「testing area」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

(i) When aircraft that is deemed by the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism to be structurally difficult to equip with radiotelephone equipment flies within a civil training and testing area 例文帳に追加

一　国土交通大臣が無線電話を装備することが構造上困難であると認める航空機が民間訓練試験空域を飛行する場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(ii) When aircraft flies in a civil training and testing area where it is difficult for the aircraft to contact the provider specified in the preceding Article due to reasons such as geographical features 例文帳に追加

二　航空機が地形上等の理由により前条に規定する機関に連絡することが困難な民間訓練試験空域を飛行する場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム

By providing a start timing displaying section and a gradient-starting countdown area informing gradient starting of a car speed mode, a testing under usual driving perception is achieved.例文帳に追加

また、スタートタイミング表示部と車速モードの勾配開始を知らせる勾配開始カウントダウンエリアを設けることで、通常の運転感覚での試験を可能とした。 - 特許庁

To provide a shorter test time and a reduction of a circuit area in a comparator test circuit and a semiconductor integrated circuit for testing a plurality of comparators.例文帳に追加

複数のコンパレータをテスト対象とするコンパレータテスト回路及び半導体集積回路において、テスト時間の短縮と回路面積の縮小を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing the occupied area of a test circuit from increasing and simultaneously testing operations tests of plural memory circuits.例文帳に追加

試験回路の占有面積増加を抑え、且つそれにより複数のメモリ回路の動作試験を同時に実施することが可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁

A testing vehicle 5 passed through moving linearly on a road within a measuring area is photographed by a camera for photographing the measuring area, the parameter as to the photographing condition of the camera is calculated on the basis of a photographed image of the testing vehicle 5, and a speed of the vehicle or the like is measured using the calculated parameter.例文帳に追加

計測領域内の道路上を直線的に移動ながら通過する試験車両５を、計測領域を撮影するカメラで撮影し、その試験車両５の撮影画像に基づいて、カメラの撮影条件に関するパラメータを算出するとともに、算出したパラメータを用いて車両の速度などを計測する。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is also provided with: an input device 330 for designating a reference area of the cross section image of a reference body 200 and the concerned area of the object to be tested in the image; and a CPU 300 for calculating the ratio of the MRI signal intensity of the concerned area to the MRI signal intensity of the reference area.例文帳に追加

又、核磁気共鳴検査装置１０は画像の中で、基準体２００の断面画像の基準領域と、前記検査対象の関心領域を指定する入力装置３３０と、基準領域のＭＲＩ信号強度に対する関心領域のＭＲＩ信号強度の比を演算するＣＰＵ３００を備える。 - 特許庁

The piercing member is fitted to hold the test sensor on the inlet area by a method to take out the package, and the test sensor is held on the inlet area during a time testing the blood sample.例文帳に追加

穿刺部材は、パッケージを取り出すような方法で入口領域に試験センサを保持するように適合され、かつ血液試料を試験する間、入口領域に試験センサを保持するように適合されている。 - 特許庁

As a result, for example, data stored in a ROM area are surely read from the ferroelectric memory having the ROM area in which the data are written beforehand in the testing step or the like of the manufacturing process.例文帳に追加

この結果、例えば、製造工程の試験工程等で予めデータが書き込まれるＲＯＭ領域を有する強誘電体メモリにおいて、ＲＯＭ領域に記憶されているデータを確実に読み出すことができる。 - 特許庁

The prober assembly is also configured to test fractional sections of the large-area substrate positioned on a testing table, and the prober assembly can be configured for different display and contact point patterns, without having to remove the prober assembly from the testing table.例文帳に追加

プローバアセンブリは、検査テーブル上に位置された大面積基板の一部を検査するようにも構成されており、プローバアセンブリはプローバアセンブリを検査テーブルから取り外すことなく、異なるディスプレイ及び接触点パターンに合わせて構成し得る。 - 特許庁

Particularly, at least one head unit includes a sucking head 5 for sucking an electronic component E supplied from the component supplying section 22 and carries this component E to the area on the substrate P, and a testing device 6 for testing the substrate P.例文帳に追加

とくに、ヘッドユニットの少なくとも１つが、部品供給部２２から供給された電子部品Ｅを吸着し、電子部品Ｅを前記基板Ｐ上に搬送する吸着ヘッド５と、基板Ｐの検査を行う検査装置６とを有する。 - 特許庁

The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.例文帳に追加

材料試験機は、破断させた試験片１００の破断面１００ａを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁

To provide a test method for testing a servo area of a magnetic recording medium, which tests a servo area of a magnetic recording medium with an electric test device and, in particular, is suitable to test a servo area of a magnetic recording medium formed by stamping from a master disk, and a test device therefor.例文帳に追加

磁気記録媒体のサーボエリアの適否を電気的な検査装置において検査することが可能で、特に、原盤からスタンプされて形成された磁気記録媒体のサーボエリアの検査に適した磁気記録媒体のサーボエリアの検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Individual UBSs are preferably positioned in local areas, or sections, of an integrated circuit for testing of RSB elements and RLB elements within the local area.例文帳に追加

個々のＵＢＳは好ましくは、局部領域内のＲＳＢ要素およびＲＬＢ要素のテストのために集積回路の局部領域、または部分内に配置される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing apparatus that reduces the time for analyzing a failure by displaying the number of failures in each area of a device to be tested.例文帳に追加

被試験対象デバイスの各領域におけるフェイル数を表示し、フェイルの解析にかかる時間を短縮することが可能な半導体メモリ試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for testing whether or not a power shut-off circuit normally operates even while suppressing increase in wiring area.例文帳に追加

配線領域の増大を抑制しつつも、電源遮断回路が正常に機能しているかを試験することのできる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can realize reduction of the layout area and the testing time for voltage adjustment and generates internal voltages.例文帳に追加

レイアウト面積の低減および電圧調整のためのテスト時間の短縮を実現することのできる内部電圧を発生するための半導体装置を提供する。 - 特許庁

In order to perform inspection, while the conveyer is moving the component, the probe is mounted on the stage that is made to move synchronously with the component throughout the testing area, and facilitates inspection.例文帳に追加

コンベヤが部品を移動させている間に検査を行うために、プローブは検査領域に亘り部品と同期的に運動させるステージに取り付けられて、検査を促進する。 - 特許庁

From a load cell and extensometer of the testing machine body, test force and an elongation amount in loading the test piece are input in the personal computer and are stored in a temporal storage area.例文帳に追加

試験機本体のロードセルと伸び計から試験片を負荷した際の試験力と伸び量がパーソナルコンピュータに入力されて一時記憶領域に保存される。 - 特許庁

The write-once type recording medium having the linking (a run-in area and a guard area) in a unit block of recording/reproducing, and being constituted so that the overlapping takes place and recording is performed at the linking, is tested by the following testing method after manufacture.例文帳に追加

記録再生の単位となるブロックにリンキング（ランインエリアとガードエリア）を有し、そのリンキングでオーバーラップして記録するようにしたライトワンス型の記録媒体に対して、製造後に次のような検査方法で検査を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of suppressing increases in the area of a redundancy saving circuit and the area of a scan testing circuit when the redundancy saving using a BIST is realized, and its inspection method.例文帳に追加

ＢＩＳＴを用いたメモリの冗長救済を実現にあたり、冗長救済回路面積およびスキャンテスト用回路の面積の増加を抑えることができる半導体集積回路および検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a rubber friction/abrasion characteristic testing method and a rubber friction/abrasion characteristic testing apparatus in which, when rolling a rubber test member on a turn table, evaluation accuracy can be improved by excluding influences of a lateral force with a circumferential speed difference within a contact area.例文帳に追加

回転台の台上でゴム試験部材を転動させる際に、接地面内の周速差に伴う横力の影響を排除して評価精度を高めることができるゴム摩擦・摩耗特性試験方法とゴム摩擦・摩耗特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.例文帳に追加

金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of conducting a smooth material test even when a pump becomes low in rotational frequency so as to conduct the material test in a low-speed area.例文帳に追加

低速度領域で材料試験を行うためにポンプの回転数が低速となった場合にも、スムースな材料試験を実行することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

The means for analyzing the occurring location on the surface 17 identifies a systematic fault area 5 on the surface of a wafer based on the result from the testing apparatus 20 and the yield calculated by the yield analyzing means 16.例文帳に追加

面内発生位置解析手段１７は、テスト装置２０の結果と歩留まり解析手段１９が算出した歩留まりからウェハ面内のシステマティック不良領域５を特定する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor chip with a small chip area and a semiconductor wafer used for manufacturing the semiconductor chip which can prevent a short circuit between probes.例文帳に追加

プローブ針同士の短絡を抑制でき、かつ小さいチップ面積を有する半導体チップと、この半導体チップの製造に用いられる半導体ウエハのテスト方法とを提供する。 - 特許庁

(3) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may, with regard to each air traffic information zone or civil training and testing area, designate in the public notice the occasion during which the restrictions under the provisions of the preceding two paragraphs are applied. 例文帳に追加

３　国土交通大臣は、航空交通情報圏又は民間訓練試験空域ごとに、前二項の規定による規制が適用される時間を告示で指定することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(ii) When aircraft flies in a civil training and testing area where it is difficult for the aircraft to contact the provider specified in the preceding Article and to listen to air traffic information due to reasons such as geographical features 例文帳に追加

二　航空機が地形上等の理由により前条に規定する機関に連絡して航空交通情報を聴取することが困難な民間訓練試験空域を飛行する場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Then, check sum calculation for a payload part is performed, and a correction value is added to an area of a testing special patter so that the calculation results is FFFF(h), and the frame pattern is output.例文帳に追加

その後、ペイロード部分についてチェックサム計算を行い、その計算結果がＦＦＦＦ（ｈ）となるように試験用特殊パターンのエリアに補正値を付加してフレームパターンを出力する。 - 特許庁

This testing device 200 which is adapted to test the concentration of an object to be analyzed in a solution has a picking-up area 210 having a first volume for housing the solution.例文帳に追加

液体中の分析対象物の濃度を試験するように適合された試験装置２００は、液体を収容するための第１の容積を有するピックアップ区域２１０を有する。 - 特許庁

An area judgment threshold k, a judgment threshold α, and a fixing time period S are set corresponding to each recording quality and a kind of each recording medium from an optimum fixing time period determined according to the testing.例文帳に追加

試験することによって定めた最適な定着時間をもとに、各記録品位および各記録媒体の種類に応じてエリア判定閾値ｋ、判定閾値αおよび定着時間Ｓを設定した。 - 特許庁

Accordingly, by only adjusting the area ratio of the high-friction ink material 13 in the geometric pattern, the carry-testing medium 10 of the desired friction coefficient can be easily manufactured at a low cost.例文帳に追加

したがって、幾何学的模様における高摩擦インク材１３の面積比率を調整するだけで、摩擦係数が所望の大きさである搬送テスト用媒体１０を簡単且つ安価に製造できる。 - 特許庁

To provide a lamp for testing weather and light resistant property capable of reducing estrangement between deterioration due to sunlight including energy of a visible area with 500 nm as a center and a result of the weather and light resistant property test, at the weather and light resistant property test of a sample.例文帳に追加

試料の耐候光性試験において５００ｎｍを中心とした可視域のエネルギーを含む太陽光による劣化と耐候光性試験の結果との乖離を低減することができること。 - 特許庁

To provide a testing pad arrangement on a semiconductor chip of a semiconductor device, which reduces a packaging area of a probe used in test by DFT in the field of LSI circuits, flush memories and the like.例文帳に追加

ＬＳＩ回路やフラッシュメモリ等の分野におけるＤＦＴによるテストに用いるプローブの実装面積を小さくすることが可能な半導体装置における半導体チップ上のテスト用パッド配置を得る。 - 特許庁

To efficiently compare analysis results of incidents in a wide area network and characteristics of respective malwares to obtain correlations between them, by creating a method for precisely testing similarity between sequence data.例文帳に追加

系列データ間の類似性を高精度に検査する手法を創出し、それによって広域ネットワークにおけるインシデントの解析結果と、各マルウェアの特性とを効率よく比較し、両者の相関を得ること。 - 特許庁

The genom DNA or mRNA originating from the mites or the fungi collected from testing samples are used as templates, and a nucleic acid probe for detection and discrimination of the mites and fungi that can be hybridized to the testing DNA area that is amplified using mite gene specific primer set and fungi gene specific primer set is used.例文帳に追加

検査対象から採取したダニ類及びカビ類由来のゲノムDNA又はmRNAを鋳型とし、ダニ遺伝子特異的プライマーセット及びカビ遺伝子特異的プライマーセットを用いて増幅された検出対象DNA領域に対してハイブリダイズ可能である、ダニ類及びカビ類の検出及び識別用核酸プローブを使用する。 - 特許庁

(2) A person who has passed the license examination which has been implemented by the designated testing institution set forth in Article 75-2 of the Act (hereinafter referred to as "the designated testing institution") and is to receive the license shall submit the license application document set forth in the preceding paragraph together with the document prescribed by Article 71-2 to the Director of the Prefectural Labour Bureau who exercises jurisdiction over the area where the office of the designated testing institution is located without delay after having passed concerned. 例文帳に追加

２　法第七十五条の二の指定試験機関（以下「指定試験機関」という。）が行う免許試験に合格した者で、免許を受けようとするものは、当該免許試験に合格した後、遅滞なく、前項の免許申請書に第七十一条の二に規定する書面を添えて当該免許試験を行つた指定試験機関の事務所の所在地を管轄する都道府県労働局長に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a method for attaching an electronic component which can prevent an occurrence of a defective board by testing whether or not an area for attaching a large-sized electronic component is normal before the large-sized electronic component is attached thereto.例文帳に追加

大型電子部品を装着する前に大型電子部品を装着する領域が正常であるか否かを検査することにより、不良基板の発生を防止できる電子部品の装着方法を提供する。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

To provide a tire durability testing method capable of effectively and precisely reproducing and evaluating the internal failure tend to occur in the pneumatic tire mounted on the vehicle running continuously in a comparatively hot area.例文帳に追加

比較的暑い地域で連続走行する車両に装着される空気入りタイヤに発生しがちな内部故障を効率的に精度良く再現評価することが可能なタイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To improve a processing performance in assembling and testing processes of a semiconductor device for a fingerprint sensor, by decreasing a mounting area of the semiconductor device, so as to reduce a manufacturing cost and enhance a mounting reliability.例文帳に追加

本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁

Visual measurement is performed with reference to a scale M previously installed near the seal edge portion, or the area where the wettability testing liquid is repelled can be calculated with the processing of the photographed image of the seal edge portion.例文帳に追加

測定においては、予めシールエッジ部近傍に設置したスケールＭを参照して目視により測定、あるいは、シールエッジ部を撮影した画像を画像処理して、濡れ性試験液をはじいた面積を算出してもよい。 - 特許庁

To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.例文帳に追加

サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁