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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 導電ピンに関連した英語例文

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導電ピンの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1416



例文

この体リング10がピン2の外周面と笠1の内面とを通させ、ピン2の食を防止する。例文帳に追加

The conductor ring 10 conductively connects the outer peripheral surface of the pin 2 and the inner surface of the conical cap 1 so as to prevent electrolytic corrosion of the pin 2. - 特許庁

利用者が指接触センサ面12aに指先を載置して性金属ピン極15に接触すると、性金属ピン極15は体である利用者の指と腕を介して裏蓋4と気的に通する。例文帳に追加

When a user puts on a finger tip on the finger contact sensor face 12a and touches the conductive metal pin electrodes 15, the conductive metal pin electrodes 15 electrically conduct with a back lid 4 via the finger and arm of the user, or conductors. - 特許庁

スプリングコンタクト1は、ピン11と、ピン11を摺動自在に収容する性チューブ16と、性チューブ16内に配置されてピン11を突出方向に押圧付勢する圧縮コイルばね21とを具備している。例文帳に追加

This spring contact 1 comprises a conductive pin 11, a conductive tube 14 slidably accommodating the conductive pin 11, and a compression coil spring 21 mounted in the conductive tube 16 and pressing and energizing the conductive pin 11 in the projecting direction. - 特許庁

前記ドーピングラインとともにダイオードを構成し、前記ドーピングラインと反対の型を有するドーピング領域が前記下部極及び前記ドーピングラインの間に介在している。例文帳に追加

A doping region constituting a diode with the doping line and having a conduction type opposite to that of the doping line intervenes between the lower electrode and the doping line. - 特許庁

例文

ピンから成る複数のピン極10の集合体をピン支持台20の貫通穴21に摺動可能に配設し、ピン支持台20に圧力が可変する圧力可変ガスチャンバ30を結合する。例文帳に追加

An aggregate of a plurality of pin electrodes 10 consisting of conductive pins is slidably arranged in a through hole 21 of a pin support 20, and a pressure-variable gas chamber 30 in which a pressure can be varied is connected to the pin support 20. - 特許庁


例文

そして、導電ピン10とヘッドピン20を接触させて通経路の一部とし、第一、第二の気接合物の極間に介在してこれらを気的に通接続する。例文帳に追加

The pin 10 and the head pin 20 are brought into contact to be part of the conductive route, which is interposed between electrodes of a first and a second electric joints to electrically conduct and connect them. - 特許庁

バックプレーン試験システムは、バックプレーンが有する複数の性のピンのうちあるピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該あるピンとの間に形成されている配線を検出し、検出した配線の両端のピンを記憶する。例文帳に追加

A backplane test system sequentially transmits signals from some pin among a plurality of electrically conductive pins of a backplane to all the other pins, detects writing formed between pins at which the signals have been received and the pin, and stores pins on both ends of detected wiring. - 特許庁

テストヘッドは、先端部1aを被検査物に接触させるための性の接触ピン1と、この接触ピン1を所定の検査手段に対して気的に接続するための性の受けピン3とを備えている。例文帳に追加

The test head has a conductive contact pin 1 for bringing a leading end part 1a into touch with an object to be inspected, and a conductive receiving pin 3 for electrically connecting the contact pin 1 to a predetermined inspecting means. - 特許庁

ピンベース21が回転することによって、磁誘により、発コイル26が力を生成する。例文帳に追加

When the spin base 21 rotates, the power generating coil 26 generates power through electromagnetic induction. - 特許庁

例文

また、熱伝性でかつ非性の放熱体8が、ピン7に接して設けられている。例文帳に追加

A heat radiating piece 8 having thermal conductivity and no electrical conductivity is installed at each pin 7 in contact therewith. - 特許庁

例文

第1透明層は、第2金属パターンをキャッピングするキャッピング層及び画素領域に形成された共通極を含む。例文帳に追加

The first transparent conductive layer includes a capping layer of capping the second metal pattern and a common electrode formed in a pixel area. - 特許庁

第1のウエハはのための1またはそれ以上のシリコンピン32を有し、シリコンピンとデバイス層を気的に接続する。例文帳に追加

The first wafer has one or more than that of silicon pins 32 for electric conductivity, and electrically connects the silicon pins and the device layer. - 特許庁

被測定ピン10aは、プリント配線基板16上の被測定体パターン上に実装され、被測定ピン10bは被測定体線15に取り付けられている。例文帳に追加

The tested current conductor pin 10a is mounted on a tested current conductor pattern on a printed-wiring assembly 16, while the tested current conductor pin 10b is attached to a tested current conductor line 15. - 特許庁

体基板と、前記半体基板上の一部に形成され、前記半体基板と反対極性にドーピングされた性ドーピング層と、前記ドーピング層上に形成された層と、前記ドーピング層の下部に形成された絶縁性ドーピング層と、を含む半体素子の配線構造体。例文帳に追加

The wiring structure of the semiconductor device comprises a semiconductor substrate, a conductive doping layer which is formed in a part on the semiconductor substrate, and is doped into the polarity opposite to that of the semiconductor substrate, a conductive layer formed on the doping layer, and an insulating doping layer formed in the lower part of the doping layer. - 特許庁

列内の4個の半体検出器1に設けられる各第1部材と配線14で接続されるシェイピングアンプ12Bは、第2部材に配線13で接続されるシェイピングアンプ12Aのシェイピングタイムよりも短いシェイピングタイムで波形整形処理を行う。例文帳に追加

A shaping amplifier 12B connected with a wiring 14 to each first conductor member provided to the 4 semiconductor detectors 1 in a row performs waveform shaping processing with a shaping time shorter than the shaping time of the shaping amplifier 12A connected with wiring 13 to the second conductor. - 特許庁

常温で強磁性体からスピン分極されたキャリアを半体に注入して得られるスピンバルブ効果から、メモリ及び論理素子への応用が可能なスピン注入素子及びスピン界効果トランジスタを提供する。例文帳に追加

To provide a spin injection element and a spin field effect transistor capable of application to a memory and a logic element based on the spin valve effect obtained by injecting carriers spin-polarized from a ferromagnetic substance at normal temperatures. - 特許庁

体101の片面に放射極102を他面に第1の接地体103を形成し、前記第1の接地体103に第2の接地体106が接合されたパッチアンテナ10において、前記誘体101は少なくとも2つのピン挿入部を有し、前記ピン挿入部のうち少なくとも一つに給ピン105を配置するとともに、他の前記ピン挿入部に前記第1の接地体103と通する接地ピン1を配置し、該接地ピン1と前記給ピン105は平行線路を成すことを特徴とする。例文帳に追加

In the patch antenna 10, the dielectric 101 has at least two pin insertion parts, a power feeding pin 105 is arranged in at least one of the pin insertion parts, a grounding conductor pin 1 conducted with the first grounding conductor 103 is arranged in the other pin insertion part, and the grounding conductor pin 1 and the power feeding pin 105 form parallel lines. - 特許庁

ベンゾジオキサジチエピン体を含有する非水解液及びリチウム二次例文帳に追加

NONAQUEOUS ELECTROLYTE CONTAINING BENZOXATHIEPIN DERIVATIVE, AND LITHIUM SECONDARY BATTERY - 特許庁

外部ピンを通じてワードライン圧を出力する半体メモリ装置及びその圧測定方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEMORY OUTPUTTING WORD LINE VOLTAGE THROUGH EXTERNAL PIN AND ITS VOLTAGE MEASURING METHOD - 特許庁

気流体力学的誘ポンピング熱エネルギー伝達システム用の極設計例文帳に追加

ELECTRODE DESIGN FOR ELECTROHYDRODYNAMIC INDUCTION PUMPING THERMAL ENERGY TRANSFER SYSTEM - 特許庁

体と接触ピンとの確実な気的接触が行われる差込みコネクタを提供する。例文帳に追加

To provide a plug-in connector with electric contact reliably carried out between an electric conductor and a contact pin. - 特許庁

挿入実装型のピン極の接続に適する異方性シートを提供する。例文帳に追加

To provide an anisotropic conductive sheet suited for connection of insertion-mounting pin electrodes, a well as a connection method and an inspection method using such an anisotropic conductive sheet. - 特許庁

構造50は、可撓性部材44a、44bと、保持ピン46a、46bとを備える。例文帳に追加

The destaticization structure 50 is provided with flexible conductive members 44a and 44b, holding pins 46a and 46b. - 特許庁

その後、導電ピン23の先端に子部品15が実装される。例文帳に追加

The electrically-conductive pin is inserted into the through-hole 21 before the electronic component 15 is mounted on the tip end of the electrically-conductive pin 23. - 特許庁

アドレス設定した後には、ピン7を引き抜き、他の子機器を接続する。例文帳に追加

After setting an address, the conductive pin 7 is pulled out, and another electronic apparatus is connected. - 特許庁

チップサイズやピン数を増やさずに静気放を防止できる半体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device which can prevent an electrostatic discharge without increasing a size of chip and the number of pins. - 特許庁

これにより内包フラーレン薄膜ではスピンコヒーレンス長が長くなり、スピン偏極した伝子の散乱がなくなる。例文帳に追加

Consequently, the spin coherence length of the included thin fullerene film becomes longer and the scattering of spin-polarized conductive electrons disappears. - 特許庁

バッファ層に酸素をドーピングしてピンチオフ時のリーク流を低減するIII −V族化合物半体の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a III-V compound semiconductor which dopes oxygen into a buffer layer to reduce leakage current in pinch- off. - 特許庁

基板53の一面側において、バルブ31の一端部33aから出されている極のワイヤ35aをラッピンピン57aに接続する。例文帳に追加

On one surface side of the substrate 53, the electrode wire 35a led out of one end 33a of the bulb 31 is connected to the lapping pin 57a. - 特許庁

ポゴピン5のICデバイス側ピン5b上に、フローティングボード15に支持されて性接続端子13が配置されている。例文帳に追加

Conductive connecting terminals 13 supported by a floating board 15 are arranged on the IC-device-side pins 5b of the pogo pins 5. - 特許庁

基板53の他面側において、バルブ31の他端部33bから出されている極のワイヤ35bをラッピンピン57bに接続する。例文帳に追加

On the other surface side of the substrate 53, the electrode wire 35b led out of the other end 33b of the bulb 31 is connected to the lapping pin 57b. - 特許庁

該MEMS接続ピンは、該層に直接接触しているフレーム38に付着されたピンベース58を有する。例文帳に追加

The MEMS interconnection pin has a pin base 58 attached to a frame 38 that has direct contact to the conductive layer. - 特許庁

性の受けピン14を接触ピン10の基端側の小径部10aに軸方向に摺動自在に嵌装する。例文帳に追加

A conductive receiving pin 14 is fitted to the base end-side minor diameter part 10a of the contact pin 10 in such a manner as to be axially slidable. - 特許庁

性のピンを誤って排気孔56に挿入した場合でも、シート55でピンと放熱板51を確実に絶縁できる。例文帳に追加

Even if a conductive pin is mistakenly inserted into the vent 56, the pin and the heat sink 51 can be unerringly insulated by the sheet 55. - 特許庁

端子ボックス24はランプピン18を保持するランプピン保持部29aが設けられた板を有する。例文帳に追加

The terminal box 24 has a conductive plate on which lamp pin holding portions 29a to hold lamp pins 18 are provided. - 特許庁

又、支持用ピン2は、性を有する同じ高さの弾性材料からなる複数の支持用ピン2とすることが好ましい。例文帳に追加

Further, it is desirable to form the multiple support pins 2 by a conductive elastic material so as to have the same length. - 特許庁

下段ソケット4の信号ピン6と接続ピン用ホール5は、それぞれ対応しており気的通を持つ。例文帳に追加

The signal pin 6 of the lower stage socket 4 and the connecting pin hole 5 are faced to each other and have electrical conduction. - 特許庁

逆スピン注入部Rを介して、ソースSから注入された子es1のスピンとは逆向きのスピン子es2を半体SM内に注入すると、この逆向きスピンは、半体SMとドレインDとの間のトンネル障壁によってドレインD内へは流れない。例文帳に追加

When electrons es2 of direction opposite to the spin of electron es1 implanted from a source S are implanted into a semiconductor SM through a reverse spin implanting section R, the reverse spin never flows into a drain D by a tunnel barrier between the semiconductor SM and the drain D. - 特許庁

子基板31の内側に位置する内側接点端子33と接触する第2のコネクタピン4に対して、補助接点体としての第3のコネクタピン13を設け、これら第2のコネクタピン4と第3のコネクタピン13とを連結体5によって気的に接続した。例文帳に追加

With respect to a second connector pin 4 in contact with an inside contact terminal 33 positioned inside the electronic substrate 31, a third connector pin 13 as an auxiliary contact conductor is provided, and these second connector pin 4 and third connector pin 13 are electrically connected by a coupling conductor 5. - 特許庁

グラウンド位の位をポゴピンブロック単位にて同位にでき、且つ、ポゴピンブロック単位で周囲部品との絶縁が実施できる半体テスタのポゴピンブロックを実現する。例文帳に追加

To achieve a pogo pin block of a semiconductor tester for equalizing a ground potential, and insulating peripheral components by each unit of the pogo pin block. - 特許庁

ピン5とピン7は斜面5a及び斜面5bで直接接触しているので、半体装置の極は、ピン5,7を介して、最短距離で試験基板9の極11と気的に接続される。例文帳に追加

As the pin 5 and the pin 7 directly contact at the slopes 5a and 5b, the electrodes of the semiconductor device electrically contact the electrode 11 of the testing substrate 9 at a shortest distance. - 特許庁

ユニット101は、銅ブロック、パターン付絶縁基板、IGBTチップ、ダイオードチップ、コレクタ端子ピン15、インプラントピンが固着したプリント基板、エミッタ端子ピン19、制御端子ピン20、コレクタ端子ピン15および、これらを封止する樹脂ケースとから構成される。例文帳に追加

The unit 101 consists of: copper blocks; an insulating substrate with a conductive pattern; an IGBT chip; a diode chip; a printed board to which implant pins are stuck; an emitter terminal pin 19; a control terminal pin 20; a collector terminal pin 15; and a resin case which seals them. - 特許庁

ピン蓄積効果による出力圧は、非磁性体1と第三の磁性体6の位差として検出される。例文帳に追加

An output voltage due to a spin accumulation effect is detected as a potential difference between the non-magnetic conductor 1 and the third magnetic conductor 6. - 特許庁

体ウェーハに接触させるそろばん珠形状のテストピン1と、テストピン1を回転自在に支持するとともに、テストピン1と気的接続をとるためのリードピンアーム2と、リードピンアーム2を回動自在に支持するフレーム3およびバネ4と、リードピンアーム2とテスター装置との気的接続をとるためのリード線5と、からなる半体用プローブ10。例文帳に追加

The probe 10 for a semiconductor device comprises a double- conical test pin 1 to contact a semiconductor wafer, a lead pin arm 2 for rotatably supporting the test pin 1 and electrically connecting to the test pin 1, a frame 3 for turnably supporting the lead pin arm 2 with a spring 4 and a lead wire 5 for electrically connecting the lead pin arm 2 to a tester. - 特許庁

体層5を設けた基板上に、マザーボードとの気的接続を得るための性接続ピン100が固定されてなるパッケージ基板310に性接続ピンを固定するためのパッド16を形成する。例文帳に追加

A conductor layer 5 is formed on a board, and pads 16 are formed for fixing conductive connection pins 100 to a package board 310, where fixing conductive connection pins 100 are fixed for being electrically connected to a mother board. - 特許庁

気アダプターは基部10を備えており、これは、嵌合ソケットの孔部に差し込むために一面側から突出する導電ピン11, 12と、他面側上には各導電ピン気的に接続される気端子17を有する。例文帳に追加

This electrical adapter is provided with a base part 10, and it has conducting pins 11, 12 protruding from its one face side for insertion into the aperture of a mating socket, and an electric terminal 17 electrically connected to each of the conducting pins on the other face side. - 特許庁

キャップと導電ピン通を安定させて低抵抗化を図ることができ、しかも、気接合物の体部が小さい場合や複数列に配列されている場合でも、体部に対する導電ピンの接触を安定させ得る圧接挟持型コネクタ及びその接続構造を提供する。例文帳に追加

To provide a pressure-welded pinching connector and its connection structure in which a resistance is lowered by stabilizing conduction between a conductive cap and a conductive pin, and furthermore, a contact of the conductive pin with a conductor is stabilized even if a conductor of an electric connecting object is small or the objects are arranged in a plurality of rows. - 特許庁

ハウジング1に並設される貫通孔4と、各貫通孔4に挿入されてハウジング1下面から露出するトーピン9と、各トーピン9内に嵌入されてハウジング1上面からスライド可能に突出するヘッドピン11とを備える。例文帳に追加

Penetrating holes 4 fitted in parallel with a housing 1, conductive toe-pins 9 exposed from the bottom face of the housing 1 inserted into each penetrating hole 4, and conductive head-pins 11 inserted into each conductive toe-pin 9 and protruding from the top face of the housing 1 in free sliding are provided. - 特許庁

第1の開口は、スピンドルの周りでの回転を許すように、また、ハブがスピンドルの周りで回転する際に、開口の近くに性流体によって形成されたメニスカスがスピンドルに気的に接触するのを許すように構成されている。例文帳に追加

The first opening is structured to allow rotation around the spindle and allow a meniscus formed near the opening by the conductive fluid to electrically contact the spindle. - 特許庁

例文

リードピンの軸部に半田の付着がなく、リードピンを外部気回路基板の配線体にソケットや半田を介して良好に接続することが可能なピン付き配線基板および子装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a wiring board with a pin and an electronic device where the lead pin can be well connected to a wiring conductor of an external electric circuit board via a socket or solder without the adhesion of solder to an axis part of the lead pin. - 特許庁

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