an open or a short-circuit test between semiconductor devices without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させることなく、確実な半導体装置間のオープン・ショート試験を行うことが可能な電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a digital modulator, digital modulating method, digital transceiver system, and testing apparatus achieving area integration and suppression of power consumption.例文帳に追加

集積面積、消費電力を抑えるデジタル変調器、デジタル変調方法、デジタル送受信システム、及び試験装置を提供する。 - 特許庁

An exhaust gas control device 32 for sucking the exhaust gas discharged from a muffler 4 of a testing vehicle 2 to be discharged to the outside is provided in a position, that is a rear position of the testing vehicle, deviated from an area connecting microphones 8d-8g provided in a vehicular rear side of the testing vehicle and the muffler.例文帳に追加

試験車両２のマフラ４から排出した排ガスを吸引して外部に排出する排ガス処理装置３２を、試験車両の後方位置であって、試験車両の車両後方側に設置したマイクロホン８ｄ〜８ｇとマフラとの間を結んだ領域から外れた位置に設置した。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

To provide a photoreceptor testing device for electrophotography not generating a measuring error caused by a size change of an opening part forming a test area.例文帳に追加

試験領域を形成する開口部の大きさ変化による測定誤差を生じない電子写真用感光体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.例文帳に追加

単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing technology of a semiconductor device, which restricts the overhead of an area to a minimum and can make a signal propagate in parallel to testing by a method, wherein the signal is bypassed by utilizing an existent data path in an IP core.例文帳に追加

ＩＰコア内の既存のデータパスを利用して信号をバイパスさせることで、面積のオーバーヘッドを最小限に抑えながら、パラレルに信号を伝播させてテストを行うことができる半導体装置のテスト技術を提供する。 - 特許庁

To suppress an increase in circuit area in a semiconductor integrated circuit, and to each decrease the consumption electric power during scanning testing and during built-in self-testing of logic circuit (logic BIST), without affecting the function operating speed.例文帳に追加

半導体集積回路において、回路面積の増加を抑え、またファンクション動作速度に影響を与えることなく、スキャンテスト中及びロジック回路部分の組み込み自己テスト（ロジックＢＩＳＴ）中の消費電力を低減する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

In accordance with the method of electron beam testing, the diameter of the electron beam is increased so that the beam is less focused, i.e., enlarged or "blurred", over a non-uniform electrode area.例文帳に追加

本発明の電子ビームテストは、不均一電極領域上で絞りが小さく、即ち、拡大又は「ぼかされる」ように、電子ビームの直径が増大される。 - 特許庁

The friction coefficient of the carry-testing medium 10 nearly linearly changes to an area ratio of the high-friction ink material 13 in the geometric pattern.例文帳に追加

この幾何学的模様における高摩擦インク材１３の面積比率に対して、搬送テスト用媒体１０の摩擦係数が略リニアに変化する。 - 特許庁