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Defectsを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 10273



例文

To provide a biaxially oriented film having excellent appearance because of slight coating defects by lowering a film temperature when applying a coating liquid to a film.例文帳に追加

フィルムに塗液を塗布するフィルム温度を下げることで、塗布欠点の数を少ない優れた外観をもつ二軸延伸フィルムを提供する。 - 特許庁

To enable detection/registration of acquired defects of detection while avoiding destruction of initial defect data in a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの初期欠陥データが破壊される危険を回避しつつ、後発性の検出欠陥についても検出・登録できるようにする。 - 特許庁

To prepare an NC program for preventing machining defects by calculating heat density accumulated in a base material based on the nesting data in the laser beam machining.例文帳に追加

レーザ加工において、素材に蓄積される熱密度をネスティングデータに基いて算出し、加工不良を防止するNCプログラムを作成する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display panel whose alignment defects are reduced by efficiently making bend alignment or π-twist alignment from spray alignment.例文帳に追加

スプレイ配向からベンド配向またはπツイスト配向を効率よく発生させ、配向欠陥を低減する液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method and device for inspection of a honeycomb structure capable of easily detecting defects of the partition wall in the honeycomb structure before sealing.例文帳に追加

封口前のハニカム構造体の隔壁の欠陥を容易に検出できるハニカム構造体の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁


例文

To restrain the occurrence of welding defects such as incomplete penetration and slag inclusion by achieving uniform weld penetration over the whole length of a pipe.例文帳に追加

パイプ全長にわたって均一な溶け込み状態とすることで、溶込不良やスラグ巻き込み等の溶接欠陥が発生するのを抑制する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor substrate having an SOI(silicon-on-insulator) layer with few crystal defects, small thickness, and small dispersion in thickness.例文帳に追加

結晶欠陥が少なく、厚さが薄く、しかも厚さばらつきの小さいSOI層を有する半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

A gas burner 22 is provided above the furnace 5, and stains or defects on the surface of the rod material 2 are eliminated by blowing flame 21 onto the rod material immediately after drawing.例文帳に追加

炉5の上方にガスバーナー22を設置して、延伸直後の棒材2を火炎21を吹き付けて、棒材2表面の汚れや傷を除く。 - 特許庁

To provide a semiconductor device monitor structure which can detect localized defects due to floating-body effects, particularly on SOI device wafers.例文帳に追加

特にSOIデバイス・ウエハ上の、浮動体効果による局在欠陥を検出することができる半導体デバイス・モニタ構造を提供する。 - 特許庁

例文

This invention is related to a method for manufacturing a surface protective film having a surface with high gloss and free from defects for at least one of surfaces thereof.例文帳に追加

本発明は、少なくとも一つの面に高光沢で欠陥箇所のない表面を有する表面保護フィルムの製造方法に関する。 - 特許庁

例文

To provide a positively chargeable monolayer organic photoreceptor having a long service life and high sensitivity and less liable to cause image defects.例文帳に追加

正帯電単層型感光体において、寿命が長く、高感度で、画像欠陥の少ない正帯電単層型有機感光体を提供する。 - 特許庁

To provide a vinylpyrrolidone based resin composition which has improved defects such as surface tack and dimension stability, and a molded product using the same.例文帳に追加

表面のタックや寸法安定性等の欠点を改良したビニルピロリドン系樹脂組成物、およびこれを用いた成形体を提供する。 - 特許庁

The stoichiometric ratio of silicon/oxygen during a preform manufacturing step (42) is improved to decrease the Si defects formed in the optical fiber preform.例文帳に追加

プリフォーム製造ステップ(42)の間の、ケイ素/酸素の化学量論比を改善して、光ファイバ・プリフォーム中に生成するSi欠陥を減少させる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method, which various thin chip scale semiconductor packages can be mass-produced without defects of on the surface and at low cost.例文帳に追加

各種の薄型の半導体チップスケール・パッケージを、表面の欠陥がなく、低コストで、大量生産できる装置と方法を提供する。 - 特許庁

To provide sapphire substrates and substrates for semiconductor light emitting devices which can form the substrates for semiconductor light emitting devices with few crystal defects.例文帳に追加

結晶欠陥の少ない半導体発光素子用基板を形成できるサファイヤ基板及び半導体発光素子用基板を提供すること。 - 特許庁

To provide a radiation sensitive resin composition which suppresses occurrence of development defects, so that the yield of semiconductor devices can be improved.例文帳に追加

現像欠陥の発生を抑制し、半導体デバイスの歩留まりを向上させることができる感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein the precision for the size and the height of a defect cannot be improved with conventional techniques that determine irregular defects by means of lens effect.例文帳に追加

レンズ効果により凹凸欠陥の判定をする従来技術では、欠陥の正確な大きさ、高さに関しての精度向上が図れない。 - 特許庁

Image quality defects of noticeable chromatic variation in adjacent print patches of bi-directional printing are eliminated and reduced ink consumption is observed.例文帳に追加

二方向印刷の隣接印刷パッチ中の顕著な色変動の像品質欠陥が除かれそして減少したインキ消費量が観察される。 - 特許庁

To reduce crystal defects that are introduced into a source formation region in a semiconductor device for forming a sidewall using a TEOS film.例文帳に追加

TEOS膜を用いてサイドウォールを形成する半導体装置において、ソース形成領域に導入される結晶欠陥を低減する。 - 特許庁

To prevent image defects due to refilling obstacles because bubbles piles up in an individual filter in a chip zigzag joining head.例文帳に追加

チップ千鳥繋ぎヘッドにおいては、個別フィルター内に気泡が溜まることにより、リフィル障害を起こし、画像欠陥が生じたが、これを防止する。 - 特許庁

To provide an easily adhesive film for an optical use, having high transparency and excellent easy adhesiveness and hardly causing optical fault caused by fine defects.例文帳に追加

高透明で、優れた易接着性を有し、かつ微小なキズによる光学欠点の少ない光学用易接着フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for synthesizing a diamond free from defects, especially a diamond having surely improved n-type semiconductor characteristics by a CVD process.例文帳に追加

CVD法による欠陥のないダイヤモンド、とりわけ、n型半導体特性の確実に向上したダイヤモンドの合成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can save column blocks even when there are defects in two adjacent column blocks.例文帳に追加

2個の隣接する列ブロックのいずれにも欠陥がある場合でも、これらの列ブロックの救済が可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The produced nanowire is a high-purity and high-quality noble metal nanowire in a perfect single crystal state free from defects and impurities.例文帳に追加

製造されたナノワイヤは、欠陥や不純物を包含しない完璧な単結晶状態の高純度かつ高品質の貴金属ナノワイヤである。 - 特許庁

To provide a droplet spray apparatus in which the deposition of a liquid component and the occurrence of discharge defects due to bubbles in the liquid are prevented.例文帳に追加

液体成分の沈殿及び液体内の気泡による吐出不良の発生を防止することができる液滴噴射装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process for growing a single crystal silicon ingot which contains an axially symmetric region which is substantially free of agglomerated intrinsic point defects.例文帳に追加

凝集真性点欠陥を実質的に含まない軸対称領域を有する単結晶シリコンインゴットを成長させる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface-treated aluminum material for vacuum equipment, which has few defects in a film and excellent vacuum properties and corrosion resistance.例文帳に追加

皮膜の欠陥が少なくて、真空特性および耐食性に優れた真空機器用表面処理アルミニウム材を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a surface-treated aluminum material for vacuum equipment, which has few defects in a film and excellent vacuum properties and corrosion resistance.例文帳に追加

皮膜の欠陥が少なくて、真空特性及び耐食性に優れた真空機器用表面処理アルミニウム材を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device whose reliability is improved, while suppressing defects in wiring burying and rise in wiring resistance.例文帳に追加

配線の埋め込み不良及び配線抵抗の上昇を抑えると共に、信頼性を向上した半導体装置を実現できるようにする。 - 特許庁

The plural marking devices 12 to mark different colors are arranged, a color of marking is changed corresponding to a kind of defects detected.例文帳に追加

マーキング装置として、異なった色をマーキングするものを複数設け、検出された欠陥の種別に応じてマーキングの色を変えるようにする。 - 特許庁

To provide a paper feeder and an image forming device capable of hardly generating conveying defects of a recording medium with a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で記録媒体の搬送不良を生じにくくすることができる給紙装置及び画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁

To easily and surely adjust the amount of charge capture and prevent defects such as corruption of information and to store desired multi-valued information.例文帳に追加

電荷捕獲量の調節を容易且つ確実に行い、情報ばけ等の不都合の発生を防止して所望の多値情報を記憶する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To prevent over-discharge and over-charge, and to accurately determine defects such as a deterioration and an internal short circuit.例文帳に追加

本発明は、過放電、過充電を防止すること、さらに、劣化、内部短絡を含めた異常を精度良く判定することを目的としている。 - 特許庁

To provide an inspection method which can easily, rapidly, and non-destructively inspect defects and measure a film thickness in a nanoimprint molding laminate.例文帳に追加

ナノインプリント成型積層体の欠陥検査や膜厚測定を簡便かつ迅速に、非破壊で行うことが可能な検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a rolling mill which rolls a slab of high quality in excellent productivity while inhibiting defects caused by contact to a conveying roll.例文帳に追加

搬送ロールとの接触に伴う疵の発生を防止しながら、良好な品質の鋳片を生産性よく圧延可能な圧延機を提供する。 - 特許庁

Then, a defect correction part for executing correction of the defects is controlled by using the defect correction method where the size and the application sequence have been optimized.例文帳に追加

そして、サイズと適用順が最適化された欠陥修正手法を利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁

To suppress the generation of image defects even in the case where conveyance speed of a transfer material is different between a front end side and a rear end side of the transfer material.例文帳に追加

転写材の搬送速度に転写材の前端部側と後端部側とで速度差を設けても、画像欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a display member free of volume-shrinkage originated defects, such as cracks and deformation, and curable at low temperature, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

体積収縮による亀裂や変形などの欠陥がなく、かつ低温で硬化可能なディスプレイ部材とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an electrochemical display element having reduced point defects due to air bubbles, and to provide an electrochemical display element.例文帳に追加

気泡による点欠陥が低減された電気化学表示素子の製造方法、及び電気化学表示素子を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve defects such as bumps, chipping, cracks and rippling of a bottle neck top surface, which appear around a guide ring at a glass bottle neck and a parting line of neck molds.例文帳に追加

ガラスびん口部のガイドリングと口型のパーティングライン付近に生じる段差、口欠け、ビリ及び口部天面の天波の欠点を改善する。 - 特許庁

To achieve protection control against an abnormal operation caused by impedance defects of a power supply system connected with an input end of a discharge lamp lighting device.例文帳に追加

放電灯点灯装置の入力端に接続される電源系統のインピーダンス異常による異常動作に対する保護制御を実現する。 - 特許庁

To provide a method for inspection of an object to be inspected (hereinafter, a workpiece), capable of correctly and efficiently inspecting defects in the workpiece.例文帳に追加

本発明は、被検査物の欠陥を確度よく能率的に検査可能な被検査物の検査方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a semiconductor light emitting device capable of preventing generation of crystal defects in an active layer and a mirror layer and reducing element capacitance.例文帳に追加

活性層及びミラー層に結晶欠陥が生じるのを抑制しつつ、素子容量を低減させ得る半導体発光素子を提供する。 - 特許庁

To provide a surface-treated aluminum material for vacuum equipment, which has few film defects and is superior in vacuum properties and corrosion resistance.例文帳に追加

皮膜欠陥が少なく、真空特性および耐食性に優れた真空機器向け表面処理アルミニウム材を提供することを目的とする。 - 特許庁

In addition, the cutting positions can be determined using simple processes such as counting the number of defects at the plurality of points in the width direction A2.例文帳に追加

また、幅方向A2の複数ポイントにおいて欠点を計数するといった簡単な処理を用いて切断位置を決定することができる。 - 特許庁

To provide an overvoltage protection component that has high overvoltage protection effects, as well as, suppresses short-circuit defects.例文帳に追加

本発明は、過電圧保護効果が高く、かつショート不良を抑制することができる過電圧保護部品を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ19やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム21が表示されている。 - 特許庁

To provide glass having no defects characteristic of the conventional glass, having excellent transmissibility and a high refractive index in which variation is reduced, and also having low specific gravity.例文帳に追加

従来ガラスのもつ欠点がなく、優れた透過性とバラツキの少ない高屈折率をもち、かつ低比重であるガラスを提供する。 - 特許庁

例文

This protects the unnecessary part 22 from breaking down before the completion of cutting and prevents defects such as chipping of the package 23 from occurring.例文帳に追加

したがって、切断完了前に不要部分22が折損して落下することがないので、パッケージ23のチッピング等の不良が防止される。 - 特許庁




  
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