「Random test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A data mining server 5 transmits an advertisement mail as a test to personal computers 7-1 to 7-3 sampled at random.例文帳に追加

データマイニングサーバ５は、ランダムにサンプリングしたパーソナルコンピュータ７−１乃至７−３に対して、広告メールをテスト送信する。 - 特許庁

An optical element 35 through which electromagnetic waves pass when reflected from the test piece forms translucent and random interference figures.例文帳に追加

電磁波が試験物から反射されたときに通る光学要素３５は透過し且つ無作為の干渉像を形成する。 - 特許庁

A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.例文帳に追加

テスト対象回路（７００）と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン（６５０）と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第１乱数発生回路（１００）とを設ける。 - 特許庁

The vector output part 14 outputs the generated test vector data when the random number data is smaller than the fault occurrence rate of the input signal, and outputs the original test vector data when the random number data is larger than the fault occurrence rate of the input signal.例文帳に追加

そして、ベクタ出力部１４は、入力信号の誤り発生率より乱数データが小さい場合、生成テストベクタデータを出力し、入力信号の誤り発生率より乱数データが大きい場合、オリジナルテストベクタデータを出力する。 - 特許庁

To solve the problem that since trimming data are random data unique to each chip, when a plurality of chips are measured simultaneously by an external device, individual control of chips is required, a test time, a test cost such as man-hour for test program development, and human errors due to complication of a test program are increased.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

A plurality of master models and slave models different from actual circuits are arranged on the test bench to cause various data transfer to occur at random.例文帳に追加

テストベンチ上に実際の回路とは異なるマスタモデルやスレーブモデルを複数配置し各種データ転送をランダムに発生させる。 - 特許庁

（iii） The statistical properties of pseudo-random number generators should pass a typical statistical test suite for randomness such as SP800-22. 例文帳に追加

（ハ）統計的性質は、例えば NIST が公表している SP800-22 等の代表的な擬似乱数検定テストに合格するものであること。 - 経済産業省

To provide a method for designing a proper random vibration test specification by finding a shortening rate of a test time by using a peculiar accumulated fatigue calculation method, while applying correspondingly a linear damage rule.例文帳に追加

直線被害法則に準じながらも、独自の蓄積疲労計算方法を用いて試験時間の短縮率を求め、適正なランダム振動試験仕様を設計する方法を得る。 - 特許庁

An indeterminate value reactivating means 104 allocates into an indeterminate value in a test pattern, a value used in a corresponding position within a test pattern one or a random number behind inside the set.例文帳に追加

不確定値再活性手段１０４は、テストパタン内の不確定値に、セット内で１つまたは任意個だけ後ろにあるテストパタンで対応する位置に用いられている値を割り当てる。 - 特許庁

Each formation of tests 102, 202 is processed so that a redundant test is removed, and that a space for inserting therein new genetic material 108 into a group in the form of a random test vector is formed.例文帳に追加

更に、冗長なテストが排除され、及びランダムテストベクトルという形で集団内に新たな遺伝材料108を挿入する余地を形成するように、テスト102,202の各生成が処理される。 - 特許庁

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

To extract an address indicating an abnormal memory cell so that analyzing can be easily performed when a memory test of a random access memory(RAM) is performed.例文帳に追加

ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）のメモリテストを行ったときに、解析が容易になるように、異常のメモリセルを示すアドレスを抽出する。 - 特許庁

A test pattern generating circuit 13 is provided with a first logical circuit group for generating random patterns for a plurality of channels corresponding to parallel signals, and test patterns generated by the test pattern generating circuit are fed to a transmitting circuit 12 in parallel.例文帳に追加

テストパターン発生回路（１３）において、パラレル信号に対応する複数チャネル分のランダムパターンを発生するための第１論理回路群を設け、テストパターン発生回路で発生されたテストパターンをパラレル形式で送信回路（１２）に供給する。 - 特許庁

A test image display unit 14 outputs a test image for making the first figure appear at substantially random time intervals at the particular position on the display screen, and changing the brightness of a given second figure at the center of the display screen at substantially random time intervals.例文帳に追加

テスト用画像表示部１４は、ディスプレイ画面の特定位置に、実質的にランダムな時間間隔で第１図形を出現させるとともに、ディスプレイ画面の中央に実質的にランダムな時間間隔で所定の第２図形を輝度変化させる、テスト用画像を出力する。 - 特許庁

The Ethernet-HSD converter includes: an HSD line termination section; a speed conversion section; and an Ethernet frame termination section, and the HSD line termination section has: a means that detects LOOP 2 bits received at the loop test and capsulates a random pattern for the loop test to an Ethernet frame; and a means that uncapsulates the capsulated random pattern for the loop test from the Ethernet frame.例文帳に追加

ＨＳＤ回線終端部と、速度変換部と、イーサネットフレーム終端部とを備え、ＨＳＤ回線終端部は、ループ試験時に送信されるＬＯＯＰ２ビットを検出し、ループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームにカプセリング化する手段と、当該カプセリング化されたループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームからアンカプセリング化する手段とを有する。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

To provide a random verification method and device for surely verifying all the available operations of a test object circuit.例文帳に追加

本発明は、試験対象回路の可能な動作の全てについて確実に検証可能なランダム検証方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A coherentnarrative is the result, instead of a collection of isolated functions that test isolated bits of functionality seemingly at random.例文帳に追加

結果的に、一見ランダムに見えるような個別の機能をテストしている個別の関数の集まりではなく、首尾一貫した説明ができるようになるのです。 - Python

These random interference figures can be electronically-processed so as to provide a stress-effective video animated film for the test piece 25.例文帳に追加

この無作為の干渉像は電子的に処理して試験物２５における応力効果のビデオ動画を提供し得るように電子的に処理することができる。 - 特許庁

The transmission part 101 defines random data as an initial value for every test cell to be transmitted and outputs data containing that initial value and the result of operation predetermined on the basis of that initial value as the payload data of the test cell.例文帳に追加

送信部１０１は、送信する試験セルごとに、ランダムデータを初期値とし、当該初期値と、当該初期値に基づいて予め定めた演算の結果とを含むデータを、試験セルのペイロードデータとして出力する。 - 特許庁

Further, processing for producing the random numbers according to the Weibull distribution by the test number to investigate how long the shortest Weibull random numbers continue is repeated and this processing is repeated to operate the cumulated distribution.例文帳に追加

また、上記ワイブル分布に従った乱数を試験個数分ずつ発生させてそのうちの最も短いワイブル乱数が何時間以上であるかを調べる処理を繰り返し、この処理を繰り返して累積分布を演算する。 - 特許庁

Program cells are combined by a program cell combination unit 130 by using random numbers generated by a random number generator 120 with program cell information 110 and cell weight information 111 being input, and a compiler test program 140 is automatically generated.例文帳に追加

プログラムセル情報１１０とセル重み情報１１１を入力として、乱数発生器１２０により発生させた乱数を用いて、プログラムセル組合せ器１３０でプログラムセルを組合せ、コンパイラのテストプログラム１４０を自動生成する。 - 特許庁

Test input of the random pattern and an output from the memory 101 compose a test input of the logic circuit 103, it is decided whether a fault exists or not by taking the output response into a compression circuit 106 and comparing it with an expected value.例文帳に追加

ランダムパタンのテスト入力と、メモリ１０１からの出力を論理回路１０３のテスト入力とし、その出力応答を圧縮回路１０６に取り込んで期待値と比較することで、不良があったかどうかを判断する。 - 特許庁

To provide a concentration unevenness correcting method of an image recording apparatus which corrects concentration unevenness without repeating maintenance processing and recording of test patterns even when there is random MF.例文帳に追加

ランダムＭＦがある場合にもメンテナンス処理や検査パターンの記録を繰り返すことなく、濃度ムラ補正を行う画像記録装置の濃度ムラ補正方法の提供。 - 特許庁

Each recording surface of the magnetic disk 11 is divided into a plurality of bands B0 to B8, and the HDD 1 selects each band at random and executes the test in the unit of the selected band.例文帳に追加

磁気ディスク１１の各記録面は複数のバンドＢ０−Ｂ８に分割され、ＨＤＤ１は、各バンドをランダムに選択し、選択したバンド単位でテストを実行する。 - 特許庁

Write or read to/from a storage element is performed by a verification test program, and the data of the scoreboard are updated so that access to the storage element can be realized at random.例文帳に追加

検証のテストプログラムで、記憶素子に対して、ライトもしくはリードを行うと同時に、スコアボードのデータを更新することによって、ランダムにアクセスすることを可能としている。 - 特許庁

A test signal generator 2 has a false random code generator 20 for generating false random codes in a burst form while holding the continuity of the codes and is allowed to intermittently operated by the burst form in response to an operation control signals from circuits 22, 24.例文帳に追加

テスト信号発生器２は、擬似ランダム符号を、バーストの形式でかつ符号の連続性を保持したままで発生するような擬似ランダム符号発生器２０を有し、回路２２、２４からの動作制御信号に応答してバースト形式で断続的に動作する。 - 特許庁

In the calculation system, a random pattern generator 12 generates test patterns 11a, 11b by extracting respective parameters such as data transfer destination, data transfer direction and the number of bursts at random and bus operation models 10a, 10b respectively transfer data on the basis of the patterns 11a, 11b through a system bus 1.例文帳に追加

ランダムパターンジェネレータ１２でデータの転送先・転送方向・バースト数等の各パラメータをランダムに抽出してテストパターン１１ａ，１１ｂを生成し、このパターン１１ａ，１１ｂに基づいてバス動作モデル１０ａ，１０ｂはシステムバス１を介してデータを転送する。 - 特許庁

The test device 1 generates N-sets of data packets given respective priorities 1,..., M, sequentially extracts K-sets of data packets at random and supplies them to K-sets of inputs of a relaying device 2 in parallel from K-sets of outputs of the test device 1.例文帳に追加

試験装置1において1...Mまでの各優先度を与えたデータバケットを、各優先度についてN個生成し、順次ランダムにK個のデータパケットをとりだして試験装置1のK個の出力より中継装置2のK個の入力に並列に供給する。 - 特許庁

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

It can utilize the test pattern provided with lengthened or shortened continuous identical bit (CID) section, or lengthened or shortened pseudo-random bit sequence (PRBS) section.例文帳に追加

長くされ、または短くされた連続同一ビット（ＣＩＤ）部分を有する、または長くされ、または短くされた擬似ランダム・ビット・シーケンス（ＰＲＢＳ）部分を有するテスト・パターンを使用可能である。 - 特許庁

Respective SLDRAM(sink link dynamic random access memory) 5.0 to 5.n execute a test of an internal memory part in accordance with an execution command that is given from a memory controller 3 and give a defective address to the controller 3.例文帳に追加

ＳＬＤＲＡＭ５．０〜５．ｎの各々は、メモリコントローラ３からテスト実行コマンドが与えられたことに応じて内蔵メモリ部２４のテストを実行し、不良アドレスをメモリコントローラ３に与える。 - 特許庁

To prevent omission of a function coverage item in the logic circuit function verification function of a system LSI using a random test pattern and a function coverage and the overlook of any failure accompanying the omission.例文帳に追加

ランダムなテストパターンと機能カバレッジを利用したシステムＬＳＩの論理回路機能検証機能における機能カバレッジアイテムの抜け、また、これに伴う不具合の看過を防止する。 - 特許庁

A data mining server 5 selects one of a plurality of advertisement mails and transmits the one advertisement mail as a test to personal computers 7-1 to 7-3 selected at random among registered customers.例文帳に追加

データマイニングサーバ５は、登録した顧客のうちランダムに選択したパーソナルコンピュータ７−１乃至７−３に対して、複数ある広告メールのうちの１つを選択し、テスト送信する。 - 特許庁

A reception synchronous pulling control circuit 431 is provided between a pattern input control circuit 419 connected to a transmission line 417 for selecting a test object and a pseudo random pattern detection circuit 430.例文帳に追加

試験対象を選択するため伝送路417に接続されるパターン入力制御回路419と、疑似ランダムパターン検出回路430との間に受信同期引き込み制御回路431を設ける。 - 特許庁

A first test determination part 151 takes questions corresponding to a question number and a question version specified by random numbers, as questions to be set when determining the examinee to take an examination for the first time.例文帳に追加

初回試験判定部１５１は、受験者が初回受験であると判定した場合、乱数により特定した問題番号問題バージョンに対応する問題を出題問題とする。 - 特許庁

To provide an on-chip test interface being integrated and always enabled which is used for verifying a function of high speed incorporated memory such as a synchronous dynamic random access memory(SDRAM) enabling performing a test with an existing tester having comparatively low operation speed (therefore, low cost), or the like.例文帳に追加

既存の比較的低速度の、（よって低コストの）テスタでテストを行なうことを可能にする、シンクロナスダイナミックランダムアクセスメモリ（「ＳＤＲＡＭ」）などの高速組込みメモリの機能を検証するために用いる、統合され常に可能化されたオンチップテストインターフェイスを提供する。 - 特許庁

A level detector 12 of a DRAM (dynamic random access memory) resets a flip-flop 27, 28, when the external reference voltage VR2 becomes lower than the threshold potential in the voltage test mode, to produce the internal power-supply potential VCCP according to the external reference potential VR2, and releases the voltage test mode.例文帳に追加

ＤＲＡＭのレベル検出器１２は、外部基準電位ＶＲ２に従って内部電源電位ＶＣＣＰを生成するための電圧テストモードにおいて、外部基準電位ＶＲ２がしきい値電位よりも低下したことに応じてフリップフロップ２７，２８をリセットし、電圧テストモードを解除する。 - 特許庁

The system receives a data slice (18) from a transmission source (12) and subjects the data slice to random delay and known delay (14) and transmits the delayed data slice to a test object chip (16) and thus emulates the propagation delay.例文帳に追加

システムは、送信元(12)からデータスライス(18)を受信して、データスライスにランダム遅延又は既知の遅延を施し(14)、遅延したデータスライスを被試験チップ(16)に送信することにより、伝搬遅延をエミュレートする。 - 特許庁

In a verification support apparatus, normal simulation by a random test pattern generated in accordance with a set Seed number is executed as in a conventional technology by steps S101-S109.例文帳に追加

検証支援装置では、ステップＳ１０１〜Ｓ１０９によって従来技術と同様に、設定されたＳｅｅｄ番号に応じて発生させたランダムなテストパターンによる通常のシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.例文帳に追加

下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁

When the test data of the judgement area 32 are all "1", the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a system failure, and in the other cases, the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a random failure.例文帳に追加

この判定領域３２のデータが全て“１”の場合には不良チップ座標３１の不良種別をシステム不良とし、その他の場合には不良チップ座標３１の不良種別をランダム不良とする。 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of easily controlling vibration by applying vibration to a specimen based on a pseudo random wave part of a driving vibration signal only when the wave form is taken in.例文帳に追加

本発明は、波形を取り込む時だけ駆動振動信号の疑似ランダム波部分に基づいて試験体に振動を与え、振動の制御が容易な振動試験制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test controller 13 outputs pseudo-random data to a PLL circuit 12 for transmission, which generates a clock including random jitters, and a serializer 11 converts parallel transmission data Transmit Data into serial transmission data SO, by using the clock, and inputs the serial transmission data to a clock data recovery circuit 22 via a serial loop-back circuit 30 and a multiplexer 24.例文帳に追加

テストコントローラ１３から擬似ランダムデータを送信用ＰＬＬ回路１２に出力して、送信用ＰＬＬ回路１２でランダムなジッタを含んだクロックを生成し、シリアライザ１１でこのクロックを用いてパラレルの送信データＴｒａｎｓｍｉｔＤａｔａをシリアル送信データＳＯに変換し、シリアルループバック回路３０およびマルチプレクサ２４を経由してクロック・データリカバリ回路２２に入力する。 - 特許庁

In this test faciliting circuit, the LFSR is composed of scan flip-flops 107 arranged regularly in a scan chain 109, an output value from the inspected circuit 101 are pattern-compressed, and signature is scanned in the scan chain 109 as a pseudo-random number sequence.例文帳に追加

スキャンチェーン１０９中で規則的に配列されたスキャンフリップフロップ１０７を用いてＬＦＳＲを構成し、被検査回路１０１からの出力値をパターン圧縮し、シグニチャを擬似乱数列としてスキャンチェーンにスキャンインする。 - 特許庁