「けっかてき」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

欠陥全長測定手段１０は欠陥位置情報及び欠陥の面積から欠陥の全長を測定する。例文帳に追加

A defect-full-length measuring means 10 measures the entire length of the defect based on the defect position information and the area of the defect. - 特許庁

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。例文帳に追加

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film. - 特許庁

欠陥の種別によらず、確実に欠陥を検出する欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for defect inspection, capable of reliably detecting defects regardless of the kind of the defects, and to provide a method of manufacturing a pattern substrate. - 特許庁

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を順次メモリ空間ブロック１０に格納していく。例文帳に追加

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10. - 特許庁

欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する（ステップ２１）。例文帳に追加

A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21). - 特許庁

検索結果処理装置、検索結果処理プログラム、検索結果処理プログラム記録媒体及び検索結果処理システム例文帳に追加

RETRIEVAL RESULT PROCESSING DEVICE, RETRIEVAL RESULT PROCESSING PROGRAM, RETRIEVAL RESULT PROCESSING PROGRAM RECORDING MEDIUM AND RETRIEVAL RESULT PROCESSING SYSTEM - 特許庁

本方法は一般に、血管から血管性または非血管性標的位置への少なくとも１つの血管外経路の形成を含む。例文帳に追加

This method generally includes formation of at least one extravascular path from a blood vessel or to a vascular or non-vascular target position. - 特許庁

スジ状欠陥を精度よく検出する欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a defect detection method, a defect detection device and a defect detection program, for detecting a stripe defect with high accuracy. - 特許庁

検索結果処理装置、検索結果処理方法、検索結果処理プログラム、記録媒体及び検索結果処理システム例文帳に追加

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR PROCESSING SEARCH RESULT, RECORDING MEDIA, AND SEARCH RESULT PROCESSING SYSTEM - 特許庁

欠陥検出器を複数有する欠陥検査装置であって、複数の欠陥検出器と、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する判別器とを備えた欠陥検査装置およびそれを用い、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する欠陥検査方法。例文帳に追加

The defect inspection method uses the defect inspection apparatus and discriminates whether the defects respectively detected by the defect detectors are the same by comparing and verifying the defect information of the inspected materials sent from defect detectors. - 特許庁

判定処理の判定結果として、最新判定結果Ｒ（ｉ）、前回判定結果Ｒ（ｉ−１）、二回前判定結果Ｒ（ｉ−２）、三回前判定結果Ｒ（ｉ−３）を記憶し、四回前の実行時における判定結果を最終的な判定結果として採用する（Ｓ４０２）。例文帳に追加

The current determination result R(i), the previous determination result R(i-1), the second previous determination result R(i-2), and the third previous determination result R(i-3) are stored as the result of determination of the determination processing, and the result of determination during the fourth-previous execution is employed as the final result of determination (S402). - 特許庁

記録テスト結果記憶手段は、記録テストを行った際の記録テスト結果を所定の記録テスト結果記憶領域に記録する。例文帳に追加

The record test result storage means records the result of the record test when carrying out the record test in a prescribed record test result storage area. - 特許庁

ステンシルマスクの欠陥を系統的にかつ定量的に解析する欠陥解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect analysis apparatus for systematically and quantitatively analyzing a defect of a stencil mask. - 特許庁

そして、全ての画素について識別結果が記憶されると、識別結果保持部４３は、全画素について識別結果を出力する。例文帳に追加

When discrimination results are stored for all the pixels, the discrimination result holding part 43 outputs the discrimination results for all the pixels. - 特許庁

検索結果は、検索結果取得部２−８に渡され、検索結果メール作成部２−９が検索結果に基づいて、PubMed検索結果と同じフォーマットで検索結果メールを作成する。例文帳に追加

The retrieval result is transferred to a retrieval result acquiring section 2-8, and a retrieval result mail preparing section 2-9 prepares a retrieval result mail in the same format as the PubMed retrieval result based on the retrieval result. - 特許庁

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。例文帳に追加

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3). - 特許庁

血管瘤形成血管内へステントを留置後、宿主血管とステントとの間隙での血栓形成が早く、血管瘤内への血液の流れ込みを防ぐとともに、ステントと宿主血管の固定性を向上させることができる血管瘤形成血管治療用器具を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for treating a blood vessel knob forming blood vessel, capable of improving fixability of a stent and a host blood vessel, by preventing flowing-in of blood to a blood vessel knob, by quickly forming a thrombus in a clearance between the host blood vessel and the stent, after detaining the stent in the blood vessel knob forming blood vessel. - 特許庁

テロップの動き判定結果は、自然画の動き判定結果より優先して出力される。例文帳に追加

The result of motion decision of the telop is outputted with priority over the motion decision result of a natural image. - 特許庁

当否判定結果記憶手段に記憶されている当否判定結果が特定の当否判定結果である場合に、所定の変更条件が成立したことに基づいて、報知手段による当否判定結果の報知よりも前に、当否判定結果記憶手段に記憶されている当否判定結果を特定の当否判定結果とは異なる当否判定結果に変更する当否判定結果変更手段を備える。例文帳に追加

The play table has a justice determination result changing device which alters to a justice determination result different from a specific justice determination result a justice determination result memorized by a justice determination result storage before the information of the justice determination result by an information tool based on the formation of a predetermined change condition when the justice determination result memorized by the justice determination result storage is the specific justice determination result. - 特許庁

そして、欠陥部位の位置情報、特徴情報、欠陥種別及び基板設計情報に基づいて欠陥部位の欠陥修正方法を生成し、生成された欠陥修正方法に基づき欠陥修正機構４を動作させて欠陥修正を行う。例文帳に追加

Accordingly, the defect correction method of the defective part is generated based on the position information, characteristic information, defect classification, and substrate design information of the defective part so as to make the defect correction by operating a defective correction mechanism 4 based on the generated defect correction method. - 特許庁

次に、欠陥信号に基づいて欠陥が検出されたとき、記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるときに、記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する。例文帳に追加

Next, when the defect is detected based on the defect signal, the signal based on the stored target value is output as the servo control signal when the defect exists at the defect position which has the specific positional relation with the stored defective position. - 特許庁

本発明は、欠陥モードに制限されず、且つ広い視野範囲で輝点欠陥を黒点欠陥化できる輝点欠陥修復方法及び当該方法を用いた液晶表示装置、輝点欠陥修復装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for repairing bright spot defects by which the bright spot defects can be made into black spot defectd over a wide viewing range regardless of a defect mode, and to provide a liquid crystal display device using the method, and a device for repairing the bright spot defect. - 特許庁

欠陥リスト登録部１３４は、欠陥領域推定部１２８によって推定された欠陥領域に含まれる記録位置を、評価が必要な要評価欠陥位置として、記憶している欠陥リストに追加登録する。例文帳に追加

The defect list recording section 134 adds and resisters the recording position included in the defect areas presumed by the defect area presumption section 128 in the stored defect list as the defect positions required to check. - 特許庁

欠陥領域推定部１２８は、欠陥判定部１２５及び欠陥位置取得部１２６によって特定された第１記録層の欠陥位置に基づいて第２記録層の欠陥領域を推定する。例文帳に追加

The defect area presumption section 128 presumes the defect positions on a second recording layer based on the defect positions on the first recording layer specified by the defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126. - 特許庁

従来の血管新生剤および抗血管新生剤と異なる作用を有し、有効な血管新生治療および抗血管新生治療を可能とする血管新生剤および抗血管新生剤を提供する。例文帳に追加

To obtain an arterialization agent and an antiarterialization agent, respectively having actions different from conventional arterialization agents and antiarterialization agents and respectively enabling effective arterialization treatment and antiarterialization treatment. - 特許庁

変形欠陥の捕捉が確実に行えるとともに、変形欠陥と異物欠陥など他の欠陥との判別が容易に行える欠陥検査方法および欠陥検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a defect inspection method capable of capturing surely a deformation defect, and discriminating easily the deformation defect and the other defect such as a foreign matter defect, and a defect inspection device. - 特許庁

放射線固体検出器を構成する素子の欠陥を判定する欠陥判定装置において、簡易且つ適正に欠陥を判定できるようにする。例文帳に追加

To easily and properly judge defects in a defect judging device to judge the defects of an element constituting a radiographic solid-state detector. - 特許庁

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inspecting defects capable of determining overlapping defects in the case that defect detection processing is performed on an object to be inspected by a plurality of defect detection means. - 特許庁

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inspecting defect capable of judging the defect detected in duplication when a defect detecting processing is performed by a plurality of defect detecting means for an object to be inspected. - 特許庁

その後、該動的レイアウトした結果を、前記部分的に破棄された静的レイアウト結果に結合させる。例文帳に追加

Thereafter, a result of the dynamic layout is combined with the partially discarded static layout result. - 特許庁

基準測定装置に対して測定結果が完全に一致しない実測測定の測定結果を、基準測定装置の測定結果と同等に補正する。例文帳に追加

To correct a measurement result of actual measurement which does not completely agree with a reference measurement device similarly to the measurement result of the reference measurement device. - 特許庁

そして、測位結果が基地局エリア内であれば測位結果を正しいと判定し、測位結果が基地局エリア外であれば測位結果を誤りであると判定することにより、測位結果の誤りを検出することができる。例文帳に追加

If the positioning result is within the base station area, the positioning result is judged to be correct, and if the positioned result is out of the base station area, the positioning result is judged to be an error so that the error of the positioning result can be detected. - 特許庁

検査画像において局所的な欠陥と全体的な欠陥が複合的に発生した場合に、欠陥の各々に対応する特徴量を抽出する。例文帳に追加

To extract feature quantities corresponding to respective local defect and overall defect when the local defects and overall defects multiply occur in an inspection image. - 特許庁

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。例文帳に追加

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region. - 特許庁

そして、判定結果を判定結果ファイル３９としてデータベース３に記録する。例文帳に追加

The determination result is recorded on the database 3 as a determination result file 39. - 特許庁

そして、採点結果集計処理部５４は、認識手段の認識結果に基づいて採点処理を行う。例文帳に追加

A scoring result tabulation processing part 54 performs scoring processing based on the recognition result of the recognition means. - 特許庁

また、複数の最適合成画像を「時間情報」、「キー操作」、「音声認識結果」、「感情推定結果」又は「画像認識結果」に基づいて切り替える。例文帳に追加

The optimal composite images are switched based on "time information", "key operation", "voice recognition result", "emotion estimation result", or "image recognition result". - 特許庁

平均的で突出していない結果としての平凡さ例文帳に追加

ordinariness as a consequence of being average and not outstanding  - 日本語WordNet

出荷時に予め記憶された画素欠陥に加えてより適切な時期に新たな画素欠陥を点検して、これらの画素欠陥を補正する。例文帳に追加

To correct pixel defects by inspecting new pixel defects at a proper time in addition to pixel defects having been stored in advance at shipment of an electronic camera. - 特許庁

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect. - 特許庁

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加

Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect. - 特許庁

認識結果呈示部１０２は音声認識部１０１から受信した認識結果に基づき修正者等に認識結果を呈示するとともに、認識結果を認識結果修正部１０３へ送信する。例文帳に追加

The recognition result presentation part 102 presents the recognition result to a corrector, etc., according to the recognition result received from the voice recognition part 101 and sends the recognition result to a recognition result correction part 103. - 特許庁

欠陥種別判定部４７は、欠陥アドレス格納部４６に格納された欠陥アドレスを比較して、縦線キズの長さが露光時間に依存するか否かを判定し、判定結果を欠陥情報記録部４８に記録する。例文帳に追加

A defect kind decision unit 47 compares the defect addresses stored in the defect address storage unit 46 to decide whether the length of the longitudinal line flaw depends upon the exposure time, and records the decision result in a defect information recording unit 48. - 特許庁

微少な欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device capable of stably detecting minute defects. - 特許庁

被検体内部の欠陥を定量的に表示することができる欠陥状態表示方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defective condition display method capable of quantitatively displaying defects inside a specimen. - 特許庁