「Probe Block」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Facing the terminal 38a of the inspection object side connector 38 inserted into the guide hole 26b, the probe 54 is arranged on the pin-block 24 in an axial direction of the moving direction of the floating guide 26.例文帳に追加

ガイド孔２６ｂに嵌合挿入された被検査側コネクタ３８の端子３８ａに臨んで、ピンブロック２４にフローティングガイド２６の接近分離方向を軸方向としてプローブ５４を配設する。 - 特許庁

After joining through assembly by activating each join interface of each contact probe 10 and each electrode pad 22, the metallic material is melted of the block unit 30 fixing the contact probes 10.例文帳に追加

各コンタクトプローブ１０及び各電極パッド２２の各接合界面を活性化させて会合させることにより接合した後、コンタクトプローブ１０を固定しているブロック体３０の金属材料を溶融させる。 - 特許庁

When the block 41 is moved substantially parallel to the axis of the arm 20 by turning motion of an eccentric pin 42, the coil springs 30 are extended or compressed and the change in spring force adjusts a measuring force of a probe 22.例文帳に追加

ブロック４１を偏心ピン４２の回動によってアーム２０の軸と略平行な方向に移動させると、コイルばね３０が伸縮し、ばね力の変化によって触針２２の測定力を調整する。 - 特許庁

A wiring board 28 is fixed to the pin block 24, the other end of the probe 54 is resiliently contacted to the wiring board 28, and a wiring cable 66 for electrically connecting to a measuring instrument is arranged.例文帳に追加

ピンブロック２４に配線基板２８を固定し、この配線基板２８にプローブ５４の他端が弾接するようにするとともに測定器に電気的接続させるための配線ケーブル６６を配設する。 - 特許庁

The compound semiconductor bare chip 12 is mounted in a module case main body 31, a waveguide coupling probe 18 is provided with its end connected to an input and output part of the compound semiconductor bare chip 12, and the other end of the waveguide coupling probe 18 is connected to a waveguide block 21 with an airtight window as the waveguide.例文帳に追加

モジュールケース本体３１の内部に化合物半導体ベアチップ１２を実装し、この化合物半導体ベアチップ１２の入出力部に一端が接続された導波管カップリングプローブ１８を設け、この導波管カップリングプローブ１８の他端を気密窓付導波管ブロック２１に導波管結合する。 - 特許庁

In a lead wire insertion hole of aluminum block 2, a lead wire of a high frequency circuit unit U is inserted and an operation lever 10 is turned, and then probe pin holding stages 3 and 5 are driven, the probe pins in the left and right are respectively inserted in the insertion holes and pushed to the side of the lead wires inside as a reciprocal mechanism is provided.例文帳に追加

アルミブロック２のリード線挿入孔に、高周波回路ユニットＵのリード線を挿入して、操作レバー１０を回動させると、プローブピン保持台３，５が駆動されて、左右のプローブピンがそれぞれの挿入孔に挿入され、内部でそれぞれリード線の側部に押し当てられるように進退機構が設けられている。 - 特許庁

To preclude a worker, tools and the like from contacting directly with a superconductive magnet and a vibration isolating block under work for replacement of an observation probe, tuning of the observation probe and the like, and to prevent mechanical vibration generated in the worker, the tools and the like from being appeared as a noise on a nuclear magnetic resonance spectrum.例文帳に追加

観測プローブの交換や、観測プローブのチューニングなどの作業中、作業者や道具類などが、超伝導磁石や防振台に直接接触することがなく、作業者や道具などから発生する機械的振動が核磁気共鳴スペクトル上のノイズとなって現れることのない核磁気共鳴装置を提供する。 - 特許庁

Characteristic variation due to the SRS is observed by a probe light monitor and a total light monitor, and a compensating light block which is so designed as to cause a gain profile to have predetermined variation is brought under feedback control.例文帳に追加

プローブ光モニタとトータル光モニタをもってＳＲＳによる特性変化を観測し、利得プロファイルがあらかじめ定められた変化を生じ得るよう設計された補償光ブロックをフィードバック制御する。 - 特許庁

The inspection signal selectively applying means includes: a simple lighting inspection signal generator; an ordinary lighting inspection signal generator; and a switching means for selectively connecting the generators to the probe block assembly.例文帳に追加

前記検査信号選択印加手段は、簡易点灯検査信号発生器と、通常点灯検査信号発生器と、これらを前記プローブブロック組立体に選択的に接続させる切替手段とを備えて構成した。 - 特許庁

The probe assembly includes a contactor group in at least two rows disposed on a position matching to the terminal group; FPC for supporting the contactor group; a tension block on which the FPC is mounted; and an elastomer provided between the tension block and the FPC, for supporting the contactor group elastically.例文帳に追加

前記プローブ組立体は、前記端子群に整合する位置に配設された少なくとも２列の接触子群と、当該接触子群を支持するＦＰＣと、当該ＦＰＣが取り付けられるテンションブロックと、当該テンションブロックと前記ＦＰＣとの間に設けられ前記接触子群を弾性的に支持する弾性体とを備えた。 - 特許庁

Since the liquid supplying tube 22 is moved so as to change the spiral interval along the circumferential surface of a guide sheath 21, the liquid supplying tube 22 is arranged within the probe unit 1a without bending, and the channel block 27 is also arranged within the fixing block 29 to arrange a liquid supplying connector 17 in a prescribed position.例文帳に追加

このとき、送液チューブ２２は、案内用シース２１の外周面に沿って螺旋間隔を変化させるように移動するので送液チューブ２２に折れが発生することなくプローブユニット１ａ内に配置されるとともに、固定用ブロック２９内にチャンネルブロック２７が配置されて送液口金１７が所定位置に配置される。 - 特許庁

To provide an ultrasonic endoscope which can block a rise in the surface temperature of an ultrasonic probe even when a lighting means and an image pickup means are supplied with a sufficient energy by enabling a restriction in the conduction of heat to the ultrasonic probe from a heat source for the lighting means, the image pickup means and the like within a flexible tube of an inserting part.例文帳に追加

挿入部可撓管内の照明手段や撮像手段等の熱源から超音波プローブへの熱伝導を抑制することができ、照明手段や撮像手段に十分なエネルギーを供給した場合でも、超音波プローブの表面温度の上昇を抑制することができる超音波内視鏡を提供すること。 - 特許庁

A probe 15 constituting a part of the safety device includes: a slide part 15a superposed on the top face of the lower block 11; a nose 16 provided at the tip thereof; and a transverse bent part 15b formed on one side slide part 15a by bending.例文帳に追加

安全装置の一部を構成するプローブ１５は、下ブロック１１の上面に重なったスライド部１５ａと、その先端に設けたノーズ１６と、片側のスライド部１５ａに折り曲げ形成した横向き折り曲げ部１５ｂとを備えている。 - 特許庁

To provide a firm sticking fixing procedure between a sample substrate and a block-shaped sample capable of enduring sufficiently a strong electrostatic attractive force at an AP analysis time, in a preparation method of the sample for atom probe analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、アトムプローブ分析用試料の作製方法において、ＡＰ分析時の強い静電引力に十分耐えることができる試料基板とブロック状試料との強固な接着固定手法を提示することにある。 - 特許庁

To laminate a wafer electrode and a contact by facilitating alignment of the wafer electrode and a contact probe stably over a long term even in a production process employing a large number of inspection boards and a large number of alignment devices when inspection of wafers is conducted in a block.例文帳に追加

ウエハ一括での検査を行う場合に、多数の検査ボード、多数のアライメント装置を用いる生産工程であっても、長期的に安定してウエハ電極とコンタクトプローブの位置合わせを容易に行いコンタクトと貼り合わせることを目的とする。 - 特許庁

Then, when the inspection tool 12 is assembled to the probe block 23 in an appropriate state, the wiring 36 for confirming the side of the fixation section, or the like, the wiring 15 for confirming the side of the inspection tool, or the like, and the wire 18 for connection, or the like can be connected electrically.例文帳に追加

そして、プローブブロック２３に検査治具１２を適正状態で組み付けたときに、固定部側確認用配線３６等、検査治具側確認用配線１５等および接続用配線１８等が電気的に接続されるようにした。 - 特許庁

An insertion hole 21 is provided in a portion corresponding to each of the electrode terminals of the IC in a metal block 2, and a contact probe 1 is provided in the hole 21 to project projection length variable plungers 11, 12 from both ends.例文帳に追加

金属ブロック２のＩＣの各電極端子に対応する部分に、挿入孔２１が設けられ、その挿入孔２１内に、突出長を可変できるプランジャ１１、１２が両端から突出するようにコンタクトプローブ１が設けられている。 - 特許庁

To provide a technique capable of transferring surely a TEM sample to a fixing block by a probe of a manipulator, while observation-confirming a cut-separated condition by an SIM image, in a method for cutting out and preparing the TEM sample from a sample main body by an FIB device.例文帳に追加

試料本体からＴＥＭ試料をＦＩＢ装置によって切り出して作成する方法において、切り離し状態をＳＩＭ像で観察確認しながら、マニピュレータのプローブによって確実に固定台まで移送できる手法を提示する。 - 特許庁

Then, the lead L is pressed against the solar battery cell P with a probe pin 43, and the other half of the lead L extending from a preceding solar battery cell P conveyed to the front position of the welding work position is pressed with a lead receiving plate 72 passing through the heat control block 61.例文帳に追加

次いで、太陽電池セルＰにリードＬをプローブピン４３で押圧するとともに、溶着作業位置の前方位置に搬送された先行する太陽電池セルＰから延出されたリードＬの他半部を、ヒートコントロールブロック６１を通るリード受けプレート７２で押圧する。 - 特許庁

The solenoid type probe coil is constituted of a superconductive thin film coil substrate formed with a superconductive thin film coil provided by working a superconductive thin film, and a superconductive thin film wiring substrate formed with a support side plate orthogonal thereto and a superconductive thin film wire, by a building block system.例文帳に追加

超電導薄膜を加工した超電導薄膜コイルを形成した超電導薄膜コイル基板と、これと直交する支持側板および超電導薄膜配線を形成した超電導配線基板とで、ビルディングブロック式にソレノイド型プローブコイルを構成する。 - 特許庁

After cylinder sleeves 30a-30c are inserted in communication hole parts 18 of a block body 10, outer circumferential wall parts of the cylinder sleeves 30a-30c and inner circumferential wall parts of the communication hole parts 18 are integrally joined with each other by a probe 56 of a friction stirring and joining tool 50.例文帳に追加

ブロック本体１０の連通穴部１８にシリンダスリーブ３０ａ〜３０ｃを挿入した後、摩擦撹拌接合用工具５０のプローブ５６によって、該シリンダスリーブ３０ａ〜３０ｃの外周壁部と連通穴部１８の内周壁部とを接合一体化する。 - 特許庁

Then the lead L is pressed through a probe pin 43 against the solar battery cell P, and further the other half of the lead L extended from the preceding solar battery cell P transported to the front position of the welding work position is pressed through a lead-receiving plate 72 passing through the heat control block 61.例文帳に追加

次いで、太陽電池セルＰにリードＬをプローブピン４３を介して押圧するとともに、溶着作業位置の前方位置に搬送された先行する太陽電池セルＰから延出されたリードＬの他半部を、ヒートコントロールブロック６１を通るリード受けプレート７２を介して押圧する。 - 特許庁

To provide an inspection unit of a device for high frequency and high speed that prevents the invasion of noise from the outside similarly to a metal block, performs high-frequency impedance matching, and can inexpensively manufacture a probe for an PF signal in a coaxial structure also with the electrode terminal of a narrow pitch.例文帳に追加

金属ブロックと同様に外部からのノイズの侵入を阻止し、高周波インピーダンス整合を図ると共に、ＲＦ信号用プローブを狭ピッチの電極端子に対しても同軸構造で、安価に製造し得る高周波・高速用デバイスの検査ユニットを提供する。 - 特許庁

A wafer fixing means 34 which fixes a wafer, while placing it on the platform is provided on the platform, and a probe 39 which is displaceable in the second direction opposite to the linear track is fitted to the base at a second interval M with the block in the first direction.例文帳に追加

ウェーハをプラットフォームに載せた状態で固定するウェーハ固定手段３４をプラットフォームに設け、直線軌道に対向し第２方向に変位可能な測定子３９ａを有する測定具３９を第１方向にブロックと第２間隔Ｍをあけてベースに取付ける。 - 特許庁

Positions of through-holes 26A, 26B, 26C, 26D of the contact block 26 are conformed with positioning marks 24MA, 24MB, 24MC, 24MD of the pitch conversion substrate 24, when assembling, to position the relative position of the probe pin 28ai with respect to an electrode group 24E of the pitch conversion substrate 24.例文帳に追加

組み立てのとき、コンタクトブロック２６の貫通孔２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃ，２６Ｄの位置をピッチ変換基板２４の位置決め用マーク２４ＭＡ、２４ＭＢ，２４ＭＣ、２４ＭＤに、一致させることにより、プローブピン２８ａｉのピッチ変換基板２４の電極群２４Ｅに対する相対位置を位置決めするもの。 - 特許庁

In this actual measurement, first ultrasonic measurement is performed to an identical part in two states of presence/absence of pressure of an ultrasonic probe to obtain two ultrasonic tomographic images, and displacement by pressure by a pixel unit or by a block unit having a prescribed number of pixels (M×M) of the two ultrasonic tomographic images is obtained.例文帳に追加

この実測では、先ず超音波深触子の押圧の有無の２つの状態で、同一部位から超音波計測を行い２つの超音波断層像を得、この２つの超音波断層像相互の画素単位又は所定の画素数（Ｍ×Ｍ）ブロック単位の押圧による変位を求める。 - 特許庁

To provide a flaw detector capable of enhancing stability of flaw detection performance, and detectability of a defect, by providing a holding mechanism for a probe excellent in close contactness and followability onto an inspected object, even in a complicated shape or a narrow portion such as a welded part of a lower instrumentation pipe block in a nuclear reactor.例文帳に追加

原子炉容器の下部計装管台の溶接部のような複雑な形状、狭隘な部位においても、被検査体への密着性、および倣い性が良好な探触子の保持機構を提供することによって、探傷性能の安定性、欠陥の検出性を向上する探傷装置を提供すること。 - 特許庁

While including a conductive coil spring 30 arranged between a contact probe 1 for grounds which is arranged coaxially to a through-hole 11 of a metal block 10 and an inner circumference surface of the through-hole 11, a large diameter coil section 31 and a small diameter coil section 32 are formed eccentrically each other in the coil spring 30.例文帳に追加

金属ブロック１０の貫通孔１１に対して同軸配置されたグランド用コンタクトプローブ１と、貫通孔１１の内周面との間に配置される導電性コイルスプリング３０を有し、コイルスプリング３０には、大径コイル部３１と小径コイル部３２とが相対的に偏心して形成されている。 - 特許庁

The positioning member 14 is a V block for example: when the pipe is brought into contact with V-shaped contact surfaces 141a and 141b, an ultrasonic probe 21 provided in the wall thickness measurement unit 12 advances along the outer surface of the pipe in the normal line direction by the operation of an actuator 22, and is brought into contact with the pipe in the appropriate direction and at a suitable pressure.例文帳に追加

位置決め部材１４は例えばＶブロックであり、Ｖ字状の当接面１４１ａ，１４１ｂに配管を当接させた状態では、肉厚測定部１２が備える超音波探触子２１が、アクチュエータ２２の動作によって配管の外面の法線方向に沿って進出し、配管に適切な方向および好適な押圧力で当接する。 - 特許庁

In this apparatus, the block 1 has a pedestal 2 having a bottom substantially parallel to the bottom of the reservoir and a horizontal grounding plate 21, an arm rotatable around a vertical axis M and extensible in its length direction, and a probe 4 provided at a distal end of the arm 3 and adjustable at a position of the lower end 4a in a vertical direction.例文帳に追加

具体的には、センサブロック１を、インキ溜部分の底面に略平行な底面部及び水平なアース板２１を有する台座２と、垂直な軸Ｍ周りで回動可能で且つその長さ方向に伸縮可能なアーム３と、アーム３の先端部に設けられ、下端４ａの位置を上下方向に調整可能なプローブ４とで構成した。 - 特許庁

The cryogenic cooling container has the superconductive magnetic field sensor located in the cryogenic cooling container, which can be internally cooled to a superconductive transfer temperature or below, at one end and fixed to the other end of the cooling block located outside the cryogenic cooling container at its other end, an outer container for forming a vacuum tank outside the cooling container and the magnetic probe fixed to the outer container.例文帳に追加

内部を超電導転移温度以下に冷却可能な冷却容器の内部に一端が位置し、かつ他端が冷却容器の外部に位置する冷却用ブロックの該他端に固定された超電導磁界センサと、冷却容器の外側との間に真空槽を形成する外部容器と、外部容器に固定された磁性探針とを有する低温冷却容器を供する。 - 特許庁

To provide a photomask with which a wire to connect mutually neighboring exposure regions is freely formed and disconnected in the case of fabricating a plurality of array substrates from a mother glass substrate by using the common photomask, and with which inspection is conducted with the same probe block for inspection even in the case of manufacturing the array substrates with various sizes from the same mother glass substrate, and a method for manufacturing the mother glass substrate.例文帳に追加

マザーガラス基板から共通のフォトマスクを用いて複数のアレイ基板を作成する場合に、自由に、隣接する露光領域を繋ぐ配線を形成したり、切断したりすることを可能とし、同じマザーガラス基板から異なる大きさのアレイ基板を製造する場合でも、同じ検査用プローブブロックによって検査することを可能とするフォトマスクとマザーガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁